JPH03214079A - Icの入力スレショルド測定装置 - Google Patents
Icの入力スレショルド測定装置Info
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- JPH03214079A JPH03214079A JP2009345A JP934590A JPH03214079A JP H03214079 A JPH03214079 A JP H03214079A JP 2009345 A JP2009345 A JP 2009345A JP 934590 A JP934590 A JP 934590A JP H03214079 A JPH03214079 A JP H03214079A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 30
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- 101150065817 ROM2 gene Proteins 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、ICの入力スレショルド(しきい値)測定
装置に関し、詳しくは、大力バッファ等を有するICに
おいて、ICが動作するために必要な入力信−すのレベ
ルとしての大カスレンヨルド電圧に対する測定精度を向
トさせることができるような大力スレショルド測定装置
に関する。
装置に関し、詳しくは、大力バッファ等を有するICに
おいて、ICが動作するために必要な入力信−すのレベ
ルとしての大カスレンヨルド電圧に対する測定精度を向
トさせることができるような大力スレショルド測定装置
に関する。
[従来の技術]
従来の大力スレショルド測定方式としては、例えば、ス
レショルド電L1より高い電圧のパルスをICの入力に
加え、その電圧を所定の周期でスレシHルド電圧に近づ
けるように漸次変化させていき、ICの出力側に所定の
レベルのパルスが発生するときの入力端のパルスの電1
1値をスレシHルド電圧として測定するものである。こ
の場合、出力側のパルスの発生は、出力側がHIGHレ
ベル(以ド“H”)からLOWレベル(以ドし”)に変
わる点、あるいは &lL”から“H″に変わる点を検
出することで行われる。
レショルド電L1より高い電圧のパルスをICの入力に
加え、その電圧を所定の周期でスレシHルド電圧に近づ
けるように漸次変化させていき、ICの出力側に所定の
レベルのパルスが発生するときの入力端のパルスの電1
1値をスレシHルド電圧として測定するものである。こ
の場合、出力側のパルスの発生は、出力側がHIGHレ
ベル(以ド“H”)からLOWレベル(以ドし”)に変
わる点、あるいは &lL”から“H″に変わる点を検
出することで行われる。
なお、このような出力側の状態の検出は、通常、ストロ
ーブパルスを所定の周期でい(つも発生して出力の状態
をデジタル値で得る、いわゆるバイナリ−サーチにより
行われるために、端rごとの検出となる。
ーブパルスを所定の周期でい(つも発生して出力の状態
をデジタル値で得る、いわゆるバイナリ−サーチにより
行われるために、端rごとの検出となる。
[解決しようとする課題]
この種の装置にあっては、入力端に加えられる電圧が段
階的に決定されているので、その段階の間の電圧値のス
レショルド電圧は測定できない。
階的に決定されているので、その段階の間の電圧値のス
レショルド電圧は測定できない。
したがって、測定精度は、その段階数で決定され、比較
的粗いので製品歩留りが低ドする欠点がある。
的粗いので製品歩留りが低ドする欠点がある。
この場合、測定精度を]−げるためには入力側に加えら
れる電j1の段階を細かく採ればよいが、段階を細かく
採ると所定の周期で発生する入力端の、<ルス発生時間
を長(しなければならず、71tll定に時間がかかる
。
れる電j1の段階を細かく採ればよいが、段階を細かく
採ると所定の周期で発生する入力端の、<ルス発生時間
を長(しなければならず、71tll定に時間がかかる
。
また、出力側が“H”から“L”あるいは“L″から“
H”へ変化する状態の検出は、所定の入力と出力との関
係で決定される出力端rに対応して行われる関係から出
力fA J’が多くなればそれだけ測定時間がかかり、
/l1ll定対象のICによっては、入力と出力とのタ
イミング関係を把握して?I11定することが必要であ
って、タイミング関係の設定も行わなければならない。
H”へ変化する状態の検出は、所定の入力と出力との関
係で決定される出力端rに対応して行われる関係から出
力fA J’が多くなればそれだけ測定時間がかかり、
/l1ll定対象のICによっては、入力と出力とのタ
イミング関係を把握して?I11定することが必要であ
