JPH03216015A - ドライバー回路 - Google Patents
ドライバー回路Info
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- JPH03216015A JPH03216015A JP2010794A JP1079490A JPH03216015A JP H03216015 A JPH03216015 A JP H03216015A JP 2010794 A JP2010794 A JP 2010794A JP 1079490 A JP1079490 A JP 1079490A JP H03216015 A JPH03216015 A JP H03216015A
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- driver circuit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は入力記号を電流増幅して負荷に供給するため
のドライバー回路に関するものである。
のドライバー回路に関するものである。
第4図、第5図は例えば特開昭62−123825号公
報に示された従来のドライバー回路を含む人カバッファ
回路の構成を示す回路図であり、第5図は第4図のドラ
イバー回路を改良し、さらに高速化させた回路の回路図
である。図において、(1)はECLバッファ回路、(
2)はレベル変換回路、(3C)はB i CMOSド
ライバー回路、(3d)はBiNMOSドライバー回路
、(11)、(12)、(16)〜(18)、(20)
〜(23)、(36)、(37)、(42)、(43)
、はバイボーラトランジスタ、(13)、(14)、(
15)、(19)、(24)、(25)は抵抗、(32
) (38)、(46)、(47)、(50)、(51)は
PMOSトランジスタ、(33)〜(35)、(39)
〜(41)、(52)、(53)はNMOSトランジス
タである。第4図において、ECLバッファ回路(1)
は、ハイポーラECL回路により構成され、ECLレベ
ルの信号Aを受け、ECLレベルの相補な信号a、aを
出力する。レベル変換回路(2)は、2つのカレントミ
ラー回路により構成され、ECLレベルの相補な信号a
,aを受け、MOSレベルの相補な信号b,bを出力す
る。B i CMOSドライハ−回路(3C)は、バイ
ポーラトランジスタとCMOS回路との複合により構成
され、レベル変換回路(2)から出力される相補な信号
b.bのトライブ能力を増加させるために用いられる。
報に示された従来のドライバー回路を含む人カバッファ
回路の構成を示す回路図であり、第5図は第4図のドラ
イバー回路を改良し、さらに高速化させた回路の回路図
である。図において、(1)はECLバッファ回路、(
2)はレベル変換回路、(3C)はB i CMOSド
ライバー回路、(3d)はBiNMOSドライバー回路
、(11)、(12)、(16)〜(18)、(20)
〜(23)、(36)、(37)、(42)、(43)
、はバイボーラトランジスタ、(13)、(14)、(
15)、(19)、(24)、(25)は抵抗、(32
) (38)、(46)、(47)、(50)、(51)は
PMOSトランジスタ、(33)〜(35)、(39)
〜(41)、(52)、(53)はNMOSトランジス
タである。第4図において、ECLバッファ回路(1)
は、ハイポーラECL回路により構成され、ECLレベ
ルの信号Aを受け、ECLレベルの相補な信号a、aを
出力する。レベル変換回路(2)は、2つのカレントミ
ラー回路により構成され、ECLレベルの相補な信号a
,aを受け、MOSレベルの相補な信号b,bを出力す
る。B i CMOSドライハ−回路(3C)は、バイ
ポーラトランジスタとCMOS回路との複合により構成
され、レベル変換回路(2)から出力される相補な信号
b.bのトライブ能力を増加させるために用いられる。
ECLバッファ回路(1)は、バイポーラトランジスタ
(11)、(12)および抵抗(13)を含むECL入
力回路部と、抵抗(14)、(15)、(19)および
ハイポーラトランジスタ(16).(17)、(18)
を含むカレントスイッチ部と、バイポーラトランジスタ
(20)、(21)、(22)、(23)および抵抗(
24)、(25)を含むECL出力回路部とからなる。
(11)、(12)および抵抗(13)を含むECL入
力回路部と、抵抗(14)、(15)、(19)および
ハイポーラトランジスタ(16).(17)、(18)
を含むカレントスイッチ部と、バイポーラトランジスタ
(20)、(21)、(22)、(23)および抵抗(
24)、(25)を含むECL出力回路部とからなる。
通常、正側の電源電圧VCCはOv設定ざれ、負側の電
源Vr.gid−4. 5Vマたは−56 2vに設
定される。バイポーラトランジスタ(11)のヘースに
はECLレベルの信号Aが与えられる。
源Vr.gid−4. 5Vマたは−56 2vに設
定される。バイポーラトランジスタ(11)のヘースに
はECLレベルの信号Aが与えられる。
信号Aのr}iJレベルは−0.9vであり、「L」レ
ベルは−1.7■である。エミッタフォロワトランジス
タであるバイポーラトランジスタ(20)および(21
)のエミッタからは、それぞれECLレベルの信号a,
aが出力される。信号a,aの「H」レベルは、電源電
圧vccからエミッタフオロワトランジスタのベース・
エミッタ間電圧VBEたけ低下したレベル(約−0.8
V)となる。信号a,aの「L」レベルVLは、次式に
より求められる。
ベルは−1.7■である。エミッタフォロワトランジス
タであるバイポーラトランジスタ(20)および(21
)のエミッタからは、それぞれECLレベルの信号a,
aが出力される。信号a,aの「H」レベルは、電源電
圧vccからエミッタフオロワトランジスタのベース・
エミッタ間電圧VBEたけ低下したレベル(約−0.8
V)となる。信号a,aの「L」レベルVLは、次式に
より求められる。
V’+. =Vcc I ・R VBE
−(L)ここで、■は抵抗(14)または(15)に流
ねる電流の電流値、Rは抵抗(14)または(15)の
抵抗値である。また、バイポーラトランジスタ(17)
のヘースには基準電圧Vaaが与えられる。基準電圧V
BBにより入力しきい値か定められる。バイポーラトラ
ンジスタ(12)、(18)、(22)、(23)のベ
ースには基準電圧V CSIが与えられる。基準電圧V
CSIによりカレントスイッチ部およびECL出力回路
部の電流値が定められる。
−(L)ここで、■は抵抗(14)または(15)に流
ねる電流の電流値、Rは抵抗(14)または(15)の
抵抗値である。また、バイポーラトランジスタ(17)
のヘースには基準電圧Vaaが与えられる。基準電圧V
BBにより入力しきい値か定められる。バイポーラトラ
ンジスタ(12)、(18)、(22)、(23)のベ
ースには基準電圧V CSIが与えられる。基準電圧V
CSIによりカレントスイッチ部およびECL出力回路
部の電流値が定められる。
レベル変換回路(2)は、PMOSトランジスタ(46
)、(47)およびNMOSトランジスタ(48)、(
49)を含む第1のカレントミラー回路と、PMOSト
ランジスタ(50)、(51)およびNMOS}ランジ
