JPH03218405A - 半田フィレットの外観検査方法 - Google Patents
半田フィレットの外観検査方法Info
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- JPH03218405A JPH03218405A JP2013826A JP1382690A JPH03218405A JP H03218405 A JPH03218405 A JP H03218405A JP 2013826 A JP2013826 A JP 2013826A JP 1382690 A JP1382690 A JP 1382690A JP H03218405 A JPH03218405 A JP H03218405A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は半田フィレットの外観検査方法に関し、詳しく
は、上方のカメラにより、まず半田フィレットの位置を
検出し、次いで半田フィレットの形状の良否を判断する
ための方法に関する。
は、上方のカメラにより、まず半田フィレットの位置を
検出し、次いで半田フィレットの形状の良否を判断する
ための方法に関する。
（従来の技術）
クリーム半田により電子部品が接着された基板は、続い
てリフロー装置へ送られ、クリーム半田は加熱処理され
る。第８図と第９図は、このように加熱処理された半田
フィレットの従来の外観検査手段の側面図と、リード先
端部付近の平面図を示している。ｌＯＯは基板、１０１
はリード、１０２は半田フィレット、１０３はカメラ、
１０４は光源である。
てリフロー装置へ送られ、クリーム半田は加熱処理され
る。第８図と第９図は、このように加熱処理された半田
フィレットの従来の外観検査手段の側面図と、リード先
端部付近の平面図を示している。ｌＯＯは基板、１０１
はリード、１０２は半田フィレット、１０３はカメラ、
１０４は光源である。
半田フィレソＩ−１０２の上面は、図示するように下り
勾配の曲面であり、上方から光を照射し、上方のカメラ
１０３により観察すると、光は側方へ反射され、反射光
はカメラ１０３には殆ど入射しないことから、半田フィ
レット１０２の基端部１０２ａは暗く観察される。また
半田フィレット１０２の先端部１０２ｂは、水平に近い
緩勾配であることから、反射光は上方へ若干反射されて
カメラ１０３にある程度入射するので、やや明るい灰色
に観察される。
勾配の曲面であり、上方から光を照射し、上方のカメラ
１０３により観察すると、光は側方へ反射され、反射光
はカメラ１０３には殆ど入射しないことから、半田フィ
レット１０２の基端部１０２ａは暗く観察される。また
半田フィレット１０２の先端部１０２ｂは、水平に近い
緩勾配であることから、反射光は上方へ若干反射されて
カメラ１０３にある程度入射するので、やや明るい灰色
に観察される。
そこで従来は、このような半田フィレント１０２の光反
射特性を利用し、半田フィレット１０２が存在すると予
想される位置に、チェックエリア１０５を設定して、こ
のチェックエリア１０５の面積Ｓと、このチエ’７クエ
リア１０５内において、暗く観察される部分（すなわち
基端部１０２ａ）の面積Ｓｘを検出し、 Ｓｘ≧αＳ ならば、半田フィレット１０２は十分に形成されていて
、その形状は良好と判断していた。αは要求される精度
により決定される定数であって、例えば０．６である。
射特性を利用し、半田フィレット１０２が存在すると予
想される位置に、チェックエリア１０５を設定して、こ
のチェックエリア１０５の面積Ｓと、このチエ’７クエ
リア１０５内において、暗く観察される部分（すなわち
基端部１０２ａ）の面積Ｓｘを検出し、 Ｓｘ≧αＳ ならば、半田フィレット１０２は十分に形成されていて
、その形状は良好と判断していた。αは要求される精度
により決定される定数であって、例えば０．６である。
（発明が解決しようとする課題）
ところが上記従来手段は、第９図において破線にて示す
ように、リード１０１が位置ずれしていて、半田フィレ
ット１０２がチエソクエリア１０５からはみ出している
場合、半田フィレソ｝ １ ０ ２の形状が良好であっ
ても、上記の不等式を満足しないこととなって、ＮＧと
誤判断されてしまう問題があった。
ように、リード１０１が位置ずれしていて、半田フィレ
ット１０２がチエソクエリア１０５からはみ出している
場合、半田フィレソ｝ １ ０ ２の形状が良好であっ
ても、上記の不等式を満足しないこととなって、ＮＧと