って、タイミング関係の設定も行わなければならない。
しかも、出力側が“H”から14L”に変わるものと、
“′L”から“H”に変わるものとは、出力端rピンに
応じて決定されるため、製品の種類(機種)ごとに内部
回路を検討してそのいずれであるかを出力ビンごとに決
定してから測定することも必要になる。
“′L”から“H”に変わるものとは、出力端rピンに
応じて決定されるため、製品の種類(機種)ごとに内部
回路を検討してそのいずれであるかを出力ビンごとに決
定してから測定することも必要になる。
この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、大力スレショルド測定の精度を1・、げ、
かつ、端rの出力杖暢を調査しなくてもスレショルド測
定ができるICの大力スレッシュホールド測定装置を提
供することを目的とする。
のであって、大力スレショルド測定の精度を1・、げ、
かつ、端rの出力杖暢を調査しなくてもスレショルド測
定ができるICの大力スレッシュホールド測定装置を提
供することを目的とする。
[課題を解決するためのF段]
このような11的を達成するためのこの発明の構成は、
時間の経過とともに漸次1−gIf、シ、その後漸次ド
降するアナログのスイープ電圧を発生してICの入力端
r・に供給するスイープ電圧発生回路と、ICの電源端
rに流れる電流が所定のレベルを越えたことを検出する
検出回路と、この検出回路の検出信号に応じてその時点
でのスイープ電圧発生回路のスイープ電圧を1l11定
する電11−測定回路とを備えるものである。
時間の経過とともに漸次1−gIf、シ、その後漸次ド
降するアナログのスイープ電圧を発生してICの入力端
r・に供給するスイープ電圧発生回路と、ICの電源端
rに流れる電流が所定のレベルを越えたことを検出する
検出回路と、この検出回路の検出信号に応じてその時点
でのスイープ電圧発生回路のスイープ電圧を1l11定
する電11−測定回路とを備えるものである。
[作用]
このように漸次15r、 L 、その後漸次下降するア
ナログスイープ電圧をICの入力端rに加えていき、I
Cの電源端子に流れる電流を監視するようにしているの
で、この監視により内部回路が動作したか否かを検出で
き、内部回路が動作したという点において検出時点のス
イープ電圧を入力におけるスレショルド電圧とみること
ができる。
ナログスイープ電圧をICの入力端rに加えていき、I
Cの電源端子に流れる電流を監視するようにしているの
で、この監視により内部回路が動作したか否かを検出で
き、内部回路が動作したという点において検出時点のス
イープ電圧を入力におけるスレショルド電圧とみること
ができる。
このような測定方式にあっては、入力端のスイープ電圧
がアナログ値で1−シ?、降ドするものであるので/l
1ll定精度を向にさせることができ、動作状態の検出
が電源端子に流れる電流を監視することによっているの
で入力と出力のタイミング関係の把握や各出力端rの出
力状帳の調査や検討が不要になり、どの端rの人出力関
係についても同・の測定条件で測定することができて、
大カスレシイルド測定を効率的に行うことができる。
がアナログ値で1−シ?、降ドするものであるので/l
1ll定精度を向にさせることができ、動作状態の検出
が電源端子に流れる電流を監視することによっているの
で入力と出力のタイミング関係の把握や各出力端rの出
力状帳の調査や検討が不要になり、どの端rの人出力関
係についても同・の測定条件で測定することができて、
大カスレシイルド測定を効率的に行うことができる。
[実施例]
以ド、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
第1図は、この発明を適用したICの大カスレノシュホ
ールド測定装置のブロック図であり、第2図は、その測
定状態における動作の説明図である。
ールド測定装置のブロック図であり、第2図は、その測
定状態における動作の説明図である。
第1図において、1は、スイープ電圧発生回路であり、
ROM2と1〕/A変換回路(f)/A)3、そしてR
OM2をアクセスする制御回路4等から構成されていて
、第2図にlI(すように、その両端においてl−91
,L 、 ド降するランプ電圧特性を持つ山型(漸次
−ヒシrル、その後漸次ド降する)のアナログスイープ
電圧波形Sを時間の経過に応じて所定の速度で発生する
。
ROM2と1〕/A変換回路(f)/A)3、そしてR
OM2をアクセスする制御回路4等から構成されていて
、第2図にlI(すように、その両端においてl−91
,L 、 ド降するランプ電圧特性を持つ山型(漸次
−ヒシrル、その後漸次ド降する)のアナログスイープ
電圧波形Sを時間の経過に応じて所定の速度で発生する
。
