JPH03215731A - ガス分析計 - Google Patents
ガス分析計Info
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- JPH03215731A JPH03215731A JP2010943A JP1094390A JPH03215731A JP H03215731 A JPH03215731 A JP H03215731A JP 2010943 A JP2010943 A JP 2010943A JP 1094390 A JP1094390 A JP 1094390A JP H03215731 A JPH03215731 A JP H03215731A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、ガス分析計に関し、特に、差量測定方式のガ
ス分析計の改良に関する。
ス分析計の改良に関する。
〔従来の技術]
例えばある試料ガス中に含まれるCOの濃度を、赤外線
ガス分析計を用いて測定するには、次のようにすれば簡
単に行うことができる。すなわち、試料ガスを、例えば
酸化触媒を収容した反応槽に導いてCOを酸化してCO
2に変換し、この変換によって生じたCO,を含む試料
ガスを赤外線ガス分析計に供給してco.m度を測定し
、この濃度からCOの濃度を得るようにすればよい。
ガス分析計を用いて測定するには、次のようにすれば簡
単に行うことができる。すなわち、試料ガスを、例えば
酸化触媒を収容した反応槽に導いてCOを酸化してCO
2に変換し、この変換によって生じたCO,を含む試料
ガスを赤外線ガス分析計に供給してco.m度を測定し
、この濃度からCOの濃度を得るようにすればよい。
しかしながら、前記試料ガス中にCO.(このCOtの
ことをヘースガスと云う)が予め含まれている場合には
、前記反応槽を経た試料ガス中には、ヘースガスと反応
槽内で新たに生したCO■(このC O zのことを差
量ガスと云う)とが共存することになるので、上記手段
は採用することはできない。
ことをヘースガスと云う)が予め含まれている場合には
、前記反応槽を経た試料ガス中には、ヘースガスと反応
槽内で新たに生したCO■(このC O zのことを差
量ガスと云う)とが共存することになるので、上記手段
は採用することはできない。
そこで、従来は、第5図に示すように、2つの赤外線ガ
ス分析計51. 52を用意する一方、ヘースガスとし
てのC O zと測定ガスとしてのCOとを含んだ試料
ガスが流れるガス流路53を2つの分岐ガス流路54.
55に分岐し、一方の分岐ガス流路54に前記と同様
構成の反応槽56を設け、この反応槽56の下流側の分
岐ガス流路54の端部を赤外線ガス分析計51に接続す
ると共に、他方の分岐ガス流路55には何も設けず、そ
の下流端を赤外線ガス分析計51. 52にそれぞれ接
続し、一方の赤外線ガス分析計51によって差量ガスの
濃度を測定すると共に、他方の赤外線ガス分析計52に
よってベースガスの濃度を測定し、赤外線ガス分析計5
1の出力信号を、赤外線ガス分析計52の出力信号で割
算して補正するようにしている。
ス分析計51. 52を用意する一方、ヘースガスとし
てのC O zと測定ガスとしてのCOとを含んだ試料
ガスが流れるガス流路53を2つの分岐ガス流路54.
