JPH03217137A - Self-diagnostic circuit - Google Patents
Self-diagnostic circuitInfo
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- JPH03217137A JPH03217137A JP1280390A JP1280390A JPH03217137A JP H03217137 A JPH03217137 A JP H03217137A JP 1280390 A JP1280390 A JP 1280390A JP 1280390 A JP1280390 A JP 1280390A JP H03217137 A JPH03217137 A JP H03217137A
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- diagnosed
- diagnosis
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
例えば,多重/分離装置内のユニットの異常,または故
障を診断する際に使用する自己診断回路に関し、
自己診断を行う際.常に正しい診断結果が得られる様に
することを目的とし、
自己診断スタート指令が入力した時、診断データを出力
するパターン発生回路と、該パターン発生回路からの診
断データを処理した後、被診断デー夕として送出する装
置と、該装置からの該被診断データ中の指定パターンを
連続してN回検出して同期を取った後、該診断データと
被診断データとを比較して、所定時間当たりの不一致数
が設定値を越えた時にエラーパルスを送出するフレーム
検出手段とを設けて該装置の異常または故障を自己診断
する自己診断回路において、該装置から該被診断データ
が正常か否かを示す情報を送出させると共に、該自己診
断スタート指令が入力した時に動作を開始し、該装置か
らの該情報が正常な時は該フレーム検出手段の動作をオ
ンにして該被診断ユニットの自己診断を行わせ、該装置
からの情報が異常な時は該フレーム検出手段の動作をオ
フにして該被診断ユニットの自己診断を行わせない様に
該フレーム検出手段の動作を制御する制御信号を送出す
る擬似同期防止回路を設ける様に構成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] For example, when performing self-diagnosis regarding a self-diagnosis circuit used when diagnosing an abnormality or failure of a unit in a multiplexing/separating device. The purpose is to always obtain correct diagnostic results, and when a self-diagnosis start command is input, a pattern generation circuit outputs diagnostic data, and after processing the diagnostic data from the pattern generation circuit, it outputs the diagnostic data. After detecting and synchronizing the specified pattern in the diagnostic data from the device and the device that sends out data N times in a row, the diagnostic data and the diagnostic data are compared, and the A self-diagnosis circuit that self-diagnoses abnormality or failure of the device by providing a frame detection means that sends an error pulse when the number of discrepancies exceeds a set value, which detects whether the data to be diagnosed from the device is normal or not. At the same time, when the self-diagnosis start command is input, the operation is started, and when the information from the device is normal, the operation of the frame detection means is turned on to perform self-diagnosis of the unit to be diagnosed. and when the information from the device is abnormal, the operation of the frame detection means is turned off and a control signal is sent to control the operation of the frame detection means so as not to perform self-diagnosis of the unit to be diagnosed. The configuration is such that a pseudo synchronization prevention circuit is provided.
本発明は,例えば,多重/分離装置内のユニットの異常
,または故障を診断する際に使用する自己診断方式に関
するものである。The present invention relates to a self-diagnosis method used, for example, when diagnosing an abnormality or failure of a unit in a multiplexing/separating device.
例えば,多重/分離装置の電源投入時に,この装置に収
容されているユニットの異常,または故障を測定器など
を使用しないで自己診断により確認する際,常に正しい
診断結果が得られる様にすることが必要である。For example, when powering on a multiplexing/demultiplexing device and checking for abnormalities or failures in the units housed in this device through self-diagnosis without using a measuring device, etc., it is necessary to ensure that correct diagnostic results are always obtained. is necessary.
第6図は従来例のブロック図、第7図は従来例を用いた
自己診断説明図を示す。以下,チャネル1〜チャネル4
を多重/分離するとして第6図,第7図の動作を説明す
る。FIG. 6 is a block diagram of a conventional example, and FIG. 7 is an explanatory diagram of self-diagnosis using the conventional example. Below, channels 1 to 4
The operations shown in FIGS. 6 and 7 will be explained assuming that multiplexing/demultiplexing is performed.
