JPH03218820A - 導電性ガラス - Google Patents
導電性ガラスInfo
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- JPH03218820A JPH03218820A JP1224489A JP22448989A JPH03218820A JP H03218820 A JPH03218820 A JP H03218820A JP 1224489 A JP1224489 A JP 1224489A JP 22448989 A JP22448989 A JP 22448989A JP H03218820 A JPH03218820 A JP H03218820A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- conductive
- oxide
- glass
- resistance
- Prior art date
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- Pending
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- Laminated Bodies (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、導電性ガラスに関するもので、特に耐久牲に
優れた導電性ガラスに関するもので?る。
優れた導電性ガラスに関するもので?る。
[従来の技術]
ガラスなどの透明基体上に導電性の膜を形成したものは
、液晶表示素子の基板、冷凍ショーケースの肪曇ガラス
、CI’lTのフェースプレートなどの帯電防止ガラス
(ホコリが付きにくくするため)、タッチパネルガラス
などに用いられている。その他、最近では電磁シールド
ガラスとしての用途も出てきた。これらにはITO (
錫を含んだ酸化インジウム)、導電性SnO■などが通
常使われている。ITOは通常真空蒸着法又はスパッタ
リング法で、SnOaはスプレー法などで成膜される。
、液晶表示素子の基板、冷凍ショーケースの肪曇ガラス
、CI’lTのフェースプレートなどの帯電防止ガラス
(ホコリが付きにくくするため)、タッチパネルガラス
などに用いられている。その他、最近では電磁シールド
ガラスとしての用途も出てきた。これらにはITO (
錫を含んだ酸化インジウム)、導電性SnO■などが通
常使われている。ITOは通常真空蒸着法又はスパッタ
リング法で、SnOaはスプレー法などで成膜される。
[発明の解決しようとする問題点]
ITOは、比抵抗的には最も優れた材料の一っであるが
、一般的に酸に対して溶解し、これがバターニングのと
きには利点となるが、耐久性的には劣る。一方、抵抗値
的に有利なメタル膜はその性質上、可視光線の吸収が強
く、高い透過率を得るためにはかなり薄い膜にしなけれ
ばならない。このような膜は、経時的に安定でなく酸化
により抵抗値が上昇したり、光学的特性が変化してしま
う。更に一般に駿に対しての耐久性も充分でない。
、一般的に酸に対して溶解し、これがバターニングのと
きには利点となるが、耐久性的には劣る。一方、抵抗値
的に有利なメタル膜はその性質上、可視光線の吸収が強
く、高い透過率を得るためにはかなり薄い膜にしなけれ
ばならない。このような膜は、経時的に安定でなく酸化
により抵抗値が上昇したり、光学的特性が変化してしま
う。更に一般に駿に対しての耐久性も充分でない。
酸化錫にフッ素、アンチモンなどをドーブした導電性酸
化錫は、一般にスプレー法などで成膜される。この膜は
耐久性的には前述のものより優れているが、スプレー法
は原料の熱分解のために通常400℃以上の基体加熱を
必要とし、また膜厚分布の均一性や低抵抗化が難しいと
いう問題点がある。
化錫は、一般にスプレー法などで成膜される。この膜は
耐久性的には前述のものより優れているが、スプレー法
は原料の熱分解のために通常400℃以上の基体加熱を
必要とし、また膜厚分布の均一性や低抵抗化が難しいと
いう問題点がある。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、前述の問題点を解決すべ《なされたものであ
