JPH03215953A - インナリードボンディング装置およびインナリードボンディング方法 - Google Patents
インナリードボンディング装置およびインナリードボンディング方法Info
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- JPH03215953A JPH03215953A JP1124090A JP1124090A JPH03215953A JP H03215953 A JPH03215953 A JP H03215953A JP 1124090 A JP1124090 A JP 1124090A JP 1124090 A JP1124090 A JP 1124090A JP H03215953 A JPH03215953 A JP H03215953A
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- bonding
- inner lead
- tape
- tools
- chip
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、例えば、T A B (Tape Auto
matedBond I ng)技術を用い、シネフィ
ルム状のTABテブにICチップを実装するインナリー
ドボンディング装置およびインナリードボンディング方
法に関する。
matedBond I ng)技術を用い、シネフィ
ルム状のTABテブにICチップを実装するインナリー
ドボンディング装置およびインナリードボンディング方
法に関する。
(従来の技術)
一般に、T A B (Tape Automated
Bonding)技術を利用してICチップをインナ
リードに接続するインナリードボンディング装置(以下
、ILB装置と称する)として、第5図に示すようなも
のがある。
Bonding)技術を利用してICチップをインナ
リードに接続するインナリードボンディング装置(以下
、ILB装置と称する)として、第5図に示すようなも
のがある。
すなわち、このILB装置1は、シネフルム状の長尺テ
ープとしてのキャリアテーブ(以下、テ−プと称する)
2を装置上で走行させるとともに、テープ2に形成され
間欠的に配置された回路パタン3・・・をボンディング
位置で一旦停止させる。
ープとしてのキャリアテーブ(以下、テ−プと称する)
2を装置上で走行させるとともに、テープ2に形成され
間欠的に配置された回路パタン3・・・をボンディング
位置で一旦停止させる。
そして、ILB装置1はピックアンドプレースユニット
4により、ウエハ5に形成されたICチップ6・・・の
うちから1つのICチップをピックアップしてボンデイ
ンダステージ7に供給したのち、回路パターン3とボン
ディングステージ7に供給されたICチップとを対向さ
せ位置合せする。
4により、ウエハ5に形成されたICチップ6・・・の
うちから1つのICチップをピックアップしてボンデイ
ンダステージ7に供給したのち、回路パターン3とボン
ディングステージ7に供給されたICチップとを対向さ
せ位置合せする。
さらに、ILB装置1は、加熱されたボンディングツー
ル8を下降させ、このボンディングツール8により上記
ICチップとインナリード9・・・とを加熱圧着して接
続する。そして、ILB装置1は、1箇所の回路パター
ン3につき1つのICチップを装着するとともに、これ
らのボンディング動作を繰り返して、1本のテープ2に
ウエハ5のICチップ6・・・を順次実装する。
ル8を下降させ、このボンディングツール8により上記
ICチップとインナリード9・・・とを加熱圧着して接
続する。そして、ILB装置1は、1箇所の回路パター
ン3につき1つのICチップを装着するとともに、これ
らのボンディング動作を繰り返して、1本のテープ2に
ウエハ5のICチップ6・・・を順次実装する。
また、最近ではTAB部品の多様化に伴って、1つの回
路パターン3に例えば2〜3種類のICチップを装着す
る必要が生じつつある。
路パターン3に例えば2〜3種類のICチップを装着す
る必要が生じつつある。
そして、このように1つの回路パターン3に複数種類の
ICチップを装着することを上述のような従来の装置1
を用いて行う場合には、1つの種類のICチップをテー
プに、]−つのリールにつき全て実装したのち、テープ
をリールに一旦巻き戻してから再びテープを走行させて
、ツール交換後、別の種類のICチップを実装していた
。そして、このようにテープの巻き戻しと走行を繰り返
しながら、複数個および複数種類のICチップを1つの
回路パターン或いは1本のテープに装着することを行っ
ていた。
ICチップを装着することを上述のような従来の装置1
を用いて行う場合には、1つの種類のICチップをテー
プに、]−つのリールにつき全て実装したのち、テープ
をリールに一旦巻き戻してから再びテープを走行させて
、ツール交換後、別の種類のICチップを実装していた
。そして、このようにテープの巻き戻しと走行を繰り返