55に分岐し、一方の分岐ガス流路54に前記と同様
構成の反応槽56を設け、この反応槽56の下流側の分
岐ガス流路54の端部を赤外線ガス分析計51に接続す
ると共に、他方の分岐ガス流路55には何も設けず、そ
の下流端を赤外線ガス分析計51. 52にそれぞれ接
続し、一方の赤外線ガス分析計51によって差量ガスの
濃度を測定すると共に、他方の赤外線ガス分析計52に
よってベースガスの濃度を測定し、赤外線ガス分析計5
1の出力信号を、赤外線ガス分析計52の出力信号で割
算して補正するようにしている。
この第5図において、差量ガスの濃度を測定する赤外線
ガス分析計51の他に、ヘースガスの濃度を測定する赤
外線ガス分析計52を設けて、上述のように出力の補正
を行うようにしているのは次の理由による。
ガス分析計51の他に、ヘースガスの濃度を測定する赤
外線ガス分析計52を設けて、上述のように出力の補正
を行うようにしているのは次の理由による。
すなわち、ヘースガス濃度とその出力との関係(その曲
線を検量線Kと云う)は、第6図に示すように、ヘース
ガス濃度が比較的低い(小さい)ときは両者は比例関係
にあるが、ベースガス濃度が大きくなるにつれて比例関
係が崩れて出力が飽和するようになる。従って、ヘース
ガス濃度が比較的低い領域における幅aに対する出力の
幅Cと、ヘースガス濃度が高い領域における幅aに対す
る出力の幅dとでは、codとなって出力が異なる.つ
まり、上記第5図に示す構成によれば、赤外線ガス分析
計51からの出力信号は差量ガスの濃度を示すものでは
あるが、ヘースガス濃度の影響を大きく受けているので
、前記出力信号を、ベースガス濃度を測定する赤外線ガ
ス分析計52の出力信号で割算をするなどして補正する
必要がある。
線を検量線Kと云う)は、第6図に示すように、ヘース
ガス濃度が比較的低い(小さい)ときは両者は比例関係
にあるが、ベースガス濃度が大きくなるにつれて比例関
係が崩れて出力が飽和するようになる。従って、ヘース
ガス濃度が比較的低い領域における幅aに対する出力の
幅Cと、ヘースガス濃度が高い領域における幅aに対す
る出力の幅dとでは、codとなって出力が異なる.つ
まり、上記第5図に示す構成によれば、赤外線ガス分析
計51からの出力信号は差量ガスの濃度を示すものでは
あるが、ヘースガス濃度の影響を大きく受けているので
、前記出力信号を、ベースガス濃度を測定する赤外線ガ
ス分析計52の出力信号で割算をするなどして補正する
必要がある。
なお、第5図において、57. 58は分岐ガス流路5
4. 55にそれぞれ設けられるポンプである。
4. 55にそれぞれ設けられるポンプである。
しかしながら、上記第5図に示した従来技術によれば、
差量ガス濃度を測定する赤外線ガス分析計51の他に、
ベースガス濃度を測定する赤外線ガス分析計52をも必
要とするので、それだけ構成が複雑になり、コストアン
プになる。そして、2台の赤外線ガス分析計51. 5
2を使用することは、次のような重要な問題がある。す
なわち、2台の赤外線ガス分析計51. 52において
は、安定性や応答性などその測定特性に多少なりとも差
があるが、この差に起因して測定誤差が生ずるおそれが
多分にある。
差量ガス濃度を測定する赤外線ガス分析計51の他に、
ベースガス濃度を測定する赤外線ガス分析計52をも必
要とするので、それだけ構成が複雑になり、コストアン
プになる。そして、2台の赤外線ガス分析計51. 5
2を使用することは、次のような重要な問題がある。す
なわち、2台の赤外線ガス分析計51. 52において
は、安定性や応答性などその測定特性に多少なりとも差
があるが、この差に起因して測定誤差が生ずるおそれが
多分にある。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、1つのガス分析計のみで差量ガス
濃度を測定することができ、安価にしかも精度よく所定
の濃度測定を行なえるようにすることにある。
目的とするところは、1つのガス分析計のみで差量ガス
濃度を測定することができ、安価にしかも精度よく所定
の濃度測定を行なえるようにすることにある。
上述の目的を達成するため、本発明に係るガス分析計は
、光源から照射される光を、ヘースガスを含む第1試料
ガスと、前記ヘースガスを第1試料ガスと同様に含み反
応部を3Ii遇することによりヘースガス濃度が変化す
る第2試料ガスとに対し、一定周期(交流変調周波数)
で通過させるように構成すると共に、前記第1試料ガス
および第2試料ガスをそれぞれ通過した光に対応するよ
うに検出器を設け、この検出器の出力信号から前記第1
試料ガスを通過した光エネルギーと前記第2試料ガスを
通過した光エネルギーとのエネルギー差に相当する交流
成分を取り出すように構成し、さらに、前記光源から照
射される光の強度を前記交流変調周波数とは異なる周波
数(光源変調周波数)で変化させると共に、前記検出器
の出力信号を、前記交流変調周波数の交流成分の第1信
号と前記光源変調周波数の交流成分の第2信号とに分離
