JPH03215953A - Method and device for inner lead bonding - Google Patents
Method and device for inner lead bondingInfo
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- JPH03215953A JPH03215953A JP1124090A JP1124090A JPH03215953A JP H03215953 A JPH03215953 A JP H03215953A JP 1124090 A JP1124090 A JP 1124090A JP 1124090 A JP1124090 A JP 1124090A JP H03215953 A JPH03215953 A JP H03215953A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、例えば、T A B (Tape Auto
matedBond I ng)技術を用い、シネフィ
ルム状のTABテブにICチップを実装するインナリー
ドボンディング装置およびインナリードボンディング方
法に関する。[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention is directed to, for example, T A B (Tape Auto
The present invention relates to an inner lead bonding device and an inner lead bonding method for mounting an IC chip on a cine film-like TAB tube using a mated bonding technique.
(従来の技術)
一般に、T A B (Tape Automated
Bonding)技術を利用してICチップをインナ
リードに接続するインナリードボンディング装置(以下
、ILB装置と称する)として、第5図に示すようなも
のがある。(Prior art) Generally, T A B (Tape Automated
There is an inner lead bonding device (hereinafter referred to as an ILB device) that connects an IC chip to an inner lead using a bonding technique as shown in FIG.
すなわち、このILB装置1は、シネフルム状の長尺テ
ープとしてのキャリアテーブ(以下、テ−プと称する)
2を装置上で走行させるとともに、テープ2に形成され
間欠的に配置された回路パタン3・・・をボンディング
位置で一旦停止させる。That is, this ILB device 1 uses a carrier tape (hereinafter referred to as tape) as a long tape in the form of a cinefilm.
2 is run on the device, and the circuit patterns 3 formed on the tape 2 and arranged intermittently are temporarily stopped at the bonding position.
そして、ILB装置1はピックアンドプレースユニット
4により、ウエハ5に形成されたICチップ6・・・の
うちから1つのICチップをピックアップしてボンデイ
ンダステージ7に供給したのち、回路パターン3とボン
ディングステージ7に供給されたICチップとを対向さ
せ位置合せする。Then, the ILB device 1 uses the pick-and-place unit 4 to pick up one IC chip from among the IC chips 6 formed on the wafer 5 and supplies it to the bonder stage 7, and then performs bonding with the circuit pattern 3. The IC chips supplied to the stage 7 are aligned so as to face each other.
さらに、ILB装置1は、加熱されたボンディングツー
ル8を下降させ、このボンディングツール8により上記
ICチップとインナリード9・・・とを加熱圧着して接
続する。そして、ILB装置1は、1箇所の回路パター
ン3につき1つのICチップを装着するとともに、これ
らのボンディング動作を繰り返して、1本のテープ2に
ウエハ5のICチップ6・・・を順次実装する。Further, the ILB device 1 lowers the heated bonding tool 8, and uses the bonding tool 8 to heat and press the IC chip and the inner leads 9 to connect them. Then, the ILB device 1 attaches one IC chip to each circuit pattern 3 and repeats these bonding operations to sequentially mount the IC chips 6 of the wafer 5 on one tape 2. .
また、最近ではTAB部品の多様化に伴って、1つの回
路パターン3に例えば2〜3種類のICチップを装着す
る必要が生じつつある。Furthermore, recently, with the diversification of TAB components, it has become necessary to mount, for example, two to three types of IC chips on one circuit pattern 3.
そして、このように1つの回路パターン3に複数種類の
ICチップを装着することを上述のような従来の装置1
を用いて行う場合には、1つの種類のICチップをテー
プに、]−つのリールにつき全て実装したのち、テープ
をリールに一旦巻き戻してから再びテープを走行させて
、ツール交換後、別の種類のICチップを実装していた
。そして、このようにテープの巻き戻しと走行を繰り返
しながら、複数個および複数種類のICチップを1つの
回路パターン或いは1本のテープに装着することを行っ
ていた。The above-mentioned conventional device 1 is capable of mounting multiple types of IC chips on one circuit pattern 3 in this way.
