JPH03214651A - Verification of layout pattern - Google Patents

Verification of layout pattern

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Publication number
JPH03214651A
JPH03214651A JP2010853A JP1085390A JPH03214651A JP H03214651 A JPH03214651 A JP H03214651A JP 2010853 A JP2010853 A JP 2010853A JP 1085390 A JP1085390 A JP 1085390A JP H03214651 A JPH03214651 A JP H03214651A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
verification
error
circuit diagram
data
layout pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010853A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yutaka Fujimoto
豊 藤本
Hiroshi Ichikawa
浩 市川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH03214651A publication Critical patent/JPH03214651A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To display the place of an error and the content of an error so as to be recognized at a glance and to easily correct the place of the error by providing an error feedback display processing module to a circuit diagram in order to display, in the circuit diagram, an error state regarding a layout pattern data error in a stored verification result. CONSTITUTION:A verification result which has been generated and stored by executing a comparison and verification operation at a layout verification module 4 is controlled by using an error feedback display processing module 7 to a circuit diagram. A data for display use is generated from information for verification use; the data is displayed. Thereby, a connection mistake of a layout pattern data and a mistake regarding the number of devices can be judged at a glance; the place of an error and the content of an error can be corrected easily.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路のレイアウトパターンデータ
の設計検証方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a design verification method for layout pattern data of a semiconductor integrated circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図は、従来のレイアウトパターン検証方法の説明図
である。同図において、1はレイアウトパターンデータ
、2は回路図データ、3はレイアウトパターンデータ1
と回路図データ2のデハイス情報、回路説明情報等の比
較検証を行なう検証ルール、4はレイアウトパターンデ
ータ1と回路図データ2から検証ルール3に従いデバイ
ス情報、回路説明情報等を抽出して比較検証を行ない、
検証結果を生成、記憶するレイアウl・検証モジュール
、5はレイアウト検証モジュール4によって生成され記
憶された検証結果、6は検証結果を表示させるためのエ
ラー表示モジュールである。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a conventional layout pattern verification method. In the same figure, 1 is layout pattern data, 2 is circuit diagram data, and 3 is layout pattern data 1.
Verification rule 4 performs comparative verification of device information, circuit explanation information, etc. of circuit diagram data 1 and circuit diagram data 2, and 4 extracts device information, circuit explanation information, etc. from layout pattern data 1 and circuit diagram data 2 according to verification rule 3, and performs comparative verification. do the
A layout verification module 5 generates and stores verification results, 5 designates verification results generated and stored by the layout verification module 4, and 6 an error display module for displaying verification results.

次に動作について第5図を用いて説明する。レイアウト
パターンデータ1と回路図データ2のデハイス情報、回
路接続情報等を抽出して比較するための検証ルール3を
用いて、レイアウト検証モジュール4でレイアウトパタ
ーンデータ1と回路図データ2のデバイス情報、回路接
続情報等を抽出し、比較検証を行ない(ステップ11〜
14)、検証結果5を生成し、記憶する(ステノプ15
)。
Next, the operation will be explained using FIG. 5. Using the verification rule 3 for extracting and comparing the device information, circuit connection information, etc. of the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2, the layout verification module 4 extracts the device information of the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2, Extract circuit connection information, etc., and perform comparative verification (step 11~
14), generate and store verification result 5 (stenop 15)
).

エラーがあれば、生成、記位された検証結果5をエラー
表示モジュール6によって、レイアウトパターンデータ
1と回路図データ2との異なったデバイス情報等を表示
する(ステップ16.17)。
If there is an error, the error display module 6 displays the generated and recorded verification result 5, including different device information between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2 (steps 16 and 17).

第6図に、回路図データ上にエラー表示された例を示す
。同図で太線は、レイアウトパターンデータと回路図デ
ータの異なった部分を示す。
FIG. 6 shows an example where an error is displayed on the circuit diagram data. In the figure, thick lines indicate different parts of the layout pattern data and circuit diagram data.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従来のレイアウトパターン検証方法は以上のように構成
されているので、検証結果(マッチ、アンマッチ情報)
を参照し、レイアウトパターンデータと回路図データの
各々でエラー個所を表示させてエラー内容を判断しなけ
ればならず、一目ではエラー内容がわかりづらく、また
エラー修正に時間がかかるなどの問題があった。
The conventional layout pattern verification method is configured as described above, so the verification results (match and unmatch information)
It is necessary to refer to the layout pattern data and circuit diagram data to determine the error content by displaying the error location in each, but there are problems such as it is difficult to understand the error content at a glance, and it takes time to correct the error. Ta.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、エラー個所、エラー内容が一目
でわかるように表示し、エラー個所を容易に修正できる
レイアウトパターン検証方法を得ることにある。
The present invention has been made in view of these points, and its purpose is to provide a layout pattern verification method that displays error locations and error details at a glance and allows for easy correction of error locations. There is a particular thing.