しながら、複数個および複数種類のICチップを1つの
回路パターン或いは1本のテープに装着することを行っ
ていた。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、上述のように、実装されるICチップの種類
毎にテープの巻き戻しを行い、テープを何度も装置上で
走行させることにより、未だ対応するICチップが接続
されていないインナリードを曲げてしまうことがあった
。そして、インナリードの曲りを原因として不良品が生
じ、歩留まりが低下してしまうことがあった。
毎にテープの巻き戻しを行い、テープを何度も装置上で
走行させることにより、未だ対応するICチップが接続
されていないインナリードを曲げてしまうことがあった
。そして、インナリードの曲りを原因として不良品が生
じ、歩留まりが低下してしまうことがあった。
さらに、テープの掛け直しや、ICチップの品種に応じ
たボンディングツールへの交換、および、ボンディング
条件のパラメータ、即ち、加熱温度、加熱時間、加圧力
等の変更作業に要する手間や工数が大となり、生産性が
低くなることがあった。
たボンディングツールへの交換、および、ボンディング
条件のパラメータ、即ち、加熱温度、加熱時間、加圧力
等の変更作業に要する手間や工数が大となり、生産性が
低くなることがあった。
本発明の目的とするところは、不良品の発生の防止およ
び工数の低減が可能で、生産性に優れたインナリードボ
ンディング装置およびインナリードボンディング方法を
提供することにある。
び工数の低減が可能で、生産性に優れたインナリードボ
ンディング装置およびインナリードボンディング方法を
提供することにある。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段および作用)上記目的を達
成するために本発明は、長尺テープに形成され回路パタ
ーンを構成するインナリードとワークとをボンディング
ツールにより加熱しながら加圧して接続するインナリー
ドボンディング装置において、ボンディングツールを複
数個設けるとともに、少なくともこれら複数個のボンデ
ィングツールから所定のボンディングツールを選択する
機能と、選択されたボンディングツール毎にボンディン
グ条件を設定可能な機能とを有する制御手段を備えた。
成するために本発明は、長尺テープに形成され回路パタ
ーンを構成するインナリードとワークとをボンディング
ツールにより加熱しながら加圧して接続するインナリー
ドボンディング装置において、ボンディングツールを複
数個設けるとともに、少なくともこれら複数個のボンデ
ィングツールから所定のボンディングツールを選択する
機能と、選択されたボンディングツール毎にボンディン
グ条件を設定可能な機能とを有する制御手段を備えた。
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また、長尺テーブに形成され回路パターンを構成するイ
ンナリードとワークとをボンディングツルにより加熱し
ながら加圧して接続するインナリードボンディング方法
において、複数個設けられたボンディングツールから所
定のボンディングツールを選択する工程と、この選択さ
れた所定のボンディングツールを所定のボンディング条
件に基づいて駆動させる工程とを備えた。
ンナリードとワークとをボンディングツルにより加熱し
ながら加圧して接続するインナリードボンディング方法
において、複数個設けられたボンディングツールから所
定のボンディングツールを選択する工程と、この選択さ
れた所定のボンディングツールを所定のボンディング条
件に基づいて駆動させる工程とを備えた。
こうすることによって本発明は、複数種類のワクを1本
の長尺テープに、長尺テープの巻き戻しや掛け直し等を
行うことなく、各ワークの種類に応じたボンディング条
件で実装でき、さらに、不良品の発生を防止するととも
に、工数を低減し生産性を向上できるようにした。
の長尺テープに、長尺テープの巻き戻しや掛け直し等を
行うことなく、各ワークの種類に応じたボンディング条
件で実装でき、さらに、不良品の発生を防止するととも
に、工数を低減し生産性を向上できるようにした。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を第1図に基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例の要部を示すもので、図中1
1は、T A B (Tape Automated
Bonding)技術を利用してICチップをインナリ
ードに接続す6 るインナリードボンディング装置(以下、ILB装置と
称する)、12は、このILB装置11上を走行する長
尺テープとしてのキャリアテープ(以下、テープと称す
る)を示している。
1は、T A B (Tape Automated
Bonding)技術を利用してICチップをインナリ
ードに接続す6 るインナリードボンディング装置(以下、ILB装置と