When using IC chips, one type of IC chip is mounted on one reel, then the tape is rewound onto the reel, the tape is run again, and after the tool is replaced, another type of IC chip is mounted. Various types of IC chips were mounted. By repeating the rewinding and running of the tape in this manner, a plurality of IC chips and a plurality of types of IC chips are attached to one circuit pattern or one tape.
(発明が解決しようとする課題)
ところで、上述のように、実装されるICチップの種類
毎にテープの巻き戻しを行い、テープを何度も装置上で
走行させることにより、未だ対応するICチップが接続
されていないインナリードを曲げてしまうことがあった
。そして、インナリードの曲りを原因として不良品が生
じ、歩留まりが低下してしまうことがあった。(Problem to be Solved by the Invention) By the way, as mentioned above, by rewinding the tape for each type of IC chip to be mounted and running the tape on the device many times, it is possible to In some cases, the inner lead that was not connected could be bent. In addition, defective products may be produced due to the bending of the inner lead, resulting in a decrease in yield.
さらに、テープの掛け直しや、ICチップの品種に応じ
たボンディングツールへの交換、および、ボンディング
条件のパラメータ、即ち、加熱温度、加熱時間、加圧力
等の変更作業に要する手間や工数が大となり、生産性が
低くなることがあった。Furthermore, it takes a lot of effort and man-hours to reapply the tape, replace the bonding tool with a bonding tool appropriate for the type of IC chip, and change the parameters of the bonding conditions, such as heating temperature, heating time, and pressing force. , productivity could be low.
本発明の目的とするところは、不良品の発生の防止およ
び工数の低減が可能で、生産性に優れたインナリードボ
ンディング装置およびインナリードボンディング方法を
提供することにある。An object of the present invention is to provide an inner lead bonding device and an inner lead bonding method that can prevent the occurrence of defective products and reduce the number of man-hours, and are excellent in productivity.
[発明の構成]
(課題を解決するための手段および作用)上記目的を達
成するために本発明は、長尺テープに形成され回路パタ
ーンを構成するインナリードとワークとをボンディング
ツールにより加熱しながら加圧して接続するインナリー
ドボンディング装置において、ボンディングツールを複
数個設けるとともに、少なくともこれら複数個のボンデ
ィングツールから所定のボンディングツールを選択する
機能と、選択されたボンディングツール毎にボンディン
グ条件を設定可能な機能とを有する制御手段を備えた。[Structure of the Invention] (Means and Effects for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention provides a bonding tool that heats an inner lead that is formed on a long tape and constitutes a circuit pattern, and a workpiece. In an inner lead bonding device that connects by applying pressure, a plurality of bonding tools are provided, and at least a function to select a predetermined bonding tool from the plurality of bonding tools, and a bonding condition can be set for each selected bonding tool. A control means having the following functions is provided.
5
また、長尺テーブに形成され回路パターンを構成するイ
ンナリードとワークとをボンディングツルにより加熱し
ながら加圧して接続するインナリードボンディング方法
において、複数個設けられたボンディングツールから所
定のボンディングツールを選択する工程と、この選択さ
れた所定のボンディングツールを所定のボンディング条
件に基づいて駆動させる工程とを備えた。5 In addition, in an inner lead bonding method in which an inner lead formed on a long tape and constituting a circuit pattern and a work are connected by applying pressure while heating with a bonding crane, a predetermined bonding tool is selected from a plurality of bonding tools provided. The method included a step of selecting, and a step of driving the selected predetermined bonding tool based on predetermined bonding conditions.
こうすることによって本発明は、複数種類のワクを1本
の長尺テープに、長尺テープの巻き戻しや掛け直し等を
行うことなく、各ワークの種類に応じたボンディング条
件で実装でき、さらに、不良品の発生を防止するととも
に、工数を低減し生産性を向上できるようにした。By doing so, the present invention allows multiple types of workpieces to be mounted on a single long tape under bonding conditions appropriate to each type of workpiece without having to unwind or rehang the long tape. In addition to preventing the occurrence of defective products, it also reduced man-hours and improved productivity.