ROM2は、このアナログスイープ電圧波形Sを発生す
る変換前のデジタルデータの各時刻に対応する値が各ア
ドレスに対応して順次記憶されている。側御回路4は、
クロック発生回路とプログラムカウンタ等で構成され、
ROM2をアクセスするアドレスを発生してそのアドレ
スによりROM2をアクセスするとともにクロックに対
応してアクセスアドレス値を順次インクリメントするこ
とで各アドレスからクロックの周期を単位とじた時間で
時間経過とともに順次アナログ変換rTilのデジタル
データ値を読出し、それを1) / A変換回路3に加
える。その結果として時間の経過とともに変化するアナ
ログスイープ電圧波形Sが1)/A変換回路3から出力
される。また、制御回路4は、スイープ停止1・信シン
を後述するピーク電流検出回路8から受けるとクロック
発生回路から受けるクロックによるアドレスカウンタの
インクリメントを市める。このことで停止1・された位
置のアドレスにおいてROM2のアドレスがクロック対
応にアクセスされ続け、その位置のデジタルデータがA
l1)変換回路3に送出され続けてスイープ停車信号を
受けた時点のアナログ電1[値がスィーブ電圧発生回路
lから出力され続ける。このようなスィーブ電圧発生回
路1の信1)・出力は、スイッチ回路5を介して測定対
象となるI C(1,)UT) 6の入力端rの1つI
Nに入力される。
る変換前のデジタルデータの各時刻に対応する値が各ア
ドレスに対応して順次記憶されている。側御回路4は、
クロック発生回路とプログラムカウンタ等で構成され、
ROM2をアクセスするアドレスを発生してそのアドレ
スによりROM2をアクセスするとともにクロックに対
応してアクセスアドレス値を順次インクリメントするこ
とで各アドレスからクロックの周期を単位とじた時間で
時間経過とともに順次アナログ変換rTilのデジタル
データ値を読出し、それを1) / A変換回路3に加
える。その結果として時間の経過とともに変化するアナ
ログスイープ電圧波形Sが1)/A変換回路3から出力
される。また、制御回路4は、スイープ停止1・信シン
を後述するピーク電流検出回路8から受けるとクロック
発生回路から受けるクロックによるアドレスカウンタの
インクリメントを市める。このことで停止1・された位
置のアドレスにおいてROM2のアドレスがクロック対
応にアクセスされ続け、その位置のデジタルデータがA
l1)変換回路3に送出され続けてスイープ停車信号を
受けた時点のアナログ電1[値がスィーブ電圧発生回路
lから出力され続ける。このようなスィーブ電圧発生回
路1の信1)・出力は、スイッチ回路5を介して測定対
象となるI C(1,)UT) 6の入力端rの1つI
Nに入力される。
スイッチ回路5は、切換スイッチであって。スイ・ノチ
切換t’< ’Jをピーク電流検出回路8から受けると
スィーブ電圧発生回路1の出力を電月値11111定回
路7側に入力させる切換えを行う。
切換t’< ’Jをピーク電流検出回路8から受けると
スィーブ電圧発生回路1の出力を電月値11111定回
路7側に入力させる切換えを行う。
1) U T 8は、CMO8あるいはASIC等のよ
うに、内部に大カバソファ等を構成するインバータなど
が入力端f’(IN)に接続された回路として設けられ
ている回路であって、その入力漬けを受けて動作する動
作にはスレショルド電圧があるものである。VDDは、
1)UT8の電源端rであって、I)UT6は、この端
rにピーク電流検出回路8を介して電源回路8から電圧
値+VDDの電力の供給を受ける。
うに、内部に大カバソファ等を構成するインバータなど
が入力端f’(IN)に接続された回路として設けられ
ている回路であって、その入力漬けを受けて動作する動
作にはスレショルド電圧があるものである。VDDは、
1)UT8の電源端rであって、I)UT6は、この端
rにピーク電流検出回路8を介して電源回路8から電圧
値+VDDの電力の供給を受ける。
ピーク電流検出回路8は、いわゆる、比較回路からなる
電流レベル検出回路であって、電源回路9からI) U
T 8の電源端J’VDDに流入する静市消費電流■
DDが所定の比較基望レベルITH(第2図参照)を越
えたときに検出信号を発生し、それをスィーブ停止]・
、信シ月)としてスィーブ電11゛発牛回路1に送出1
−1また、それをスイッチ回路5に切換信号として加え
る。さらにそれをAtl+定制御回路lOにピーク検出
(、:号として送出する。
電流レベル検出回路であって、電源回路9からI) U
T 8の電源端J’VDDに流入する静市消費電流■
DDが所定の比較基望レベルITH(第2図参照)を越
えたときに検出信号を発生し、それをスィーブ停止]・
、信シ月)としてスィーブ電11゛発牛回路1に送出1
−1また、それをスイッチ回路5に切換信号として加え