スタ(52)、(53)を含む第2のカレントミラーと
からなる。PMOSトランジスタ(46)、(51〉の
ゲートには信号aが与えられ、PMOSトランジスタ(
47)、(50)のケートには信号aか与えられる。P
MOSトランジスタ(47)とNMOSトランジスタ(
49)との接続点がらMOSレベルの信号bか出力され
、PMOSトランジスタ(51)とNMOSI−ランジ
スタ(53)との接続点からMOSレベルの信号bか出
力される。信号b,bの「H」レベルは電源電圧であり
、「L」レベルは電源電圧v6Eである。
)、(47)およびNMOSトランジスタ(48)、(
49)を含む第1のカレントミラー回路と、PMOSト
ランジスタ(50)、(51)およびNMOS}ランジ
スタ(52)、(53)を含む第2のカレントミラーと
からなる。PMOSトランジスタ(46)、(51〉の
ゲートには信号aが与えられ、PMOSトランジスタ(
47)、(50)のケートには信号aか与えられる。P
MOSトランジスタ(47)とNMOSトランジスタ(
49)との接続点がらMOSレベルの信号bか出力され
、PMOSトランジスタ(51)とNMOSI−ランジ
スタ(53)との接続点からMOSレベルの信号bか出
力される。信号b,bの「H」レベルは電源電圧であり
、「L」レベルは電源電圧v6Eである。
BiCMOSドライバー回路(3C)は、PMOSトラ
ンジスタ(32)およびNMOSI−ランジスタ(33
)を含む第1のCMOSインバータと、PMOSトラン
ジスタ(38)およびNMOSトランジスタ(39)を
含む第2のCMOSインバータと、NMOSトランジス
タ(34)、(35)を含む第1のベース制御回路と、
NMOSトランジスタ(40)、(41)を含む第2の
ベース制御回路と、バイポーラトランジスタ(36)、
(37)、(42)、(43)とからなる。バイポーラ
トランジスタ(36)、(37)およびバイポーラトラ
ンジスタ(42)、(43)は、正側の電源電圧VCC
と負側の電源電圧VEEとの間にそれぞれトーテムポー
ル接続されている。
ンジスタ(32)およびNMOSI−ランジスタ(33
)を含む第1のCMOSインバータと、PMOSトラン
ジスタ(38)およびNMOSトランジスタ(39)を
含む第2のCMOSインバータと、NMOSトランジス
タ(34)、(35)を含む第1のベース制御回路と、
NMOSトランジスタ(40)、(41)を含む第2の
ベース制御回路と、バイポーラトランジスタ(36)、
(37)、(42)、(43)とからなる。バイポーラ
トランジスタ(36)、(37)およびバイポーラトラ
ンジスタ(42)、(43)は、正側の電源電圧VCC
と負側の電源電圧VEEとの間にそれぞれトーテムポー
ル接続されている。
第1のCMOSインハータはバイポーラトランジスタ(
36)をスイッチ駆動し、第2のCMOSインバータは
バイポーラトランジスタ(42)をスイッチ駆動する。
36)をスイッチ駆動し、第2のCMOSインバータは
バイポーラトランジスタ(42)をスイッチ駆動する。
第1のペース制御回路はバイポーラトランジスタ(37
)のベース電流を制御し、第2のベース制御回路はパイ
ボーラトランジスタ(43)のヘース電流を制御する。
)のベース電流を制御し、第2のベース制御回路はパイ
ボーラトランジスタ(43)のヘース電流を制御する。
バイポーラトランジスタ(36)と(37)との接続点
からB i CMOSレベルの信号Cが出力され、バイ
ポーラトランジスタ(42)と(43)との接続点から
B i CMOSレベルの信号Cが出力される。信号C
,Cの「H』レベルは−0.4Vであり、「L」レベル
は−4,1vまたは−4.8vである。
からB i CMOSレベルの信号Cが出力され、バイ
ポーラトランジスタ(42)と(43)との接続点から
B i CMOSレベルの信号Cが出力される。信号C
,Cの「H』レベルは−0.4Vであり、「L」レベル
は−4,1vまたは−4.8vである。
第5図の回路は、さらに高速化をめざしたドライバー回
路を含む大カバッファ回路の回路で、第4との相違点は
、BiNMOSドライバー回路(3d)において、ハイ
ボーラトランジスタ(36)、(42)のベースとレベ
ル変換回路(2)出力b.bが直接接続されている点で
あり、レベル変換回路(2)出力bはバイボーラ!・ラ
ンジスタ(36)のベースおよび、NMOSトランジス
タ(40)のゲートと接続され、レベル変換回路(2)
出力bはバイポーラトランジスタ(42)のベースおよ
び、NMOS}ランジスタ(34)のゲートと接続され
ている。
路を含む大カバッファ回路の回路で、第4との相違点は
、BiNMOSドライバー回路(3d)において、ハイ
ボーラトランジスタ(36)、(42)のベースとレベ
ル変換回路(2)出力b.bが直接接続されている点で
あり、レベル変換回路(2)出力bはバイボーラ!・ラ
ンジスタ(36)のベースおよび、NMOSトランジス
タ(40)のゲートと接続され、レベル変換回路(2)
出力bはバイポーラトランジスタ(42)のベースおよ
び、NMOS}ランジスタ(34)のゲートと接続され
ている。
次に第4図の回路の動作について説明する。ここでは、
ECLレベルの信号Aが「H」レベル(−0.9V)か
らrL」L/べA/(−1.7V)に変化する場合の動
作について説明する。
ECLレベルの信号Aが「H」レベル(−0.9V)か
らrL」L/べA/(−1.7V)に変化する場合の動
作について説明する。
バイポーラトランジスタ(11)のベースに与えられる
ECLの信号Aが「H」レベルから「L」レベルに変化
すると、バイポーラトランジスタ(16)のコレクタ電
位は「L」レベルから「H」レベルに変化し、NPNト
ランジスタ(17)のコレクタ電位は逆に「H」レベル
から「L」レベルに変化する。これより、バイポ“−ラ
トランジスタ(21)のエミッタ電位は(信号a)は「
L」レベルから「H」レベルに変化し、バイポーラトラ
ンジスタ(20)のエミッタ電位(信号a)は逆にrH
Jレベルから[L]レベルに変化する。上記のように、
信号a,aの「H」レベルは、電源電圧vCcからエミ
ッタフォロワトランジスタのベース・エミッタ電圧V。
ECLの信号Aが「H」レベルから「L」レベルに変化
すると、バイポーラトランジスタ(16)のコレクタ電
位は「L」レベルから「H」レベルに変化し、NPNト
ランジスタ(17)のコレクタ電位は逆に「H」レベル
から「L」レベルに変化する。これより、バイポ“−ラ
トランジスタ(21)のエミッタ電位は(信号a)は「
L」レベルから「H」レベルに変化し、バイポーラトラ
ンジスタ(20)のエミッタ電位(信号a)は逆にrH
Jレベルから[L]レベルに変化する。上記のように、
信号a,aの「H」レベルは、電源電圧vCcからエミ
ッタフォロワトランジスタのベース・エミッタ電圧V。
たけ低下したレベル(約−0.8V)である。また、信
号a,aの「L」レベルは上記の式(1)により求めら
れる。カレントスイッチ部の出力の振幅を1vとすると
、信号a,aの「L」レベルは−1.8Vとなる。
号a,aの「L」レベルは上記の式(1)により求めら
れる。カレントスイッチ部の出力の振幅を1vとすると
、信号a,aの「L」レベルは−1.8Vとなる。
上記のように信号aが「L」レベルからrHJレベルに