(1)データ伝送動作(第7図参照)
チャネル1〜チャネル4 (以下,CHI−CH4と省
略する)のデータは点線の状態にあるスイッチSW1〜
SW4を介して多重/分離部分22に加えられ,ここで
多重化されると共に,高次群同期信号が付加されて点線
の状態にあるスイッチSWeを介して伝送路に送出され
る。(1) Data transmission operation (see Fig. 7) Data on channels 1 to 4 (hereinafter abbreviated as CHI-CH4) is transmitted by switches SW1 to SW1 in the dotted line state.
The signals are applied to the multiplexing/demultiplexing section 22 via SW4, where they are multiplexed, a high-order group synchronization signal is added thereto, and the signals are sent out to the transmission line via the switch SWe shown in the dotted line.
一方、伝送路からの多重化データは点線の状態にあるス
イッチSLoを介して,多重/分離部分で高次群同期信
号を検出して同期を取った後, CH 1〜CH 4に
分離され,スイッチSWa〜SWsを通って出力される
。On the other hand, the multiplexed data from the transmission line passes through the switch SLo indicated by the dotted line, detects a high-order group synchronization signal in the multiplexing/demultiplexing part and obtains synchronization, and then is separated into CH 1 to CH 4, and then transferred to the switch SWa. - Output through SWs.
(2)自己診断動作(第7図,第6図参照)マイクロコ
ンピュータ24から自己診断スタート指令S1が低次群
ループパック部分21,高次群ループパック部分23と
自己診断回路1に送出されるので,低次群ループパック
部分,高次群ループパック部分内のスイッチSW+ 〜
SWi, SWo, SW+ oの接続は点線から実線
の状態に切り替わり,ループパックが可能な状態になる
。(2) Self-diagnosis operation (see FIGS. 7 and 6) Since the self-diagnosis start command S1 is sent from the microcomputer 24 to the low-order group loop pack section 21, the high-order group loop pack section 23, and the self-diagnosis circuit 1, Switch SW+ in the low-order group loop pack part and the high-order group loop pack part ~
The connections of SWi, SWo, and SW+o change from dotted lines to solid lines, and loop pack becomes possible.
また、第6図に示す自己診断回路lは入力した自己診断
スタート指令S1により,例えばPN7段で構成された
パターン発生回路l3はPN7段のパターンを発生して
PNデータS2として出力し,フレーム同期回路1lも
上記のスタート指令により動作状態になる。Furthermore, in response to the input self-diagnosis start command S1, the self-diagnosis circuit 1 shown in FIG. The circuit 1l is also brought into operation by the above start command.
このPNデータS2は第7図に示す低次群ループバック
内のスイッチSW+を介して多重/分離部分22で多重
化されるが,この多重化データは高次群ループパック内
のSWs, SLoを介して,再び多重/分離部分に入
力し,PNデータが分離される。尚、PNデータの多重
/分離の際にも高次群同期信号の付加,検出が行われる
。This PN data S2 is multiplexed in the multiplexing/demultiplexing section 22 via switch SW+ in the low-order group loopback shown in FIG. 7, but this multiplexed data is multiplexed via SWs and SLo in the high-order group loop pack. , is again input to the multiplexing/demultiplexing section, and the PN data is separated. It should be noted that addition and detection of higher-order group synchronization signals are also performed when multiplexing/separating PN data.
分離されたPNデータはスイッチSW6 SW2を介し
て多重/分離部分に加えられ,上記と同様な処理が行わ
れた後,スイッチswg, sw,oを介して多重/分
離部分に入力してPNデータが分離され,SWe+SW
3を介して再び,多重/分離部分に加える。The separated PN data is added to the multiplexing/demultiplexing section via switches SW6 and SW2, and after the same processing as above is performed, it is input to the multiplexing/demultiplexing section via switches swg, sw, and o, where it is converted into PN data. is separated, SWe+SW
3 to the multiplex/separate section again.
