JPH0321903A - 偏光子 - Google Patents
偏光子Info
- Publication number
- JPH0321903A JPH0321903A JP15465889A JP15465889A JPH0321903A JP H0321903 A JPH0321903 A JP H0321903A JP 15465889 A JP15465889 A JP 15465889A JP 15465889 A JP15465889 A JP 15465889A JP H0321903 A JPH0321903 A JP H0321903A
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- Japan
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- layers
- layer
- thickness
- transparent substrates
- polarizer
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- Polarising Elements (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
概要
ショート構戊の偏光分離膜を用いてなる偏光子に関し、
所定以上の消光比を得ることができる光の波長範囲が広
く、且つ、製造が容易な偏光子の提供を目的とし、 第1及び第2の透明基板間にSi層及びSi○2層を交
互に奇数層積層してなる偏光子であって、上記第1及び
第2の透明基板に直接接触する層をSi層とし、光の波
長の4分の1に相当する厚みを1.0とするときに、上
記第1及び第2の透明基板に直接接触するSi層の厚み
の設計値を0.43、中央に位置するSi層の厚みの設
計値を1.16、その他のSi層及びSiO2層の厚み
の設計値を1.0とし、各層の厚みの偏差を±1.
0%として構戊する。
く、且つ、製造が容易な偏光子の提供を目的とし、 第1及び第2の透明基板間にSi層及びSi○2層を交
互に奇数層積層してなる偏光子であって、上記第1及び
第2の透明基板に直接接触する層をSi層とし、光の波
長の4分の1に相当する厚みを1.0とするときに、上
記第1及び第2の透明基板に直接接触するSi層の厚み
の設計値を0.43、中央に位置するSi層の厚みの設
計値を1.16、その他のSi層及びSiO2層の厚み
の設計値を1.0とし、各層の厚みの偏差を±1.
0%として構戊する。
産業上の利用分野
本発明はショート構或の偏光分離膜を用いてなる偏光子
に関する。
に関する。
偏光子は、非偏光から偏光(直線偏光〉を分離する場合
、偏光を互いに直交する偏光面を有する2つの偏光戊分
に分離する場合等に利用され、例えば光通信の分野にお
いては、光アイソレータ、光スイッチ等の構戊要素とし
て多用されている。
、偏光を互いに直交する偏光面を有する2つの偏光戊分
に分離する場合等に利用され、例えば光通信の分野にお
いては、光アイソレータ、光スイッチ等の構戊要素とし
て多用されている。
偏光子の1形態として、一対の透明基板間にショート構
或の偏光分離膜を介在してなるものがある。
或の偏光分離膜を介在してなるものがある。
ここで、ショート構戊とは、偏光分離膜がその屈折率よ
りも小さな屈折率の空気中に直接露出していない構戊を
いう。ショート構或の偏光分離膜を用いてなる偏光子に
あっては、使用する光の波長により消光比等の性能が大
きく異なるので、所定以上の消光比を得ることができる
光の波長範囲(以下「帯域」又は「帯域幅」という場合
がある。)が広い偏光子が要求されている。
りも小さな屈折率の空気中に直接露出していない構戊を
いう。ショート構或の偏光分離膜を用いてなる偏光子に
あっては、使用する光の波長により消光比等の性能が大
きく異なるので、所定以上の消光比を得ることができる
光の波長範囲(以下「帯域」又は「帯域幅」という場合
がある。)が広い偏光子が要求されている。
従来の技術
従来、ショート構或の偏光分離膜を用いてなる偏光子は
、例えば、ガラス等の透明材からなる一対の透明基板を
用意し、一方の透明基板上にS102及びTiO2を電
子ビーム蒸着法等により交互に積層し、この積層物上に
他方の透明基板を貼り付けることにより構或されていた
。
、例えば、ガラス等の透明材からなる一対の透明基板を
用意し、一方の透明基板上にS102及びTiO2を電
子ビーム蒸着法等により交互に積層し、この積層物上に
他方の透明基板を貼り付けることにより構或されていた
。
第6図は、従来の偏光子の特性の一例を示す図であり、
P波及びS波についての消光比(dB)と光の波長(n