り、透明な基体上に基体側から透明導電膜、保護膜と順
次形成した少なくとも2層膜よりなる導電性ガラスに於
いて、保護膜がZr, Ti, Hf. Sn, Ta
, Inのうち少なくとも1種と B, Si, P,
Asのうち少なくとも1種を含む酸化物を主成分とす
る非晶質酸化物よりなることを特徴とする導電性ガラス
を提供するもので?る。
り、透明な基体上に基体側から透明導電膜、保護膜と順
次形成した少なくとも2層膜よりなる導電性ガラスに於
いて、保護膜がZr, Ti, Hf. Sn, Ta
, Inのうち少なくとも1種と B, Si, P,
Asのうち少なくとも1種を含む酸化物を主成分とす
る非晶質酸化物よりなることを特徴とする導電性ガラス
を提供するもので?る。
第1図は、本発明の実施例を示す1例の断面図である。
1はガラス、プラスチックなどからなる透明基体、2は
ITO, SnO■, Crなどからなる導電性膜、3
はZr, Ti, Hf, Sn, Ta, Inのう
ち少なくとも1種とB, SLのうち少なくとも1種を
含む酸化物を主成分とする非晶質酸化物膜よりなる保護
膜である. 保護膜3の組成は、特に制限はないが、膜が非品質化し
て耐擦傷性が向上するために膜中において、ZrO*,
Ties, }IfOt, Snug, Taxes
.BLtOs, ZnO, IniOsから選ばれた酸
化物の合計100部に対してBias. SiO■から
選ばれた酸化物の合計がモル比で5部以上、好ましくは
lO部以上、特に20部以上あるのが良い。しかしなが
ら、膜の屈折率はBxOs, SiO■の含有量が増加
するにつれ低下するので、光学的に必要な屈折率を基に
して硼素や珪素の含有量を選択すれば良い。また、Bの
場合はあまり多いと耐久性が低下するのでZrL+ T
iOz. HfOi, Snow, Taxes.?i
ass, ZnO, In*Oiから選ばれた酸化物の
合計100部に対してBtus, SiOiから選ばれ
た酸化物の合計がモル比で500部以下、好まし《は3
00部以下、特に100部以下が良い。Siの場合あま
り多いとアルカリに対する耐久性が低下するのでZrL
, TiOz. HfOt. Sn02. TaaOs
,BLOs.ZnO, InJsから選ばれた酸化物の
合計100部に対してBias, SiO■から選ばれ
た酸化物の合計がモル比で1900部以下、好ましくは
900部以下、特に400部以下が良い。
ITO, SnO■, Crなどからなる導電性膜、3
はZr, Ti, Hf, Sn, Ta, Inのう
ち少なくとも1種とB, SLのうち少なくとも1種を
含む酸化物を主成分とする非晶質酸化物膜よりなる保護
膜である. 保護膜3の組成は、特に制限はないが、膜が非品質化し
て耐擦傷性が向上するために膜中において、ZrO*,
Ties, }IfOt, Snug, Taxes
.BLtOs, ZnO, IniOsから選ばれた酸
化物の合計100部に対してBias. SiO■から
選ばれた酸化物の合計がモル比で5部以上、好ましくは
lO部以上、特に20部以上あるのが良い。しかしなが
ら、膜の屈折率はBxOs, SiO■の含有量が増加
するにつれ低下するので、光学的に必要な屈折率を基に
して硼素や珪素の含有量を選択すれば良い。また、Bの
場合はあまり多いと耐久性が低下するのでZrL+ T
iOz. HfOi, Snow, Taxes.?i
ass, ZnO, In*Oiから選ばれた酸化物の
合計100部に対してBtus, SiOiから選ばれ
た酸化物の合計がモル比で500部以下、好まし《は3
00部以下、特に100部以下が良い。Siの場合あま
り多いとアルカリに対する耐久性が低下するのでZrL
, TiOz. HfOt. Sn02. TaaOs
,BLOs.ZnO, InJsから選ばれた酸化物の
合計100部に対してBias, SiO■から選ばれ
た酸化物の合計がモル比で1900部以下、好ましくは
900部以下、特に400部以下が良い。
表1は、具体的に本発明の保護膜3に最適な各種非晶質
酸化物膜の性質を示したものである。それぞれ表に挙げ
た組成のターゲットを用いて、反応性スパッタリングに
より製膜したものである。結晶性は、薄膜X線回折によ