変化し、信号aが「H」レベルから「L」レベルに変化
するので、PMOS}ランジスタ(46)、(51)が
オンし、PMOSトランジスタ(47)、(50)がオ
フする。また、NMOSトランジスタ(49)がオンし
、NMOSトランジスタ(53)がオフする。したがっ
て、レベル変換回路(2)から出力される信号bは「L
」レベル(電源電圧V。)から「H」レベル(電源電圧
Vcc)に変化し、信号bはrJレベル(電源電圧Vc
c)から「し」レベル(電源電圧VEE)に変化する。
変化し、信号aが「H」レベルから「L」レベルに変化
するので、PMOS}ランジスタ(46)、(51)が
オンし、PMOSトランジスタ(47)、(50)がオ
フする。また、NMOSトランジスタ(49)がオンし
、NMOSトランジスタ(53)がオフする。したがっ
て、レベル変換回路(2)から出力される信号bは「L
」レベル(電源電圧V。)から「H」レベル(電源電圧
Vcc)に変化し、信号bはrJレベル(電源電圧Vc
c)から「し」レベル(電源電圧VEE)に変化する。
これらの信号b.bのレベルはMOSレベルである。し
たがって、ECLレベルからMOSレベルへの変換が行
なわれたことになる。
たがって、ECLレベルからMOSレベルへの変換が行
なわれたことになる。
レベル変換回路(2)は、MOSトランジスタにより構
成されているので、ドライブ能力があまり大きくない。
成されているので、ドライブ能力があまり大きくない。
したがって、次段のB i CMOSドライバー回路(
3C)によりドライブ能力を増加させる必要がある。上
記のように、信号bが「L」レベル(電源電圧V EE
)から「H」レベル(電源電圧Vcc)に変化すると、
PMOSトランジスタ(38)がオフし、NMOSトラ
ンジスタ(39)、(40)がオンする。これにより、
NMOSトランジスタ(41)がオフする。したがって
、バイポーラトランジスタ(42)がオフし、バイポー
ラトランジスタ(43)がオンする。その結果、BiC
MOSドライバー回路(3C)から出力される信号Cは
「L」レベル(v,}:+o.4V)になる。
3C)によりドライブ能力を増加させる必要がある。上
記のように、信号bが「L」レベル(電源電圧V EE
)から「H」レベル(電源電圧Vcc)に変化すると、
PMOSトランジスタ(38)がオフし、NMOSトラ
ンジスタ(39)、(40)がオンする。これにより、
NMOSトランジスタ(41)がオフする。したがって
、バイポーラトランジスタ(42)がオフし、バイポー
ラトランジスタ(43)がオンする。その結果、BiC
MOSドライバー回路(3C)から出力される信号Cは
「L」レベル(v,}:+o.4V)になる。
方、上記のように、信号bか「H」レベル(電源電圧V
cc)から「L」レベル(電源電圧VEE)に変化する
と、PMOS}ランジスタ(32)かオンし、NMOS
トランジスタ(33)、(34)がオフする。これによ
り、NMOSトランジスタ(35)かオンする。したか
って、バイボ〜ラトランジスタ(36)かオンし、バイ
ポーラトランジスタ(37)がオフする。その結果、B
i CMOSドライバー回路(3C)から出力される
信号Cか「H」レベル( Vcc 0 . 4 V
) ニttル。
cc)から「L」レベル(電源電圧VEE)に変化する
と、PMOS}ランジスタ(32)かオンし、NMOS
トランジスタ(33)、(34)がオフする。これによ
り、NMOSトランジスタ(35)かオンする。したか
って、バイボ〜ラトランジスタ(36)かオンし、バイ
ポーラトランジスタ(37)がオフする。その結果、B
i CMOSドライバー回路(3C)から出力される
信号Cか「H」レベル( Vcc 0 . 4 V
) ニttル。
逆に、ECLレベルの信号Aか「L」レベルから「H」
レベルに変化する場合においても、同様の動作により、
信号aがECLレベルの「L」レベルとなり、信号aが
ECLレベルの「H」レベルとなる。これにより、信号
bがMOSレベルの「L」レベルとなり、信号bがMO
Sレベルの「H」レベルとなる。さらに信号CがB i
CMOSレベルの「L」レベルとなり、信号cがBi
CMOSレベルの「H」レベルとなる。
レベルに変化する場合においても、同様の動作により、
信号aがECLレベルの「L」レベルとなり、信号aが
ECLレベルの「H」レベルとなる。これにより、信号
bがMOSレベルの「L」レベルとなり、信号bがMO
Sレベルの「H」レベルとなる。さらに信号CがB i
CMOSレベルの「L」レベルとなり、信号cがBi
CMOSレベルの「H」レベルとなる。
次に第5図の回路の動作について説明する。
ECLハッファ回路(l)、およびレベル変換回路(2
)の動作は上記第4図の回路と同様である。
)の動作は上記第4図の回路と同様である。
ECLレベルの信号Aが「H」レベルから「L」レベル
に変化する場合、信号aかECLレベルの「H」レベル
となり、信号aがECLレベルの「L」レベルとなる。
に変化する場合、信号aかECLレベルの「H」レベル
となり、信号aがECLレベルの「L」レベルとなる。
これにより、信号bがMOSレベルの「H」レベルとな
り、信号bがMOSレベルの「し」レベルとなる。
り、信号bがMOSレベルの「し」レベルとなる。
MOSレベルの信号bが「H」レベル、MOSレベルの
信号bが「L」レベルになるとき、B i NMOSド
ライバー回路(3d)のバイポーラトランジスタ(36
)およびNMOSトランジスタ(40)がオンし、バイ
ポーラトランジスタ(42),およびNMOSトランジ
スタ(34)かオフする。従ってドライバー出力信号C
はBiCMOSレベルのrHJレベルになり、NMOS
トランジスタ(35)がオンするため、バイポーラトラ
ンジスタ(37)はオフする。またNMOSトランジス
タ(40)かオンしてハイボーラトランジスタ(43)
にヘース電流を供給するため、パイボーラトランジスタ
(43)はオンし、ドライバー出力信号Cの電位はB
i CMOSレベルの「L」レベルとなり、NMOSト
ランジスタ(41)はオフする。
信号bが「L」レベルになるとき、B i NMOSド
ライバー回路(3d)のバイポーラトランジスタ(36
)およびNMOSトランジスタ(40)がオンし、バイ
ポーラトランジスタ(42),およびNMOSトランジ
スタ(34)かオフする。従ってドライバー出力信号C
はBiCMOSレベルのrHJレベルになり、NMOS
トランジスタ(35)がオンするため、バイポーラトラ
ンジスタ(37)はオフする。またNMOSトランジス
タ(40)かオンしてハイボーラトランジスタ(43)
にヘース電流を供給するため、パイボーラトランジスタ
(43)はオンし、ドライバー出力信号Cの電位はB
i CMOSレベルの「L」レベルとなり、NMOSト
ランジスタ(41)はオフする。
逆にECLレベルの信号Aが「L」レベルから「H」レ
ベルに変化する場合においても、同様の動作により、信
号aがECLレベルの「し」レベルとなり、信号aがE
CLレベルの「H」レベルとなる。これにより、信号b
かMOSレベルの「L」レベルとなり、信号bがMOS
レベルの「H」レベルとなる。さらに、信号CがB i
CMOSレベルの「L」レベルとなり、信号CがBi
CMOSレベルの「H」レベルとなる。
ベルに変化する場合においても、同様の動作により、信