(実施例) 以下、本発明の一実施例を第1図に基づいて説明する。(Example) An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.
第1図は本発明の一実施例の要部を示すもので、図中1
1は、T A B (Tape Automated
Bonding)技術を利用してICチップをインナリ
ードに接続す6
るインナリードボンディング装置(以下、ILB装置と
称する)、12は、このILB装置11上を走行する長
尺テープとしてのキャリアテープ(以下、テープと称す
る)を示している。FIG. 1 shows the main part of one embodiment of the present invention.
1 is T A B (Tape Automated
An inner lead bonding device (hereinafter referred to as ILB device) 12 connects an IC chip to an inner lead using bonding technology, and 12 is a carrier tape (hereinafter referred to as a long tape) running on this ILB device 11. , tape).
テープ12はシネフィルム状に成形されたもので、IL
B装置11上に取り付けられた供給リル(図示しない)
から引き出され、ガイドローラ13、13等に案内され
ながら例えば間欠的に走行するようになっている。そし
て、テープ12は、ILB装置11上の所定位置を通過
したのち、巻取リール(図示しない)により巻き取られ
て収納されるようになっている。The tape 12 is formed into a cine film and has an IL
A supply rill (not shown) mounted on the B device 11
The rollers are pulled out from the rollers and run intermittently, for example, while being guided by guide rollers 13, 13, etc. After the tape 12 passes a predetermined position on the ILB device 11, it is wound up and stored by a take-up reel (not shown).
さらに、テープ12は、長手方向に沿って交互に配置さ
れ互いに異なる種類のICチップを実装する2種類の回
路パターン14a,14bが形成されている。そして、
テープ12は、回路バタン14a,14bに、対応する
ICチップとの接続を行われるよう設定されたインナリ
ード15a115bを有している。Further, the tape 12 has two types of circuit patterns 14a and 14b arranged alternately along the longitudinal direction and mounting different types of IC chips. and,
The tape 12 has inner leads 15a115b set to be connected to the corresponding IC chips on the circuit buttons 14a and 14b.
そして、テープ12は、各回路パターン14a114b
を下向きにした状態で間欠的に走行するとともに、停止
時に、各回路パターン14a,14bを、装置11に例
えば変位可能に設けられた板状のテープガイド16のボ
ンディング用孔17の内側に位置させる。Then, the tape 12 has each circuit pattern 14a114b.
The circuit pattern 14a, 14b is intermittently run with the tape facing downward, and when stopped, each circuit pattern 14a, 14b is positioned inside the bonding hole 17 of a plate-shaped tape guide 16 displaceably provided in the device 11, for example. .
また、第1図中に16で示すのはICチップ供給部であ
り、このICチップ供給部16には、2つのウエハステ
ージ17a,17bと1つのピックアンドプレースユニ
ット18とが設けられている。ウエハステージ17a,
17bは、図示しないウエハマガジンから例えば自動搬
送され互いに種類の異なるウエハ19a,19bを、そ
れぞれその上面に載置・固定している。Further, reference numeral 16 in FIG. 1 is an IC chip supply section, and this IC chip supply section 16 is provided with two wafer stages 17a and 17b and one pick-and-place unit 18. wafer stage 17a,
On the upper surface of the wafer 17b, wafers 19a and 19b of different types that are automatically transferred, for example, from a wafer magazine (not shown) are placed and fixed.
上記ピックアンドプレースユニット18は両ウエハ1.
9a,19bから、ワークとしてのICチップ20a・
・・ 20b・・・をピックアップして搬送するもので
ある。つまり、ピックアンドプレースユニット18は、
2種類のICチップ20a・・・20b・・・のうちか
ら、ボンディング位置21で停止しテープガイド22の
ボンディング用孔23内に位置した回路パターン14a
(または、14b)と対応するものを選択する。The pick and place unit 18 has both wafers 1.
From 9a and 19b, the IC chip 20a as a workpiece
... 20b... is picked up and transported. In other words, the pick and place unit 18 is
A circuit pattern 14a from two types of IC chips 20a...20b... stopped at the bonding position 21 and located in the bonding hole 23 of the tape guide 22.