誤判断されてしまう問題があった。
そこで本発明は、上記従来手段の問題点を解消できる半
田フィレットの外観検査方法を提供することを目的とす
る。
田フィレットの外観検査方法を提供することを目的とす
る。
（課題を解決するための手段）
このために本発明は、電子部品の電極部を基板に接着す
る半田フィレットを、上方のカメラにより観察するにあ
たり、 （ｉ）上記電極部及び半田フィレットを包含するサーチ
エリアを設定するとともに、 （ ｉｉ ）このサーチエリアの内部に検出エリアを設
定し、 （ ｉｉｉ ）上記検出エリアを上記サーチエリア内を
スキャンニングさせて、各ポイントにおける検出エリア
内部の輝度の分布状態を検出し、 （ｉｖ）次いで各ポイントにおける検出エリア内部の輝
度の分布状態と、予め設定されたマスター画像の輝度の
分布状態を比較し、（ｖ）上記比較により最もマッチン
グしたポイントの検出エリアにおける輝度の小さい部分
を、半田フィレットの位置として検出するようにしたも
のである。
る半田フィレットを、上方のカメラにより観察するにあ
たり、 （ｉ）上記電極部及び半田フィレットを包含するサーチ
エリアを設定するとともに、 （ ｉｉ ）このサーチエリアの内部に検出エリアを設
定し、 （ ｉｉｉ ）上記検出エリアを上記サーチエリア内を
スキャンニングさせて、各ポイントにおける検出エリア
内部の輝度の分布状態を検出し、 （ｉｖ）次いで各ポイントにおける検出エリア内部の輝
度の分布状態と、予め設定されたマスター画像の輝度の
分布状態を比較し、（ｖ）上記比較により最もマッチン
グしたポイントの検出エリアにおける輝度の小さい部分
を、半田フィレットの位置として検出するようにしたも
のである。
（作用）
上記構成によれば、サーチエリア内における各ポイント
の検出エリア内部の輝度の分布状態と、マスター画像の
輝度の分布状態を比較することにより、半田フィレット
の位置が検出され、次いで半田フィレットのヌレ長や、
ヌレ面積を求めることにより、半田フィレットの形状の
良否を判断する。
の検出エリア内部の輝度の分布状態と、マスター画像の
輝度の分布状態を比較することにより、半田フィレット
の位置が検出され、次いで半田フィレットのヌレ長や、
ヌレ面積を求めることにより、半田フィレットの形状の
良否を判断する。
（実施例１）
次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明する。
第１図はＱＦＰやＳＯＰのような電子部品のリード電極
部の半田フィレットの外観検査を行っている状態の側面
図、第２図は平面図であって、■は基板、２は基板ｌ上
に形成された回路パターンの電極部であり、この電極部
２上に、電子部品の電極部であるリード３が搭載されて
いる。４はリード３を電極部２に接着する半田フィレッ
トであり、この半田フイレソト４に、上方の光源５から
光を照射して上方のカメラ６により観察し、半田フィレ
フト４の形状の良否を判断する。
部の半田フィレットの外観検査を行っている状態の側面
図、第２図は平面図であって、■は基板、２は基板ｌ上
に形成された回路パターンの電極部であり、この電極部
２上に、電子部品の電極部であるリード３が搭載されて
いる。４はリード３を電極部２に接着する半田フィレッ
トであり、この半田フイレソト４に、上方の光源５から
光を照射して上方のカメラ６により観察し、半田フィレ
フト４の形状の良否を判断する。
半田フィレット４の上面は、下り勾配の曲面であり、し
かも鏡面性を有するので、上方から光を照射して、上方
のカメラ６により観察すると、半田フィレット４の基端
部４ａの上面は急勾配であることから、光は矢印にて示
すように側方へ反射されてカメラ６には殆ど人射せず、
したがってカメラ６に暗く観察されるが、先端部４ｂは
水平に近い緩勾配であることから、光は上方へ若干反射
され、やや明るい灰色に観察される。そこで本発明では
、この暗く観察される基端部４ａを半田フィレット４の
ヌレ部（濡れ部）と定義し、また両部４ａ．４ｂの境界
部における半田フィレット４表面の接線角度θをヌレ角
と定義し、更には、リード３０２等分線Ｎ上におけるヌ
レ部４ａの長さｌをヌレ長と定義する。ヌレ部４ａと先
端部４ｂの境界を決定するヌレ角θの大きさは、カメラ
６の種類によって異るが、一般には約１５°程度である
。後述するように、ヌレ部４ａのヌレ面積やヌレ長ｌの
大きさから、半田フィレット４の形状の良否を判断する
。
かも鏡面性を有するので、上方から光を照射して、上方
のカメラ６により観察すると、半田フィレット４の基端