り観測した。又、耐擦傷性は、砂消しゴムによる擦り試
験の結果で、○は傷が殆どつかなかったもの、×は容易
に傷が生じたものである。
酸化物膜の性質を示したものである。それぞれ表に挙げ
た組成のターゲットを用いて、反応性スパッタリングに
より製膜したものである。結晶性は、薄膜X線回折によ
り観測した。又、耐擦傷性は、砂消しゴムによる擦り試
験の結果で、○は傷が殆どつかなかったもの、×は容易
に傷が生じたものである。
耐摩耗性は、テーバー試験(摩耗輪CS−10F、加重
500 g, 1000回転)の結果、ヘイズ4%以内
のものをO、ヘイズ4%超のものを×とした。耐酸性は
0.1N H!SOA中に240時間浸漬した結果、
Tv (可視光透過率)、RV(可視光反射率)の浸
漬前に対する変化率が1%以内のものをO、1〜4%の
ものを△、膜が溶解して消滅してしまったものをXとし
た。耐アルカリ性は0.IN NaOH中に240時間
浸漬した結果、Tv,Rvの浸漬前に対する変化率が1
%以内のものを○、膜が溶解してしまったものを×とし
た。煮沸テストは、1気圧下、100℃の水に2時間浸
漬した後、TV,R,の浸漬前に対する変化率が1%以
内であるとき○、1%超のとき×とした。
500 g, 1000回転)の結果、ヘイズ4%以内
のものをO、ヘイズ4%超のものを×とした。耐酸性は
0.1N H!SOA中に240時間浸漬した結果、
Tv (可視光透過率)、RV(可視光反射率)の浸
漬前に対する変化率が1%以内のものをO、1〜4%の
ものを△、膜が溶解して消滅してしまったものをXとし
た。耐アルカリ性は0.IN NaOH中に240時間
浸漬した結果、Tv,Rvの浸漬前に対する変化率が1
%以内のものを○、膜が溶解してしまったものを×とし
た。煮沸テストは、1気圧下、100℃の水に2時間浸
漬した後、TV,R,の浸漬前に対する変化率が1%以
内であるとき○、1%超のとき×とした。
ZrBxOy膜に関しては、表1から明らかなように、
膜中のBが少ないと結晶性の膜ができ、Bが多いと非品
質の膜ができる傾向があることがわかる。そして、結晶
性の膜は耐擦傷性及び耐摩耗性が劣るのに対して非晶質
の膜は優れていることがわかる。これは非晶質の膜は、
表面が平滑である為であると考えられる。従って、Zr
BxO,膜(膜中のZrに対するBの原子比Xが0.
10< x )の膜は耐擦傷性、耐摩耗性に優れている
。B203膜は吸湿性で空気中の水分を吸収して溶けて
しまうので、ZrBxOy膜においてX≦3程度が好ま
しい。
膜中のBが少ないと結晶性の膜ができ、Bが多いと非品
質の膜ができる傾向があることがわかる。そして、結晶
性の膜は耐擦傷性及び耐摩耗性が劣るのに対して非晶質
の膜は優れていることがわかる。これは非晶質の膜は、
表面が平滑である為であると考えられる。従って、Zr
BxO,膜(膜中のZrに対するBの原子比Xが0.
10< x )の膜は耐擦傷性、耐摩耗性に優れている
。B203膜は吸湿性で空気中の水分を吸収して溶けて
しまうので、ZrBxOy膜においてX≦3程度が好ま
しい。
ZrBxOy膜中のZrに対する0(酸素)の原子比は
特に限定されないが、多すぎると膜構造が粗になりボソ
ボソの膜になってしまうこと、又、あまり少ないと膜が
金属的になり透過率が低下したり膜の耐擦傷性が低下す
る傾向があることなどの理由によりZrLと8203の
複合系となる量程度であることが好ましい。即ち、複合
酸化物をZrOx+ x BO+. sと表すと、Bが
Zrに対して原子比でX含まれる時に、y=2+1.5
x程度であることが好ましい。
特に限定されないが、多すぎると膜構造が粗になりボソ
ボソの膜になってしまうこと、又、あまり少ないと膜が
金属的になり透過率が低下したり膜の耐擦傷性が低下す
る傾向があることなどの理由によりZrLと8203の
複合系となる量程度であることが好ましい。即ち、複合
酸化物をZrOx+ x BO+. sと表すと、Bが
Zrに対して原子比でX含まれる時に、y=2+1.5
x程度であることが好ましい。
又、表1より、ZrBxOy膜中のBの量が増えるにつ
れ、膜の屈折率が低下する傾向があることがわかる。膜
の組成と屈折率nとの関係を第2図(a)に示す。膜中