(or 14b).
そして、ピックアンドプレースユニット18は、1つの
ICチップをその先端部に吸着したのち、例えば水平方
向に回動変位して、吸着したICチップをウエハステー
ジ17a(または、17b)から、変位可能に設けられ
たボンデインダステジ24上へ供給する。After picking up one IC chip at its tip, the pick-and-place unit 18 rotates and displaces, for example, in the horizontal direction, so that the picked-up IC chip can be displaced from the wafer stage 17a (or 17b). A bonding stage 24 is provided.
さらに、ILB装置11には、互いに略平行に並んだ2
つのボンディングツール25a,25bが設けられてい
る。このボンディングツール25a,25bは、支持体
26の先端部に取り付けられており、スライド体26a
,25bと一体に上下に変位できるようになっている。Furthermore, the ILB device 11 includes two
Two bonding tools 25a and 25b are provided. The bonding tools 25a, 25b are attached to the tip of the support body 26, and are attached to the slide body 26a.
, 25b, and can be moved up and down.
さらに、ボンディングツール25a,25bは、支持体
26と一体に水平方向に移動できるようになっている。Furthermore, the bonding tools 25a and 25b are movable in the horizontal direction together with the support body 26.
そして、ボンディングツール25a125bは、ともに
1つの加圧機構部26A(後述する)により上方から押
され、それぞれ独立に駆動されて昇降するようになって
いる。Both of the bonding tools 25a and 125b are pushed from above by one pressure mechanism section 26A (described later), and are each independently driven to move up and down.
9
また、このボンディングツール25a,25bは例えば
その先端部を加熱され昇温させるようになっている。そ
して、各ボンディングツール25a,25bはその温度
を、制御手段11Aからの指令により2種類のICチッ
プ20a,20bの各々のインナリードボンディングに
適した値に設定されている。そして、各ボンディングツ
ール25a,25bは、ボンディングステージ24に供
給されたICチップの種類に応じた側を選択されて下降
駆動され、対応するインナリードとICチップとを圧接
させて熱圧着するようになっている。9 Further, the bonding tools 25a and 25b are heated, for example, at their tips to raise the temperature. The temperature of each bonding tool 25a, 25b is set to a value suitable for inner lead bonding of each of the two types of IC chips 20a, 20b by a command from the control means 11A. Then, each bonding tool 25a, 25b is driven downward by selecting a side corresponding to the type of IC chip supplied to the bonding stage 24, so that the corresponding inner lead and the IC chip are brought into pressure contact and thermocompression bonded. It has become.
さらに、ボンディングツール25a,25bとボンディ
ングステージ24とは、例えば別々に水平移動できるよ
うになっており、ボンディング位置で停止し予め大まか
に位置を固定された回路パターンを基準にして位置合わ
せされるようになっている。そして、このボンディング
ツール25a125bとボンディングステージ24との
回路パターン14a,14bに対する位置合わせは、1
つのICチップを実装する毎に行われるようになっ10
ている。Further, the bonding tools 25a, 25b and the bonding stage 24 can be moved horizontally separately, for example, so that they are stopped at the bonding position and aligned based on a circuit pattern whose position is roughly fixed in advance. It has become. The bonding tool 25a125b and the bonding stage 24 are aligned with respect to the circuit patterns 14a and 14b by 1
This is now done every time one IC chip is mounted10.
また、ボンディングステージ24上に供給されたICチ
ップと、このICチップと対応する回路パターンのイン
ナリードとの位置合せは、ICチップ20aをボンディ
ングステージ24上で2つの位置決め爪24A,24A
により位置決めし姿勢を整えたのち、ICチップ20a
とインナリード15aとを互いに別々に位置認識すると
ともに、インナリード1 5 aに対するICチップ2
0aの相対位置を補正することにより行われる。Further, the IC chip 20a supplied on the bonding stage 24 and the inner leads of the circuit pattern corresponding to the IC chip are aligned by moving the IC chip 20a onto the bonding stage 24 using two positioning claws 24A, 24A.