これを繰り返し, SWsを介して分離されたPNデー
タ(以下,被診断PNデータS3と云う)が第6図の自
己診断回路内のフレーム同期回路l1に入力する。This is repeated, and the PN data separated via the SWs (hereinafter referred to as PN data to be diagnosed S3) is input to the frame synchronization circuit l1 in the self-diagnosis circuit shown in FIG.
ここで,フレーム同期回路11には被診断PNデータ中
の指定パターンを検出する指定パターン検出部分Ill
とパターン発生回路l3と同じ構成のパターン発生部分
112と一致/不一致検出部分113とを持っている。Here, the frame synchronization circuit 11 includes a specified pattern detection section Ill for detecting a specified pattern in the PN data to be diagnosed.
It has a pattern generation section 112 and a coincidence/mismatch detection section 113 having the same configuration as the pattern generation circuit l3.
そこで,上記の被診断PNデータS3が入力すると,指
定パターン検出部分Illで被診断PNデータS3中の
指定パターン,例えば1101000を検出し,検出信
号でパターン発生部分112を起動する。そして,指定
パターンが連続して,例えば2回検出できれば,同期確
立として,エラーカウンタl2を起動すると共に,一致
/不一致部分で被診断PNデータS3とパターン発生部
分からのPNデータとをビット単位で一致/不一致のチ
ェックをする。Therefore, when the above-mentioned PN data to be diagnosed S3 is input, the designated pattern detection part Ill detects a designated pattern in the PN data to be diagnosed S3, for example, 1101000, and the pattern generation part 112 is activated by the detection signal. If the specified pattern can be detected consecutively, for example twice, the error counter l2 is activated to establish synchronization, and the PN data to be diagnosed S3 and the PN data from the pattern generation part are detected bit by bit in the matching/mismatching part. Check for match/mismatch.
この時,不一致なら不一致結果をエラーカウンタに送出
するので,このカウンタは不一致の数をカウントし,所
定時間内に設定値以上になった時にエラーを送出する。At this time, if there is a mismatch, the mismatch result is sent to an error counter, so this counter counts the number of mismatches and sends out an error when the number of mismatches exceeds a set value within a predetermined time.
ここで、例えば,上記の高次群同期信号は1200ビッ
ト毎に,指定パターンは2’=128ビット毎に挿入さ
れており,保護段数は同じとすると,多重/分離部分で
高次群同期パターンを検出する時間はフレーム同期回路
が指定パターンを検出する時間よりも長くなる。Here, for example, if the above-mentioned high-order group synchronization signal is inserted every 1200 bits, and the specified pattern is inserted every 2' = 128 bits, and the number of protection stages is the same, the time required to detect the high-order group synchronization pattern in the multiplexing/demultiplexing part is is longer than the time it takes for the frame synchronization circuit to detect the specified pattern.
この為、多重/分離部分がハンチング状態にあり,被診
断データS3が正常でないにもかかわらず,フレーム同
期回路11がこのデータS3から指定パターンを検出し
て同期確立状態となり,正常でない被診断PNデータS
3を用いて診断し,誤った判定を下す場合があると云う
問題がある。Therefore, even though the multiplexing/demultiplexing part is in a hunting state and the data to be diagnosed S3 is not normal, the frame synchronization circuit 11 detects a designated pattern from this data S3 and enters the synchronization established state, and the PN to be diagnosed which is not normal Data S
There is a problem that there are cases where an incorrect judgment is made when making a diagnosis using 3.
本発明は自己診断を行う際,常に正しい診断結果が得ら
れる様にすることを目的とする。An object of the present invention is to always obtain correct diagnostic results when performing self-diagnosis.
第l図は本発明の原理ブロック図を示す。 FIG. 1 shows a block diagram of the principle of the present invention.
