JPH03220464A - スペクトラムアナライザ - Google Patents

スペクトラムアナライザ

Info

Publication number
JPH03220464A
JPH03220464A JP2015434A JP1543490A JPH03220464A JP H03220464 A JPH03220464 A JP H03220464A JP 2015434 A JP2015434 A JP 2015434A JP 1543490 A JP1543490 A JP 1543490A JP H03220464 A JPH03220464 A JP H03220464A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display
spectrum
information
memory
zone
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015434A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2891497B2 (ja
Inventor
Aiichi Katayama
片山 愛一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP2015434A priority Critical patent/JP2891497B2/ja
Priority to US07/644,220 priority patent/US5075618A/en
Priority to DE69127836T priority patent/DE69127836T2/de
Priority to EP91100854A priority patent/EP0439157B1/en
Publication of JPH03220464A publication Critical patent/JPH03220464A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2891497B2 publication Critical patent/JP2891497B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/165Spectrum analysis; Fourier analysis using filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/18Spectrum analysis; Fourier analysis with provision for recording frequency spectrum

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、入力信号を連続的に周波数変換してその入
力信号のスペクトラムを検出し、そのスペクトラムの大
きさを縦軸、周波数を横軸として表示するスペクトラム
アナライザに関する。
特に、ある帯域幅でスペクトラムを測定して広帯域スペ
クトルを表示するとともに、その広帯域スペクトルの中
の所望の部分をゾーンマーカで指定することにより指定
されたゾーン部分を狭帯域スペクトルとして拡大表示す
るスペクトラムアナライザであって、広帯域スペクトル
と狭帯域スペクトルの双方を観測しながら操作する場合
の観測のし易さと、操作のし易さを改良したスペクトラ
ムアナライザに係る。
[従来の技術] 従来、オシロスコープに用いられた関連する技術として
特閏昭59−95472号(以下、従来技術lと言う)
に示されるものがあった。従来技術1の出願以前の波形
表示装置においては、波形の振幅または時間軸を拡大す
るためにCRTを駆動する垂直軸増幅器または水平軸増
幅器の利得を可変する必要があって、その利得を可変直
流レベルで可変しようとするとその可変直流レベルも同
時に増幅されるので、非拡大時と同じたけ前記可変直流
レベルを変化させても非拡大時より大きく移動するとい
う不具合があった。このため、従来技術lは、波形を表
示し、その表示された波形の一部を選択して拡大表示す
る波形表示装置において、拡大表示した場合はその拡大
の割合を求め、その割合に応じて波形またはカーソルの
移動速度を遅くするように構成して上記不具合を解決す
るようにした。
言い換えると、この技術は、拡大時に可変直流レベルが
増幅された分く前記の割合に相当)だけ移動速度を遅く
するようにした技術で、例えば表示を観測しながら表示
の所定点にカーソルを移動させようとしてパネル面のノ
ブを所定量だけ操作(調整)し、カーソルを移動させる
ための信号(上記の可変直流レベルに相当)を所定量出
力させたときに、その操作の所定量と実際の表示上のカ
ーソルが動く距離との割合(移動速度)を非拡大時また
は拡大時にかかわらず一定にすることにより、表示上の
波形またはカーソルの移動の操作をし易くするものであ
った。
また、スペクトラムアナライザにおける先行技術にはア
メリカ国特許第4,264,958 号(以下、従来技
術2と言う)に示される技術があった。このスペクトラ
ムアナライザはズーム機能とよばれる機能を備え、ある
スペクトル範囲で測定表示中にマーカで指定した点また
はスペクトルのピーク点の周波数を中心周波数として帯
域幅を狭めて測定し、拡大表示することもてきるもので
ある。
[発明が解決しようとする課題] 上記の従来技術には、次のような欠点があった。
イ)従来技術lのオシロスコープは波形を時間領域で測
定するものであるから拡大表示すれば測定の分解能も上
がるので、表示上の移動速度を一定にするという機能だ
けでも有効である。しかし、スペクトラムアナライザの
場合は、オシロスコープと同様の表示機能の他に、周波
数領域でスペクトルのレベルを検出するための測定部を
備えているので、測定の帯域幅を変えて拡大測定表示す
る際には、前記オシロスコープのようにCRT表示上の
移動速度は変わらないようにしても、周波数的には表示
分解能(横軸の単位距離当りの周波数幅)が上がるから
、測定部の測定分解能も拡大幅に応じて上げる必要があ
る。それには拡大測定表示の帯域幅に応じて、しかも、
誤差のない最適の条件に測定部の測定分解能及び掃引時
間設定する必要がある。
なお、留意すべきは、測定部の測定分解能と掃引時閉と
の間には、測定部が所定の周波数分解能(以下、分解能
と言う)でレベルを検出するために要する速度よりも早
い速度で周波数を掃引すると誤差が大となり、遅い速度
で掃引すると測定精度は良いが時間がかかりすぎるとい
う関係にあることである。
口)従来技術2におけるズーム機能は、拡大表示から再
び拡大前の表示に戻って測定する場合は、拡大前の測定
条件を再度設定しなければならないという欠点があった
ハ)上記従来技術のいずれも、この発明の目的であると
ころの、広帯域スペクトルと狭帯域スペクトルを測定し