る。さらにそれをAtl+定制御回路lOにピーク検出
(、:号として送出する。
Al11定制御回路10は、スィーブ電圧発生回路lの
起動を行い、電1F・値測定回路7から得られる測定電
圧値を表、1(する処理等を行う装置全体の制御回路で
あって、マイクロプロセッサとメモリ、そして測定結果
を表7バする人事装置等を備えている。
起動を行い、電1F・値測定回路7から得られる測定電
圧値を表、1(する処理等を行う装置全体の制御回路で
あって、マイクロプロセッサとメモリ、そして測定結果
を表7バする人事装置等を備えている。
これは、ピーク電流検出回路8からピーク検出化5〕を
受けたときに、その後の所定のタイミングで七汁値測定
回路7から測定された結果の電圧値を採取する。
受けたときに、その後の所定のタイミングで七汁値測定
回路7から測定された結果の電圧値を採取する。
次に、このような構成の大カスレシイルド測定装置の全
体的な動作を第2図に従って説明する。
体的な動作を第2図に従って説明する。
まず、オペレータの1llll定開始の操作に応じてt
−1定制御回路10は、起動信りをスィーブ電11発生
回路1に送出し、スイープ電圧発生回路1が第2図のア
ナログスィーブ電11波形Sをその時間の経過とともに
発生していき、それに従ってl) U T 6の入力端
子VIN(第2図のアナログスイープ電11波形Sのあ
る時刻での入力端J’−INに入力される電11値)が
順次直線的に1・、hlL、、ていく。ある電圧値のと
ころまでそれがトシ/4してI) tJ T 6の入力
回路の大カスレンゴルド電圧を越える、と、4二の入力
をパ是ける内部回路が動作する。このとき、内部回路の
動作に応じて、例えば、CMO5等のICでは、動作電
流として過渡的に電流が流れ、それが第2図のピークを
持つ電流IDDの特性グラフPとして現れる。
−1定制御回路10は、起動信りをスィーブ電11発生
回路1に送出し、スイープ電圧発生回路1が第2図のア
ナログスィーブ電11波形Sをその時間の経過とともに
発生していき、それに従ってl) U T 6の入力端
子VIN(第2図のアナログスイープ電11波形Sのあ
る時刻での入力端J’−INに入力される電11値)が
順次直線的に1・、hlL、、ていく。ある電圧値のと
ころまでそれがトシ/4してI) tJ T 6の入力
回路の大カスレンゴルド電圧を越える、と、4二の入力
をパ是ける内部回路が動作する。このとき、内部回路の
動作に応じて、例えば、CMO5等のICでは、動作電
流として過渡的に電流が流れ、それが第2図のピークを
持つ電流IDDの特性グラフPとして現れる。
この静11−消費電流値IDCをピーク電流検出回路8
で監視し、静11・消費電流(+1’[IDDがその比
較基型電流レベルITHを越えたときには、I)[JT
6の内部の入力バノフr等を構成するインバータなどが
反転動作をしたときに相当する。そして、これは、人カ
スレジdルドを越えたことを、α味する。そこで、この
ときにピーク電流検出回路8からピーク検出信号が時刻
TI の時点で発生する。それをスィーブ停市信ジノ・
として骨けたスィーブ電11:発牛回路lは、スィーブ
を停iL、 シ、そのときの電圧値がスイッチ回路5を
介して電IF値測定回路7により測定される。これは、
検出イハシ月)を受けた7!$1定制御量制御0に測定
結果として取り込まれる。
で監視し、静11・消費電流(+1’[IDDがその比
較基型電流レベルITHを越えたときには、I)[JT
6の内部の入力バノフr等を構成するインバータなどが
反転動作をしたときに相当する。そして、これは、人カ
スレジdルドを越えたことを、α味する。そこで、この
ときにピーク電流検出回路8からピーク検出信号が時刻
TI の時点で発生する。それをスィーブ停市信ジノ・
として骨けたスィーブ電11:発牛回路lは、スィーブ
を停iL、 シ、そのときの電圧値がスイッチ回路5を
介して電IF値測定回路7により測定される。これは、
検出イハシ月)を受けた7!$1定制御量制御0に測定
結果として取り込まれる。
この時点で測定制御回路lOは、スィーブ電ハ発生回路
lにクロック停止1−1信S)を解除する制御イ。
lにクロック停止1−1信S)を解除する制御イ。
−)を送出する。その結果、スイープ電圧発生回路lは
s +Il:びスイープを開始して、スィーブ電圧は、
第2図に示されるように、やがて・定植になり、その後
、降ドするランプ電圧となる。この降ド過程において入
力スレショルド電圧よりスイープ電圧が降ドしたときに
s +1び、この電圧を受ける入力に関係するインバー
タなどが反転動作をし、このときも静IL消費電流10
0が流れる。その結果、この時点でもピーク電流検出回
路8からピーク検出信5月〕が峙刻T2の時点で発t1
ルで、それによりスイープ電圧発生回路lは、スイープ