のBを増やすことにより、屈折率nは2.0ぐらいから
1.5程度まで低下す?。
れ、膜の屈折率が低下する傾向があることがわかる。膜
の組成と屈折率nとの関係を第2図(a)に示す。膜中
のBを増やすことにより、屈折率nは2.0ぐらいから
1.5程度まで低下す?。
従って0.10<x≦3.2<y≦6.5のZrB++
Oy膜は良好な耐擦傷性及び耐摩耗性を有し、かつ、B
の量によって自由に屈折率を選択できる本発明の目的に
好適な非晶質酸化物膜である。
Oy膜は良好な耐擦傷性及び耐摩耗性を有し、かつ、B
の量によって自由に屈折率を選択できる本発明の目的に
好適な非晶質酸化物膜である。
さらに、表1に示したように、膜中のBの含有量が増え
るにつれ、耐酸性、耐アルカリ性が劣化する傾向がある
。X≧2.3で耐酸性が悪くなり、x>4で耐アルカリ
性の低下及び煮沸テストで劣化を示すようになる。従っ
て、空気中で露出した状態で使用される用途には、Zr
BxOy(x<2.3)の非晶質酸化物膜が好ましい。
るにつれ、耐酸性、耐アルカリ性が劣化する傾向がある
。X≧2.3で耐酸性が悪くなり、x>4で耐アルカリ
性の低下及び煮沸テストで劣化を示すようになる。従っ
て、空気中で露出した状態で使用される用途には、Zr
BxOy(x<2.3)の非晶質酸化物膜が好ましい。
以上のように、ZrOt膜に酸化硼素B20,を加えた
ことにより、膜が非晶質化し、表面が平滑化し、これが
耐摩耗性及び耐擦傷性の向上に寄与していると考えられ
る。又、Bの量で屈折率の調節が可能となり、さらに、
ZrO■膜と比べて、内部応力が小さいため、接する膜
との密着性の点で有利である。これは特に厚い膜を形成
する場合に有利である。
ことにより、膜が非晶質化し、表面が平滑化し、これが
耐摩耗性及び耐擦傷性の向上に寄与していると考えられ
る。又、Bの量で屈折率の調節が可能となり、さらに、
ZrO■膜と比べて、内部応力が小さいため、接する膜
との密着性の点で有利である。これは特に厚い膜を形成
する場合に有利である。
次に、ZrSixOy膜に関しては、やはりアモルファ
スであり、耐擦傷性、耐摩耗性の高い膜が得られる. 屈折率については、ZrOg ( n = 2. 15
)とSi(h( n = 1.46)の間でその組成割
合によって上下する(第2図(b)参照)。さらに詳し
くは、ZrSi.O,膜において、0.05≦2(膜中
のZrに対するSiの原子比)≦19であることが好ま
しい。
スであり、耐擦傷性、耐摩耗性の高い膜が得られる. 屈折率については、ZrOg ( n = 2. 15
)とSi(h( n = 1.46)の間でその組成割
合によって上下する(第2図(b)参照)。さらに詳し
くは、ZrSi.O,膜において、0.05≦2(膜中
のZrに対するSiの原子比)≦19であることが好ま
しい。
z<0.05だと、膜が非品質化せず、十分な物理的耐
久性が得られない。又、z>19だと、耐アルカリ性が
悪《なる。又、y (ZrSiiOy膜中のZrに対す
るOの原子比)は、ZrBxOy膜について述べたのと
同様の理由により、SiがZrに対して原子比で2含ま
れる時に、y=2+2z程度であることが好ましい。
久性が得られない。又、z>19だと、耐アルカリ性が
悪《なる。又、y (ZrSiiOy膜中のZrに対す
るOの原子比)は、ZrBxOy膜について述べたのと
同様の理由により、SiがZrに対して原子比で2含ま
れる時に、y=2+2z程度であることが好ましい。
又、ZrBxSizOy膜も本発明の目的に合った膜で
ある。かかる膜中のZrに対するBの原子比x.Siの
原子比2、0の原子比yは、x+z≧0.05であれば
膜が非品質化し、耐擦傷性及び耐摩耗性の高い膜となる
ので好ましい。
ある。かかる膜中のZrに対するBの原子比x.Siの
原子比2、0の原子比yは、x+z≧0.05であれば
膜が非品質化し、耐擦傷性及び耐摩耗性の高い膜となる
ので好ましい。
又、x+z≦19であれば耐アルカリ性も良好であるの
で、ZrBxSxzOy膜においては、0.05≦X+
Z≦19であるのが好ましい。ただし、上述のように、
B,0,は吸湿性で空気中の水分を吸収して溶けてしま
うため、ZrBxSi.0,膜中にあまり多く含有され