号aがECLレベルの「し」レベルとなり、信号aがE
CLレベルの「H」レベルとなる。これにより、信号b
かMOSレベルの「L」レベルとなり、信号bがMOS
レベルの「H」レベルとなる。さらに、信号CがB i
CMOSレベルの「L」レベルとなり、信号CがBi
CMOSレベルの「H」レベルとなる。
以上のように、第5図のBiNMOSドライバー回路(
3d)は、レベル変換回路(2)の出力信号b,bを直
接バイポーラトランジスタ(36)、(42)で受ける
ため、第4図のBiCMOSトライハー回路(3C)に
比べて特に立上り時間が高速になるという利点かある。
3d)は、レベル変換回路(2)の出力信号b,bを直
接バイポーラトランジスタ(36)、(42)で受ける
ため、第4図のBiCMOSトライハー回路(3C)に
比べて特に立上り時間が高速になるという利点かある。
従来のトライハー回路は以北のように構成されているの
で、第4図において、レベル変換回路の出力b,bはそ
れぞれPMOSトランジスタ(38)、NMOSトラン
ジスタ(39)、(40)およびPMOSトランジスタ
(32)、NMOSトランジスタ(33)、(34)に
接続されており、従ってBiCMOSトライバ−回路の
入力容量が大きくなるため、信号b,bのスイッチング
時間が遅くなるという欠点があり、従来の技術の動作例
で説明したようにMOI−ランジスタをオンオフさせて
からバイポーラトランジスタをオンオフさせるため、B
iCMOS回路のスイッチング時間も遅くなるという欠
点もあった。またBiCMOSドライバー回路の出力レ
ベルがrHJ レベルはVcC−0.4V、「L」レベ
ルはV,l:+0.4Vの電位となるため、次段のCM
OS回路に貫通電流が流れやすくなるという欠点もあっ
た。また第5図において、BiNMOSドライバー回路
の出力の立下り時間はNMOSトランジスタ(34)、
(40)をオンオフさせてから、パイボーラトランジス
タ(37)、(43))をオン、オフさせるため、パイ
ボーラトランジスタ(36)、(42)を直接スイッチ
ングさせる立上り時間に比べて遅くなるという欠点があ
り、第4図同様BiNMOSトライバ−回路の出力レベ
ルがフルスイングしないという欠点があった。
で、第4図において、レベル変換回路の出力b,bはそ
れぞれPMOSトランジスタ(38)、NMOSトラン
ジスタ(39)、(40)およびPMOSトランジスタ
(32)、NMOSトランジスタ(33)、(34)に
接続されており、従ってBiCMOSトライバ−回路の
入力容量が大きくなるため、信号b,bのスイッチング
時間が遅くなるという欠点があり、従来の技術の動作例
で説明したようにMOI−ランジスタをオンオフさせて
からバイポーラトランジスタをオンオフさせるため、B
iCMOS回路のスイッチング時間も遅くなるという欠
点もあった。またBiCMOSドライバー回路の出力レ
ベルがrHJ レベルはVcC−0.4V、「L」レベ
ルはV,l:+0.4Vの電位となるため、次段のCM
OS回路に貫通電流が流れやすくなるという欠点もあっ
た。また第5図において、BiNMOSドライバー回路
の出力の立下り時間はNMOSトランジスタ(34)、
(40)をオンオフさせてから、パイボーラトランジス
タ(37)、(43))をオン、オフさせるため、パイ
ボーラトランジスタ(36)、(42)を直接スイッチ
ングさせる立上り時間に比べて遅くなるという欠点があ
り、第4図同様BiNMOSトライバ−回路の出力レベ
ルがフルスイングしないという欠点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ドライバー回路出力の立上り、立下り時間を
同じにし、かつ高速動作するとともに、素子数を減らし
、レイアウト面積を小さく出来るドライバー回路を得る
ことを目的とする。
たもので、ドライバー回路出力の立上り、立下り時間を
同じにし、かつ高速動作するとともに、素子数を減らし
、レイアウト面積を小さく出来るドライバー回路を得る
ことを目的とする。
この発明に係るドライバー回路は、第1の論理レベルの
信号が第1の第1導電チャネル型MOSトランジスタの
ゲートおよび第2のバイポーラトランジスタのベースに
入力され、第1の論理レベルの相補な信号が、第1のバ
イポーラトランジスタのヘースおよび第2の第1導電チ
ャネル型MOSトランジスタのゲートに入力され、第1
および第2のバイポーラトランジスタのコレクタが第1
の電源に接続され、第1および第2の第1導電チャネル
MOSトランジスタのソースが第2の電源に接続され、
第1のバイポーラトランジスタのエミッタと第1の第1
導電チャネル型MOSトランジスタのドレインが接続さ
れ、ドライバー回路の出力信号となり、第2のバイポー
ラトランジスタのエミッタと第2の第1導電チャネルM
OSトランジスタのドレインが接続され、ドライバー回
路の他方の出力信号としたものである。
信号が第1の第1導電チャネル型MOSトランジスタの
ゲートおよび第2のバイポーラトランジスタのベースに
入力され、第1の論理レベルの相補な信号が、第1のバ
イポーラトランジスタのヘースおよび第2の第1導電チ
ャネル型MOSトランジスタのゲートに入力され、第1
および第2のバイポーラトランジスタのコレクタが第1
の電源に接続され、第1および第2の第1導電チャネル
MOSトランジスタのソースが第2の電源に接続され、
第1のバイポーラトランジスタのエミッタと第1の第1
導電チャネル型MOSトランジスタのドレインが接続さ
れ、ドライバー回路の出力信号となり、第2のバイポー
ラトランジスタのエミッタと第2の第1導電チャネルM
OSトランジスタのドレインが接続され、ドライバー回
路の他方の出力信号としたものである。
この発明におけるドライバー回路は、レベル変換回路の
出力を直接バイポーラトランジスタおよびNMOSトラ
ンジスタで受けるため、入力容量が小さく、段数も少な
いため、高速動作が可能になり、また素子数が少ないた
め、レイアウト面積か小さくなる。またNMOSトラン
ジスタで駆動するため、トライハー出力「L」レベルは
電源電圧VεEまで下がるため次段のPMOSI−ラン
シスタを高駆動出来、次段の貫通電流を低減出来る。
出力を直接バイポーラトランジスタおよびNMOSトラ
ンジスタで受けるため、入力容量が小さく、段数も少な
いため、高速動作が可能になり、また素子数が少ないた
め、レイアウト面積か小さくなる。またNMOSトラン
ジスタで駆動するため、トライハー出力「L」レベルは
電源電圧VεEまで下がるため次段のPMOSI−ラン
シスタを高駆動出来、次段の貫通電流を低減出来る。
(実施例)
以下、この発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明す
る。第1はドライバー回路を含む入力ハッファ回路の構
成を示す回路図である。図において、(1)、(2)、
(11)〜(25)、(36)、(46)〜(53)は
第4図及び第5図の従来例に示したものと同等であるの
で説明を省略する。(3a)はB i NMOS トラ
イバ−回路である。ECLバッファ回路(1)およびレ
ベル変換回路(2)の構成は第4図、第5図の従来例に
示されるECLハッファ回路(1)およびレベル変換回
路(2)の構成と同様である。
る。第1はドライバー回路を含む入力ハッファ回路の構