称する)、12は、このILB装置11上を走行する長
尺テープとしてのキャリアテープ(以下、テープと称す
る)を示している。
テープ12はシネフィルム状に成形されたもので、IL
B装置11上に取り付けられた供給リル(図示しない)
から引き出され、ガイドローラ13、13等に案内され
ながら例えば間欠的に走行するようになっている。そし
て、テープ12は、ILB装置11上の所定位置を通過
したのち、巻取リール(図示しない)により巻き取られ
て収納されるようになっている。
B装置11上に取り付けられた供給リル(図示しない)
から引き出され、ガイドローラ13、13等に案内され
ながら例えば間欠的に走行するようになっている。そし
て、テープ12は、ILB装置11上の所定位置を通過
したのち、巻取リール(図示しない)により巻き取られ
て収納されるようになっている。
さらに、テープ12は、長手方向に沿って交互に配置さ
れ互いに異なる種類のICチップを実装する2種類の回
路パターン14a,14bが形成されている。そして、
テープ12は、回路バタン14a,14bに、対応する
ICチップとの接続を行われるよう設定されたインナリ
ード15a115bを有している。
れ互いに異なる種類のICチップを実装する2種類の回
路パターン14a,14bが形成されている。そして、
テープ12は、回路バタン14a,14bに、対応する
ICチップとの接続を行われるよう設定されたインナリ
ード15a115bを有している。
そして、テープ12は、各回路パターン14a114b
を下向きにした状態で間欠的に走行するとともに、停止
時に、各回路パターン14a,14bを、装置11に例
えば変位可能に設けられた板状のテープガイド16のボ
ンディング用孔17の内側に位置させる。
を下向きにした状態で間欠的に走行するとともに、停止
時に、各回路パターン14a,14bを、装置11に例
えば変位可能に設けられた板状のテープガイド16のボ
ンディング用孔17の内側に位置させる。
また、第1図中に16で示すのはICチップ供給部であ
り、このICチップ供給部16には、2つのウエハステ
ージ17a,17bと1つのピックアンドプレースユニ
ット18とが設けられている。ウエハステージ17a,
17bは、図示しないウエハマガジンから例えば自動搬
送され互いに種類の異なるウエハ19a,19bを、そ
れぞれその上面に載置・固定している。
り、このICチップ供給部16には、2つのウエハステ
ージ17a,17bと1つのピックアンドプレースユニ
ット18とが設けられている。ウエハステージ17a,
17bは、図示しないウエハマガジンから例えば自動搬
送され互いに種類の異なるウエハ19a,19bを、そ
れぞれその上面に載置・固定している。
上記ピックアンドプレースユニット18は両ウエハ1.
9a,19bから、ワークとしてのICチップ20a・
・・ 20b・・・をピックアップして搬送するもので
ある。つまり、ピックアンドプレースユニット18は、
2種類のICチップ20a・・・20b・・・のうちか
ら、ボンディング位置21で停止しテープガイド22の
ボンディング用孔23内に位置した回路パターン14a
(または、14b)と対応するものを選択する。
9a,19bから、ワークとしてのICチップ20a・
・・ 20b・・・をピックアップして搬送するもので
ある。つまり、ピックアンドプレースユニット18は、
2種類のICチップ20a・・・20b・・・のうちか
ら、ボンディング位置21で停止しテープガイド22の
ボンディング用孔23内に位置した回路パターン14a
(または、14b)と対応するものを選択する。
そして、ピックアンドプレースユニット18は、1つの
ICチップをその先端部に吸着したのち、例えば水平方
向に回動変位して、吸着したICチップをウエハステー
ジ17a(または、17b)から、変位可能に設けられ
たボンデインダステジ24上へ供給する。
ICチップをその先端部に吸着したのち、例えば水平方
向に回動変位して、吸着したICチップをウエハステー
ジ17a(または、17b)から、変位可能に設けられ
たボンデインダステジ24上へ供給する。
さらに、ILB装置11には、互いに略平行に並んだ2
つのボンディングツール25a,25bが設けられてい
る。このボンディングツール25a,25bは、支持体
26の先端部に取り付けられており、スライド体26a
,25bと一体に上下に変位できるようになっている。
つのボンディングツール25a,25bが設けられてい
る。このボンディングツール25a,25bは、支持体
26の先端部に取り付けられており、スライド体26a
,25bと一体に上下に変位できるようになっている。
さらに、ボンディングツール25a,25bは、支持体
26と一体に水平方向に移動できるようになっている。
26と一体に水平方向に移動できるようになっている。
そして、ボンディングツール25a125bは、ともに
1つの加圧機構部26A(後述する)により上方から押
され、それぞれ独立に駆動されて昇降するようになって
いる。
1つの加圧機構部26A(後述する)により上方から押