After positioning and adjusting the posture, the IC chip 20a
The position of the inner lead 15a and the inner lead 15a are recognized separately, and the position of the IC chip 2 relative to the inner lead 15a is recognized separately.
This is done by correcting the relative position of 0a.
ここで、上記位置決め爪24A,24Aは、互いに略直
角に配設された矩形板状のもので、直交方向に進退して
、ボンディングステージ24上のICチップ20aの位
置決め固定、および解放を行うようになっている。Here, the positioning claws 24A, 24A are rectangular plate-shaped objects disposed at substantially right angles to each other, and move back and forth in orthogonal directions to position, fix, and release the IC chip 20a on the bonding stage 24. It has become.
また、上記テープガイド22を変位可能とし、ボンディ
ング用孔23を回路パターン14a(または、14b)
に対して位置合せできるようにしてもよい。Further, the tape guide 22 is made movable, and the bonding hole 23 is connected to the circuit pattern 14a (or 14b).
It may also be possible to align with.
一方、前記加圧機構部26Aは、制御手段1111
Aの指令に基づき各ICチップ24 a,24bのボン
ディングステージ24への供給に合わせて、ボンディン
グツール25a,25bを交互に且つ周期的に昇降させ
る。さらに、加圧機構部26は、各ボンディングツール
25a,25bを下降させ、各ボンディングツール25
a,25bの先端部を、テープガイド22のボンディン
グ用孔23を介して露出した回路パターンの各インナリ
ードに当接させる。そして、加圧機構部26は、インナ
リードとICチップとに圧力および荷重を加えるさらに
、加圧機構部26は、ボンディングツル25a,25b
の駆動時間および駆動力等を任意に設定できるようにな
っている。そして、加圧機構部26は、ボンディングツ
ール25a,25bを、2種類のICチップ20a,2
0bのそれぞれのボンディングに最適な加熱時間および
加圧力等で駆動する。また、加圧機構26は、上記加熱
時間および加圧力等を、制御部手段11Aの指令により
決定される。On the other hand, the pressure mechanism section 26A raises and lowers the bonding tools 25a and 25b alternately and periodically in accordance with the supply of each IC chip 24a and 24b to the bonding stage 24 based on a command from the control means 1111A. . Further, the pressure mechanism section 26 lowers each bonding tool 25a, 25b, and lowers each bonding tool 25a, 25b.
The tips of a and 25b are brought into contact with each inner lead of the circuit pattern exposed through the bonding hole 23 of the tape guide 22. The pressure mechanism section 26 applies pressure and load to the inner leads and the IC chip.
The driving time and driving force can be set arbitrarily. The pressurizing mechanism section 26 then moves the bonding tools 25a and 25b to two types of IC chips 20a and 2.
The heating time, pressing force, etc. are optimized for each bonding of 0b. Further, the heating time, the pressing force, etc. of the pressing mechanism 26 are determined by instructions from the control section means 11A.
すなわち、このようなILB装置11、および、12
このILB装置11より行われるILB方法では、2つ
のボンディングツール25a,25bとこれらを駆動す
る加圧機構部26とを設けているので、テープの巻き戻
しや掛け直しを行うことなく、例えば1本のテープに複
数種類のICチップを実装することができる。したがっ
て、インナリードに曲げを生じることがなく、不良品の
発生を防止することができ、歩留まりを向上させること
ができる。That is, such ILB devices 11 and 12 In the ILB method performed by this ILB device 11, since two bonding tools 25a and 25b and a pressure mechanism section 26 that drives them are provided, the tape winding is For example, multiple types of IC chips can be mounted on one tape without having to put it back or rehang it. Therefore, the inner lead is not bent, the generation of defective products can be prevented, and the yield can be improved.