部４ａの上面は急勾配であることから、光は矢印にて示
すように側方へ反射されてカメラ６には殆ど人射せず、
したがってカメラ６に暗く観察されるが、先端部４ｂは
水平に近い緩勾配であることから、光は上方へ若干反射
され、やや明るい灰色に観察される。そこで本発明では
、この暗く観察される基端部４ａを半田フィレット４の
ヌレ部（濡れ部）と定義し、また両部４ａ．４ｂの境界
部における半田フィレット４表面の接線角度θをヌレ角
と定義し、更には、リード３０２等分線Ｎ上におけるヌ
レ部４ａの長さｌをヌレ長と定義する。ヌレ部４ａと先
端部４ｂの境界を決定するヌレ角θの大きさは、カメラ
６の種類によって異るが、一般には約１５°程度である
。後述するように、ヌレ部４ａのヌレ面積やヌレ長ｌの
大きさから、半田フィレット４の形状の良否を判断する
。
次に外観検査方法の手順を説明する。
第２図に示すように、リード３の先端部及び半田フィレ
ット４を包含するサーチェリアＡを設定する。このサー
チェリアＡの大きさは、リード３が少々位置ずれしてい
ても、リード３の先端部や半田フィレット４がその内部
に十分に包含される大きさに設定する。
ット４を包含するサーチェリアＡを設定する。このサー
チェリアＡの大きさは、リード３が少々位置ずれしてい
ても、リード３の先端部や半田フィレット４がその内部
に十分に包含される大きさに設定する。
またこのサーチェリアＡの内部に、検出エリアＢを設定
する。この検出エリアＢの大きさは、サーチェリアＡよ
りもかなり小さいが、半田フィレット４を包含できる大
きさに設定する。
する。この検出エリアＢの大きさは、サーチェリアＡよ
りもかなり小さいが、半田フィレット４を包含できる大
きさに設定する。
次いで、検出エリアＢをサーチエリアＡ内をスキャンニ
ングさせて、各ポイントＰｉ Ｐ２・・・Ｐｎにおけ
る検出エリアＢ内部の輝度の分布状態を検出する。
ングさせて、各ポイントＰｉ Ｐ２・・・Ｐｎにおけ
る検出エリアＢ内部の輝度の分布状態を検出する。
第３図は、ポイントＰｘにおける輝度の分布状態を示し
ている。図中、太線ａで囲まれた部分は、リード３の先
端部に対応する部分であり、輝度４７以上に明るく観察
される。また図中、太線ｂで囲まれた部分は、リ一ド３
の側部にはみ出した半田と、リード３の先端部のヌレ部
４ａに対応する部分であり、上述のように、上方から照
射された光は側方へ反射されて、カメラ６には殆ど入射
しないことから、輝度４以下に暗く観察される。また太
線Ｃで囲まれた部分は、上記先端部４ｂに対応する部分
であって、輝度は１１〜１７程度のやや明るい灰色に観
察される。また線ｄで囲まれた部分は、基板１側の電掻
部２や基板ｌの上面に対応する部分であって、輝度４８
以上に明るく観察される。なお第５図は、各部分の輝度
をグレースケールとして示している。
ている。図中、太線ａで囲まれた部分は、リード３の先
端部に対応する部分であり、輝度４７以上に明るく観察
される。また図中、太線ｂで囲まれた部分は、リ一ド３
の側部にはみ出した半田と、リード３の先端部のヌレ部
４ａに対応する部分であり、上述のように、上方から照
射された光は側方へ反射されて、カメラ６には殆ど入射
しないことから、輝度４以下に暗く観察される。また太
線Ｃで囲まれた部分は、上記先端部４ｂに対応する部分
であって、輝度は１１〜１７程度のやや明るい灰色に観
察される。また線ｄで囲まれた部分は、基板１側の電掻
部２や基板ｌの上面に対応する部分であって、輝度４８
以上に明るく観察される。なお第５図は、各部分の輝度
をグレースケールとして示している。
第４図は、予め設定されたマスター画像の輝度の分布状
態を示すものである。このマスター画像の輝度の分布状
態は、リート゛３の位置ずれがなく、また半田フィレッ
ト４の形状が良好なものを選択し、予め観察しておくこ
とにより決定される。
態を示すものである。このマスター画像の輝度の分布状
態は、リート゛３の位置ずれがなく、また半田フィレッ
ト４の形状が良好なものを選択し、予め観察しておくこ
とにより決定される。
次いで、上記各ポインｌ−ＰＩ〜Ｐｎにおける検出エリ
アＢの輝度の分布状態と、マスター画像の輝度の分布状
態を比較し、輝度の分布状態が最もマソチングしたポイ
ント（本実施例ではポイントＰｘ）を求める。このマッ
チングは例えば次式により行う。
アＢの輝度の分布状態と、マスター画像の輝度の分布状
態を比較し、輝度の分布状態が最もマソチングしたポイ
ント（本実施例ではポイントＰｘ）を求める。このマッ
チングは例えば次式により行う。