図中、5は自己診断スタート指令が入力した時、診断デ
ータを出力するパターン発生回路で、6はパターン発生
回路からの診断データを処理した後、被診断データとし
て送出する装置である。In the figure, 5 is a pattern generation circuit that outputs diagnostic data when a self-diagnosis start command is input, and 6 is a device that processes the diagnostic data from the pattern generation circuit and then sends it out as data to be diagnosed.
また、3は該装置からの該被診断データ中の指定パター
ンを連続してN回検出して同期を取った後、該診断デー
タと被診断データとを比較して、所定時間当たりの不一
致数が設定値を越えた時にエラーパルスを送出するフレ
ーム検出手段で、4は自己診断スタート指令が入力した
時に動作を開始し、該装置からの該情報が正常な時は該
フレーム検出手段の動作をオンにして該被診断ユニット
の自己診断を行わせ、該装置からの情報が異常な時は該
フレーム検出手段の動作をオフにして該被診断ユニット
の自己診断を行わせない様に該フレーム検出手段の動作
を制御する制御信号を送出する擬似同期防止回路である
。In addition, in 3, the specified pattern in the diagnosed data from the device is detected N times in succession and synchronized, and then the diagnosed data and the diagnosed data are compared to determine the number of discrepancies per predetermined time. 4 is a frame detection means that sends out an error pulse when exceeds a set value, and 4 starts operation when a self-diagnosis start command is input, and when the information from the device is normal, the frame detection means starts operating. The frame detection means is turned on to cause the unit to be diagnosed to perform self-diagnosis, and when the information from the device is abnormal, the frame detection means is turned off to prevent the self-diagnosis of the unit to be diagnosed. This is a pseudo-synchronization prevention circuit that sends out a control signal to control the operation of the means.
本発明は被診断ユニットを収容している装置から,被診
断データが正常であるか否かを示す情報を送出させる様
にすると共に,擬似同期防止回路を設け、この回路にお
いて情報の状態に対応してフレーム検出手段の動作を制
御する様にした。The present invention is configured to send out information indicating whether or not the data to be diagnosed is normal from a device accommodating the unit to be diagnosed, and is also provided with a pseudo synchronization prevention circuit, and this circuit responds to the state of the information. to control the operation of the frame detection means.
例えば,装置が多重/分離装置で,被診断ユニットが多
重化部分,分離部分とすると,診断データは多重化部分
で他の信号と多重化されるが,この時,多重化データに
高次群同期信号が付加され9
る。一方、分離部分では多重化データ中の高次群同期信
号を検出した後,分離して被診断データを取り出す。For example, if the device is a multiplexing/separating device and the unit to be diagnosed is a multiplexing section and a separating section, the diagnostic data is multiplexed with other signals in the multiplexing section, but at this time, the multiplexed data is combined with a high-order group synchronization signal. is added. On the other hand, the separation section detects the high-order group synchronization signal in the multiplexed data and then separates it to extract the data to be diagnosed.
この時、高次群同期信号を検出したか否かの情報を装置
から擬似同期防止回路に送出する。擬似同期防止回路は
この情報が同期信号検出を示していれば被診断データは
正常と判断して,フレーム検出手段の動作をオンさせて
被診断ユニットの異常または故障を診断させる。At this time, information indicating whether or not a high-order group synchronization signal has been detected is sent from the device to the pseudo synchronization prevention circuit. If this information indicates that a synchronization signal has been detected, the false synchronization prevention circuit determines that the data to be diagnosed is normal, turns on the operation of the frame detection means, and diagnoses the abnormality or failure of the unit to be diagnosed.
しかし、同期信号検出を示していなければ被診断データ
は正常データでないと判断して,フレーム検出手段の動
作をオンにしない。However, if no synchronization signal is detected, it is determined that the data to be diagnosed is not normal data, and the frame detection means is not turned on.
そこで,常に正しい自己診断結果が得られる。Therefore, correct self-diagnosis results can always be obtained.