さらに、加熱温度、加熱時間、および、加圧力等のボン
ディング条件のパラメータを、ICチップの種類に応じ
て、ボンディングツール毎に設定しているので、品種の
切替えに際してボンディング条件の変更等を行うことな
く、複数種類のICチップの実装を行うことができる。Furthermore, bonding condition parameters such as heating temperature, heating time, and pressure are set for each bonding tool depending on the type of IC chip, so it is easy to change bonding conditions when switching types. It is possible to mount a plurality of types of IC chips.
そして、これらのことにより工数が大幅に低減し、生産
性を向上させることが可能になる。These things can significantly reduce the number of man-hours and improve productivity.
また、第2図に示すように、1つの回路パターン27に
同一種或いは異種の2つのICチップ28、29を装着
する場合や、第3図に示すように、13
1本のテープ12からICチップ28、29を複数取り
する場合に、テープ12の巻き戻しや掛け直しを行う必
要がない。Also, as shown in FIG. 2, when two IC chips 28 and 29 of the same type or different types are attached to one circuit pattern 27, or as shown in FIG. When taking out a plurality of chips 28 and 29, there is no need to rewind or rehang the tape 12.
なお、本実施例では、2つのウエハ19a,]9bから
ICチップ20a,20bを供給しているが、本発明は
これに限定されるものではなく、例えば、第4図に示す
ように、異種のICチップ20a,20bを、複数のト
レイ30、30、31、31に収納された荷姿で、トレ
イステージ32からボンディングステージ24へ供給す
るようにしてもよい。In this embodiment, the IC chips 20a and 20b are supplied from two wafers 19a and 9b, but the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. The IC chips 20a and 20b may be supplied from the tray stage 32 to the bonding stage 24 in the form of packages stored in a plurality of trays 30, 30, 31, and 31.
そして、この場合には、図中で一点鎖線■により区切っ
たように、各トレイ30、30、31、3]をトレイス
テージ上で、ICチップ20a120bの種類に応じて
分けられたトレイ群33、34毎にまとめて配置するこ
とが考えられる。In this case, each tray 30, 30, 31, 3] is placed on a tray stage, as separated by a dashed line (■) in the figure, into a tray group 33 divided according to the type of IC chip 20a120b. It is conceivable to arrange them in groups of 34.
また、上記ボンディング条件のパラメータをボンディン
グツール2 5 a, 24 b毎に異なるよう設定し
てもよく、また、両ボンディングツール25a,24b
について等しく設定してもよい。Further, the parameters of the bonding conditions may be set to be different for each bonding tool 25a, 24b, or both bonding tools 25a, 24b may be set differently.
may be set equally.
14
さらに、本実施例では、2つの位置決め爪24A,24
AによりICチップ20aのボンディングステージ24
上での位置決めを行っているが、例えば、第8図に示す
ように、1つの位置決め爪24Aの先端部にICチップ
20aの形状と対応する形状の係止用切欠部24Bを設
け、この位置決め爪24Aを、第8図中に矢印Vで示す
ようにICチップ20aに対して斜め方向に移動させ係
止させて、ICチップ20aを位置決めしてもよい。14 Furthermore, in this embodiment, two positioning claws 24A, 24
The bonding stage 24 of the IC chip 20a is
For example, as shown in FIG. 8, a locking notch 24B having a shape corresponding to the shape of the IC chip 20a is provided at the tip of one positioning claw 24A, and this positioning The IC chip 20a may be positioned by moving the claw 24A diagonally relative to the IC chip 20a as shown by arrow V in FIG. 8 and locking the claw 24A.
また、本実施例では、2つのボンディングツルを互いに
平行に配置しているが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、例えば、第5図に示すように4つのボンディ
ングツール25a〜25dを設け、これらボンディング
ツール25a〜25dを、支持体26の先端部に回転自
在に設けられた回転体35に略同心円上に下向きに配置
してもよい。Further, in this embodiment, two bonding tools are arranged parallel to each other, but the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 5, four bonding tools 25a to 25d are arranged. The bonding tools 25a to 25d may be arranged substantially concentrically downward on a rotating body 35 rotatably provided at the tip of the support 26.