して、第1信号を第2信号で補正するように構成した点
に特徴がある。
、光源から照射される光を、ヘースガスを含む第1試料
ガスと、前記ヘースガスを第1試料ガスと同様に含み反
応部を3Ii遇することによりヘースガス濃度が変化す
る第2試料ガスとに対し、一定周期(交流変調周波数)
で通過させるように構成すると共に、前記第1試料ガス
および第2試料ガスをそれぞれ通過した光に対応するよ
うに検出器を設け、この検出器の出力信号から前記第1
試料ガスを通過した光エネルギーと前記第2試料ガスを
通過した光エネルギーとのエネルギー差に相当する交流
成分を取り出すように構成し、さらに、前記光源から照
射される光の強度を前記交流変調周波数とは異なる周波
数(光源変調周波数)で変化させると共に、前記検出器
の出力信号を、前記交流変調周波数の交流成分の第1信
号と前記光源変調周波数の交流成分の第2信号とに分離
して、第1信号を第2信号で補正するように構成した点
に特徴がある。
上記特徴的構成よりなる本発明のガス分析計においては
、特に、検出器の出力信号を、交流変調周波数の交流成
分の第1信号と光源変調周波数の交流成分の第2信号と
に分離して、第1信号を第2信号で補正するようにして
いるので、正確に濃度測定を行うことができる。
、特に、検出器の出力信号を、交流変調周波数の交流成
分の第1信号と光源変調周波数の交流成分の第2信号と
に分離して、第1信号を第2信号で補正するようにして
いるので、正確に濃度測定を行うことができる。
C実施例〕
以下、本発明の寞施例を図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の第1実施例に係るガス分析計の構成を
概略的に示し、この回において、1,2は互いに並列的
に設けられた同形、同寸のセルで、それぞれの両端部に
は後述する光源3.4からの光を充分に通遇させること
ができるセル窓1a, 2aが設けられていると共に、
それぞれの適宜位置にはガス導入口1b, 2b、ガス
導出口1c, 2cが形成されている。
概略的に示し、この回において、1,2は互いに並列的
に設けられた同形、同寸のセルで、それぞれの両端部に
は後述する光源3.4からの光を充分に通遇させること
ができるセル窓1a, 2aが設けられていると共に、
それぞれの適宜位置にはガス導入口1b, 2b、ガス
導出口1c, 2cが形成されている。
3.4はセル1.2の一端側に設けられ、セル1.2を
それぞれ照射するための光源で、例えば赤外光を発する
ようにしてある。5.6はそれぞれの光a3,4の電源
である。そして、光源4と電′a6との間にはスイッチ
ング素子7が介装してあって、光源4を所定の周波数、
例えば2}[Zでオ?オフするようにしてある. 8はセル1.2と光s3.4との間に介装され、光源3
.4からの赤外光を一定周期で断続することにより後述
する検出器14から交流成分を出力させるための光チョ
ッパで、9はその駆動用モータである。そして、この光
チョッパの断続周波数は例えば5Hzである。
それぞれ照射するための光源で、例えば赤外光を発する
ようにしてある。5.6はそれぞれの光a3,4の電源
である。そして、光源4と電′a6との間にはスイッチ
ング素子7が介装してあって、光源4を所定の周波数、
例えば2}[Zでオ?オフするようにしてある. 8はセル1.2と光s3.4との間に介装され、光源3
.4からの赤外光を一定周期で断続することにより後述
する検出器14から交流成分を出力させるための光チョ
ッパで、9はその駆動用モータである。そして、この光
チョッパの断続周波数は例えば5Hzである。
lOは試料ガス流路で、その途中で2つの分岐ガス流路
101, 102に分岐されており、一方の分岐ガス流
路(以下、第1試料ガス供給路と云う)101には反応
槽11とボンプ12とが設けてあって、その下流側はセ
ル1のガス導入口1bに接続されている。
101, 102に分岐されており、一方の分岐ガス流
路(以下、第1試料ガス供給路と云う)101には反応
槽11とボンプ12とが設けてあって、その下流側はセ
ル1のガス導入口1bに接続されている。
また、他方の分岐ガス流路(以下、第2試料ガス供給路
と云う)l02にはボンプ13のみが設けてあって、そ
の下流側はセル2のガス導入口2bに接続されている。
と云う)l02にはボンプ13のみが設けてあって、そ
の下流側はセル2のガス導入口2bに接続されている。
そして、この実施例においては、試料ガス流路10を流
れる試料ガスGはヘースガスとしてのCO■と測定対象
ガスとしてのCOとを含む排ガスであり、反応槽11内
には内部を適宜の温度に加熱するためのヒータの他、C
Oの酸化反応を促進させる酸化触媒が収納されている。
れる試料ガスGはヘースガスとしてのCO■と測定対象
ガスとしてのCOとを含む排ガスであり、反応槽11内
には内部を適宜の温度に加熱するためのヒータの他、C
Oの酸化反応を促進させる酸化触媒が収納されている。
従って、ヘースガスの濃度をYとし、差量ガス濃度をX
とすると、第1試料ガス供給路101内におけるCO.