表示して各々の帯域幅に応じた測定分解能で観測及び操
作できると同時に、一方の帯域における測定の際に操作
変更したところの条件が他方の帯域を測定する際の条件
として反映されるような技術思想は考慮されていない。
したがって、広帯域スペクトルと狭帯域スペクトルとを
交互に測定し表示し及び操作するような場合は非常に不
便であった。
上記のようにこの発明の目的は、広帯域スペクトルと狭
帯域スペクトルとを交互に測定及び観測する場合の操作
性及び観測性をよくしたスペクトラムアナライザを提供
することにある。
[課題を解決するための手段] 上記問題点(イ)、(ロ)及び(ハ)を解決するためこ
の発明では、広帯域スペクトル表示から狭帯域スペクト
ル表示へ関係付ける第1の手段と、逆に狭帯域スペクト
ル表示から広帯域スペクトル表示へ関係付ける第2の手
段と、広帯域スペクトル表示及び狭帯域スペクトル表示
の際の測定部を最適測定条件に制御する手段を備えたこ
とが特徴である。
すなわち、ある帯域幅でスペクトルを測定して、広帯域
スペクトルを表示することに加えて、広帯域スペクトル
の中の所望の部分をゾーンマーカで指定することにより
、指定されたゾーン部分を狭帯域スペクトルとして拡大
表示するスペクトラムアナライザにあっては、 (a)  広帯域スペクトル表示を行うさいの測定条件
である中心周波数または帯域幅を設定するための手段(
BC設定手段4)、 (b)  広帯域スペクトル表示を行っているときに、
拡大測定表示すべき所望の狭帯域スペクトルを指定する
ためのゾーンマーカの位置または幅を変化させる手段(
ゾーン設定手段5) (C)  広帯域スペクトル表示とゾーンマーカ表示と
を表示装置の所定エリアに行い、かつ前記ゾーンマーカ
で指定された狭帯域スペクトル表示を別の表示エリアに
表示する手段(表示装置2及び表示制御部9) (d)  狭帯域スペクトル表示を観測しながらそのと
きの測定条件である中心周波数または帯域幅を設定する
ための手段(FC設定手段6)を備えなければならない
この発明では、上記の基礎的手段に加えて下記の(e)
、  (f)及び(g)を必須の構成要件として備える
ものとした。
(e)  ゾーンマーカの位置または幅を変化させるこ
とに応じて前記狭帯域スペクトル表示の中心周波P1ま
たは帯域幅を変化させる手段(第1の手段14) (f)  狭帯域スペクトル表示の中心周波Plまたは
帯域幅の移動ここ応じて、つまり前記第1の手段による
変化に対応じて前記ゾーンマーカの位置または幅を変化
させる手段(第2の手段+5)(g)  前記広帯域及
び狭帯域スペクトル表示におけるそれぞれの中心周波数
または帯域幅を設定するための手段(前記(a)、(d
))からの各情報にもとすいて、最適な測定分解能及び
掃引時間を求め、求めた値により一す定部を下記の式に
従って最適な測定条件で制御する手段(測定制御手段7
h)帯域幅 掃引時間≧      、X K・・・・・・・・(1
)(測定分解能) ただし、I(は定数 [実施例] この発明の一実施例の構成を第1図に示す。第2図はこ
の発明の表示装置を含む操作パネル1の一例を示す図で
ある。ここでは、先ず第2図をもとにこの発明による操
作性について説明し、次に実施例の構成及びその動作に
ついて説明する。
第2図において、表示装置2の表示画面は、広帯域スペ
クトル表示のためのBC;(Back  Ground
  measurement)エリア2aと狭帯域スペ
クトル表示のためのFC(Forward  Grou
nd  measurement)エリア2bとの2画
面に分けて表示されている例である。
図中のBG設定手段4は、ゾーン設定手段5及びFG設
定手段6はこの例では操作者がノブで所望の値に設定で
きるようにされている。
以下、0内に数値例を示して説明する。
広帯域スペクトル表示の中心周波数Bco(=1000
MH2)及び帯域幅Bso(”500MH2)はBG設
定手段4におけろBCセンター設定手段4a及UBGス
パン設定手段4bにより設定される。ここで、表示画面
の横軸(周波数軸)の表示ポイント数Pを例えば500
とすれば、広帯域スペクトル表示の表示分解能はB s
o/P (=IMHz)である。
広帯域スペクトル表示中のゾーンマーカ3の中心位置Z
co(=400)及び幅Zso(=50)はゾーン設定
手段5におけるゾーン位置設定手段5a及びゾーン幅設
定手段5 bによりポイント数で設定される。
したがって、ゾーン位置設定手段5a及びゾーン幅設定
手段5bにより設定できる周波数の細かさく以下、設定
分解能と言う)もB so/ P (=IM)Iz)で
ある。
狭帯域スペクトル表示の中心周波数F co(”115
0MHz)及び帯域幅F so(”50MH2)は前記
ゾーン位置設定手段5a及びゾーン幅設定手段5bによ
り設定されたポイント数を周波数に換算された値である
この場合のゾーン設定手段5による設定分解能はB s
o/ P (”1MH2)であるが表示分解能はFso
/P(”0.1MHz)である。
一方、狭帯域スペクトル表示を注視しながら中心周波P
I F co(1150MH2)及び帯域幅F so(
=50MH2)を可変するための手段として、FG設定
手段4におけるFCセンター設定手段6a及びFGスパ
ン設定手段6bが備えられている。このFCセンター設
定手段6a及びFGスパン設定手段6bの設定分解能は
表示分解能と同しく F so/P (=O,1MHz
)である。
また、このFGセンター設定手段6a及びFGスパン設
定手段6bで変更された中心周波数及び帯域幅はBGエ
リア2aに表示されているゾーンマーカ3の中心位置Z
c及び幅Zsの値に反映される。その反映されるときの
分解能はBGエリア2aの表示分解能B so/P (
”IMH2)による。
このように操作パネル1が構成ヰされていることから、
次のような操作ができる。
BGエリア2aの広帯域スペクトルに注視して測定して
いるときは、その帯域幅に応じた設定分解能でゾーンマ
ーカ3を設定して狭帯域スペクトルを選択して表示でき
る。
FCエリア2b上で前記選択された狭帯域スペクトルに
注視して、必要に応じてその中心周波数及び帯域幅を変
更する場合は、その帯域幅に応じた設定分解能で変更で
きる。
再び、BCエリア2aに注視すれば、FCエリア2b上
で前記変更された狭帯域スペクトルの中心周波数及び帯
域幅でゾーンマーカ3が表示されている。
上記のようにこの発明によれば、BGエリア2aの広帯
域スペクトル表示とFCエリア2bの狭帯域スペクトル
表示とを交互に観測、操作する場合に、スムーズな観測
及び操作が行える。
第1図はこの発明の一実施例の構成を示す図である。
同図において、測定部7は周波数領域でスペクトルを検
出してスペクトルの周波数に対応した大きさをレベルと
して出力する。測定部7においては、ミキサ7bが入力
信号を局部発振器7aからの信号で中間周波数信号に変
換し、その中間周波数信号をBPF(バンドパスフィル
タ)7cで選択分析し、分析された中間周波数信号を検
波器7dて検波し、その出力をA/D変換器7eて変換