され、それぞれ独立に駆動されて昇降するようになって
いる。
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また、このボンディングツール25a,25bは例えば
その先端部を加熱され昇温させるようになっている。そ
して、各ボンディングツール25a,25bはその温度
を、制御手段11Aからの指令により2種類のICチッ
プ20a,20bの各々のインナリードボンディングに
適した値に設定されている。そして、各ボンディングツ
ール25a,25bは、ボンディングステージ24に供
給されたICチップの種類に応じた側を選択されて下降
駆動され、対応するインナリードとICチップとを圧接
させて熱圧着するようになっている。
その先端部を加熱され昇温させるようになっている。そ
して、各ボンディングツール25a,25bはその温度
を、制御手段11Aからの指令により2種類のICチッ
プ20a,20bの各々のインナリードボンディングに
適した値に設定されている。そして、各ボンディングツ
ール25a,25bは、ボンディングステージ24に供
給されたICチップの種類に応じた側を選択されて下降
駆動され、対応するインナリードとICチップとを圧接
させて熱圧着するようになっている。
さらに、ボンディングツール25a,25bとボンディ
ングステージ24とは、例えば別々に水平移動できるよ
うになっており、ボンディング位置で停止し予め大まか
に位置を固定された回路パターンを基準にして位置合わ
せされるようになっている。そして、このボンディング
ツール25a125bとボンディングステージ24との
回路パターン14a,14bに対する位置合わせは、1
つのICチップを実装する毎に行われるようになっ10 ている。
ングステージ24とは、例えば別々に水平移動できるよ
うになっており、ボンディング位置で停止し予め大まか
に位置を固定された回路パターンを基準にして位置合わ
せされるようになっている。そして、このボンディング
ツール25a125bとボンディングステージ24との
回路パターン14a,14bに対する位置合わせは、1
つのICチップを実装する毎に行われるようになっ10 ている。
また、ボンディングステージ24上に供給されたICチ
ップと、このICチップと対応する回路パターンのイン
ナリードとの位置合せは、ICチップ20aをボンディ
ングステージ24上で2つの位置決め爪24A,24A
により位置決めし姿勢を整えたのち、ICチップ20a
とインナリード15aとを互いに別々に位置認識すると
ともに、インナリード1 5 aに対するICチップ2
0aの相対位置を補正することにより行われる。
ップと、このICチップと対応する回路パターンのイン
ナリードとの位置合せは、ICチップ20aをボンディ
ングステージ24上で2つの位置決め爪24A,24A
により位置決めし姿勢を整えたのち、ICチップ20a
とインナリード15aとを互いに別々に位置認識すると
ともに、インナリード1 5 aに対するICチップ2
0aの相対位置を補正することにより行われる。
ここで、上記位置決め爪24A,24Aは、互いに略直
角に配設された矩形板状のもので、直交方向に進退して
、ボンディングステージ24上のICチップ20aの位
置決め固定、および解放を行うようになっている。
角に配設された矩形板状のもので、直交方向に進退して
、ボンディングステージ24上のICチップ20aの位
置決め固定、および解放を行うようになっている。
また、上記テープガイド22を変位可能とし、ボンディ
ング用孔23を回路パターン14a(または、14b)
に対して位置合せできるようにしてもよい。
ング用孔23を回路パターン14a(または、14b)
に対して位置合せできるようにしてもよい。
一方、前記加圧機構部26Aは、制御手段1111
Aの指令に基づき各ICチップ24 a,24bのボン
ディングステージ24への供給に合わせて、ボンディン
グツール25a,25bを交互に且つ周期的に昇降させ
る。さらに、加圧機構部26は、各ボンディングツール
25a,25bを下降させ、各ボンディングツール25
a,25bの先端部を、テープガイド22のボンディン
グ用孔23を介して露出した回路パターンの各インナリ
ードに当接させる。そして、加圧機構部26は、インナ
リードとICチップとに圧力および荷重を加えるさらに
、加圧機構部26は、ボンディングツル25a,25b
の駆動時間および駆動力等を任意に設定できるようにな
っている。そして、加圧機構部26は、ボンディングツ
ール25a,25bを、2種類のICチップ20a,2
0bのそれぞれのボンディングに最適な加熱時間および
加圧力等で駆動する。また、加圧機構26は、上記加熱
時間および加圧力等を、制御部手段11Aの指令により
決定される。
ディングステージ24への供給に合わせて、ボンディン
グツール25a,25bを交互に且つ周期的に昇降させ
る。さらに、加圧機構部26は、各ボンディングツール
25a,25bを下降させ、各ボンディングツール25