濃度はX+Yとなり、また、第2試料ガス供給路102
内におけるCO2濃度はYとなる。
とすると、第1試料ガス供給路101内におけるCO.
濃度はX+Yとなり、また、第2試料ガス供給路102
内におけるCO2濃度はYとなる。
14はセル1.2の他端側に設けられた検出器としての
コンデンサマイクロホン型検出器で、その2つの受光室
141, 142がセル1.2にそれぞれ対応するよう
に配置されている。すなわち、この検出器14の内部は
可動膜143によって2つの受光室14L 142に区
画され、各受光室141, 142内には既知濃度のC
O2が充填されている。また、受光室141には可動膜
143に対向するよう固定極144が設けてあり、この
固定極144からの出力信号はブリアンプ15を介して
後述する信号処理部16に供給されるようにしてある。
コンデンサマイクロホン型検出器で、その2つの受光室
141, 142がセル1.2にそれぞれ対応するよう
に配置されている。すなわち、この検出器14の内部は
可動膜143によって2つの受光室14L 142に区
画され、各受光室141, 142内には既知濃度のC
O2が充填されている。また、受光室141には可動膜
143に対向するよう固定極144が設けてあり、この
固定極144からの出力信号はブリアンプ15を介して
後述する信号処理部16に供給されるようにしてある。
ここまでの説明から明らかなように、この実施例におい
ては、赤外線ガス分析計に構成されている。そして、こ
の赤外線ガス分析計において、試?ガス流路10にCO
■およびCOを含む試料ガスGを流すと、第1試料ガス
供給路101を介してCO■濃度がX十Yである第1試
料ガスG.がセル1に導入され、第2試料ガス供給路1
02を介してCO■濃度がYである第2試料ガスG2が
セル2に導入される。この状態で、光チョッパ8によっ
て光源3.4からの光を5}{Zで断続して変ill(
交流出力変調)すると共に、セル2に対応する光源4を
2}{zでオンオフ(光源変1)すると、検出器l4か
らは交流出力変調周波数(5Hz)付近の帯域の交流信
号と、光源変調周波数(2七)付近の帯域の交流信号と
が重畳された出力信号Sが出力される。
ては、赤外線ガス分析計に構成されている。そして、こ
の赤外線ガス分析計において、試?ガス流路10にCO
■およびCOを含む試料ガスGを流すと、第1試料ガス
供給路101を介してCO■濃度がX十Yである第1試
料ガスG.がセル1に導入され、第2試料ガス供給路1
02を介してCO■濃度がYである第2試料ガスG2が
セル2に導入される。この状態で、光チョッパ8によっ
て光源3.4からの光を5}{Zで断続して変ill(
交流出力変調)すると共に、セル2に対応する光源4を
2}{zでオンオフ(光源変1)すると、検出器l4か
らは交流出力変調周波数(5Hz)付近の帯域の交流信
号と、光源変調周波数(2七)付近の帯域の交流信号と
が重畳された出力信号Sが出力される。
16は信号処理部で、ブリアンプ15を介して人力され
る検出器14からの出力信号Sを処理して、差量ガス濃
度を表す信号を得るようにするもので、交流出力変調周
波数付近の帯域の信号のみを分離して取り出す(通過さ
せる)ためのバンドパスフィルタ17と平滑回路19と
を直列に接続してなる差量濃度信号としての第1信号を
取り出す処理系列21と、光源変調周波数付近の帯域の
信号のみを分離して取り出す(通過させる)ためのバン
ドバスフィルタ18と平滑回路20とを直列に接続して
なるベース濃度信号としての第2信号を取り出す処理系
列22と、第1信号および第2信号を入力とし、第I信
号を第2信号で補正するための補正回路23とからなる
。
る検出器14からの出力信号Sを処理して、差量ガス濃
度を表す信号を得るようにするもので、交流出力変調周
波数付近の帯域の信号のみを分離して取り出す(通過さ
せる)ためのバンドパスフィルタ17と平滑回路19と
を直列に接続してなる差量濃度信号としての第1信号を
取り出す処理系列21と、光源変調周波数付近の帯域の
信号のみを分離して取り出す(通過させる)ためのバン
ドバスフィルタ18と平滑回路20とを直列に接続して
なるベース濃度信号としての第2信号を取り出す処理系
列22と、第1信号および第2信号を入力とし、第I信
号を第2信号で補正するための補正回路23とからなる
。