した後にデータ処理部7fで所望のデータに処理して出
力している。掃引信号発生器7gは局部発振器7aの発
振周波数を所定の中心周波数を中心に所定の帯域幅にわ
たり所定の掃引時間で掃引する。
BPF7cの帯域は信号を周波数的に選択分析する上で
スペクトラムアナライザの測定分解能を決定つけるもの
である。BPF7cの帯域、つまり測定分解能は可変に
されている。
測定制御部7hは、上記のように制御可能にされている
測定帯域幅、掃引時間及び分解能帯域幅の関係が次の(
1)式で示される関係を満足するように各部を制御し、
スペクトルの測定誤差が測定器として最適の状態で測定
を行わせる。
ただし、Kは定数 なお、この実施例では、Kは2から5の間の値に設定さ
れている。
上記(1)式において定数に以外の要素は、所望の帯域
幅及び測定分解能で測定しようとした場合に、主として
局部発振器7a及びBPF7cによる誤差への影響を考
慮したものである。しかし、測定器全体の測定誤差とし
てはそれら以外の各部の時間応答や雑音等の影響を受け
る。したがって、定数K !、を測定器全体を考慮した
上でその誤差が少なくなるような値にされる。
波形記憶部8は、BG波形メモリ8a及びFG波形メモ
リ8bを備え、それぞれ広帯域スペクトル及び狭帯域ス
ペクトルを測定周波数に対応づけられたアドレスにその
スペクトルのレベルを記憶する。なお、BG波形メモリ
8a及びFG波形メモリ8bの前記アドレスは、いずれ
も表示装置2の表示の横軸のポイントに対応したアドレ
スになっおり、かつ各前記メモリのアドレスの数及び表
示上の前記ポイント数は同一である。したがって、表示
されたときは、狭帯域スペクトル表示は広帯域スペクト
ル表示に比較しそれらの帯域比だけ拡大されて表示され
、周波数あたりの読み取り分解能が上がる。
表示制御部9は、BG波形メモリ8a及びFC波形メモ
リ8bに記憶された広帯域スペクトル及び狭帯域スペク
トルをそれぞれ表示装置2のエリア2a及びエリア2b
に表示するとともに、エリア2aの広帯域スペクトル表
示のなかに狭帯域を選択するためのゾーンマーカ3を表
示する。
BG/FC;切換制御部10は、測定制御部7hに広帯
域スペクトルと狭帯域スペクトルを交互に掃引して測定
するためのスタート信号を出力するとともに、その掃引
に同期してスイッチS2、S2を制御して広帯域スペク
トル測定の場合はm側に、狭帯域スペクトル測定の場合
はn側に切り替える。
パラメータ設定手段100は、この発明の主要部である
。この機能ブロックの詳細を第3図に示す。以下、第1
図を主に第3図を交えて構成を説明する。
第1図にて、第1の手段14は、ゾーン設定メモリ12
からのゾーンマーカの位置情報C4及び幅情報D4を受
けて、それらの各情報に応じて狭帯域スペクトル表示の
中心周波数(センター情報A4)あるいは帯域幅(スパ
ン情報B4)を求める演算を行い、FC設定メモリ13
に記憶させる手段である。第1の手段14はFCセンタ
ー算出手段14a及びFCスパン算出手段14bを備え
、ゾーン設定手段5からのトリガ信号J、  K及びB
G設定手段4からのトリガ信号S、  Tによって上記
演算を開始する。
第2の手段15は、FC設定メモリ13からの狭帯域ス
ペクトル表示のセンター情報A3及びスパン情報B3を
受けて、それらの各情報に応じて広帯域スペクトル表示
におけるゾーンマーカの位置(位置情報C3)及び幅(
幅情報D3)を求める演算を行い、ゾーン設定メモリ1
2に記憶させる手段である。第2の手段15はゾーン位
置算出手段15a及びゾーン幅算出手段15bを備え、
FC設定手段6からのトリガ信号Q、  Rによって上
記演算を開始する。
ゾーン設定メモリ12!、l?ゾーンマーカに関する位
置情報を記憶するゾーン位置メモリ12a及び幅情報を
記憶するゾーン幅メモリ12bを備えている。ゾーン位
置メモリ12aはゾーン設定手段5からの位置情報C1
又は第2の手段15からの位置情報C3を、ゾーン幅メ
モリ12bはゾーン設定手段5からの幅情報DI又は第
2の手段15からの幅情報D3を、それぞれ受領する毎
に記憶することにより常に最新の情報を記憶するととも
に、これらの情報を位置情報C2及び幅情報D2とし・
てに水制御手段9へ送出する。この位置情報C2及び幅
情報D2をもとに広帯域スペクトル表示ζミゾーンマー
カが設定される。
FC設定メモリ13は狭帯域スペクトル表示に間するセ
ンター情報及びスパン情報を記憶するFGセンターメモ
リ13a及びFCスパンメモリ13bを備えている。F
Cセンターメモリ13aはFC設定手段6からのセンタ
ー情報A1又は第1の手段14からのセンター情報A4
を、FCスパンメモリ13bはFG設定手段6からのス
パン情報B1又は第1の手段14からのスパン情報B4
を、それぞれ受領する毎に記憶することにより常に最新
の情報を記憶する。さらに、記憶された最新のセンター
情報及びスパン情報はセンター情報A2及びスパン情報
B2としてスイッチS2及び表示制御手段9へ送出され
、同様にセンター情報A3及びスパン情報B3として第
2の手段へ送出される。スイッチS2及び表示制御手段
9に送出されたセンター情報A2及びスパン情報B2を
もとに、測定部7がその条件で狭帯域スペクトル測定を
行い、FC波形メモリ8bがスペクトルデー夕を記憶し
、表示制御部9が表示装置2に狭帯域スペクトル表示を
行わせる。一方、第2の手段へ送出されたセンター情報
A3及びスパン情報B3をもとに最新のゾーンマーカが
表示装置2の広帯域スペクトル表示中に設定される。
BG設定メモリ11は、BG設定手段4からの広帯域ス
ペクトル表示に間するセンター情報Gl及びスパン情報
H1を記憶して、第1の手段15及び第2の手段14及
び表示制御手段9に送出する。BG設定メモリ11は、
BGセンターメモリ11a及びBGスパンメモリllb
を備えている。
上記構成の中で、特に測定制御部7h、表示制御部2、
第1の手段及び第2の手段はCPU、ROM及びRAM
により構成される。
以下、各設定手段からの設定情報の流れに沿って一連の
動作を、各設定項目に対応じて[1]から[VI]まで
に分けて説明する。
ただし、説明を分かりやすくするため何れの設定におい
てもその設定前の初期条件を次のように設定して説明す
る。
広帯域スペクトル表示の初期条件 センター周波数の値(単位は)Iz):  Bc。
スパンの値(単位は)Iz):  Bs。
狭帯域スペクトル表示の初期条件 センター周波数の値(単位はHz):  Fc。
スパンの値(単位はHz):  Fs。
マーカゾーンの初期条件 位置の値(単位はポイント数):  Zc。
幅の値(単位はポイント数):  Zs。
表示装置2の表示上の横軸のポイント数:500[11
ゾーンマーカの位置設定 ゾーンマーカの位置を変更する前の広帯域スペクトル表
示及び狭帯域スペクトル表示の初期表示画面を第4図(
a)及び(b)とする。
■ゾーン位置設定手段5aによりゾーンマーカの位置を
変える。このときゾーン位置設定手段5aから出力され