a,25bの先端部を、テープガイド22のボンディン
グ用孔23を介して露出した回路パターンの各インナリ
ードに当接させる。そして、加圧機構部26は、インナ
リードとICチップとに圧力および荷重を加えるさらに
、加圧機構部26は、ボンディングツル25a,25b
の駆動時間および駆動力等を任意に設定できるようにな
っている。そして、加圧機構部26は、ボンディングツ
ール25a,25bを、2種類のICチップ20a,2
0bのそれぞれのボンディングに最適な加熱時間および
加圧力等で駆動する。また、加圧機構26は、上記加熱
時間および加圧力等を、制御部手段11Aの指令により
決定される。
すなわち、このようなILB装置11、および、12
このILB装置11より行われるILB方法では、2つ
のボンディングツール25a,25bとこれらを駆動す
る加圧機構部26とを設けているので、テープの巻き戻
しや掛け直しを行うことなく、例えば1本のテープに複
数種類のICチップを実装することができる。したがっ
て、インナリードに曲げを生じることがなく、不良品の
発生を防止することができ、歩留まりを向上させること
ができる。
のボンディングツール25a,25bとこれらを駆動す
る加圧機構部26とを設けているので、テープの巻き戻
しや掛け直しを行うことなく、例えば1本のテープに複
数種類のICチップを実装することができる。したがっ
て、インナリードに曲げを生じることがなく、不良品の
発生を防止することができ、歩留まりを向上させること
ができる。
さらに、加熱温度、加熱時間、および、加圧力等のボン
ディング条件のパラメータを、ICチップの種類に応じ
て、ボンディングツール毎に設定しているので、品種の
切替えに際してボンディング条件の変更等を行うことな
く、複数種類のICチップの実装を行うことができる。
ディング条件のパラメータを、ICチップの種類に応じ
て、ボンディングツール毎に設定しているので、品種の
切替えに際してボンディング条件の変更等を行うことな
く、複数種類のICチップの実装を行うことができる。
そして、これらのことにより工数が大幅に低減し、生産
性を向上させることが可能になる。
性を向上させることが可能になる。
また、第2図に示すように、1つの回路パターン27に
同一種或いは異種の2つのICチップ28、29を装着
する場合や、第3図に示すように、13 1本のテープ12からICチップ28、29を複数取り
する場合に、テープ12の巻き戻しや掛け直しを行う必
要がない。
同一種或いは異種の2つのICチップ28、29を装着
する場合や、第3図に示すように、13 1本のテープ12からICチップ28、29を複数取り
する場合に、テープ12の巻き戻しや掛け直しを行う必
要がない。
なお、本実施例では、2つのウエハ19a,]9bから
ICチップ20a,20bを供給しているが、本発明は
これに限定されるものではなく、例えば、第4図に示す
ように、異種のICチップ20a,20bを、複数のト
レイ30、30、31、31に収納された荷姿で、トレ
イステージ32からボンディングステージ24へ供給す
るようにしてもよい。
ICチップ20a,20bを供給しているが、本発明は
これに限定されるものではなく、例えば、第4図に示す
ように、異種のICチップ20a,20bを、複数のト
レイ30、30、31、31に収納された荷姿で、トレ
イステージ32からボンディングステージ24へ供給す
るようにしてもよい。
そして、この場合には、図中で一点鎖線■により区切っ
たように、各トレイ30、30、31、3]をトレイス
テージ上で、ICチップ20a120bの種類に応じて
分けられたトレイ群33、34毎にまとめて配置するこ
とが考えられる。
たように、各トレイ30、30、31、3]をトレイス
テージ上で、ICチップ20a120bの種類に応じて
分けられたトレイ群33、34毎にまとめて配置するこ
とが考えられる。
また、上記ボンディング条件のパラメータをボンディン
グツール2 5 a, 24 b毎に異なるよう設定し
てもよく、また、両ボンディングツール25a,24b
について等しく設定してもよい。
グツール2 5 a, 24 b毎に異なるよう設定し
てもよく、また、両ボンディングツール25a,24b
について等しく設定してもよい。
14
さらに、本実施例では、2つの位置決め爪24A,24
AによりICチップ20aのボンディングステージ24
上での位置決めを行っているが、例えば、第8図に示す
ように、1つの位置決め爪24Aの先端部にICチップ
20aの形状と対応する形状の係止用切欠部24Bを設
け、この位置決め爪24Aを、第8図中に矢印Vで示す
ようにICチップ20aに対して斜め方向に移動させ係
止させて、ICチップ20aを位置決めしてもよい。
AによりICチップ20aのボンディングステージ24
上での位置決めを行っているが、例えば、第8図に示す
ように、1つの位置決め爪24Aの先端部にICチップ
20aの形状と対応する形状の係止用切欠部24Bを設
け、この位置決め爪24Aを、第8図中に矢印Vで示す