成を示す回路図である。図において、(1)、(2)、
(11)〜(25)、(36)、(46)〜(53)は
第4図及び第5図の従来例に示したものと同等であるの
で説明を省略する。(3a)はB i NMOS トラ
イバ−回路である。ECLバッファ回路(1)およびレ
ベル変換回路(2)の構成は第4図、第5図の従来例に
示されるECLハッファ回路(1)およびレベル変換回
路(2)の構成と同様である。
ECLバッファ回路(1)は、ECLレベルのイ8号A
を受け、ECLレベルの相補な信号a.aを出力する。
を受け、ECLレベルの相補な信号a.aを出力する。
通常、正側の電源電圧VCCはOvに設定され、負側の
電源電圧VEEは−4.5vまたは−5.2Vに設定さ
れる。
電源電圧VEEは−4.5vまたは−5.2Vに設定さ
れる。
レベル変換回路(2)はECLレベルの信号a,aをそ
れぞれPMOSトランジスタ(47)、(50)および
(46)、(51)で受け、MOSレベルの信号b,b
を出力するCMOSカレントミラー回路である。
れぞれPMOSトランジスタ(47)、(50)および
(46)、(51)で受け、MOSレベルの信号b,b
を出力するCMOSカレントミラー回路である。
BiNMOSドライバー回路(3a)は、レベル変換回
路(2)のMOSレベルの出力信号bをバイポーラトラ
ンジスタ(36)のベースおよびNMOSトランジスタ
(40)のゲートで受け、他方のMOSレベルの出力信
号bをバイポーラトランジスタ(42)のベースおよび
NMOSトランジスタ(34)のゲートで受け、バイポ
ーラトランジスタ(36)のエミッタとNMOSトラン
ジスタ(34)のドレインが接続され、ドライバー出力
信号Cを出力し、バイポーラトランジスタ(42)のエ
ミッタとNMOSトランジスタ(40)のドレインが接
続され、ドライバー出力信号Cを出力する。ドライバー
出力信号C,Cの「H」レベルはVCc−0.4VのB
iCMOSレベル、「し」レベルはv6}:のMOSレ
ベルとなる。またバイポーラトランジスタ(36)、(
42)のコレクタは電源電圧VCcと接続され、NMO
Sトランジスタ(34)、(40)のソースは電源電圧
VEEと接続されている。
路(2)のMOSレベルの出力信号bをバイポーラトラ
ンジスタ(36)のベースおよびNMOSトランジスタ
(40)のゲートで受け、他方のMOSレベルの出力信
号bをバイポーラトランジスタ(42)のベースおよび
NMOSトランジスタ(34)のゲートで受け、バイポ
ーラトランジスタ(36)のエミッタとNMOSトラン
ジスタ(34)のドレインが接続され、ドライバー出力
信号Cを出力し、バイポーラトランジスタ(42)のエ
ミッタとNMOSトランジスタ(40)のドレインが接
続され、ドライバー出力信号Cを出力する。ドライバー
出力信号C,Cの「H」レベルはVCc−0.4VのB
iCMOSレベル、「し」レベルはv6}:のMOSレ
ベルとなる。またバイポーラトランジスタ(36)、(
42)のコレクタは電源電圧VCcと接続され、NMO
Sトランジスタ(34)、(40)のソースは電源電圧
VEEと接続されている。
次に第1図に示される回路の動作について説明する。
まず、ECLレベルの信号Aが「H」レベル(−0.9
V)からrLJレベ/I/(−0.7V)に変化する場
合の動作について説明する。この場合、従来例の第4図
、第5図に示されるECLバッファと同様にして、信号
aか「し」レベルから「H」レベルに変化し、信号aは
逆に「H」レベルから「L」レベルに変化する。従って
レベル変換回路(2)のPMOSトランジスタ(46)
、(51),NMoSトランジスタ(49)がオン、P
MOSトランジスタ(47)、(50)NMOSトラン
ジスタ(53)がオフし、レベル変換回路(2)の出力
信号bがMOSレベルの「L」レベルから「L」レベル
に変化し、bはMOSレベルのrH4レベルから「L」
レベルに変化する。
V)からrLJレベ/I/(−0.7V)に変化する場
合の動作について説明する。この場合、従来例の第4図
、第5図に示されるECLバッファと同様にして、信号
aか「し」レベルから「H」レベルに変化し、信号aは
逆に「H」レベルから「L」レベルに変化する。従って
レベル変換回路(2)のPMOSトランジスタ(46)
、(51),NMoSトランジスタ(49)がオン、P
MOSトランジスタ(47)、(50)NMOSトラン
ジスタ(53)がオフし、レベル変換回路(2)の出力
信号bがMOSレベルの「L」レベルから「L」レベル
に変化し、bはMOSレベルのrH4レベルから「L」
レベルに変化する。
B i NMOS トライバ−回路(3a)において、
レベル変換回路(2)の出力信号bが「L」レベルから
「H」レベル、bか「H」レベルから「L」レベルに変
化するため、バイポーラトランジスタ(36)およびN
MOS}−ランジスタ(40)がオンし、バイポーラト
ランジスタ(42)およびNMOSトランジスタ(34
)がオフする。従ってB i NMOSドライバー回路
(3a)出力Cは「L」レベルから「H」レベルに変化
し、Cは「H」レベルから「L」レベルに変化する。な
お、BiNMOSドライバー回路(3a)出力C.Cの
r}[JレベルはVCc−O.4V程度になり、「L」
レベルは電源電圧VEEまで下がる。
レベル変換回路(2)の出力信号bが「L」レベルから
「H」レベル、bか「H」レベルから「L」レベルに変
化するため、バイポーラトランジスタ(36)およびN
MOS}−ランジスタ(40)がオンし、バイポーラト
ランジスタ(42)およびNMOSトランジスタ(34
)がオフする。従ってB i NMOSドライバー回路
(3a)出力Cは「L」レベルから「H」レベルに変化
し、Cは「H」レベルから「L」レベルに変化する。な
お、BiNMOSドライバー回路(3a)出力C.Cの
r}[JレベルはVCc−O.4V程度になり、「L」
レベルは電源電圧VEEまで下がる。
ここでレベル変換回路(2)出力b,bはバイポーラト
ランジスタ(36)、(42)のヘースとNMOSトラ
ンジスタ(34)、(40)のゲートに接続ざれるのみ
であるので、第4図のB i CMOS ドライバー回
路(3C)に比へて、入力容祉が減少するため、レベル
変換回路(2)出力b,bのスイッチング時間が高速化
されるという利点がある。
ランジスタ(36)、(42)のヘースとNMOSトラ
ンジスタ(34)、(40)のゲートに接続ざれるのみ
であるので、第4図のB i CMOS ドライバー回
路(3C)に比へて、入力容祉が減少するため、レベル
変換回路(2)出力b,bのスイッチング時間が高速化
されるという利点がある。
またレベル変換回路(2)出力b,bをNMOSトラン
ジスタ(34)、(40)で直接駆動し出力するため、
第5図のBiNMOSドライバー回路(3d)に比べて
、立下り時間が高速化されるという利点もある。またB
iNMOSドライバー回路(3a)の出力c,cの「L
」レペルが電源電圧VEEまで下がるため、次段のPM
OSトランジスタを高駆動出来、次段の貫通電流を低減
させることが出来る。またBiNMOSドライバー回路
(3a)はバイポーラトランジスタ(36)、(42)
とNMOSI−ランジスタ(34)、(40)で構成さ
れるため、第4図のBiCMOSドライバー回路(3c
)、第5図のB i NMOSドライバー回路(3d)