而して、このように構成された赤外線ガス分析計におい
て、試料ガス流路10に試料ガスGを流して、第1ガス
G1をセル1に導入すると共に、第2ガスG2をセル2
に導入し、光チゴソパ8を5七(変調出力周波数)で回
転させると共に、光源3.4から赤外光を発し、しかも
、光源4からの光を前記変調出力周波数とは異なる2H
z(光源変調周波数)でオンオフさせると、検出器14
からは前記ベースガス濃度Yおよび差量ガス濃度Xにそ
れぞれ対応した信号y,xが重畳した状態の信号Sが出
力される。
て、試料ガス流路10に試料ガスGを流して、第1ガス
G1をセル1に導入すると共に、第2ガスG2をセル2
に導入し、光チゴソパ8を5七(変調出力周波数)で回
転させると共に、光源3.4から赤外光を発し、しかも
、光源4からの光を前記変調出力周波数とは異なる2H
z(光源変調周波数)でオンオフさせると、検出器14
からは前記ベースガス濃度Yおよび差量ガス濃度Xにそ
れぞれ対応した信号y,xが重畳した状態の信号Sが出
力される。
そして、この信号Sをブリアンプ15において適宜増幅
した後、信号処理部16に入力する。一方の処理系列2
1によって、前記交流変調周波数の交流成分の第1信号
、すなわち、差量ガス濃度Xを表す信号Xが、また、他
方の処理系列22においては、前記光源変調周波数の交
流成分の第2信号、すなわち、ベースガス濃度Yを表す
信号yが、それぞれ互いに独立した状態で取り出される
。そして、既に説明したように、信号Xは信号yの影響
を受けているため、これら両信号x,yを補正回路23
に入力して、第6図に示す検量線Kの逆関数を用いて、
信号Xを信号yで補正するのである。
した後、信号処理部16に入力する。一方の処理系列2
1によって、前記交流変調周波数の交流成分の第1信号
、すなわち、差量ガス濃度Xを表す信号Xが、また、他
方の処理系列22においては、前記光源変調周波数の交
流成分の第2信号、すなわち、ベースガス濃度Yを表す
信号yが、それぞれ互いに独立した状態で取り出される
。そして、既に説明したように、信号Xは信号yの影響
を受けているため、これら両信号x,yを補正回路23
に入力して、第6図に示す検量線Kの逆関数を用いて、
信号Xを信号yで補正するのである。
次に、この補正の一例を、第4図を参照しながら説明す
る。
る。
今、一定の光量変化に対する分析計出力yは、第4図に
おいて曲線1 (y = f (Y))で示すように、
ベースガス濃度Yにのみ対応して変化する。
おいて曲線1 (y = f (Y))で示すように、
ベースガス濃度Yにのみ対応して変化する。
そして、差量ガス濃度Xに対する分析計出力Xは、既に
説明したように、XおよびYに対応して変化し、ある濃
度X0のときにおけるベースガス濃度Yに対応した出力
Xは、第4図において曲線II (x = g (Y)
)で示すように、変化する.例えばベースガス濃度Yに
比べて差量ガス濃度Xが微少レヘルの場合、第6図にお
いて、a/ V e ”= b / X O と近イ以することができる。
説明したように、XおよびYに対応して変化し、ある濃
度X0のときにおけるベースガス濃度Yに対応した出力
Xは、第4図において曲線II (x = g (Y)
)で示すように、変化する.例えばベースガス濃度Yに
比べて差量ガス濃度Xが微少レヘルの場合、第6図にお
いて、a/ V e ”= b / X O と近イ以することができる。
つまり、
(yo y)/ )’o =(xo x)/ Xo
なる関係が成り立つ。従って、 X X0=−×y, ・・・・・・
(1)y となる。
なる関係が成り立つ。従って、 X X0=−×y, ・・・・・・
(1)y となる。
よって、信号Xおよびyから、ベースガス濃度0のとき
の差量ガス濃度Xに対する出力補正を、上記(1)式に
基づいて行うことができる。
の差量ガス濃度Xに対する出力補正を、上記(1)式に
基づいて行うことができる。
なお、y0は分析計におけるベースガス濃度Yにより予
め求めておく。
め求めておく。
以上のような補正を行うことにより、信号処理部16か
らは、正しい差量濃度を表す信号Sが出力される. 上述の第1実施例においては、検出器14から交流成分
を出力させるために光チョッパ8を用いていたが、この
光チゴノパ8を用いる代わりに、セル1.2に対して第
1試料ガスGlと第2試料ガスG!とを、一定周期で交