を停+L L、そのときの電11−値が電圧値測定回路
7により測定され、それが測定制御回路10に7111
定結果として取り込まれる。
s +Il:びスイープを開始して、スィーブ電圧は、
第2図に示されるように、やがて・定植になり、その後
、降ドするランプ電圧となる。この降ド過程において入
力スレショルド電圧よりスイープ電圧が降ドしたときに
s +1び、この電圧を受ける入力に関係するインバー
タなどが反転動作をし、このときも静IL消費電流10
0が流れる。その結果、この時点でもピーク電流検出回
路8からピーク検出信5月〕が峙刻T2の時点で発t1
ルで、それによりスイープ電圧発生回路lは、スイープ
を停+L L、そのときの電11−値が電圧値測定回路
7により測定され、それが測定制御回路10に7111
定結果として取り込まれる。
この時点で測定制御回路lOは、得た測定値をその表1
1(装置に測定結果として表示し、スイープ電圧発生回
路lの動作を停+)−させる。
1(装置に測定結果として表示し、スイープ電圧発生回
路lの動作を停+)−させる。
なお、ピーク電流値検出回路8の比較基をとなる電流レ
ベルITHは外部から調整可能であって、1) U T
8の特性に応じて選択される。
ベルITHは外部から調整可能であって、1) U T
8の特性に応じて選択される。
以りのようにすることにより、入力スレショルド電圧を
得ることができ、この場合にI) U T 8の入力に
加えられる電圧値がアナログ電圧値であるので、入力ス
レショルド電圧がスイープ電圧発生回路lで発生する電
圧精度において階段的なものとしてではなく測定するこ
とがiiJ能である。しかも、この場合には、出力の状
態をストローブパルスに応じて検出するバイナリ−サー
チによらないので、ストローブパルスの測定周期に影響
されることはない。したがって、短時間で、かつ、測定
精度が高く、安定した測定ができる。なお、スイープ電
圧のアナログ値の精度は、ROM2に記憶するデータと
1)/A変換回路3の精度により決定できる。
得ることができ、この場合にI) U T 8の入力に
加えられる電圧値がアナログ電圧値であるので、入力ス
レショルド電圧がスイープ電圧発生回路lで発生する電
圧精度において階段的なものとしてではなく測定するこ
とがiiJ能である。しかも、この場合には、出力の状
態をストローブパルスに応じて検出するバイナリ−サー
チによらないので、ストローブパルスの測定周期に影響
されることはない。したがって、短時間で、かつ、測定
精度が高く、安定した測定ができる。なお、スイープ電
圧のアナログ値の精度は、ROM2に記憶するデータと
1)/A変換回路3の精度により決定できる。
以I―、説明してきたが、この実施例では、ROMと1
) / A変換回路を用いてスイープ電圧発生回路でア
ナログ電II:を発生させているが、この回路は、この
ような実施例に限定されるものではな(、コンデンサ等
を用いたランプ電圧発生回路によって直接アナログ電圧
を発生させるようなものであっでもよい。
) / A変換回路を用いてスイープ電圧発生回路でア
ナログ電II:を発生させているが、この回路は、この
ような実施例に限定されるものではな(、コンデンサ等
を用いたランプ電圧発生回路によって直接アナログ電圧
を発生させるようなものであっでもよい。
また、実施例では、静11二電流のピークを検出したと
きにスイープ電圧発生装置のスイープを停tLするよう
にしているが、ピーク検出信りに応じてスイープ電圧発
生装置のそのときの出力電圧値をサンプルホールドする
ことで得るようにすれば、必ずしもスイープを停止1−
させなくてもよい。
きにスイープ電圧発生装置のスイープを停tLするよう
にしているが、ピーク検出信りに応じてスイープ電圧発
生装置のそのときの出力電圧値をサンプルホールドする
ことで得るようにすれば、必ずしもスイープを停止1−
させなくてもよい。
[発明の効果]
以りの説明から理解できるように、この発明にあっては
、入力端のスイープ電圧がアナログ値で1tシ11降ド
するものであるので測定精度を向I−させることができ
、動作状態の検出が電源端rに流れる電流を監視するこ
とによっているので入力と出力のタイミング関係の把握
や各出力端rの出力状態の調査や検討が革装になり、ど
の端rの人出力関係についても同一・の測定条件で測定
することができるので入力スレショルド測定を効率的に
行うことができる。
、入力端のスイープ電圧がアナログ値で1tシ11降ド
するものであるので測定精度を向I−させることができ
、動作状態の検出が電源端rに流れる電流を監視するこ
とによっているので入力と出力のタイミング関係の把握
や各出力端rの出力状態の調査や検討が革装になり、ど
の端rの人出力関係についても同一・の測定条件で測定
することができるので入力スレショルド測定を効率的に