そして、この場合には、回転体35を回転させて所定の
ボンディングツールを選択し、選択され15
たボンディングツールを加圧機構部26Aにより押して
下降させることが考えられる。In this case, it is conceivable to rotate the rotating body 35 to select a predetermined bonding tool, and to push the selected bonding tool 15 downward by the pressurizing mechanism section 26A.
また、第6図に示すように、同じく4つのボンディング
ツール25a〜25dを、回転自在なヘッド部36に放
射状に突設するようにしてもよい。Further, as shown in FIG. 6, similarly four bonding tools 25a to 25d may be provided to protrude radially from a rotatable head portion 36.
そして、、ヘッド部36を支持体26の先端部に設けら
れたスライド部26aと一体に上下動させるとともに、
ヘッド部36を回転させて所定のボンディングツールを
選択し、選択されたボンディングツールをヘッド部36
に対して突没させるようにしてもよい。Then, while moving the head portion 36 up and down together with the slide portion 26a provided at the tip of the support body 26,
Rotate the head section 36 to select a predetermined bonding tool, and attach the selected bonding tool to the head section 36.
It may also be made to sink into the ground.
さらに、第7図に示すように、ボンディングツル25a
〜25dを予備加熱器37により予めある程度の温度に
加熱しておき、必要なボンディングツール25aをこの
予備加熱器37から選択して取り出して、支持部26の
先端のスライド部26aに取り付けることも考えられる
。Furthermore, as shown in FIG.
It is also possible to heat the bonding tool 25d to a certain temperature in advance with the preheater 37, select and take out the necessary bonding tool 25a from the preheater 37, and attach it to the slide part 26a at the tip of the support part 26. It will be done.
そして、この場合は、スライド部26aの先端部に設け
たホルダー38により所定のボンディングツール25a
を保持することができる。そして、16
ボンディングツール25a〜25dを、ICチップの種
類に応じて交換することが可能である。ここで、第7図
中の39は予備加熱器37側のヒータ、40はスライド
部26a側のヒータを示している。In this case, a predetermined bonding tool 25a is held by a holder 38 provided at the tip of the slide portion 26a.
can be retained. The 16 bonding tools 25a to 25d can be replaced depending on the type of IC chip. Here, 39 in FIG. 7 indicates a heater on the side of the preheater 37, and 40 indicates a heater on the side of the slide portion 26a.
[発明の効果]
以上説明したように本発明は、長尺テープに形成され回
路パターンを構成するインナリードとワークとをボンデ
ィングツールにより加熱しながら加圧して接続するイン
ナリードボンディング装置において、ボンディングツー
ルを複数個設けるとともに、少なくともこれら複数個の
ボンディングツールから所定のボンディングツールを選
択する機能と、選択されたボンディングツール毎にボン
ディング条件を設定可能な機能とを有する制御手段を備
えた。[Effects of the Invention] As explained above, the present invention provides an inner lead bonding apparatus that connects an inner lead formed on a long tape and forming a circuit pattern to a work by applying pressure while heating it with a bonding tool. A plurality of bonding tools are provided, and a control means having at least a function of selecting a predetermined bonding tool from the plurality of bonding tools and a function of setting bonding conditions for each selected bonding tool is provided.
また、長尺テープに形成され回路パターンを構成するイ
ンナリードとワークとをボンディングツルにより加熱し
ながら加圧して接続するインナリードボンディング方法
において、複数個設けら17
れたボンディングツールから所定のボンディングツール
を選択する工程と、この選択された所定のボンディング
ツールを所定のボンディング条件に基づいて駆動させる
工程とを備えた。In addition, in an inner lead bonding method in which an inner lead formed on a long tape constituting a circuit pattern and a work are connected by applying pressure while heating with a bonding crane, a predetermined bonding tool is selected from a plurality of bonding tools. and a step of driving the selected predetermined bonding tool based on predetermined bonding conditions.