互に供給するようにして、所謂流体変調を行うようにし
てもよい.第2図はこのように流体変調を行うようにし
た本発明の第2実施例に係るガス分析計の構成を概略的
に示し、この図において、第1図に示す符号と同一符号
は同一物または相当物を示す.第2図において、24は
試料ガス流路10とセル1,2との間に設けられる流体
変調手段としてのロータリーパルプで、そのハウジング
25内には板状の切替え手段としてのロータ26が設け
られている。
らは、正しい差量濃度を表す信号Sが出力される. 上述の第1実施例においては、検出器14から交流成分
を出力させるために光チョッパ8を用いていたが、この
光チゴノパ8を用いる代わりに、セル1.2に対して第
1試料ガスGlと第2試料ガスG!とを、一定周期で交
互に供給するようにして、所謂流体変調を行うようにし
てもよい.第2図はこのように流体変調を行うようにし
た本発明の第2実施例に係るガス分析計の構成を概略的
に示し、この図において、第1図に示す符号と同一符号
は同一物または相当物を示す.第2図において、24は
試料ガス流路10とセル1,2との間に設けられる流体
変調手段としてのロータリーパルプで、そのハウジング
25内には板状の切替え手段としてのロータ26が設け
られている。
そして、ハウジング25には周囲を4等分するように4
つの孔27〜30が開設されており、孔27には第1試
料ガス供給路101の下流端が接続され、また、孔28
には第2試料ガス供給路102の下流端が接続され、さ
らに、孔29は連結流路31を介してセル1のガス導入
口1bに接続されると共に、孔30は連結流路32を介
してセル1のガス導入口2bに接続サれている。
つの孔27〜30が開設されており、孔27には第1試
料ガス供給路101の下流端が接続され、また、孔28
には第2試料ガス供給路102の下流端が接続され、さ
らに、孔29は連結流路31を介してセル1のガス導入
口1bに接続されると共に、孔30は連結流路32を介
してセル1のガス導入口2bに接続サれている。
なお、セルI,2のガス導出口1c, 2cは図外の排
出流路に接続されている。
出流路に接続されている。
而して、このように構成された赤外線ガス分析計におい
て、試料ガス流路10に試料ガスGを流して、ロータリ
ーバルブ24のロータ26を矢印R方向に回転させて、
セル1.2に対して第1試料ガスG1と第2試料ガスG
2とを交互に、しかも、その切替え周期が1セ(変調出
力周波数)になるようにすると共に、光源3.4から赤
外光を発し、しかも、光源4からの光を前記変調出力周
波数とは異なる2七(光源変調周波数)でオンオフさせ
るのである。この場合も第1実施例と同様に、検出器1
4からは差量ガス濃度Xおよびベースガス濃度Yにそれ
ぞれ対応した信号x.yが重畳した状態の信号Sが出力
されるので、この信号Sを信号処理部16において同様
に処理すればよい。
て、試料ガス流路10に試料ガスGを流して、ロータリ
ーバルブ24のロータ26を矢印R方向に回転させて、
セル1.2に対して第1試料ガスG1と第2試料ガスG
2とを交互に、しかも、その切替え周期が1セ(変調出
力周波数)になるようにすると共に、光源3.4から赤
外光を発し、しかも、光源4からの光を前記変調出力周
波数とは異なる2七(光源変調周波数)でオンオフさせ
るのである。この場合も第1実施例と同様に、検出器1
4からは差量ガス濃度Xおよびベースガス濃度Yにそれ
ぞれ対応した信号x.yが重畳した状態の信号Sが出力
されるので、この信号Sを信号処理部16において同様
に処理すればよい。
上述の第2実施例では、所謂流体変調を行うものにおい
て、2つのセル1.2を用いた所謂2セルタイプに構成
してあったが、セルを一つだけ用い、このセルに第1試
料ガスG1と第2試料ガスG2とを交互に一定周期で切
り替わるように流してもよい. 第3図は単一のセルを用いた流体変調方式の赤外線ガス
分析計の構成を概略的に示し、この図において、第1図
または第2図に示す符号と同一符号は同一物または相当
物を示す。
て、2つのセル1.2を用いた所謂2セルタイプに構成
してあったが、セルを一つだけ用い、このセルに第1試
料ガスG1と第2試料ガスG2とを交互に一定周期で切
り替わるように流してもよい. 第3図は単一のセルを用いた流体変調方式の赤外線ガス