C課題を解決するための手段〕 このような目的を達成するために本発明は、レイアウト
パターンデータと回路図データのデバイス情報、回路接
続情報等の検証用情報についてレイアウトパターンデー
タと回路図データとの間で比較検証するための検証ルー
ルと、この検証ルールを用いて比較検証を行ない、検証
結果を記憶するレイアウト検証モジュールと、記憶され
た検証結果におけるレイアウトパターンデータエラーに
ついてのエラー状態を回路図中に表示するための回路図
へのエラーフィードバンク表示処理モジュールと、回路
図データ上にエラー内容を表示するエラー表示モジュー
ルとを有するようにしたものである。
Means for Solving Problem C] In order to achieve such an object, the present invention provides a method for verifying information such as device information and circuit connection information between layout pattern data and circuit diagram data. A layout verification module that performs comparative verification using this verification rule and stores the verification results, and a circuit diagram that displays error states regarding layout pattern data errors in the stored verification results. The circuit diagram includes an error feedbank display processing module for displaying error data on the circuit diagram data, and an error display module for displaying error details on the circuit diagram data.

〔作用〕[Effect]

本発明によるレイアウトパターン検証方法においては、
レイアウト検証モジュールで比較検証を行なって生成・
記憶された検証結果を回路図へのエラーフィードバック
表示処理モジュールで制御し、表示するだめのデータを
検証用情報から生成し、このデータを表示する。これに
より、エラーの個所、エラーの内容を回路図データを見
ただけで一目で判断できる。
In the layout pattern verification method according to the present invention,
Perform comparative verification using the layout verification module to generate and
The stored verification results are controlled by an error feedback display processing module for the circuit diagram, data to be displayed is generated from the verification information, and this data is displayed. This allows you to determine the location of the error and the details of the error at a glance just by looking at the circuit diagram data.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明によるレイアウトパターン検証方法の一実
施例を第1図〜第3図を用いて説明する。
An embodiment of the layout pattern verification method according to the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 3.

第1図において、1はレイアウトパターンデータ、2は
回路図データ、3はレイアウトパターンデータlと回路
図データ2のデハイス情報、回路接続情報等の検証用情
報を抽出し、比較検証を行なう検証ルール、4はレイア
ウトパターンデータ1と回路図データ2から検証ルール
3に従いデバイス情報、回路接続情報等の検証用情報を
抽出し、比較検証を行ない、検証結果を生成し記憶する
レイアウト検証モジュール、5はレイアウト検証モジュ
ール4によって生成され記憶された検証結果、7は検証
結果5からエラー個所、エラーの内容の表示を制御する
回路図へのエラーフィードハソク表示処理モジュール、
6ぱ回路図へのエラーフィードパソク表示処理モジュー
ル7により制御されたデータを表示するエラー表示モジ
ュールである。
In FIG. 1, 1 is layout pattern data, 2 is circuit diagram data, and 3 is a verification rule for extracting verification information such as de-heiss information and circuit connection information of layout pattern data 1 and circuit diagram data 2, and performing comparative verification. , 4 is a layout verification module that extracts verification information such as device information and circuit connection information from layout pattern data 1 and circuit diagram data 2 according to verification rule 3, performs comparative verification, and generates and stores verification results. Verification results generated and stored by the layout verification module 4; 7 is an error feed box display processing module that controls the display of error locations and error contents from the verification results 5;
This is an error display module that displays the data controlled by the error feed display processing module 7 to the circuit diagram.