m )との関係が示されている。ここで、P波は偏光面
が入射面に対して平行な偏光であり、S波は偏光面が入
射面に対して垂直な偏光である。
P波及びS波についての消光比(dB)と光の波長(n
m )との関係が示されている。ここで、P波は偏光面
が入射面に対して平行な偏光であり、S波は偏光面が入
射面に対して垂直な偏光である。
この従来例では、P波及びS波について25(dB)以
上の消光比を得ることができる帯域幅は180(nm
)であり、この帯域幅を得るために、多層膜の積層数を
23以上としている。
上の消光比を得ることができる帯域幅は180(nm
)であり、この帯域幅を得るために、多層膜の積層数を
23以上としている。
発明が解決しようとする課題
このように、従来技術であると、広い帯域幅を得るため
に、例えば23層以上多層膜を積層する必要があり、蒸
着に長時間を要する等により製造が容易でないという問
題があった。
に、例えば23層以上多層膜を積層する必要があり、蒸
着に長時間を要する等により製造が容易でないという問
題があった。
本発明はこのような問題点に鑑みて創作されたもので、
帯域幅が広く且つ製造が容易な偏光子の提供を目的とし
ている。
帯域幅が広く且つ製造が容易な偏光子の提供を目的とし
ている。
課題を解決するための手段
上述した技術的課題を解決するために、本発明では、高
屈折率材料として従来のTi○2に代えてSiを使用す
ることにより、比較的少ない積層数で従来以上の帯域幅
を実現した。また、多層膜の積層構戊及び膜厚を最適化
することにより、P波及びS波ともに高い消光比を実現
した。
屈折率材料として従来のTi○2に代えてSiを使用す
ることにより、比較的少ない積層数で従来以上の帯域幅
を実現した。また、多層膜の積層構戊及び膜厚を最適化
することにより、P波及びS波ともに高い消光比を実現
した。
第1図は本発明の偏光子の基本構戊を示す図である。
本発明の偏光子は、第1及び第2の透明基板1.2間に
Si層3及びSin2層4を交互に奇数層積層して構戒
されている。
Si層3及びSin2層4を交互に奇数層積層して構戒
されている。
第1及び第2の透明基板1.2に直接接触する層はSi
層3である。
層3である。
そして、光の波長の4分の1に相当する厚みを1.0と
するときに、第1及び第2の透明基板1.2に直接接触
するSi層3の厚みの設計値をO.43、中央に位置す
るSi層3の厚みの設計値を1.16、その他のSi層
3及びSin,層4の厚みの設計値を1.0とし、各層
の厚みの偏差を±1.0%としている。
するときに、第1及び第2の透明基板1.2に直接接触
するSi層3の厚みの設計値をO.43、中央に位置す
るSi層3の厚みの設計値を1.16、その他のSi層
3及びSin,層4の厚みの設計値を1.0とし、各層
の厚みの偏差を±1.0%としている。
作 用
高屈折率材料としてSiを用い、低屈折率材料としてS
i○2を用いているので、少ない積層数で広い帯域幅を
実現することができ、製造が容易になる。また、第1及
び第2の透明基板に直接接触する層をSi層とし、各層
の膜厚を最適化しているので、P波及びS波について高
い消光比を得ることができる。
i○2を用いているので、少ない積層数で広い帯域幅を
実現することができ、製造が容易になる。また、第1及
び第2の透明基板に直接接触する層をSi層とし、各層
の膜厚を最適化しているので、P波及びS波について高
い消光比を得ることができる。
実 施 例
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第2図は本発明の実施例を示す偏光子の構或図である。
この実施例では、第1及び第2の透明基板としてBK−
7<屈折率1.51)からなる三角柱プリズム11.1
2を用い、これら三角柱ブリズム11.12の斜面間に
偏光分離膜(多層膜)13を介在させている。この偏光
子の製造方法としては、一方の三角柱プリズム11の斜
面上に電子ビーム蒸着法等により偏光分離膜13を形或
し、光学接着剤を用いて三角柱プリズム11.12を一
体化する方法を採用し得る。
7<屈折率1.51)からなる三角柱プリズム11.1
2を用い、これら三角柱ブリズム11.12の斜面間に
偏光分離膜(多層膜)13を介在させている。この偏光
子の製造方法としては、一方の三角柱プリズム11の斜
面上に電子ビーム蒸着法等により偏光分離膜13を形或
し、光学接着剤を用いて三角柱プリズム11.12を一
体化する方法を採用し得る。
偏光分離膜13は、Si及びSin2をこの順で交互に
17層積層して構威されている。各層の物質、屈折率及
び膜厚を表に示す。なお、表において、膜厚は、光の波
長(中心波長は1 3 5 Qnm)の4分のlを1.