に比べて,素子数が少なく、レイアウト面積を小さくす
ることが出来る。 またECLレベルの信号Aが「L」
レベルから「H」レベルに変化する場合についても、同
様の動作により、信号aはECLレベルのrl=4レベ
ルになり、信号aはECLレベルの「H」レベルになる
。それにより、信号bはMOSレベルの「L」レベルに
なり、信号bはMOSレベルの「H」レベルになる。さ
らに信号CはMOSレベルの「L」レベルになり、信号
CはB i CMOSレベルの「H」レベルとなる。
ジスタ(34)、(40)で直接駆動し出力するため、
第5図のBiNMOSドライバー回路(3d)に比べて
、立下り時間が高速化されるという利点もある。またB
iNMOSドライバー回路(3a)の出力c,cの「L
」レペルが電源電圧VEEまで下がるため、次段のPM
OSトランジスタを高駆動出来、次段の貫通電流を低減
させることが出来る。またBiNMOSドライバー回路
(3a)はバイポーラトランジスタ(36)、(42)
とNMOSI−ランジスタ(34)、(40)で構成さ
れるため、第4図のBiCMOSドライバー回路(3c
)、第5図のB i NMOSドライバー回路(3d)
に比べて,素子数が少なく、レイアウト面積を小さくす
ることが出来る。 またECLレベルの信号Aが「L」
レベルから「H」レベルに変化する場合についても、同
様の動作により、信号aはECLレベルのrl=4レベ
ルになり、信号aはECLレベルの「H」レベルになる
。それにより、信号bはMOSレベルの「L」レベルに
なり、信号bはMOSレベルの「H」レベルになる。さ
らに信号CはMOSレベルの「L」レベルになり、信号
CはB i CMOSレベルの「H」レベルとなる。
第2図はこの発明の他の実施例を示すドライバー回路を
含む大カバッファ回路の回路図である。第2図において
、(1)、(2)、(11)〜(25)、(46)〜(
53)は第1図に示したものと同等である。(3b)は
BiPMOSドライバー回路、(54)、(56)はP
MOSトランジスタ、(55)、(57)はバイポーラ
トランジスタである。ECLバッファ回路(1)、およ
びレベル変換回路(2)の構成は、第1図、第4図、第
5図のそれらと同様である。
含む大カバッファ回路の回路図である。第2図において
、(1)、(2)、(11)〜(25)、(46)〜(
53)は第1図に示したものと同等である。(3b)は
BiPMOSドライバー回路、(54)、(56)はP
MOSトランジスタ、(55)、(57)はバイポーラ
トランジスタである。ECLバッファ回路(1)、およ
びレベル変換回路(2)の構成は、第1図、第4図、第
5図のそれらと同様である。
B i PMOSドライバー回路(3b)は、レベル変
換回路(2)の出力信号bをパイボーラトランジスタ(
55)のベースおよびPMOShランシスタ(56)の
ケートで受け、他方の出力信号bをバイポーラトランジ
スタ(57)のベースおよびPMOSトランジスタ(5
4)のゲートで受け、PMOSトランジスタ(54)の
ドレインはバイポーラトランジスタ(55)のエミッタ
と接続され,BiPMOSドライバー回路(3b)の出
力信号Cとなり、PMOSトランジスタ(56)のドレ
インはバイポーラトランジスタ(57)のエミッタと接
続され、BiPMOSドライバー回路(3b)の他方の
出力信号Cとなる。またPMOSトランジスタ(54)
(56)のソースは電源電圧Vccと接続され、バイポ
ーラトランジスタ(55)、(57)のコレクタは電源
電圧VEEと接続されている。
換回路(2)の出力信号bをパイボーラトランジスタ(
55)のベースおよびPMOShランシスタ(56)の
ケートで受け、他方の出力信号bをバイポーラトランジ
スタ(57)のベースおよびPMOSトランジスタ(5
4)のゲートで受け、PMOSトランジスタ(54)の
ドレインはバイポーラトランジスタ(55)のエミッタ
と接続され,BiPMOSドライバー回路(3b)の出
力信号Cとなり、PMOSトランジスタ(56)のドレ
インはバイポーラトランジスタ(57)のエミッタと接
続され、BiPMOSドライバー回路(3b)の他方の
出力信号Cとなる。またPMOSトランジスタ(54)
(56)のソースは電源電圧Vccと接続され、バイポ
ーラトランジスタ(55)、(57)のコレクタは電源
電圧VEEと接続されている。
第2図のBiPMOSドライバー回路(3b)の動作原
理は次のとおりである。
理は次のとおりである。
レベル変換回路(2)の出力信号bが「し」レベルから
「H」レベル、他方の出力信号bが「H」レベルから「
L」レベルに変化する場合、PMOSトランジスタ(5
4)およびバイポーラトランジスタ(57)がオンし、
PMOSトランジスタ(56)およびバイポーラトラン
ジスタ(55)がオフするため、BiPMOSドライバ
ー回路(3b)の出力信号Cは「L」レベルから「H」
レベル、他方の出力信号Cは「H」レベルから「L」レ
ベルに変化する。ここでC,Cの「H」レベルは電源電
圧VCCまで上昇し、「L」レベルはVEE+0.4V
になる。ここで第2図に示すBiPMOSドライバー回
路(3b)においても、レベル変換回路(2)出力b,
bがバイポーラトランジスタ(55)、(57)のベー
スとPMOSトランジスタ(54)、(56)のゲート
に接続されるのみであるので第4図のB i CMOS
ドライバー回路(3c)に比べて入力容量が減少するた
め、レベル変換回路(2)出力信号b,bのスイッチン
グ時間が高速化されるという利点がある。
「H」レベル、他方の出力信号bが「H」レベルから「
L」レベルに変化する場合、PMOSトランジスタ(5
4)およびバイポーラトランジスタ(57)がオンし、
PMOSトランジスタ(56)およびバイポーラトラン
ジスタ(55)がオフするため、BiPMOSドライバ
ー回路(3b)の出力信号Cは「L」レベルから「H」
レベル、他方の出力信号Cは「H」レベルから「L」レ
ベルに変化する。ここでC,Cの「H」レベルは電源電
圧VCCまで上昇し、「L」レベルはVEE+0.4V
になる。ここで第2図に示すBiPMOSドライバー回
路(3b)においても、レベル変換回路(2)出力b,
bがバイポーラトランジスタ(55)、(57)のベー
スとPMOSトランジスタ(54)、(56)のゲート
に接続されるのみであるので第4図のB i CMOS
ドライバー回路(3c)に比べて入力容量が減少するた
め、レベル変換回路(2)出力信号b,bのスイッチン
グ時間が高速化されるという利点がある。
またレベル変換回路(2)出力b,bをPMOSトラン
ジスタ(54)、(56)およびバイポーラトランジス
タ(55)、(57)で直接駆動し、出力するため、第
5図のB i NMOSドライバー回路(3d)に比べ
て立下り時間が高速化されるという利点もある。
ジスタ(54)、(56)およびバイポーラトランジス
タ(55)、(57)で直接駆動し、出力するため、第
5図のB i NMOSドライバー回路(3d)に比べ
て立下り時間が高速化されるという利点もある。
またB i PMOS ドライバー回路(3b)の出力
c,cの「H」レベルが電源電圧vccまで上がるため
、次段のNMOSトランジスタを高駆動出来、次段の貫
通電流を低減させることが出来る。
c,cの「H」レベルが電源電圧vccまで上がるため