分析計の構成を概略的に示し、この図において、第1図
または第2図に示す符号と同一符号は同一物または相当
物を示す。
この第3図において、33は第1ガスG,と第2ガスG
tとが交互に一定周期で供給されるセルで、その両端に
はセル窓33aが設けられていると共に、適宜位置には
ガス導入口33b、ガス導出口33cが形成されている
。そして、34はセル33の一方のセル窓33aに対向
してに設けられ、セル33を照射するための光源で、そ
の電[35との間にはスイッチング素子36が介装して
あって、例えば2}{Zでオンオフするようにしてある
。
tとが交互に一定周期で供給されるセルで、その両端に
はセル窓33aが設けられていると共に、適宜位置には
ガス導入口33b、ガス導出口33cが形成されている
。そして、34はセル33の一方のセル窓33aに対向
してに設けられ、セル33を照射するための光源で、そ
の電[35との間にはスイッチング素子36が介装して
あって、例えば2}{Zでオンオフするようにしてある
。
37は試料ガス流路10とセル33との間に設けられる
流体変調手段としてのロータリーバルプで、そのハウジ
ング38内には板状の切替え手段としてのロータ39が
設けられている。そして、ハウジング38には周囲を4
等分するように4つの孔40〜43が開設されており、
孔40には第1試料ガス供給路101の下流端が接続さ
れ、また、孔41には第2ガス供給路102の下流端が
接続され、さらに、孔42は連結流路44を介してセル
33のガス導入口33bに接続され、孔43は図外の排
出流路に接続されている。なお。セル33のガス導出口
33cは図外の排出流路に接続されている。
流体変調手段としてのロータリーバルプで、そのハウジ
ング38内には板状の切替え手段としてのロータ39が
設けられている。そして、ハウジング38には周囲を4
等分するように4つの孔40〜43が開設されており、
孔40には第1試料ガス供給路101の下流端が接続さ
れ、また、孔41には第2ガス供給路102の下流端が
接続され、さらに、孔42は連結流路44を介してセル
33のガス導入口33bに接続され、孔43は図外の排
出流路に接続されている。なお。セル33のガス導出口
33cは図外の排出流路に接続されている。
44はセル33の他方のセル窓33aに対向して設けら
れる検出器で、例えばパイロセンサである.而して、こ
のように構成された赤外線ガス分析計の動作については
、第2図に示すものと変わるところがないのでその説明
は省略する.本発明は上記の実施例に限られるものでは
なく、例えば紫外線ガス分析計など他のガス分析計にも
適用することができる。そして、第2図および第3図に
示すロータリバルブ24. 37に代えて、4方切替え
弁や3方切替え弁などを用いてもよい。また、第3図に
示す実施例において、パイロセンサに代えて、コンデン
サマイクロホン検出器ヲ用いてもよい。
れる検出器で、例えばパイロセンサである.而して、こ
のように構成された赤外線ガス分析計の動作については
、第2図に示すものと変わるところがないのでその説明
は省略する.本発明は上記の実施例に限られるものでは
なく、例えば紫外線ガス分析計など他のガス分析計にも
適用することができる。そして、第2図および第3図に
示すロータリバルブ24. 37に代えて、4方切替え
弁や3方切替え弁などを用いてもよい。また、第3図に
示す実施例において、パイロセンサに代えて、コンデン
サマイクロホン検出器ヲ用いてもよい。
〔発明の効果]
以上説明したように、本発明においては、差量ガス濃度
を表す第1信号とヘースガス濃度を表す第2信号とが重
畳された交流信号を単一の検出器を用いて得るようにし
、この検出器からの出力を第1信号と第2信号とに分離
して、第1信号を第2信号で補正するようにしているの
で、正確に濃度測定を行うことができ、しかも、従来と
異なって、2つの検出器を用いる必要がないから、構成
が極めて簡単になり、測定精度の高いガス分析計を安価
に得ることができる。
を表す第1信号とヘースガス濃度を表す第2信号とが重
畳された交流信号を単一の検出器を用いて得るようにし
、この検出器からの出力を第1信号と第2信号とに分離
して、第1信号を第2信号で補正するようにしているの
で、正確に濃度測定を行うことができ、しかも、従来と
異なって、2つの検出器を用いる必要がないから、構成