ない方がよい。具体的には、膜中において、ZrOx<
25mol%かつSing< 25mol%で残りが
8203となる程B20,が含まれていると化学的耐久
性が不十分となる。即ち、ZrBxSjOy膜中のZr
:B:Si(原子比)を1:x:zとすると、1/ (
1+x+z)<0.25かつZ/(1+x+z) <0
.25、即ち、x+z−3>Oかつx−3z+1>Oの
組成は化学的耐久性が好ましくない。yは、ZrB.0
,の場合に述べたのと同様の理由によりこの膜をZrO
z + B*Os + Siftの複合系と考えて、y
は2+1.5 x+ 2z程度であることが好ましい。
で、ZrBxSxzOy膜においては、0.05≦X+
Z≦19であるのが好ましい。ただし、上述のように、
B,0,は吸湿性で空気中の水分を吸収して溶けてしま
うため、ZrBxSi.0,膜中にあまり多く含有され
ない方がよい。具体的には、膜中において、ZrOx<
25mol%かつSing< 25mol%で残りが
8203となる程B20,が含まれていると化学的耐久
性が不十分となる。即ち、ZrBxSjOy膜中のZr
:B:Si(原子比)を1:x:zとすると、1/ (
1+x+z)<0.25かつZ/(1+x+z) <0
.25、即ち、x+z−3>Oかつx−3z+1>Oの
組成は化学的耐久性が好ましくない。yは、ZrB.0
,の場合に述べたのと同様の理由によりこの膜をZrO
z + B*Os + Siftの複合系と考えて、y
は2+1.5 x+ 2z程度であることが好ましい。
よってほぼ2<y<40程度であることが好ましい。B
やSiの含有量が多い程ZrBmSizOy膜の屈折率
は低下する.ZrB+SixOy膜の例を第2図(C)
に示す。
やSiの含有量が多い程ZrBmSizOy膜の屈折率
は低下する.ZrB+SixOy膜の例を第2図(C)
に示す。
Zr以外の金属、即ち、Ti, Hf, Sn, Ta
, In と、BとSLのうち少なくとも1種とを含
む酸化物も同様に非品質となり、十分な耐擦傷性、及び
耐摩耗性が得られる。TzSxxOウ膜を表1のサンプ
ル15に一例として示した。
, In と、BとSLのうち少なくとも1種とを含
む酸化物も同様に非品質となり、十分な耐擦傷性、及び
耐摩耗性が得られる。TzSxxOウ膜を表1のサンプ
ル15に一例として示した。
以上、ZrB.O,系、ZrStzOy系、ZrBxS
izOy系等の膜において、上述の高屈折率膜、低屈折
率膜として必要な屈折率を有するように、BやSiの添
加量を調節すれば良い。
izOy系等の膜において、上述の高屈折率膜、低屈折
率膜として必要な屈折率を有するように、BやSiの添
加量を調節すれば良い。
成膜方法としては、特に限定はない。蒸着法、イオンプ
レーティング法、スパッタリング法いずれでも良いが、
大面積の用途には低屈折率用のターゲットとしてZrと
Siの合金ターゲットを用いた直流反応性スパッタリン
グが好ましい。蒸着法、イオンプレーティングの場合は
、蒸発源として混合酸化物をベレット化したものなどを
用いれば良い。
レーティング法、スパッタリング法いずれでも良いが、
大面積の用途には低屈折率用のターゲットとしてZrと
Siの合金ターゲットを用いた直流反応性スパッタリン
グが好ましい。蒸着法、イオンプレーティングの場合は
、蒸発源として混合酸化物をベレット化したものなどを
用いれば良い。
3の膜厚としてはあまり薄いと保護膜としての性能が十
分でな《なるので、少なくとも50人以上、好ましくは
100人以上、特に150人以上が良い。厚い方は特に
制限はないが、保護膜の屈折率、及びこの干渉による外
観変化、生産性等を考慮して決めれば良い。
分でな《なるので、少なくとも50人以上、好ましくは
100人以上、特に150人以上が良い。厚い方は特に
制限はないが、保護膜の屈折率、及びこの干渉による外
観変化、生産性等を考慮して決めれば良い。
3の成膜法は蒸着法、イオンプレーティング法、スパッ
タリング法等、いずれも可能である。大面積の用途には
スパッタリング法が膜分布の均一性から有利である。
タリング法等、いずれも可能である。大面積の用途には
スパッタリング法が膜分布の均一性から有利である。
導電膜2は酸化錫を含んだ駿化インジウム(ITO).