次に動作について第2図を用いて説明する。レイアウト
パターンデータ1と回路図デーク2、およびレイアウト
パターンデータ1と回路図データ2のデバイス情報、回
路説明情報等の検証用情報の抽出と比較を行なう検証ル
ールを用いて、レイアウト検証モジュール4でレイアウ
トパターンデータ1と回路図データ2のデハイス情報、
回路接続情報等の検証用情報を抽出し、比較検証を行な
い(ステソプ21〜24)、検証結果を生成しくステッ
プ25)、記憶する。エラーがあれば、生成、記憶され
た検証結果5から、回路図へのエラーフィードハソク表
示処理モジュール6によって、レイアうトパターンデー
タ1と回路図データ2の異なったデバイス情報、回路接
続情報等を認識し、表示するためのデータを生成する(
ステップ2627)。生成されたデータから、レイアウ
トバクーンデータ1と回路図データ2の異なったデバイ
ス情報、回路接続情報等をエラー表示モジュール7によ
って表示する(ステソプ28)。
Next, the operation will be explained using FIG. 2. The layout verification module 4 uses verification rules to extract and compare verification information such as device information and circuit description information between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2, and between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2. Deheis information of pattern data 1 and circuit diagram data 2,
Verification information such as circuit connection information is extracted, comparative verification is performed (steps 21 to 24), and verification results are generated (step 25) and stored. If there is an error, the generated and stored verification result 5 is used to feed the error to the circuit diagram.The display processing module 6 displays different device information, circuit connection information, etc. between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2. Recognize and generate data for display (
step 2627). From the generated data, the error display module 7 displays different device information, circuit connection information, etc. of the layout Bakun data 1 and the circuit diagram data 2 (step 28).

第3図に、回路図データ上にエラー表示をさせた例を示
す。同図で点線は、レイアウトパターンデータと回路図
データの異なった部分を示す。
FIG. 3 shows an example in which an error is displayed on circuit diagram data. In the figure, dotted lines indicate different parts of the layout pattern data and circuit diagram data.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、レイアウトパターンデー
タと回路図データとの間で検証用情報を比較検証し、検
証結果を記jilt,、その検証結果によりレイアウト
パターンデータのエラー出力された検証用情報を回路図
データ上に戻し、どのように異なっているかをエラー表
示するようにしたごとにより、一目でレイアウトパター
ンデータの接続ミス、デハイス数等のミスが判断でき、
エラー個所、エラー内容の修正が容易になる。また、検
証ルールの修正、デバッグについても容易になる。
As explained above, the present invention compares and verifies verification information between layout pattern data and circuit diagram data, records the verification results, and uses the verification results to compare and verify verification information that is output as an error in layout pattern data. By returning the circuit diagram to the circuit diagram data and displaying an error message indicating the difference, it is possible to determine at a glance any mistakes in the layout pattern data, such as connection errors, number of dehyces, etc.
It becomes easier to correct the error location and error content. It also makes it easier to modify and debug verification rules.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明によるレイアウトパターン検証方法の一
実施例の説明図、第2図は第1図で説明する実施例にお
ける動作を示すフローチャート、第3図は第1図で説明
する実施例による回路図データ上でのエラー表示例を示
すデータ図、第4図は従来のレイアウトパターン検証方
法の説明図、第5図は第4図で説明する従来方法におけ
る動作を示すフローヂャート、第6図は第4図で説明す
る従来方法による回路図データ上でのエラー表示例を示
すデータ図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram of an embodiment of the layout pattern verification method according to the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing the operation in the embodiment explained in FIG. 1, and FIG. 3 is according to the embodiment explained in FIG. 1. A data diagram showing an example of error display on circuit diagram data, Fig. 4 is an explanatory diagram of a conventional layout pattern verification method, Fig. 5 is a flowchart showing the operation of the conventional method explained in Fig. 4, and Fig. 6 is a 5 is a data diagram showing an example of error display on circuit diagram data according to the conventional method described in FIG. 4. FIG.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 レイアウトパターンデータと回路図データのデバイス情
報、回路接続情報等の検証用情報について前記レイアウ
トパターンデータと回路図データとの間で比較検証する
ための検証ルールと、この検証ルールを用いて前記比較
検証を行ない、検証結果を記憶するレイアウト検証モジ
ュールと、前記記憶された検証結果におけるレイアウト
パターンデータエラーについてのエラー状態を回路図中
に表示するための回路図へのエラーフィードバック表示
処理モジュールと、 回路図データ上にエラー内容を表示するエラー表示モジ
ュールとを 有することを特徴とするレイアウトパターン検証方法。
[Claims] A verification rule for comparing and verifying verification information such as device information and circuit connection information between the layout pattern data and circuit diagram data between the layout pattern data and the circuit diagram data, and this verification rule. a layout verification module that performs the comparative verification using the above and stores the verification results; and an error feedback display on the circuit diagram for displaying an error state regarding a layout pattern data error in the stored verification results in the circuit diagram. A layout pattern verification method comprising: a processing module; and an error display module that displays error details on circuit diagram data.
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