た位置の値をZc+(位置情報C1の値)とする。
■ゾーン位置メモリ12aは、位置情報C1の値Zc+
を記憶し、かつ、この値Zc+を位置情報C2として表
示制御部9へ送出し、値Zc+に対応じて広帯域スペク
トル表示中のゾーンマーカの位置を変更せしめる。ゾー
ンマーカの位置が変更された様子を第4図(C)に示す
。ゾーンマーカの幅は以萌のままでZsoである。
■F Cセンター算出手段15aは、ゾーン位置メモリ
12aから位置情報C4の値Zc+を受け、この値と先
にBGセンター設定手段4a及びBGスパン設定手段4
bにより設定されているセンター情報G3の値Bco及
びスパン情報H3の値Bsoをもとに、次式から狭帯域
スペクトル測定のセンター周波数Fc+を算出し、セン
ター情報A4として出力する。
F c+ = (B co  B so/2)+ B 
soX (Z c+1500)■FGセンタメモリ13
aはセンター情報A4の値Fc+を記憶し、センター情
報A2の値としてFc1を出力する。
■測定制御部7hはBG/FC切換手段10がスイッチ
2をn側に設定したときに、センター情報A2の値F。
、及びスパン情報B2の値Fsoを受けとり、測定部7
の各部に対し中心周波数Fc+、帯域幅F、。の範囲で
狭帯域スペクトル測定を行なわせる。
■FC波形メモリ8bは、データ処理部7fから出力さ
れる各スペクトルのレベルをその周波数に対応じて記憶
する。
■表示制御部9は表示装置のFCエリア2bに、FC波
形メモリ8bに記憶された各スペクトルのレベルをその
周波数に対応じて表示せしめる。
これらの動作の結果として、第4図(b)の狭帯域スペ
クトルが第4図(d)のように変更されて表示される。
[II]ゾーンマーカの幅設定 ゾーンマーカの幅を変更する前の広帯域スペクトル表示
及び狭帯域スペクトル表示の初期表示画面を第5図(a
)及び(b)とする。
■ゾーン幅設定手段5bによりゾーンマーカの幅を変え
る。このとき出力された幅の値をZs+(幅情報D1の
値)とする。
■ゾーン幅メモリ12bは、幅情報DIの値Zs+を記
憶する。次に、この値Zs+を幅情報D2として表示制
御部9へ送出し、値Zs1に対応じて広帯域スペクトル
表示中のゾーンマーカの幅を変更せしめる。ゾーンマー
カの幅が変更された様子を第5図(C)に示す。ゾーン
マーカの位置は以前のままでZcoである。
■FCスパン算出手段14bは、ゾーン幅メモリ12b
から幅情報D4の値Zs+受け、この値と先にBGスパ
ン設定手段4bにより設定されているスパン情報H3の
値Bsoをもとに、次式から狭帯域スペクトル測定の帯
域FSIを算出しセンター情報B4として出力する。
F s+= B soX (Z s+1500)■F 
Cスパンメモリ13bはスパン情WB4の値Fs+を記
憶し、スパン情報B2の値として値Fs+を出力する。
■測定制御部7hは、BG/FC切換手段10がスイッ
チ2をn側に設定したときに、センター情報A2の値F
co及びスパン情報B2の値FSIを受けとり、測定部
7の各部に対し中心周波数Fco、帯域Tl@ F s
 +の範囲で狭帯域スペクトル測定を行なわせる。
なお、この場合、測定制御部7hは、次式を満たず測定
分解能に応じた帯域及び掃引時間を各々BPF7c及び
掃引信号発生器7gに設定して測定を行なわせる。
■以下の動作は[1]の■及び■の動作と同じである。
狭帯域スペクトル表示の帯域幅が変更された例を第5図
(d)に示す。
次に、ゾーンマーカの幅設定の特別な場合について説明
する。
特別な場合として、ゾーンマーカの幅Zs+=0に設定
することもてきる。この場合はFs+=0である。この
ときの広帯域スペクトル表示及び狭帯域スペクトル表示
の各部を第5図(e)及び(f)に示す。第5図(e)
の広帯域スペクトル表示におけるゾーンマーカはワンポ
イントの周波数を指示しする。そして、第5図(f)の
狭帯域スペクトル表示の横軸全てがその周波数Fcoで
表わされる。したがって、第5図(f)は同一周波数F
coにおけるスペクトルの大きさの時間的変動を測定、
表示している。言い換えれば第5図(f)は時間領域で
の表示である。なお、この場合の、掃引時間は前記スペ
クトルの大きさの時間的変動に追随して表示できる掃引
速度となるように設定されるへきてあろう。
[rlI]狭帯域スペクトルの中心周波数設定狭帯域ス
ペクトルの中心周波数を変更する前の広帯域スペクトル
表示及び狭帯域スペクトル表示の朝間表示画面を第6図
(a)及び(b)とする。
■FCセンター設定手段6aにより狭帯域スペクトル測
定および表示の中心周波数を変える。このときFGセン
ター;q定手段6aより出力されたセンターの値をFc
+(センター情報AIの値)とする。
■FCセンターメモリ13aはセンター情報AIの値F
c+を記憶しすると共に、センター情報A2として出力
する。
■狭帯域スペクトルの測定及び表示に関する動作は[1
1の■から■の動作と同じである。
狭帯域スペクトル表示の中心周波数が変更された例を第
6図(d)に示す。
■ゾーン位置算出手段15aは、FCセンターメモリ1
3aからセンター情報A3の値Fc+受け、この値と先
にBGセンター設定手段4a及びBGスパン設定手段4
bにより設定され、BGセンターメモリlla及びBG
スパンメモリllbにそれぞれ記憶されているセンター
情報G3の値Bc。
及びスパン情報H3の値Bsoをもとに、次式から広帯
域スペクトル測定のゾーンマーカの位置Zc+を算出し
位置情報C3として出力する。
Zc+=500X[Fc+−(Bco  Bso/2)
]/Bs。
■ゾーン位置メモリ12aは、位置情報C3の値ZCI
を記憶し、かつ、この値ZCIを位置情報C2として表
示制御部9へ送出し、値Zc+に対応じて広帯域スペク
トル表示中のゾーンマーカの位置を変更せしめる。ゾー
ンマーカの位置が変更された様子を第6図(c)に示す
[rV]狭帯域スペクトルの周波数スパン設定狭帯域ス
ペクトルの中心周波数を変更する前の広帯域スペクトル
表示及び狭帯域スペクトル表示の初期表示画面を第7図
(a)及び(b)とする。
■FCスパン設定手段6bにより狭帯域スペクトル測定
および表示の帯域幅を変える。このときFCスパン設定
手段6bより出力されたスパンの値をF s+(スパン
情報B1の値)とする。
■FCスパンメモリ13bはスパン情報B1の値Fs+
を記憶するとともに、その値Fs+をスパン情報B2と
して出力する。
■狭帯域スペクトルの測定及び表示に関する動作は[I
I]の■及び■の動作と同じである。
狭帯域スペクトル表示の帯域幅変更された例を第7図(
d)に示す。
■ゾーン幅算出手段15bは、FCセンターメモリ13
bからスパン情報B3の値Fs+受け、この値と先にB
Gスパン設定手段4bにより設定され、BGスパンメモ
リllbに記憶されているスパン情報H3の値Bsoを
もとに、次式から広帯域スペクトル表示におけるゾーン
マーカの輻Zs+を算出し幅情報D3として出力する。
Z s+ = 500X (F s+/B so)■ゾ