フッ素、アンチモンなどをドーブした酸化錫、アルミニ
ウムをドーブした酸化亜鉛、CdzSnO+あるいはク
ロムなどの金属の薄膜など導電性があるものであれば構
わない。膜厚は用途に応じて、また用いる導電膜の比抵
抗を考慮して選べば良い。たとえば帯電防止には数十k
Ω/口から数百kΩ/口程度のシート抵抗の膜を、電磁
波シールドには数Ω/口程度のシート抵抗の膜を用いる
。膜の形成法も特に限定はなく真空蒸着法、イオンブレ
ーティング法、スパッタリング法、CVD法いずれでも
良いことはいうまでもないことである。導電膜と基?と
の密着力は、特に導電膜の膜厚が厚い場合は問題になる
が、このときは導電層2と基体1との間に接着力向上の
ためにクロム等の薄膜を形成するのは好ましい。また、
導電膜2と保護膜3との間に接着性向上のための薄膜を
介在させてもよい。
フッ素、アンチモンなどをドーブした酸化錫、アルミニ
ウムをドーブした酸化亜鉛、CdzSnO+あるいはク
ロムなどの金属の薄膜など導電性があるものであれば構
わない。膜厚は用途に応じて、また用いる導電膜の比抵
抗を考慮して選べば良い。たとえば帯電防止には数十k
Ω/口から数百kΩ/口程度のシート抵抗の膜を、電磁
波シールドには数Ω/口程度のシート抵抗の膜を用いる
。膜の形成法も特に限定はなく真空蒸着法、イオンブレ
ーティング法、スパッタリング法、CVD法いずれでも
良いことはいうまでもないことである。導電膜と基?と
の密着力は、特に導電膜の膜厚が厚い場合は問題になる
が、このときは導電層2と基体1との間に接着力向上の
ためにクロム等の薄膜を形成するのは好ましい。また、
導電膜2と保護膜3との間に接着性向上のための薄膜を
介在させてもよい。
[作 用]
本発明の特徴は、基体の最外層に耐久性の優れた非品質
膜を形成することに特徴がある。
膜を形成することに特徴がある。
TiO■, ZrO■などは化学的に安定な材料である
が、結晶性の膜になりやすく、表面が凸凹になり耐擦傷
性が十分でない。また結晶粒界ができるため粒界から水
分、酸、アルカリが浸透し下側にある導電膜が溶解する
こともある。B, Si,などのガラス構成元素を混合
することにより膜を非品質化し表面の平滑性を良くし、
耐擦傷性能を向上させる。更に結晶粒界が消失すること
により、酸、アルカリなどに対する耐久性も向上する。
が、結晶性の膜になりやすく、表面が凸凹になり耐擦傷
性が十分でない。また結晶粒界ができるため粒界から水
分、酸、アルカリが浸透し下側にある導電膜が溶解する
こともある。B, Si,などのガラス構成元素を混合
することにより膜を非品質化し表面の平滑性を良くし、
耐擦傷性能を向上させる。更に結晶粒界が消失すること
により、酸、アルカリなどに対する耐久性も向上する。
C実施例]
ガラス基体にスパッタリングでITO膜を200人形成
した。その上に保護コートとしてZrSiaターゲット
を反応性スパッタリングして約200人のZrSixO
y膜を成膜した。このようにしてできた導電性ガラスの
シート抵抗は約400Ω/口であった。
した。その上に保護コートとしてZrSiaターゲット
を反応性スパッタリングして約200人のZrSixO
y膜を成膜した。このようにしてできた導電性ガラスの
シート抵抗は約400Ω/口であった。
この導電性ガラスをINの塩酸、NaOHに24時間浸
漬後、抵抗、外観変化をみたが何ら変化は生じなかった
。また砂消しコムでコート面を引っ掻いても傷はつきに
く《優れた耐久性を示した。
漬後、抵抗、外観変化をみたが何ら変化は生じなかった
。また砂消しコムでコート面を引っ掻いても傷はつきに
く《優れた耐久性を示した。
E比較例]
実施例と同じ< ITOを成膜した後、保護コートを形
成しない導電性ガラスを作った。この導電性ガラスを上
と同様に耐久性テストをしたとこ、酸には膜が溶解して
消失してしまい、砂消しゴムによるこすり試験でも傷が
つきやすく外観的にみても問題となるレベルであった。
成しない導電性ガラスを作った。この導電性ガラスを上
と同様に耐久性テストをしたとこ、酸には膜が溶解して
消失してしまい、砂消しゴムによるこすり試験でも傷が
つきやすく外観的にみても問題となるレベルであった。
r効 果〕
酸、アルカリ、水、紫外線に対して安定な導電性ガラス
ができるのみでなく、耐擦傷性的にも優れている。よっ
て、液晶表示素子やCRT等のディスプレーのパネルや
冷凍シジーケース用防曇ガラス、帯電防止ガラス、電磁
シールドガラス等の用途に好適な導電性ガラスを提供で
きる。
ができるのみでなく、耐擦傷性的にも優れている。よっ
て、液晶表示素子やCRT等のディスプレーのパネルや
冷凍シジーケース用防曇ガラス、帯電防止ガラス、電磁
シールドガラス等の用途に好適な導電性ガラスを提供で
きる。
又、Si,B,の含有量を変え、屈折率が調節できるの