ようにICチップ20aに対して斜め方向に移動させ係
止させて、ICチップ20aを位置決めしてもよい。
また、本実施例では、2つのボンディングツルを互いに
平行に配置しているが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、例えば、第5図に示すように4つのボンディ
ングツール25a〜25dを設け、これらボンディング
ツール25a〜25dを、支持体26の先端部に回転自
在に設けられた回転体35に略同心円上に下向きに配置
してもよい。
平行に配置しているが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、例えば、第5図に示すように4つのボンディ
ングツール25a〜25dを設け、これらボンディング
ツール25a〜25dを、支持体26の先端部に回転自
在に設けられた回転体35に略同心円上に下向きに配置
してもよい。
そして、この場合には、回転体35を回転させて所定の
ボンディングツールを選択し、選択され15 たボンディングツールを加圧機構部26Aにより押して
下降させることが考えられる。
ボンディングツールを選択し、選択され15 たボンディングツールを加圧機構部26Aにより押して
下降させることが考えられる。
また、第6図に示すように、同じく4つのボンディング
ツール25a〜25dを、回転自在なヘッド部36に放
射状に突設するようにしてもよい。
ツール25a〜25dを、回転自在なヘッド部36に放
射状に突設するようにしてもよい。
そして、、ヘッド部36を支持体26の先端部に設けら
れたスライド部26aと一体に上下動させるとともに、
ヘッド部36を回転させて所定のボンディングツールを
選択し、選択されたボンディングツールをヘッド部36
に対して突没させるようにしてもよい。
れたスライド部26aと一体に上下動させるとともに、
ヘッド部36を回転させて所定のボンディングツールを
選択し、選択されたボンディングツールをヘッド部36
に対して突没させるようにしてもよい。
さらに、第7図に示すように、ボンディングツル25a
〜25dを予備加熱器37により予めある程度の温度に
加熱しておき、必要なボンディングツール25aをこの
予備加熱器37から選択して取り出して、支持部26の
先端のスライド部26aに取り付けることも考えられる
。
〜25dを予備加熱器37により予めある程度の温度に
加熱しておき、必要なボンディングツール25aをこの
予備加熱器37から選択して取り出して、支持部26の
先端のスライド部26aに取り付けることも考えられる
。
そして、この場合は、スライド部26aの先端部に設け
たホルダー38により所定のボンディングツール25a
を保持することができる。そして、16 ボンディングツール25a〜25dを、ICチップの種
類に応じて交換することが可能である。ここで、第7図
中の39は予備加熱器37側のヒータ、40はスライド
部26a側のヒータを示している。
たホルダー38により所定のボンディングツール25a
を保持することができる。そして、16 ボンディングツール25a〜25dを、ICチップの種
類に応じて交換することが可能である。ここで、第7図
中の39は予備加熱器37側のヒータ、40はスライド
部26a側のヒータを示している。
[発明の効果]
以上説明したように本発明は、長尺テープに形成され回
路パターンを構成するインナリードとワークとをボンデ
ィングツールにより加熱しながら加圧して接続するイン
ナリードボンディング装置において、ボンディングツー
ルを複数個設けるとともに、少なくともこれら複数個の
ボンディングツールから所定のボンディングツールを選
択する機能と、選択されたボンディングツール毎にボン
ディング条件を設定可能な機能とを有する制御手段を備
えた。
路パターンを構成するインナリードとワークとをボンデ
ィングツールにより加熱しながら加圧して接続するイン
ナリードボンディング装置において、ボンディングツー
ルを複数個設けるとともに、少なくともこれら複数個の
ボンディングツールから所定のボンディングツールを選
択する機能と、選択されたボンディングツール毎にボン
ディング条件を設定可能な機能とを有する制御手段を備
えた。
また、長尺テープに形成され回路パターンを構成するイ
ンナリードとワークとをボンディングツルにより加熱し
ながら加圧して接続するインナリードボンディング方法
において、複数個設けら17 れたボンディングツールから所定のボンディングツール
を選択する工程と、この選択された所定のボンディング
ツールを所定のボンディング条件に基づいて駆動させる
工程とを備えた。
ンナリードとワークとをボンディングツルにより加熱し
ながら加圧して接続するインナリードボンディング方法
において、複数個設けら17 れたボンディングツールから所定のボンディングツール
を選択する工程と、この選択された所定のボンディング
ツールを所定のボンディング条件に基づいて駆動させる
工程とを備えた。
したがって本発明は、複数種類のワークを1本の長尺テ
