JPH0322464B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0322464B2 JPH0322464B2 JP17915085A JP17915085A JPH0322464B2 JP H0322464 B2 JPH0322464 B2 JP H0322464B2 JP 17915085 A JP17915085 A JP 17915085A JP 17915085 A JP17915085 A JP 17915085A JP H0322464 B2 JPH0322464 B2 JP H0322464B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- substrate
- water
- electron beam
- evaporation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
本発明は、半導体基板への電極形成、光学レン
ズのコーテイングなどに用いられる電子ビーム蒸
着装置に関する。
ズのコーテイングなどに用いられる電子ビーム蒸
着装置に関する。
電子ビーム蒸着装置は、水冷された蒸着ソース
ハース中の蒸着材料に電子ビームを照射して加熱
し蒸発させ、被蒸着体に付着させるものである。
この場合、蒸着膜質の制御は基板の加熱温度によ
つて行なうが、基板の加熱温度により限界があ
り、所望の膜質が精度よく得られない欠点があつ
た。
ハース中の蒸着材料に電子ビームを照射して加熱
し蒸発させ、被蒸着体に付着させるものである。
この場合、蒸着膜質の制御は基板の加熱温度によ
つて行なうが、基板の加熱温度により限界があ
り、所望の膜質が精度よく得られない欠点があつ
た。
本発明は、上述の欠点を除いて基板加熱温度を
高めることなく蒸着膜質を精度よく制御すること
ができる電子ビーム蒸着装置を提供することを目
的とする。
高めることなく蒸着膜質を精度よく制御すること
ができる電子ビーム蒸着装置を提供することを目
的とする。
本発明は、電子ビーム蒸着装置の蒸着ソースハ
ースの温度が蒸着膜質に大きな影響を及ぼすこと
に着目したもので、蒸着ソースハース冷却水の水
温調節手段を備えることにより、蒸着膜質を制御
して上記の目的を達成する。
ースの温度が蒸着膜質に大きな影響を及ぼすこと
に着目したもので、蒸着ソースハース冷却水の水
温調節手段を備えることにより、蒸着膜質を制御
して上記の目的を達成する。
第1図は本発明の一実施例を示す。蒸着室1は
真空ポンプ2により真空排気可能であり、天井面
に備えられた電子銃3に対向して蒸着ソースハー
ス4が配置されている。蒸着ソースハース4に収
容された蒸着材料5は電子銃3からの電子ビーム
により蒸発し、支持体6に取り付けられた基板7
上に蒸着膜を形成する。基板7は下方に配置され
た加熱ヒータ8により加熱される。蒸着ソースハ
ース4は銅あるいはステンレス鋼からなり、電子
ビームにより蒸発しないように水槽9からの水1
0により水冷されている。水槽9には本発明によ
り水温調整器11が備えられ、冷媒を用いての強
制冷却あるいはヒータによる加熱により水10の
温度を調整することができる。冷却水10の温度
を下げることにより基板7の加熱温度を下げるこ
とができる。例えばモリブデンを半導体基板上に
蒸着してシヨツトキーバリアダイオードを製造す
る際、従来は基板加熱温度によつて障壁高さを制
御していた。すなわち、障壁高さを高くするため
には基板温度を上げ、低くするためには基板温度
を下げる。しかし水10の温度を2℃下げること
により基板7の温度を約50℃下げて同等の障壁高
さを有するシヨツトキーバリアを得ることができ
る。この結果、従来350〜400℃であつた基板加熱
温度を低くできることにより、蒸着装置、例えば
パツキング等の寿命が長くなり、省エネルギーと
もなつて経済的効果が得られる。また蒸着室1を
開いて大気にさらす場合には、水10の温度を上
げ、蒸着ソースハース4へ露が結ぶことを防ぎ、
次の真空排気時間の短縮あるいは蒸着雰囲気中へ
の水蒸気の混入を阻止することができる。なお水
温の調整は冷却水10の水量を変化させることに
よつても行うことができる。
真空ポンプ2により真空排気可能であり、天井面
に備えられた電子銃3に対向して蒸着ソースハー
ス4が配置されている。蒸着ソースハース4に収
容された蒸着材料5は電子銃3からの電子ビーム
により蒸発し、支持体6に取り付けられた基板7
上に蒸着膜を形成する。基板7は下方に配置され
た加熱ヒータ8により加熱される。蒸着ソースハ
ース4は銅あるいはステンレス鋼からなり、電子
ビームにより蒸発しないように水槽9からの水1
0により水冷されている。水槽9には本発明によ
り水温調整器11が備えられ、冷媒を用いての強
制冷却あるいはヒータによる加熱により水10の
温度を調整することができる。冷却水10の温度
を下げることにより基板7の加熱温度を下げるこ
とができる。例えばモリブデンを半導体基板上に
蒸着してシヨツトキーバリアダイオードを製造す
る際、従来は基板加熱温度によつて障壁高さを制
御していた。すなわち、障壁高さを高くするため
には基板温度を上げ、低くするためには基板温度
を下げる。しかし水10の温度を2℃下げること
により基板7の温度を約50℃下げて同等の障壁高
さを有するシヨツトキーバリアを得ることができ
る。この結果、従来350〜400℃であつた基板加熱
温度を低くできることにより、蒸着装置、例えば
パツキング等の寿命が長くなり、省エネルギーと
もなつて経済的効果が得られる。また蒸着室1を
開いて大気にさらす場合には、水10の温度を上
げ、蒸着ソースハース4へ露が結ぶことを防ぎ、
次の真空排気時間の短縮あるいは蒸着雰囲気中へ
の水蒸気の混入を阻止することができる。なお水
温の調整は冷却水10の水量を変化させることに
よつても行うことができる。
本発明は、電子ビーム蒸着装置の蒸着ソースハ
ースの冷却水温度を調整可能にすることにより、
蒸着膜質を被蒸着基板の加熱温度の調整によらな
いで制御することができ、膜質の精度のよい制御