第2図は本発明の実施例のブロック図、第3図は第2図
中の擬似同期防止回路の回路図、第4図は第3図の動作
説明図,第5図は第2図を用いた自己診断説明図を示す
。FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a circuit diagram of the pseudo synchronization prevention circuit in FIG. 2, FIG. 4 is an explanatory diagram of the operation of FIG. 3, and FIG. An explanatory diagram of the self-diagnosis used is shown.
ここで、第4図の左側の符号は第3図中の同じl0
符号の部分の波形を示す。尚、全図を通じて同一符号は
同一対象物を示す。また、フレーム同期回路31とエラ
ーカウンタ32はフレーム検出手段3の構成部分、フリ
ップフロツプ41. 42 NANDゲート43, A
NDゲート44は擬似同期防止回路4の構成部分を示す
。Here, the symbols on the left side of FIG. 4 indicate the waveforms of the portions with the same l0 symbol in FIG. 3. Note that the same reference numerals indicate the same objects throughout the figures. Further, the frame synchronization circuit 31 and the error counter 32 are the constituent parts of the frame detection means 3, and the flip-flop 41. 42 NAND gate 43, A
An ND gate 44 represents a component of the pseudo synchronization prevention circuit 4.
以下、第3図〜第5図を参照して自己診断を行う際の第
2図の動作を説明する。The operation shown in FIG. 2 when performing self-diagnosis will be described below with reference to FIGS. 3 to 5.
先ず、第5図中のマイクロコンピュータ24からの自己
診断スタート指令S1が低次群ループパック部分21,
高次群ループパック部分23と自己診断回路内のパター
ン発生回路5と擬似同期防止回路4に入力する。そこで
、低次群ループパック部分,高次群ループバック部分は
内部のスイッチSW1〜SWs, SWe, SW+
oを点線の状態から実線の状態に切り替え,パターン発
生回路と擬似同期防止回路は動作をオンする。First, a self-diagnosis start command S1 from the microcomputer 24 in FIG.
The signal is input to the higher-order group loop pack section 23, the pattern generation circuit 5 in the self-diagnosis circuit, and the pseudo-synchronization prevention circuit 4. Therefore, the low-order group loop pack part and the high-order group loopback part are connected to internal switches SW1 to SWs, SWe, SW+.
o is switched from the dotted line state to the solid line state, and the pattern generation circuit and pseudo synchronization prevention circuit are turned on.
パターン発生回路5は,例えばPN7段のパターンを発
生する回路で,ここで発生したPNパターンを診断デー
タ(以下, PNデータS2と省略する)とl
1
して,低次群ループパック部分2lを介して第5図の多
重/分離部分22に加える。The pattern generation circuit 5 is a circuit that generates, for example, a 7-stage PN pattern, and uses the PN pattern generated here as diagnostic data (hereinafter abbreviated as PN data S2) l 1 and generates the low-order group loop pack portion 2l. 5 to the multiplexing/demultiplexing section 22 of FIG.
そこで,多重/分離部分は前記で詳細に述べた様にCH
Iのデータとして多重化し,高次群同期信号を付加して
多重化データを生成した後,高次群ループパック部分を
介して,再び,多重化データを多重/分離部分に加えて
,高次群同期信号を検出し,このPNデータを分離する
。Therefore, the multiplexing/demultiplexing part is CH
After multiplexing the data as I data and adding a high-order group synchronization signal to generate multiplexed data, the multiplexed data is added to the multiplexing/demultiplexing section again via the high-order group loop pack section to detect the high-order group synchronization signal. , this PN data is separated.
そして,分離したPNデータをCH2のデータとして多
重化する。これを,例えばCH4まで繰り返した後,
PNデータを分離して被診断PNデータS3として第2
図のフレーム同期回路3lに加える。Then, the separated PN data is multiplexed as CH2 data. After repeating this until, for example, CH4,
Separate the PN data and store it as the second PN data to be diagnosed S3.
It is added to the frame synchronization circuit 3l shown in the figure.