、次段のNMOSトランジスタを高駆動出来、次段の貫
通電流を低減させることが出来る。
またBiPMOSドライバー回路(3b)はバイポーラ
トランジスタ(55) (57)とPMOSトラン
ジスタ(54)、(56)で構成されるため、第1図の
BiNMOSドライバー回路(3a)同様、第4図のB
iCMOSドライバー回路(3C)及び第5図のB i
NMOSドライバー回路(3d)に比べて素子数が少
なく、レイアウト面積を小さくすることが出来る。また
レベル変換回路(2)の出力信号bが「H」レベルから
「L」レベル、他方の出力信号bが「L」レベルから「
H」レベルに変化する場合も同様にして、BiPMOS
ドライバー回路(3b)の出力信号Cは「H」レベルか
ら「L」レベル、他方の出力信号Cは「L」レベルから
rHJレベルに変化する。
トランジスタ(55) (57)とPMOSトラン
ジスタ(54)、(56)で構成されるため、第1図の
BiNMOSドライバー回路(3a)同様、第4図のB
iCMOSドライバー回路(3C)及び第5図のB i
NMOSドライバー回路(3d)に比べて素子数が少
なく、レイアウト面積を小さくすることが出来る。また
レベル変換回路(2)の出力信号bが「H」レベルから
「L」レベル、他方の出力信号bが「L」レベルから「
H」レベルに変化する場合も同様にして、BiPMOS
ドライバー回路(3b)の出力信号Cは「H」レベルか
ら「L」レベル、他方の出力信号Cは「L」レベルから
rHJレベルに変化する。
第1図のBiNMOSドライバー回路(3a)および第
2図に示さわるB i PMOSドライバー回路(3b
)は、たとえばBiCMOS・RAMの各部分に使用す
ることができる。
2図に示さわるB i PMOSドライバー回路(3b
)は、たとえばBiCMOS・RAMの各部分に使用す
ることができる。
B i CMOS − RAMは、高速動作が可能でか
つ消費電力が少ない大容量のメモリを得るために開発さ
れたもので、バイボーラ素子とCMOS回路との複合に
より構成される。第3図はこの発明のドライバー回路を
通用することができるRAM(Random Acc
essM e m o r y )の構成を示すブロッ
ク図である。
つ消費電力が少ない大容量のメモリを得るために開発さ
れたもので、バイボーラ素子とCMOS回路との複合に
より構成される。第3図はこの発明のドライバー回路を
通用することができるRAM(Random Acc
essM e m o r y )の構成を示すブロッ
ク図である。
図において、(60)はメモリセルアレイ、(62)は
Xアドレスバッファ・デコーダ、(64)はYアドレス
バッファ・デコーダ、(66)はR/W制御回路、(6
8)はセンスアンプ、(70)はデータ出力バッファで
ある。
Xアドレスバッファ・デコーダ、(64)はYアドレス
バッファ・デコーダ、(66)はR/W制御回路、(6
8)はセンスアンプ、(70)はデータ出力バッファで
ある。
第3図において、メモリセルアレイ(60)には、複数
のワード線および複数のビット線か互いに交差するよう
に配置されており、それらのワート線とビット線との各
交点にメモリセルが設けられている。Xアドレスバッフ
ァ・デコーダ(62)によりメモリセルアレイ(60)
の1つのワード線が選択され、Yアトレスバッファ・デ
コーダ(64)によりメモリセルアレイ(60)の1つ
のビット線が選択され、これらのワード線とビット線と
の交点に設けられたメモリセルが選択される。選択され
たメモリセルにデータが書込まれ、あるいは、そのメモ
リセルに蓄えられているデータが読出される。データの
書込みか読出しかはR/W制御回路(66)により選択
される。
のワード線および複数のビット線か互いに交差するよう
に配置されており、それらのワート線とビット線との各
交点にメモリセルが設けられている。Xアドレスバッフ
ァ・デコーダ(62)によりメモリセルアレイ(60)
の1つのワード線が選択され、Yアトレスバッファ・デ
コーダ(64)によりメモリセルアレイ(60)の1つ
のビット線が選択され、これらのワード線とビット線と
の交点に設けられたメモリセルが選択される。選択され
たメモリセルにデータが書込まれ、あるいは、そのメモ
リセルに蓄えられているデータが読出される。データの
書込みか読出しかはR/W制御回路(66)により選択
される。
R / w制御回路(66)は、外部から与えられるラ
イトイネーブル信号WEおよびチップセレクト信号CS
に応答して、動作する。
イトイネーブル信号WEおよびチップセレクト信号CS
に応答して、動作する。
データの書込時には、入カデータDinがR/W制御回
路(66)を介して、選択ざれたメモリセルに入力され
る。また、データの読出時には、選択されたメモリセル
に記憶されているデータがセンスアンブ(68)により
検出および増幅され、データ出力バッファ(7o)を介
して出方データDoutとして外部に取出ざれる。
路(66)を介して、選択ざれたメモリセルに入力され
る。また、データの読出時には、選択されたメモリセル
に記憶されているデータがセンスアンブ(68)により
検出および増幅され、データ出力バッファ(7o)を介
して出方データDoutとして外部に取出ざれる。
B i CMOS − RAMにおいては、メモリセル
アレイがMOSトランジスタにより構成され、アドレス
バッファ・デコーダ等の周辺回路がバイポーラトランジ
スタまたはバイポーラトランジスタとMOSトランジス
タとの複合により構成される。
アレイがMOSトランジスタにより構成され、アドレス
バッファ・デコーダ等の周辺回路がバイポーラトランジ
スタまたはバイポーラトランジスタとMOSトランジス
タとの複合により構成される。
第1図および第2図の回路は,たとえば、Xアドレスバ
ッファ・デコーダ(62)およびYアドレスバッファ・
デコーダ(64)に含まれるアドレスバッファに用いる
ことができる。この場合、ECLバッファ回路(1)に
与えられる信号Aはアドレス信号である。
ッファ・デコーダ(62)およびYアドレスバッファ・
デコーダ(64)に含まれるアドレスバッファに用いる
ことができる。この場合、ECLバッファ回路(1)に
与えられる信号Aはアドレス信号である。
また、第1図および第2図の回路は、R/W制御回路(
66)に含まれる己バッファ、WEバツファおよびDi
nバッファに用いることができる。CSバッファは、チ
ップセレクト信号CSを受ける回路であり、WEバッフ
ァはライトイネーブル信号WEを受ける回路であり、D
inバッファは入力データDinを受ける回路である。
66)に含まれる己バッファ、WEバツファおよびDi
nバッファに用いることができる。CSバッファは、チ
ップセレクト信号CSを受ける回路であり、WEバッフ
ァはライトイネーブル信号WEを受ける回路であり、D
inバッファは入力データDinを受ける回路である。
このように、第1図のB i NMOSドライハー回路
(3a)および第2図に示されるBiPMOSトライバ
−回路(3b)をB i CMOS−RAMに適用する
ことによって、メモリのレイアウト面積の縮小化および
高速化をさらに図ることが可能となる。
(3a)および第2図に示されるBiPMOSトライバ
−回路(3b)をB i CMOS−RAMに適用する
ことによって、メモリのレイアウト面積の縮小化および