したがって本発明は、複数種類のワークを1本の長尺テ
ープに、長尺テープの巻き戻しや掛け直し等を行うこと
なく、各ワークの種類に応じたボンディング条件で実装
でき、さらに、不良品の発生を防止できるとともに、工
数を低減し生産性を向上できるという効果がある。Therefore, the present invention allows multiple types of workpieces to be mounted on a single long tape under bonding conditions suitable for each type of workpiece without having to rewind or rehang the long tape. This has the effect of not only preventing the occurrence of problems but also reducing man-hours and improving productivity.
第1図〜第3図は本発明の一実施例を示すもので、第1
図は要部を示す斜視図、第2図および第3図は実装例を
示す正面図、第4〜第7図は各変形例を概略的に示す斜
視図、第8図は同じく変形例を概略的5に示す平面図、
第9図は従来例を示す斜視図である。
11・・・インナリードボンディング装置、11人・・
・制御手段、12・・・キャリアテープ(長尺テープ)
14a,14b・・・回路パターン、15a,1518
b・・・インナリー
ド、
2 0 a1
20b・・・ICチップ
(ワーク)
2 5 a,
25b・・・ボンディ
ングツ
ル、
26A・・・加圧機構部。Figures 1 to 3 show one embodiment of the present invention.
The figure is a perspective view showing the main part, FIGS. 2 and 3 are front views showing the implementation example, FIGS. 4 to 7 are perspective views schematically showing each modification, and FIG. 8 is the same modification. A plan view schematically shown in 5,
FIG. 9 is a perspective view showing a conventional example. 11...Inner lead bonding equipment, 11 people...
- Control means, 12...carrier tape (long tape)
14a, 14b... Circuit pattern, 15a, 1518 b... Inner lead, 2 0 a1 20b... IC chip (work) 2 5 a, 25b... Bonding crane, 26A... Pressure mechanism section .
Claims (2)
ンナリードとワークとをボンディングツールにより加熱
しながら加圧して接続するインナリードボンディング装
置において、上記ボンディングツールを複数個設けると
ともに、少なくともこれら複数個のボンディングツール
から所定のボンディングツールを選択する機能と、この
選択されたボンディングツール毎にボンディング条件を
設定可能な機能とを有する制御手段を備えたことを特徴
とするインナリードボンディング装置。(1) In an inner lead bonding device that connects an inner lead that is formed on a long tape and constitutes a circuit pattern to a workpiece by applying pressure while heating it with a bonding tool, a plurality of the above bonding tools are provided, and at least a plurality of these bonding tools are provided. An inner lead bonding apparatus comprising: a control means having a function of selecting a predetermined bonding tool from among the bonding tools, and a function of setting bonding conditions for each selected bonding tool.
ンナリードとワークとをボンディングツールにより加熱
しながら加圧して接続するインナリードボンディング方
法において、複数個設けられた上記ボンディングツール
から所定のボンディングツールを選択する工程と、この
選択された所定のボンディングツールを所定のボンディ
ング条件に基づいて駆動させる工程とを有することを特
徴とするインナリードボンディング方法。(2) In an inner lead bonding method in which an inner lead formed on a long tape and forming a circuit pattern and a work are connected by applying pressure while heating with a bonding tool, a predetermined bonding tool is selected from a plurality of bonding tools provided above. An inner lead bonding method comprising the steps of: selecting a predetermined bonding tool; and driving the selected predetermined bonding tool based on predetermined bonding conditions.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1124090A JP2809781B2 (en) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | Inner lead bonding apparatus and inner lead bonding method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1124090A JP2809781B2 (en) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | Inner lead bonding apparatus and inner lead bonding method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03215953A true JPH03215953A (en) | 1991-09-20 |
| JP2809781B2 JP2809781B2 (en) | 1998-10-15 |
Family
ID=11772414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1124090A Expired - Lifetime JP2809781B2 (en) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | Inner lead bonding apparatus and inner lead bonding method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2809781B2 (en) |
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- 1990-01-20 JP JP1124090A patent/JP2809781B2/en not_active Expired - Lifetime
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| CN113271761B (en) * | 2020-02-17 | 2025-01-03 | 松下知识产权经营株式会社 | Crimping device and crimping method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2809781B2 (en) | 1998-10-15 |
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