また、高次群同期パターンを検出した時に高次群同期検
出信号S6を擬似同期防止回路4に送出する。Further, when a high-order group synchronization pattern is detected, a high-order group synchronization detection signal S6 is sent to the pseudo synchronization prevention circuit 4.
ここで、第4図−■に示す自己診断スタート指令S,が
第3図に示す擬似同期防止回路4の中のフリップフロッ
プ(以下, D−FFと省略する)41に入力すると,
第4図一■に示すクロックCKを用いて取り込まれた後
,更に,D−FF 42に取り込まれる。Here, when the self-diagnosis start command S shown in FIG.
After being taken in using the clock CK shown in FIG.
■
2
そして、D−FF 41の端子Qの出力とD−FF 4
2の端子*Qの出力とのNANDをNANDゲートで取
ると,第4図一■に示す様な出力が得られ,これがAN
Dゲート44に加えられる(第4図一■,■参照)。■ 2 And the output of terminal Q of D-FF 41 and D-FF 4
When NAND is performed with the output of terminal *Q of 2 using a NAND gate, an output as shown in Fig. 4-1 is obtained, and this is the result of the AN
It is added to the D gate 44 (see Fig. 4-1 and ■).
このANDゲートは第4図−〇に示す多重/分離部分か
らの高次群同期検出信号が入力した時は,第4図一■の
右側に示す様な動作オンの制御信号を第2図のフレーム
同期回路3lに送出する。When this AND gate receives the high-order group synchronization detection signal from the multiplexing/demultiplexing section shown in Figure 4-0, it sends an operation-on control signal as shown on the right side of Figure 4-1 to the frame synchronization shown in Figure 2. It is sent to circuit 3l.
そこで、フレーム同期回路は動作を開始して,前記と同
様に,入力する被診断PNデータS,から,例えば11
01000を検出する。これにより,パターン発生回路
と同一構成のパターン発生部分(図示せず)をオンする
と共に, 1101000が,例えば連続して2回検出
できれば同期確立として,エラーカウンタ32をオンす
る。Then, the frame synchronization circuit starts operating and, in the same way as above, from the input PN data S, to be diagnosed, for example, 11
Detects 01000. As a result, a pattern generation portion (not shown) having the same configuration as the pattern generation circuit is turned on, and if 1101000 can be detected, for example, twice in a row, synchronization is established and the error counter 32 is turned on.
また、被診断PNデータS3とパターン発生部分の出力
との一致/不一致を一致/不一致検出部分(図示せず)
で,ビット単位にチェックし,不一致の時はチェック結
果をエラーカウンタ32に送出する。そこで,エラーカ
ウンタは所定時間内に不l3
一致数が所定個数以上になったらエラーパルスを送出す
る。In addition, a match/mismatch detection part (not shown) is used to check the match/mismatch between the diagnosed PN data S3 and the output of the pattern generation part.
The check is performed bit by bit, and if there is a mismatch, the check result is sent to the error counter 32. Therefore, the error counter sends out an error pulse when the number of mismatches exceeds a predetermined number within a predetermined time.
尚、多重/分離部分からの高次群同期信号が入力しなけ
れば,擬似同期防止回路から第4図一■の左側に示す動
作オフの制御信号がフレーム同期回路に送出されるので
,フレーム同期回路は被動作状態となる。If the high-order group synchronization signal from the multiplexing/demultiplexing section is not input, the control signal for turning off the operation shown on the left side of Fig. 4 (1) is sent from the pseudo synchronization prevention circuit to the frame synchronization circuit. Becomes operated state.
即ち、多重/分離部分が高次群同期パターンを検出した
後,フレーム同期回路を動作させる様にしたので,自己
診断を行う際,常に正しい診断結果が得られる。That is, since the frame synchronization circuit is operated after the multiplexing/demultiplexing section detects a high-order group synchronization pattern, correct diagnosis results can always be obtained when performing self-diagnosis.
以上詳細に説明した様に本発明によれば自己診断を行う
際,常に正しい診断結果が得られると云う効果がある。As described above in detail, the present invention has the advantage that correct diagnosis results can always be obtained when performing self-diagnosis.