ープに、長尺テープの巻き戻しや掛け直し等を行うこと
なく、各ワークの種類に応じたボンディング条件で実装
でき、さらに、不良品の発生を防止できるとともに、工
数を低減し生産性を向上できるという効果がある。
ープに、長尺テープの巻き戻しや掛け直し等を行うこと
なく、各ワークの種類に応じたボンディング条件で実装
でき、さらに、不良品の発生を防止できるとともに、工
数を低減し生産性を向上できるという効果がある。
第1図〜第3図は本発明の一実施例を示すもので、第1
図は要部を示す斜視図、第2図および第3図は実装例を
示す正面図、第4〜第7図は各変形例を概略的に示す斜
視図、第8図は同じく変形例を概略的5に示す平面図、
第9図は従来例を示す斜視図である。 11・・・インナリードボンディング装置、11人・・
・制御手段、12・・・キャリアテープ(長尺テープ)
14a,14b・・・回路パターン、15a,1518 b・・・インナリー ド、 2 0 a1 20b・・・ICチップ (ワーク) 2 5 a, 25b・・・ボンディ ングツ ル、 26A・・・加圧機構部。
図は要部を示す斜視図、第2図および第3図は実装例を
示す正面図、第4〜第7図は各変形例を概略的に示す斜
視図、第8図は同じく変形例を概略的5に示す平面図、
第9図は従来例を示す斜視図である。 11・・・インナリードボンディング装置、11人・・
・制御手段、12・・・キャリアテープ(長尺テープ)
14a,14b・・・回路パターン、15a,1518 b・・・インナリー ド、 2 0 a1 20b・・・ICチップ (ワーク) 2 5 a, 25b・・・ボンディ ングツ ル、 26A・・・加圧機構部。
Claims (2)
- (1)長尺テープに形成され回路パターンを構成するイ
ンナリードとワークとをボンディングツールにより加熱
しながら加圧して接続するインナリードボンディング装
置において、上記ボンディングツールを複数個設けると
ともに、少なくともこれら複数個のボンディングツール
から所定のボンディングツールを選択する機能と、この
選択されたボンディングツール毎にボンディング条件を
設定可能な機能とを有する制御手段を備えたことを特徴
とするインナリードボンディング装置。 - (2)長尺テープに形成され回路パターンを構成するイ
ンナリードとワークとをボンディングツールにより加熱
しながら加圧して接続するインナリードボンディング方
法において、複数個設けられた上記ボンディングツール
から所定のボンディングツールを選択する工程と、この
選択された所定のボンディングツールを所定のボンディ
ング条件に基づいて駆動させる工程とを有することを特
徴とするインナリードボンディング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1124090A JP2809781B2 (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | インナリードボンディング装置およびインナリードボンディング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1124090A JP2809781B2 (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | インナリードボンディング装置およびインナリードボンディング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03215953A true JPH03215953A (ja) | 1991-09-20 |
| JP2809781B2 JP2809781B2 (ja) | 1998-10-15 |
Family
ID=11772414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1124090A Expired - Lifetime JP2809781B2 (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | インナリードボンディング装置およびインナリードボンディング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2809781B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999035682A1 (fr) * | 1998-01-07 | 1999-07-15 | Seiko Epson Corporation | Dispositif semi-conducteur, fabrication de ce dernier et dispositif electronique |
| WO1999035683A1 (fr) * | 1998-01-12 | 1999-07-15 | Seiko Epson Corporation | Dispositif semi-conducteur, sa fabrication, et dispositif electronique |