行うことができる。
4、図面のfm ’l’−な説明
第1図は、この発明を適用したICの大力スレッシュホ
ールド値測定装置のブロック図、第2図は、その瀾定杖
態における動作の説明図である。
ールド値測定装置のブロック図、第2図は、その瀾定杖
態における動作の説明図である。
l・・・スイープ電圧発生回路、2・・・ROM。
3・・・I) / A変換回路、4・・・制御回路、5
・・・I C(1)UT) 、8・・・スイッチ回路、
7・・・電圧値測定回路、8・・・ピーク電流検出回路
、9・・・電源回路、lO・・・測定制御回路。
・・・I C(1)UT) 、8・・・スイッチ回路、
7・・・電圧値測定回路、8・・・ピーク電流検出回路
、9・・・電源回路、lO・・・測定制御回路。
Claims (1)
- (1)入力側にスレショルド特性を有する回路を持つI
Cに対してその入力スレショルド電圧を測定する測定装
置において、時間の経過とともに漸次を昇し、その後漸
次下降するアナログのスイープ電圧を発生して前記IC
の入力端子に供給するスイープ電圧発生回路と、前記I
Cの電源端子に流れる電流が所定のレベルを越えたこと
を検出する検出回路と、この検出回路の検出信号に応じ
てその時点での前記スイープ電圧発生回路のスイープ電
圧を測定する電圧測定回路とを備えることを特徴とする
ICの入力スレショルド測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009345A JP2598710B2 (ja) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | Icの入力スレショルド測定装置 |
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| JPH03214079A true JPH03214079A (ja) | 1991-09-19 |
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|---|---|
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5633599A (en) * | 1994-07-29 | 1997-05-27 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit with a test circuit for input buffer threshold |
| JP2006220504A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-08-24 | Seiko Instruments Inc | 半導体集積回路の検査方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5047570A (ja) * | 1973-08-25 | 1975-04-28 | ||
| JPS61102972U (ja) * | 1984-12-13 | 1986-07-01 |
-
1990
- 1990-01-18 JP JP2009345A patent/JP2598710B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5047570A (ja) * | 1973-08-25 | 1975-04-28 | ||
| JPS61102972U (ja) * | 1984-12-13 | 1986-07-01 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5633599A (en) * | 1994-07-29 | 1997-05-27 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit with a test circuit for input buffer threshold |
| JP2006220504A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-08-24 | Seiko Instruments Inc | 半導体集積回路の検査方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| van den Bergh | IEC1000-4-7 Defines EMC Testing Methods for Harmonic Currents Analysis Per IEC1000-3-2 |
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