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明の実施例のブロック図、1
4
第3図は第2図中の擬似同期防止回路の回路図、第4図
は第3図の動作説明図、
第5図は第2図を用いた自己診断説明図、第6図は従来
例のブロック図、
第7図は従来例を用いた自己診断説明図を示す。
図において、
3はフレーム検出手段、
4は擬似同期防止回路、
5はパターン発生回路、
6は装置を示す。
l
5
本発明の原理プロ・ソフ図
第
図
■
θ■
−274−Fig. 1 is a block diagram of the principle of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of an embodiment of the invention, 1 4 Fig. 3 is a circuit diagram of the pseudo synchronization prevention circuit in Fig. 2, and Fig. 4 is a block diagram of the pseudo synchronization prevention circuit in Fig. 3. 5 is an explanatory diagram of self-diagnosis using FIG. 2, FIG. 6 is a block diagram of a conventional example, and FIG. 7 is an explanatory diagram of self-diagnosis using the conventional example. In the figure, 3 is a frame detection means, 4 is a pseudo synchronization prevention circuit, 5 is a pattern generation circuit, and 6 is a device. l 5 Principle software diagram of the present invention ■ θ■ -274-
Claims (1)
するパターン発生回路(5)と、該パターン発生回路か
らの診断データを処理した後、被診断データとして送出
する装置(6)と、 該装置(6)からの該被診断データ中の指定パターンを
連続してN回(Nは正の整数)検出して同期を取った後
、該診断データと被診断データとを比較して、所定時間
当たりの不一致数が設定値を越えた時にエラーパルスを
送出するフレーム検出手段(3)とを設けて該装置(6
)の異常または故障を自己診断する自己診断回路におい
て、 該装置(6)から該被診断データが正常か否かを示す情
報を送出させると共に、 該自己診断スタート指令が入力した時に動作を開始し、
該装置(6)からの該情報が正常な時は該フレーム検出
手段の動作をオンにして該被診断ユニットの自己診断を
行わせ、 該装置からの情報が異常な時は該フレーム検出手段の動
作をオフにして該被診断ユニットの自己診断を行わせな
い様に該フレーム検出手段の動作を制御する制御信号を
送出する擬似同期防止回路(4)回路 を設けたことを特徴とする自己診断。[Scope of Claims] A pattern generation circuit (5) that outputs diagnostic data when a self-diagnosis start command is input, and a device (6) that processes the diagnostic data from the pattern generation circuit and then sends it out as data to be diagnosed. ), and after successively detecting the specified pattern in the diagnostic data from the device (6) N times (N is a positive integer) and establishing synchronization, the diagnostic data and the diagnostic data are compared. and frame detection means (3) for transmitting an error pulse when the number of discrepancies per predetermined time exceeds a set value.
) in a self-diagnosis circuit that self-diagnoses abnormalities or failures in the device (6), which transmits information indicating whether the data to be diagnosed is normal or not, and starts operation when the self-diagnosis start command is input. ,
When the information from the device (6) is normal, the frame detection means is turned on to perform self-diagnosis of the unit to be diagnosed, and when the information from the device is abnormal, the frame detection means is turned on. A self-diagnosis characterized in that a pseudo synchronization prevention circuit (4) is provided which sends a control signal for controlling the operation of the frame detection means so as to turn off the operation and prevent the self-diagnosis of the unit to be diagnosed. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1280390A JPH03217137A (en) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | Self-diagnostic circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1280390A JPH03217137A (en) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | Self-diagnostic circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03217137A true JPH03217137A (en) | 1991-09-24 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1280390A Pending JPH03217137A (en) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | Self-diagnostic circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03217137A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9342451B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-05-17 | Fujitsu Limited | Processor management method |
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1990
- 1990-01-23 JP JP1280390A patent/JPH03217137A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9342451B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-05-17 | Fujitsu Limited | Processor management method |
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