0としたときの相対値である。
17層積層して構威されている。各層の物質、屈折率及
び膜厚を表に示す。なお、表において、膜厚は、光の波
長(中心波長は1 3 5 Qnm)の4分のlを1.
0としたときの相対値である。
各層の膜厚に変化がないとしたとき、つまり、表に示す
設計値通りの膜厚としたときの特性を第3図に示す.縦
軸は消光比(dB)、横軸は波長(n+n)である。な
お、偏光分離膜13への入射角は45゜である。25(
dB)以上の消光比を得ることができる帯域幅が225
(nffl)となっており、積層数を従来の約3/4に
したにもかかわらず、従来例(第6図〉と比較して帯域
幅が拡大していることが明らかである。一般に、光学部
材上への電子ビーム蒸着法等による薄膜の形戒には長時
間を要するので、特性が同等またはそれ以上であれば積
層数が少ないほど!!造技術上有利であり、従って、製
造を容易化する上で本発明は極めて有効である。
設計値通りの膜厚としたときの特性を第3図に示す.縦
軸は消光比(dB)、横軸は波長(n+n)である。な
お、偏光分離膜13への入射角は45゜である。25(
dB)以上の消光比を得ることができる帯域幅が225
(nffl)となっており、積層数を従来の約3/4に
したにもかかわらず、従来例(第6図〉と比較して帯域
幅が拡大していることが明らかである。一般に、光学部
材上への電子ビーム蒸着法等による薄膜の形戒には長時
間を要するので、特性が同等またはそれ以上であれば積
層数が少ないほど!!造技術上有利であり、従って、製
造を容易化する上で本発明は極めて有効である。
次に、各層の厚みに許容される偏差について説明する。
なお、ここで満足すべき条件は、波長が1500〜16
00(r++n)におけるP波及びS波の消光比が25
((fB)以上となることである。
00(r++n)におけるP波及びS波の消光比が25
((fB)以上となることである。
第4図は、各層の厚みの偏差が±1%であるときに特性
曲線が取り得る範囲を示す図である。各層の厚みの偏差
が±1%であるときには、波長が150O〜1600(
nm)の範囲においてP波及びS波の消光比が常に25
(dB)以上となる。
曲線が取り得る範囲を示す図である。各層の厚みの偏差
が±1%であるときには、波長が150O〜1600(
nm)の範囲においてP波及びS波の消光比が常に25
(dB)以上となる。
第5図は各層の厚みの偏差が±2%であるときに特性曲
線が取り得る範囲を示す図である。各層の厚みの偏差が
±2%であるときには、波長が1500〜1600(n
m)の範囲内において、P波の消光比が25(dB)よ
りも小さくなることがある。
線が取り得る範囲を示す図である。各層の厚みの偏差が
±2%であるときには、波長が1500〜1600(n
m)の範囲内において、P波の消光比が25(dB)よ
りも小さくなることがある。
従って、偏光分離膜13を構或している各層の厚みの偏
差が±1%の範囲内としておくことによって、波長が1
500〜1600(nm)の範囲内においてP波及びS
波の消光比を常に25(dB)以上とすることができる
。
差が±1%の範囲内としておくことによって、波長が1
500〜1600(nm)の範囲内においてP波及びS
波の消光比を常に25(dB)以上とすることができる
。
発明の効果
以上説明したように、本発明によれば、帯域幅が広く、
且つ、製造が容易な偏光子を提供することができるよう
になるという効果を奏する。
且つ、製造が容易な偏光子を提供することができるよう
になるという効果を奏する。
第1図は本発明の偏光子の基本構或図、第2図は本発明
の実施例を示す偏光子の構戊図、第3図は本発明の実施
例における特性図、第4図は本発明の実施例において各
層の厚みの偏差が±1%てあるときに特性曲線が取り得
る範囲を示す図、 第5図は本発明の実施例において各層の厚みの偏差が±
2%であるときに特性曲線が取り得る範囲を示す図、 第6図は従来の偏光子の特性の一例を示す図である。 1・・・第1の透明基板、 2・・・第2の透明基板、
3・・・Si層、 4・・・SiO2層、11
.12・・・三角柱プリズム、 l3・・・偏光分離膜。
の実施例を示す偏光子の構戊図、第3図は本発明の実施
例における特性図、第4図は本発明の実施例において各