ーン幅メモリ12bはスパン情報D3の値ZS、を記憶
し、かつ、この値Zs1を幅情報D2として表示制御部
9へ送出し、値Zs+に対応じて広帯域スペクトル表示
中のゾーンマーカの幅を変更せしめる。ゾーンマーカの
幅が変更された様子を第7図(c)に示す。
なお、狭帯域スペクトルの周波数スパン設定の特別な場
合として、周波数スパンF s+”oの場合がある。周
波数スパンがF so(≠0)からF s+”oに変更
設定されると狭帯域スペクトル表示は、第5図(b)か
ら同図(f)のよう変更表示される。この第5[!I(
f)の狭帯域スペクトル表示は、上記[II]の後段で
記載したゾーンマーカの幅設定Zs+=0の場合と同様
に、時間領域の測定及び表示が行われていることを示す
[V]広帯域スペクトルのセンター周波数設定広帯域ス
ペクトルの中心周波数を変更する前の広帯域スペクトル
表示及び狭帯域スペクトル表示の初期表示画面を第8図
(a)及び(b)とする。
■BGセンター設定手段4aにより広帯域スペクトル測
定および表示の中心周波数を変える。このときBGセン
ター設定手段4aより出力されたセンターの値をBc+
(センター情報GlO値)とする。
■BGセンターメモリllaはセンター情報Glの値B
c+を記憶する。センター情報G2の値としてBc+を
出力する。
■測定制御部7hは、BG/FC切換手段lOがスイッ
チ2をm側に設定したときにセンター情報G2の値Bc
+及びスパン情報H2の値Bsoを受けとり、測定部7
の各部に対し中心周波数Bc+及び帯域幅Bsoの範囲
で広帯域スペクトル測定を行なわせる。
■BG波形メモリ8aは、データ処理部7fから出力さ
れる各スペクトルのレベルをその周波数に対応じて記憶
する。
■表示制御部9は表示装置のBGエリア2aに、BG波
形メモリ8aに記憶された各スペクトルのレベルをその
周波数に対応じて表示せしめる。
これらの動作の結果として、第8図(a)の広帯域スペ
クトルが第8図(C)のように変更されて表示される。
このとき、ゾーンマーカの位置も第8図(C)からも分
かるように変更されている。次にその動作を説明する。
■ゾーン位置算出手段15aは、BGセンターメモリl
laからセンター情報G3の値Bc+受け、この値と先
にFCセンター設定手段6a及びFGスパン設定手段6
bにより設定されているセンター情報A3の値Fco及
びスパン情報B3の値Fs。
をもとに、次式からゾーンマーカの位置Zc+を算出し
位置情報C3として出力する。
Zc+=500X[Fco  (Bc+−Bso/2)
]/Bs。
■ゾーン位置メモリ12aは位置情報C3の値Zc1を
記憶する。次に、この値Zc+を位置情報C2として表
示制御部9へ送出し、値Zc+に対応じて広帯域スペク
トル表示中のゾーンマーカの位置を変更せしめる。ゾー
ンマーカの位置が変更された様子を第8図(c)に示す
[V[]広帯域スペクトルの周波数スパン設定広帯域ス
ペクトルの帯域幅を変更する前の広帯域スペクトル表示
及び狭帯域スペクトル表示の初期表示画面を第9図(a
)及び(b)とする。
■BGスパン設定手段4bにより広帯域スペクトル測定
および表示の帯域幅を変える。このときBCスパン設定
手段4bより出力されたスパンの値をB cl(スパン
情報H1O値)とする。
■BCセンターメモリllaはスパン情報H1の値Bs
+を記憶する。スパン情#H2の値としてBs1を出力
する。
■広帯域スペクトル測定及び表示に関する動作は前記[
V]の■から■まての動作と同しである。
これらの動作の結果として、第9図(a)の広帯域スペ
クトル表示が第9図(C)のように変更されて表示され
る。
このとき、ゾーンマーカの位置及び幅も第9図(C)か
らも分かるように変更されている。次にその動作を説明
する。
■ゾーン位置算出手段15aは、BGスパンメモリll
bからスパン情報H3の値Bs+受け、この値と先にF
Cセンター設定手段6a及びBGセンター設定手段4a
により設定されているセンター情報A3の値Fco及び
センター情報G3の値Bc。
をもとに、次式からゾーンマーカの位置Zc+を算出し
位置情報C3として出力する。
Zc+=500X[Fco  (Bco  Bs+/2
)]/Bs+■ゾーン位置メモリllaは位置情報C3
の値Zc1を記憶する。
■ゾーン輻算出手段15bは、BGスパンメモリ11b
からスパン情報H3の値Bs+受け、この値と先にFC
スパン設定手段6bにより設定されているスパン情報B
3の値Fsoをもとに、次式からゾーンマーカの輻Zs
+を算出し幅情報D3として出力する。
Z s+ = 500X (F so/B s+)■ゾ
ーン幅メモリllbは幅情報D3の値ZSIを記憶する
■表示制御部9は、ゾーン位置メモリlla及びゾーン
幅メモリllbから位置情報C2の値としてZc+及び
幅情報D2の値としてZs+を受けて、Zc+の位置に
Zs+なる幅のゾーンマーカを広帯域スペクトルととも
に表示する。
この場合、ゾーンマーカの位置は広帯域スペクトル表示
において第9図(C)のように変更されるが、狭帯域ス
ペクトル表示において第9図(b)及び(d)に示され
るように変化していない。つまり、この場合は、広帯域
スペクトルの周波数スパン設定に伴い、ゾーンマーカの
位置及び幅のポイントが変わるもののその周波数は変わ
らない。
上記実施例において、BG設定メモリ】1、ゾーン設定
メモリ12及びFG設定メモリ13の構成はこれら各メ
モリと接続される相手側の回路の態様に応じて変更せら
れるべきものである。要は第1及び第2の手段が上記機
能を充分に果たす信号の流れを実現する構成であれば上
記構成のメモリに限定されることはない。
また、BG設定手段4、ゾーン設定手段及びFC設定手
段は、1個又は2個の設定手段を備え、これを切り替え
て共通に使用してもよい。設定手段と゛しては操作者の
作用を電気信号に変換するとともに、出力する相手方回
路に適合する信号で出力するものであればよい。例えば
ノブを備えたエンコーダとインタフェース回路で構成で
きる。
さらに、表示の仕方において、狭帯域スペクトル表示と
広帯域スペクトル表示を表示装置の同一エリアに表示し
てもよい。色別表示すれば明瞭である。
[発明の効果] この発明では、第1の手段を備えたことにより、操作者
が主に広帯域スペクトル表示を観測しながらゾーンマー
カの位置及び幅を変化させる場合に広帯域スペクトル測
定の帯域幅に応じた設定の細かさで変化させることがで
き、かつ、そのゾーンマーカの変化に対応じて狭帯域ス
ペクトル表示における測定条件(中心周波数及び帯域幅
)の変化として自動的に反映するようになされていると
いう効果がある。
また、第2の手段を備えたことから、操作者が主に狭帯
域スペクトル表示を観測しながらその測定条件(中心周
波数及び帯域幅)を変化させる場合は狭帯域スペクトル
表示における観測しやすい表示方式で変化させる、すな
わち、狭帯域スペクトル測定の帯域幅に応じた設定の細
かさて変化させることができ、かつ、その中心周波数及
び帯域幅の変化は、広帯域スペクトル表示におけるゾー