高速化をさらに図ることが可能となる。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によわば第1図に示すようにB
i NMOSドライバー回路をプルアップ側をバイポ
ーラトランジスタで、プルダウン側をNMOSトランジ
スタで構成したので、ドライバー出力の立上り、立下り
時間を同じに出来、かつ、高速動作し、また出力rL,
Jレベルが電源電圧VEEまで下がるため次段のPMO
Sトランジスタを高駆動出来、また次段の貫通電流も低
減され、かつ素子数が減るためレイアウト面積も減少出
来る効果がある。また第2図に示すように、B i P
MOS トライハー回路をプルアップ側をPMOSI−
ランジスタ、プルダウン側をパイボーラトランジスタで
構成したので、第1図のドライバー回路同様、ドライバ
ー出力の立上り、立下り時間を同じに出来、かつ高速動
作し、また出力rl{Jレベルが電源電圧vccまで上
がるため、次段のNMOSトランジスタを高駆動出来、
また次段の貫通電流も低減され、かつ素子数が減るため
、レイアウト面積も減少出来る効果がある。
i NMOSドライバー回路をプルアップ側をバイポ
ーラトランジスタで、プルダウン側をNMOSトランジ
スタで構成したので、ドライバー出力の立上り、立下り
時間を同じに出来、かつ、高速動作し、また出力rL,
Jレベルが電源電圧VEEまで下がるため次段のPMO
Sトランジスタを高駆動出来、また次段の貫通電流も低
減され、かつ素子数が減るためレイアウト面積も減少出
来る効果がある。また第2図に示すように、B i P
MOS トライハー回路をプルアップ側をPMOSI−
ランジスタ、プルダウン側をパイボーラトランジスタで
構成したので、第1図のドライバー回路同様、ドライバ
ー出力の立上り、立下り時間を同じに出来、かつ高速動
作し、また出力rl{Jレベルが電源電圧vccまで上
がるため、次段のNMOSトランジスタを高駆動出来、
また次段の貫通電流も低減され、かつ素子数が減るため
、レイアウト面積も減少出来る効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるドライバー回路を含
む大カバッファ回路の構成を示す回路図、第2図はこの
発明の他の一実施例によるドライバー回路を含む入カバ
ッファ回路の構成を示す回路図、第3図はこの発明のド
ライバー回路を適用することが出来るRAMの構成を示
すブロック図、第4図は従来のドライバー回路を含む入
力バッファ回路の構成を示す回路図、第5図は第4図の
ドライバー回路を改良した従来のドライバー回路を含む
人カバッファ回路の構成を示す回路図である。 図において、(1)はECLバッファ回路、(2)はレ
ベル変換回路、(3a)はBiNMOSドライバー回路
、(3 b) はB i PMOS Fライバー回路、
(46)、(47)、(50)、(51)、(54)、
(56)はPMOSトランジスタ、(48) (4
9) (52)(53)はNMOSトランジスタ、
(11)、(12)、(16)、(17)、(18)、
(20)、(21)、(22)、(23)、(36)、
(37)、(42)、(43)、(55)、(57))
はバイポーラトランジスタ、(13)、(14)、(1
5)、(19)、(24)、(25)は抵抗である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
む大カバッファ回路の構成を示す回路図、第2図はこの
発明の他の一実施例によるドライバー回路を含む入カバ
ッファ回路の構成を示す回路図、第3図はこの発明のド
ライバー回路を適用することが出来るRAMの構成を示
すブロック図、第4図は従来のドライバー回路を含む入
力バッファ回路の構成を示す回路図、第5図は第4図の
ドライバー回路を改良した従来のドライバー回路を含む
人カバッファ回路の構成を示す回路図である。 図において、(1)はECLバッファ回路、(2)はレ
ベル変換回路、(3a)はBiNMOSドライバー回路
、(3 b) はB i PMOS Fライバー回路、
(46)、(47)、(50)、(51)、(54)、
(56)はPMOSトランジスタ、(48) (4
9) (52)(53)はNMOSトランジスタ、
(11)、(12)、(16)、(17)、(18)、
(20)、(21)、(22)、(23)、(36)、
(37)、(42)、(43)、(55)、(57))
はバイポーラトランジスタ、(13)、(14)、(1
5)、(19)、(24)、(25)は抵抗である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 第1の論理レベルまたは第2の論理レベルの入力記号
を電流増幅して負荷に供給するためのドライバー回路で
あって、第1の論理レベルの入力記号が第1の第1導電
チャネル型MOSトランジスタのゲートおよび第2のバ
イポーラトランジスタのベースに入力され、第2の論理
レベルの入力信号が第2の第1導電チャネル型MOSト
ランジスタのゲートおよび第1のバイポーラトランジス
タのゲートおよび第1のバイポーラトランジスタのベー
スに入力され、第1および第2のバイポーラトランジス
タのコレクタが第1の電源と接続され、第1および第2
の第1導電チャネル型 MOSトランジスタのソースが第2の電源と接続され、
第1のバイポーラトランジスタのエミッタと第1の第1
導電チャネル型MOSトランジスタのドレインが接続さ
れるとともにドライバー回路の出力となり、第2のバイ
ポーラトランジスタのエミッタと第2の第1導電チャネ
ル型MOSトランジスタのドレインが接続されるととも
にドライバー回路の他方の出力となることを特徴とする
ドライバー回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010794A JPH03216015A (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | ドライバー回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010794A JPH03216015A (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | ドライバー回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03216015A true JPH03216015A (ja) | 1991-09-24 |
Family
ID=11760254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010794A Pending JPH03216015A (ja) | 1990-01-20 | 1990-01-20 | ドライバー回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03216015A (ja) |
-
1990
- 1990-01-20 JP JP2010794A patent/JPH03216015A/ja active Pending
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