上式中、Ｐｎ，ｍは検出エリアＢにおけるタテ，ヨコ方
向Ｎ，Ｍの各画素ｎ，ｍの輝度、Ｒｎ，ｍはマスター画
像における各画素ｎ，ｍの輝度であり、また平均値を算
出するために、６４ｘ（ｎ−ｍ）で除している。なお計
算式は上記式に限定されるものではなく、例えばＰｎ，
ｍとＲｎ，ｍの差の２乗を求めてもよく、あるいは６４
Ｘ（ｎ−ｍ）で除さなくてもよく、要は最もマソチング
するポイントを検出できる計算手段であればよい。
向Ｎ，Ｍの各画素ｎ，ｍの輝度、Ｒｎ，ｍはマスター画
像における各画素ｎ，ｍの輝度であり、また平均値を算
出するために、６４ｘ（ｎ−ｍ）で除している。なお計
算式は上記式に限定されるものではなく、例えばＰｎ，
ｍとＲｎ，ｍの差の２乗を求めてもよく、あるいは６４
Ｘ（ｎ−ｍ）で除さなくてもよく、要は最もマソチング
するポイントを検出できる計算手段であればよい。
上記のようにして、最もマソチグしたポイントＰｘの位
置が求められたならば、このポイントＰｘの検出エリア
Ｂ内において、最も暗く観察される部分（輝度７以下の
部分）が、半田フィレット４のヌレ部４ａとして検出さ
れる。
置が求められたならば、このポイントＰｘの検出エリア
Ｂ内において、最も暗く観察される部分（輝度７以下の
部分）が、半田フィレット４のヌレ部４ａとして検出さ
れる。
以上のようにして、ヌレ部４ａの位置が求められたなら
ば、このヌレ部４ａの面積を耀度７以下の画素数から求
め、またリード３の２等分線Ｎ上における輝度７以下の
画素数から、ヌレ長ｌを求める。次いでこの面積やヌレ
長ｌの大きさから、ヌレ部４ａの形状の良否を判断する
。
ば、このヌレ部４ａの面積を耀度７以下の画素数から求
め、またリード３の２等分線Ｎ上における輝度７以下の
画素数から、ヌレ長ｌを求める。次いでこの面積やヌレ
長ｌの大きさから、ヌレ部４ａの形状の良否を判断する
。
（実施例２）
第６図はコンデンサチップや抵抗チ，７プのような電子
部品の半田フィレットの外観検査を行っている様子を示
すものである。この電子部品１０は、モールド体１ｌの
両側部に、電極部１２．１３が形成されている。１４．
１５は半田フィレントであり、上方から光を照射して、
上方のカメラ６により観察すると、第７図のように観察
される。
部品の半田フィレットの外観検査を行っている様子を示
すものである。この電子部品１０は、モールド体１ｌの
両側部に、電極部１２．１３が形成されている。１４．
１５は半田フィレントであり、上方から光を照射して、
上方のカメラ６により観察すると、第７図のように観察
される。
このものも、上記第１実施例と同様に、電子部品１０が
少々位置ずれしていても、電極部１２．１３と半田フィ
レット１４．１５を十分に包含できるサーチェリアＡを
設定するとともに、このサーチエリアＡ内に検出エリア
Ｂを設定して、この検出エリアＢをスキャンニングさせ
ながら、各ポイントＰ１〜Ｐｎの輝度の分布状態を検出
し、マスター画像の輝度の分布状態と比較することによ
り、半田フィレット１４．１５のヌレ部の位置、ヌレ面
積、ヌレ長等を算出する。
少々位置ずれしていても、電極部１２．１３と半田フィ
レット１４．１５を十分に包含できるサーチェリアＡを
設定するとともに、このサーチエリアＡ内に検出エリア
Ｂを設定して、この検出エリアＢをスキャンニングさせ
ながら、各ポイントＰ１〜Ｐｎの輝度の分布状態を検出
し、マスター画像の輝度の分布状態と比較することによ
り、半田フィレット１４．１５のヌレ部の位置、ヌレ面
積、ヌレ長等を算出する。
なお本例においては、右側の半田フィレット１４の形状
は良好であって、暗く観察されるヌレ部１４ａと、灰色
に観察される先端部１４ｂを有しているが、左側の半田
フィレット１５の形状は不良であって、暗、灰、明の部
分１５ａ，１５ｂ，１５ｃがリング状に観察されている
。
は良好であって、暗く観察されるヌレ部１４ａと、灰色
に観察される先端部１４ｂを有しているが、左側の半田
フィレット１５の形状は不良であって、暗、灰、明の部
分１５ａ，１５ｂ，１５ｃがリング状に観察されている
。
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、半田フィレットの
ヌレ部の位置を確実に求めることができ、次いでこのヌ
レ部のヌレ面積やヌレ長等から、半田フィレットの形状
の良否を判断するようにしているので、半田フィレット
の外観検査を確実、正確に行うことができる。
ヌレ部の位置を確実に求めることができ、次いでこのヌ
レ部のヌレ面積やヌレ長等から、半田フィレットの形状