ンマーカの表示の位置及び幅の変化として自動的に反映
するようになされているという効果がある。
さらに、測定制御手段を備えたことにより、第1及び第
2の手段からの出力によフて測定の帯域幅が変化した場
合には、それに応じて測定誤差が少ない測定条件(掃引
時閉、測定分解能)に自動的に制御されるから、上記の
良好な操作性や観測のしやすさに加えて、精度の良い測
定ができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は一実施例の構成を示す図、第2図はこの発明に
よる操作パネルの一構成例で操作性を説明するための図
、第3図は第11fflにおけるパラメータ出力手段の
詳細構成を示す図、第4図から第9図は動作を説明する
ための表示例を示す図である。 図中の、lは操作パネル、2は表示装置、2aはBGエ
リア、2bはFCエリア、3はゾーンマーカ、4はBG
設定手段、4aはBGセンター設定手段、4bはBGス
パン設定手段、5はゾーンマーカ設定手段、5aはゾー
ン位置設定手段、5bはゾーン幅設定手段、6はFG設
定手段、6aはFCセンター設定手段、6bはFCスパ
ン設定手段、7は測定部、7aは局部発振器、7bはミ
キサ、7CはBPF、7dは検波器、7eはA/D変換
器、7fはデータ処理部、7gは掃引信号発生器、7h
は測定制御手段(測定制御部)、8は波形記憶部、8a
はBG波形メモリ、8bはFC波形メモリ、9は表示制
御部、10はBG/FC切換制御部、llはBG設定メ
モ1ハ llaはBGセンターメモリ、llbはBGス
パンメモ1八12はゾーン設定メモリ、12aはゾーン
位置メモリ、12bはゾーン幅メモリ、13はFG設定
メモリ、13aはFCセンターメモリ、13bはFCス
パンメモリ、14は第1の手段、14aはFCセンター
算出手段、14bはFCスパン算出手段、15は第2の
手段、15aはゾーン位置算出手段、15bはゾーン幅
算出手段、Sl及びS2はスイッチである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 測定されたスペクトル波形を表示装置の画面に表示する
    スペクトラムアナライザおいて、広帯域スペクトル表示
    の中からそれを表示すべく選択された任意の狭帯域スペ
    クトルに対応する部分を前記広帯域スペクトル表示エリ
    ア上に示すためのゾーンマーカと前記広帯域スペクトル
    表示を前記狭帯域スペクトルの拡大表示とともに画面に
    表示する手段(2,9)と、前記ゾーンマーカの位置ま
    たは幅を変化させることに応じて前記狭帯域スペクトル
    の表示の中心周波数または帯域幅を変化させる第1の手
    段(14)と、前記狭帯域スペクトルの表示の中心周波
    数または帯域幅の移動に応じて前記ゾーンマーカの位置
    または幅を変化させるように前記第1の手段と連動する
    第2の手段(15)と、表示されるスペクトルの帯域の
    狭広に応じて、Kを定数としそれぞれ下記(1)式を満
    足する測定分解能及び掃引時間の制御をするための制御
    手段(7h)とを備えたスペクトラムアナライザ。 掃引時間≧(帯域幅)/(測定分解能)^2×K・・・
    ・・・・・(1)
JP2015434A 1990-01-25 1990-01-25 スペクトラムアナライザ Expired - Lifetime JP2891497B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015434A JP2891497B2 (ja) 1990-01-25 1990-01-25 スペクトラムアナライザ
US07/644,220 US5075618A (en) 1990-01-25 1991-01-22 Waveform analyzer having function of simultaneously displaying wide- and narrow-band spectra or transmission characteristics
DE69127836T DE69127836T2 (de) 1990-01-25 1991-01-23 Spektralanalysator zur gleichzeitigen Anzeige von Breit- und Schmalbandübertragungscharakteristiken
EP91100854A EP0439157B1 (en) 1990-01-25 1991-01-23 Waveform analyzer having function of simultaneously displaying wide- and narrow-band spectra of transmission characteristics

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015434A JP2891497B2 (ja) 1990-01-25 1990-01-25 スペクトラムアナライザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03220464A true JPH03220464A (ja) 1991-09-27
JP2891497B2 JP2891497B2 (ja) 1999-05-17

Family

ID=11888694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015434A Expired - Lifetime JP2891497B2 (ja) 1990-01-25 1990-01-25 スペクトラムアナライザ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5075618A (ja)
EP (1) EP0439157B1 (ja)
JP (1) JP2891497B2 (ja)
DE (1) DE69127836T2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008092453A (ja) * 2006-10-04 2008-04-17 Secom Co Ltd 盗撮検出装置
WO2008062875A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 Tektronix, International Sales Gmbh Signal analyzer and its data generation method
JP2008175774A (ja) * 2007-01-22 2008-07-31 Anritsu Corp 信号解析装置及び信号解析方法
JP2012018194A (ja) * 2011-10-26 2012-01-26 Anritsu Corp 測定装置