で光学設計をして外観的にもある程度の希望の反射率、
色調を得ることが可能である。
で光学設計をして外観的にもある程度の希望の反射率、
色調を得ることが可能である。
このことは複写機の天板ガラスの帯電防止などでは透過
率アップのため重要である。また液晶表示素子などの電
極パターン見え防止にも応用できる。この時同時に異物
などによる上下電極間の短絡防止(クロストーク防止)
も達成できる。
率アップのため重要である。また液晶表示素子などの電
極パターン見え防止にも応用できる。この時同時に異物
などによる上下電極間の短絡防止(クロストーク防止)
も達成できる。
第1図は本発明の導電性ガラスの一例の断面図である。
第2図(a)はZrB*Oy膜中のBの含有量と膜の屈
折率nとの関係を示した図である。第2図(b)はZr
SizOy膜中のSiの含有量とnとの関係を、第2図
(C)はZrBo2xSizOy膜中のSLの含有量と
nとの関係を示した図、第2図(d)はTIS1!01
1膜中のStの含有量とnとの関係図である。 1・・・透明基体 2・・・導電膜 3・・・保護膜 ! 第 4 図 B203 ErBズ06 月具リζつ (七1
レシζつz’yo2+ Bx O3 第 2 図 (a) ZrS’=zO才八真中の 〕 (七1レγ・ジHrO
z+SrOz 第2図Cb) Z汗lS17内ハリの S i Ox 7rOx− ”. S;Oz (七ルγ・) 第 2 図 (c)
折率nとの関係を示した図である。第2図(b)はZr
SizOy膜中のSiの含有量とnとの関係を、第2図
(C)はZrBo2xSizOy膜中のSLの含有量と
nとの関係を示した図、第2図(d)はTIS1!01
1膜中のStの含有量とnとの関係図である。 1・・・透明基体 2・・・導電膜 3・・・保護膜 ! 第 4 図 B203 ErBズ06 月具リζつ (七1
レシζつz’yo2+ Bx O3 第 2 図 (a) ZrS’=zO才八真中の 〕 (七1レγ・ジHrO
z+SrOz 第2図Cb) Z汗lS17内ハリの S i Ox 7rOx− ”. S;Oz (七ルγ・) 第 2 図 (c)
Claims (2)
- (1)透明な基体上に基体側から導電膜、保護膜と順次
形成した少なくとも2層膜よりなる導電性ガラスに於い
て、保護膜がZr、Ti、Hf、Sn、Ta、Inのう
ち少なくとも1種とB、Siのうち少なくとも1種を含
む酸化物を主成分とする非晶質酸化物よりなることを特
徴とする導電性ガラス。 - (2)導電膜が錫を含む酸化インジウム(ITO)、S
nO_2、Crのうち少なくとも1種を主成分とするこ
とを特徴とする請求項1記載の導電性 ガラス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1224489A JPH03218820A (ja) | 1989-03-07 | 1989-09-01 | 導電性ガラス |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5300989 | 1989-03-07 | ||
| JP1-53009 | 1989-03-07 | ||
| JP1224489A JPH03218820A (ja) | 1989-03-07 | 1989-09-01 | 導電性ガラス |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03218820A true JPH03218820A (ja) | 1991-09-26 |
Family
ID=26393696
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1224489A Pending JPH03218820A (ja) | 1989-03-07 | 1989-09-01 | 導電性ガラス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03218820A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009179511A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 被膜付きガラス板 |
-
1989
- 1989-09-01 JP JP1224489A patent/JPH03218820A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009179511A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 被膜付きガラス板 |
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