が極めて簡単になり、測定精度の高いガス分析計を安価
に得ることができる。
第1図〜第3図は本発明の実施例を示し、第1図は第1
実施例に係るガス分析計の構成を示す図、第2図は第2
実施例に係るガス分析計の構成を示す図、第3図は第3
実施例に係るガス分析計の構成を示す図である。 第4図は補正回路で行われる信号補正の一例を説明する
ためのグラフである。 第5図は従来例を示す図である。 第6図はヘースガス濃度と出力との関係を示す図である
。 3.4.34・・・光源、l1・・・反応部、14.
44・・・検出器、G1・・・第1試料ガス、G2・・
・第2試料ガス、S・・・検出器の出力信号、X・・・
第1信号、y・・・第2信号.
実施例に係るガス分析計の構成を示す図、第2図は第2
実施例に係るガス分析計の構成を示す図、第3図は第3
実施例に係るガス分析計の構成を示す図である。 第4図は補正回路で行われる信号補正の一例を説明する
ためのグラフである。 第5図は従来例を示す図である。 第6図はヘースガス濃度と出力との関係を示す図である
。 3.4.34・・・光源、l1・・・反応部、14.
44・・・検出器、G1・・・第1試料ガス、G2・・
・第2試料ガス、S・・・検出器の出力信号、X・・・
第1信号、y・・・第2信号.
Claims (1)
- 光源から照射される光を、ベースガスを含む第1試料ガ
スと、前記ベースガスを第1試料ガスと同様に含み反応
部を通過することによりベースガス濃度が変化する第2
試料ガスとに対し、一定周期(交流変調周波数)で通過
させるように構成すると共に、前記第1試料ガスおよび
第2試料ガスをそれぞれ通過した光に対応するように検
出器を設け、この検出器の出力信号から前記第1試料ガ
スを通過した光エネルギーと前記第2試料ガスを通過し
た光エネルギーとのエネルギー差に相当する交流成分を
取り出すように構成し、さらに、前記光源から照射され
る光の強度を前記交流変調周波数とは異なる周波数(光
源変調周波数)で変化させると共に、前記検出器の出力
信号を、前記交流変調周波数の交流成分の第1信号と前
記光源変調周波数の交流成分の第2信号とに分離して、
第1信号を第2信号で補正するように構成したことを特
徴とするガス分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010943A JPH03215731A (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | ガス分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010943A JPH03215731A (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | ガス分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03215731A true JPH03215731A (ja) | 1991-09-20 |
Family
ID=11764288
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010943A Pending JPH03215731A (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | ガス分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03215731A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0573560U (ja) * | 1992-03-09 | 1993-10-08 | 日本電信電話株式会社 | 携帯用においセンサ |
-
1990
- 1990-01-20 JP JP2010943A patent/JPH03215731A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0573560U (ja) * | 1992-03-09 | 1993-10-08 | 日本電信電話株式会社 | 携帯用においセンサ |
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