JP2012018195A (ja) * 2011-10-26 2012-01-26 Anritsu Corp 測定装置
JP2012018192A (ja) * 2011-10-26 2012-01-26 Anritsu Corp 測定装置
JP2012042482A (ja) * 2011-10-26 2012-03-01 Anritsu Corp 測定装置
JP2014119458A (ja) * 2012-12-13 2014-06-30 Tektronix Inc 試験及び計測機器及び入力信号処理方法並びにそのためのコンピュータープログラム
JP2019148489A (ja) * 2018-02-27 2019-09-05 日置電機株式会社 波形表示装置および波形表示方法

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5579463A (en) * 1990-03-30 1996-11-26 Anritsu Corporation Waveform display apparatus of frequency sweep type for facilitating display of a high definition waveform
WO1991015776A1 (fr) * 1990-03-30 1991-10-17 Anritsu Corporation Dispositif d'affichage de forme d'onde pour faciliter l'observation simple d'une forme d'onde fine
DE4027956A1 (de) * 1990-09-04 1992-03-05 Rohde & Schwarz Verfahren zum messen und darstellen von frequenzabhaengigen messparametern eines messobjektes
US5210483A (en) * 1990-09-29 1993-05-11 Anritsu Corporation Burst signal spectrum measuring system with stepwise sweeping
US5394185A (en) * 1993-01-08 1995-02-28 Tektronix, Inc. In-service CATV HUM measurement technique
US6229316B1 (en) * 1995-09-08 2001-05-08 Advantest Corporation Measuring method by spectrum analyzer
CA2162347C (en) * 1995-11-07 2001-01-09 Gary Gunthorpe Method and apparatus for high-speed scanning of electromagnetic field levels
US5684508A (en) * 1995-11-21 1997-11-04 Fluke Corporation Method of displaying continuously acquired data as multiple traces on a fixed length display
US5898307A (en) * 1996-04-10 1999-04-27 Snap-On Technologies, Inc. Independent cursor control in dual-trace engine analyzer scope
US5949495A (en) * 1996-04-25 1999-09-07 Tektronix, Inc. Digital cursors for serial digital television waveform monitors
US6018246A (en) * 1997-10-17 2000-01-25 Hewlett-Packard Company Network analyzer measurement method for high dynamic range devices
US6356067B1 (en) 1998-08-10 2002-03-12 Sony/Tektronix Corporation Wide band signal analyzer with wide band and narrow band signal processors
JP2002057651A (ja) * 2000-08-11 2002-02-22 Advantest Corp 多重信号の物理量表示装置、方法、記録媒体
US20030132944A1 (en) * 2001-10-03 2003-07-17 Sun Microsystems, Inc. User control of generalized semantic zooming
JP4064129B2 (ja) * 2002-03-14 2008-03-19 リーダー電子株式会社 波形表示における波形表示位置調整装置
US7302017B2 (en) * 2002-06-18 2007-11-27 General Dynamics C4 Systems, Inc. System and method for adaptive matched filter signal parameter measurement
JP4103134B2 (ja) * 2003-02-27 2008-06-18 横河電機株式会社 波形表示装置および波形表示方法
US7107165B2 (en) * 2003-11-19 2006-09-12 Agilent Technologies, Inc. Markers used in the calculation and display of band functions
JP4813774B2 (ja) * 2004-05-18 2011-11-09 テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー 周波数分析装置の表示方法
US7751470B2 (en) * 2005-02-07 2010-07-06 Tektronix, Inc. Time correlation of signal power to distortion characteristics
JP2009186323A (ja) * 2008-02-06 2009-08-20 Advantest Corp 周波数特性測定装置
ES2341206B1 (es) * 2008-05-26 2011-05-03 Sistemas Integrados De Servicios De Telecontrol, S.L. Equipo y procedimiento de medida de señales de radio y/o television.