の良否を判断するようにしているので、半田フィレット
の外観検査を確実、正確に行うことができる。
１図は半田フィレットの外観検査中の側面図、第２図は
同平面図、第３図は輝度分布図、第４図はマスター画像
の輝度分布図、第５図はグレースケール図、第６図及び
第７図は他の実施例の外観検査中の側面図及び平面図、
第８図及び第９図は従来手段による外観検査中の側面図
及び平面図である。
同平面図、第３図は輝度分布図、第４図はマスター画像
の輝度分布図、第５図はグレースケール図、第６図及び
第７図は他の実施例の外観検査中の側面図及び平面図、
第８図及び第９図は従来手段による外観検査中の側面図
及び平面図である。
■・・・基板
３，１２．１３・・・電極部
４１４．１５・・・半田フィレット
６・・・カメラ
１０・・・電子部品
Ａ・・・サーチエリア
Ｂ・・・検出エリア
Claims (3)
- （１）電子部品の電極部を基板に接着する半田フィレッ
トを、上方のカメラにより観察するにあたり、 （ｉ）上記電極部及び半田フィレットを包含するサーチ
エリアを設定するとともに、 （ｉｉ）このサーチエリアの内部に検出エリアを設定し
、 （ｉｉｉ）上記検出エリアを上記サーチエリア内をスキ
ャンニングさせて、各ポイントにおけ る検出エリア内部の輝度の分布状態を検出 し、 （ｉｖ）次いで各ポイントにおける検出エリア内部の輝
度の分布状態と、予め設定されたマ スター画像の輝度の分布状態を比較し、 （ｖ）上記比較により最もマッチングしたポイントの検
出エリアにおける輝度の小さい部 分を、半田フィレットの位置として検出す ることを特徴とする半田フィレットの外観 検査方法。 - （２）特許請求の範囲第１項に記載された半田フィレッ
トの外観検査方法において、上記（ｖ）の項において検
出された輝度の小さい部分の上記電極部の２等分線上の
長さから、半田フィレットのヌレ長を検出することによ
り、半田フィレットの形状の良否を判断するようにした
ことを特徴とする半田フィレットの外観検査方法。 - （３）特許請求の範囲第１項に記載された半田フィレッ
トの外観検査方法において、上記（ｖ）の項において検
出された輝度の小さい部分の面積から、半田フィレット
のヌレ面積を検出することにより、半田フィレットの形
状の良否を判断するようにしたことを特徴とする半田フ
ィレットの外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013826A JP2830282B2 (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 半田フィレットの外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013826A JP2830282B2 (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 半田フィレットの外観検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03218405A true JPH03218405A (ja) | 1991-09-26 |
| JP2830282B2 JP2830282B2 (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=11844078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013826A Expired - Fee Related JP2830282B2 (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 半田フィレットの外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2830282B2 (ja) |
-
1990
- 1990-01-24 JP JP2013826A patent/JP2830282B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2830282B2 (ja) | 1998-12-02 |
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|---|---|---|---|
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