| US6911729B1 (en) | 1999-05-14 | 2005-06-28 | Sharp Kabushiki Kaisha | Tape carrier semiconductor device |
| US7169643B1 (en) | 1998-12-28 | 2007-01-30 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device, method of fabricating the same, circuit board, and electronic apparatus |
| CN113271761A (zh) * | 2020-02-17 | 2021-08-17 | 松下知识产权经营株式会社 | 压接装置以及压接方法 |
-
1990
- 1990-01-20 JP JP1124090A patent/JP2809781B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999035682A1 (fr) * | 1998-01-07 | 1999-07-15 | Seiko Epson Corporation | Dispositif semi-conducteur, fabrication de ce dernier et dispositif electronique |
| US6057174A (en) * | 1998-01-07 | 2000-05-02 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device, method of fabricating the same, and electronic apparatus |
| US6326233B1 (en) | 1998-01-07 | 2001-12-04 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device, method of fabricating the same and electronic apparatus |
| WO1999035683A1 (fr) * | 1998-01-12 | 1999-07-15 | Seiko Epson Corporation | Dispositif semi-conducteur, sa fabrication, et dispositif electronique |
| US6066512A (en) * | 1998-01-12 | 2000-05-23 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device, method of fabricating the same, and electronic apparatus |
| US6555200B2 (en) | 1998-01-12 | 2003-04-29 | Seiko Epson Corporation | Method of making semiconductor devices, semiconductor device, circuit board, and electronic apparatus |
| US7169643B1 (en) | 1998-12-28 | 2007-01-30 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device, method of fabricating the same, circuit board, and electronic apparatus |
| US6911729B1 (en) | 1999-05-14 | 2005-06-28 | Sharp Kabushiki Kaisha | Tape carrier semiconductor device |
| CN113271761A (zh) * | 2020-02-17 | 2021-08-17 | 松下知识产权经营株式会社 | 压接装置以及压接方法 |
| JP2021129089A (ja) * | 2020-02-17 | 2021-09-02 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 圧着装置および圧着方法 |
| CN113271761B (zh) * | 2020-02-17 | 2025-01-03 | 松下知识产权经营株式会社 | 压接装置以及压接方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2809781B2 (ja) | 1998-10-15 |
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