US8464171B2 (en) * 2009-06-26 2013-06-11 Eppendorf Ag Device for displaying a function chart
JP4929362B2 (ja) * 2010-02-12 2012-05-09 株式会社東芝 電子機器、画像表示システム、および画像表示方法
CN104303113A (zh) * 2012-05-17 2015-01-21 三菱电机株式会社 伺服参数调整装置
US9207269B2 (en) * 2012-05-22 2015-12-08 Tektronix, Inc. Automatically detecting in-band but out-of-span power in a frequency-domain test and measurement instrument
EP2743709A1 (en) * 2012-12-11 2014-06-18 Tektronix Inc. Real time spectrum analyzer with zoom display
CN103901274A (zh) * 2012-12-31 2014-07-02 特克特朗尼克公司 具有缩放显示的实时谱分析仪
US10712367B2 (en) * 2016-11-08 2020-07-14 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for analyzing a signal as well as measurement and analyzing device
CN110333071B (zh) * 2019-06-28 2021-09-10 华北电力大学 一种利用窄带倒谱变换的机械振动信号处理方法
CN117368571B (zh) * 2023-12-08 2024-03-01 深圳市鼎阳科技股份有限公司 一种实时频谱分析仪及其数据处理方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4264958A (en) 1978-08-10 1981-04-28 Hewlett-Packard Company Video processor for a spectrum analyzer
US4321680A (en) * 1980-04-22 1982-03-23 Wavetek Rockland Inc. Spectrum analyzer with frequency band selection
JPS5995472A (ja) * 1982-11-25 1984-06-01 Sony Tektronix Corp 波形表示装置
JPH0769364B2 (ja) * 1987-03-06 1995-07-31 アンリツ株式会社 スペクトラムアナライザ
US4839582A (en) * 1987-07-01 1989-06-13 Anritsu Corporation Signal analyzer apparatus with automatic frequency measuring function
JP2577566B2 (ja) * 1987-07-01 1997-02-05 アンリツ株式会社 スペクトラムアナライザ
US4890236A (en) * 1988-04-01 1989-12-26 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for aiding manual instrument settings by displaying estimates of future measurement results
US4975636A (en) * 1989-05-01 1990-12-04 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for selecting and displaying a high resolution window from a main display

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008092453A (ja) * 2006-10-04 2008-04-17 Secom Co Ltd 盗撮検出装置
WO2008062875A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 Tektronix, International Sales Gmbh Signal analyzer and its data generation method
US8374812B2 (en) 2006-11-24 2013-02-12 Tektronix, Inc. Signal analyzer and method for producing data therefore
JP2008175774A (ja) * 2007-01-22 2008-07-31 Anritsu Corp 信号解析装置及び信号解析方法
JP2012018194A (ja) * 2011-10-26 2012-01-26 Anritsu Corp 測定装置
JP2012018195A (ja) * 2011-10-26 2012-01-26 Anritsu Corp 測定装置
JP2012018192A (ja) * 2011-10-26 2012-01-26 Anritsu Corp 測定装置
JP2012042482A (ja) * 2011-10-26 2012-03-01 Anritsu Corp 測定装置
JP2014119458A (ja) * 2012-12-13 2014-06-30 Tektronix Inc 試験及び計測機器及び入力信号処理方法並びにそのためのコンピュータープログラム
JP2019148489A (ja) * 2018-02-27 2019-09-05 日置電機株式会社 波形表示装置および波形表示方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE69127836T2 (de) 1998-05-20
EP0439157A2 (en) 1991-07-31
EP0439157A3 (en) 1992-05-13
US5075618A (en) 1991-12-24
EP0439157B1 (en) 1997-10-08
JP2891497B2 (ja) 1999-05-17
DE69127836D1 (de) 1997-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH03220464A (ja) スペクトラムアナライザ
EP0477379B1 (en) Waveform display apparatus for easily realizing high-definition waveform observation
US5579463A (en) Waveform display apparatus of frequency sweep type for facilitating display of a high definition waveform
US6229316B1 (en) Measuring method by spectrum analyzer
US5617523A (en) Waveform display apparatus for easily realizing high-definition waveform observation
US6681191B1 (en) Frequency domain analysis system for a time domain measurement instrument
JP2577566B2 (ja) スペクトラムアナライザ
JP2002005965A (ja) オシロスコープ動作方法
JP2002506525A5 (ja)
WO2007132660A1 (ja) 周波数成分測定装置
CN116430117A (zh) 测试和测量仪器中频谱和谱图属性的自动确定
JPH02280066A (ja) 周波数掃引型スペクトラム・アナライザの実応答及びスプリアス応答識別方法
JPH07209352A (ja) スペクトラム・アナライザ
CN116430116A (zh) 具有带有光标时间相关性的谱图的测试和测量仪器
US5550747A (en) Unbounded marker for spectrum analysis
EP1111396A2 (en) Frequency domain analysis system for a time domain measurement instrument
JP5220320B2 (ja) 信号解析装置及び信号解析方法
JP2009092497A (ja) 周波数特性測定装置
JP3127017B2 (ja) 周波数分析装置
JPH0769361B2 (ja) スペクトラムアナライザ
JP7177865B2 (ja) 測定装置とその補間方法
JPS5841502Y2 (ja) スペクトラム表示制御装置
JP2001249149A (ja) 信号分析装置
JP3131913B2 (ja) スペクトラムアナライザ
JPH0619395B2 (ja) スペクトラムアナライザ

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080226

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090226

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100226

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term