層の厚みの偏差が±1%てあるときに特性曲線が取り得
る範囲を示す図、 第5図は本発明の実施例において各層の厚みの偏差が±
2%であるときに特性曲線が取り得る範囲を示す図、 第6図は従来の偏光子の特性の一例を示す図である。 1・・・第1の透明基板、 2・・・第2の透明基板、
3・・・Si層、 4・・・SiO2層、11
.12・・・三角柱プリズム、 l3・・・偏光分離膜。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 第1及び第2の透明基板(1、2)間にSi層(3)及
びSiO_2層(4)を交互に奇数層積層してなる偏光
子であって、 上記第1及び第2の透明基板(1、2)に直接接触する
層をSi層(3)とし、 光の波長の4分の1に相当する厚みを1.0とするとき
に、上記第1及び第2の透明基板(1、2)に直接接触
するSi層(3)の厚みの設計値を0.43、中央に位
置するSi層(3)の厚みの設計値を1.16、その他
のSi層(3)及びSiO_2層(4)の厚みの設計値
を1.0とし、 各層の厚みの偏差を±1.0%の範囲内としたことを特
徴とする偏光子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154658A JP2741731B2 (ja) | 1989-06-19 | 1989-06-19 | 偏光子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154658A JP2741731B2 (ja) | 1989-06-19 | 1989-06-19 | 偏光子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0321903A true JPH0321903A (ja) | 1991-01-30 |
| JP2741731B2 JP2741731B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=15589053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1154658A Expired - Lifetime JP2741731B2 (ja) | 1989-06-19 | 1989-06-19 | 偏光子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2741731B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6088159A (en) * | 1996-07-31 | 2000-07-11 | Weber; Michael F. | Reflective polarizers having extended red band edge for controlled off axis color |
| JP2009271546A (ja) * | 2009-08-10 | 2009-11-19 | Epson Toyocom Corp | ビームスプリッタ |
-
1989
- 1989-06-19 JP JP1154658A patent/JP2741731B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6088159A (en) * | 1996-07-31 | 2000-07-11 | Weber; Michael F. | Reflective polarizers having extended red band edge for controlled off axis color |
| JP2009271546A (ja) * | 2009-08-10 | 2009-11-19 | Epson Toyocom Corp | ビームスプリッタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2741731B2 (ja) | 1998-04-22 |
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