ができるほか、蒸着室開放時の露のソースハース
への付着を防止でき、また蒸着装置の寿命の延
長、省エネルギーなど得られる効果は極めて大き
い。
ースの冷却水温度を調整可能にすることにより、
蒸着膜質を被蒸着基板の加熱温度の調整によらな
いで制御することができ、膜質の精度のよい制御
ができるほか、蒸着室開放時の露のソースハース
への付着を防止でき、また蒸着装置の寿命の延
長、省エネルギーなど得られる効果は極めて大き
い。
第1図は本発明の一実施例の断面図である。
1:蒸着室、2:真空ポンプ、3…電子銃、
4:蒸着ソースハース、5:蒸着材料、7:被蒸
着基板、9:水槽、10:冷却水、11:水温調
整器。
4:蒸着ソースハース、5:蒸着材料、7:被蒸
着基板、9:水槽、10:冷却水、11:水温調
整器。
Claims (1)
- 1 蒸着ソースハースの冷却水の水温調整手段を
備えたことを特徴とする電子ビーム蒸着装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17915085A JPS6240366A (ja) | 1985-08-14 | 1985-08-14 | 電子ビ−ム蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17915085A JPS6240366A (ja) | 1985-08-14 | 1985-08-14 | 電子ビ−ム蒸着装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6240366A JPS6240366A (ja) | 1987-02-21 |
| JPH0322464B2 true JPH0322464B2 (ja) | 1991-03-26 |
Family
ID=16060835
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17915085A Granted JPS6240366A (ja) | 1985-08-14 | 1985-08-14 | 電子ビ−ム蒸着装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6240366A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2551179Y2 (ja) * | 1991-06-27 | 1997-10-22 | 山一電機株式会社 | Icソケット |
-
1985
- 1985-08-14 JP JP17915085A patent/JPS6240366A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6240366A (ja) | 1987-02-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5405517A (en) | Magnetron sputtering method and apparatus for compound thin films | |
| US2665225A (en) | Apparatus and process for coating by vapor deposition | |
| GB1392865A (en) | Method for controlling the composition of a deposited film | |
| JP4570232B2 (ja) | プラズマディスプレイ保護膜形成装置および保護膜形成方法 | |
| US2762722A (en) | Method and apparatus for coating by thermal evaporation | |
| US4997673A (en) | Method of forming aluminum nitride films by ion-assisted evaporation | |
| JPH0322464B2 (ja) | ||
| JP2002348658A (ja) | 蒸着源並びにそれを用いた薄膜形成方法及び形成装置 | |
| US3673006A (en) | Method and apparatus for surface coating articles | |
| US3603285A (en) | Vapor deposition apparatus | |
| US3795783A (en) | Apparatus for surface coating articles | |
| KR0160067B1 (ko) | 진공증착강판제조용 저항가열 증발원 | |
| JPH06212425A (ja) | 連続真空蒸着装置及び蒸着方法 | |
| KR20060030426A (ko) | 진공 증착장치 및 진공 증착 방법 | |
| KR100677908B1 (ko) | 유기물 증착장치의 도가니 및 이를 장착한 유기물 증착장치 | |
| US20050129848A1 (en) | Patterned deposition source unit and method of depositing thin film using the same | |
| JP2548387B2 (ja) | 液晶の配向膜の製造装置 | |
| JPH0527489Y2 (ja) | ||
| JPS6210298B2 (ja) | ||
| JPH0241165Y2 (ja) | ||
| JPH0379434B2 (ja) | ||
| JPH03202468A (ja) | 膜形成方法 | |
| JPS6059537A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| SU1671732A1 (ru) | Способ хромировани стальных изделий | |
| JPS58204173A (ja) | 蒸着装置および蒸着方法 |