JPH03225322A - 記録媒体 - Google Patents
記録媒体Info
- Publication number
- JPH03225322A JPH03225322A JP2018855A JP1885590A JPH03225322A JP H03225322 A JPH03225322 A JP H03225322A JP 2018855 A JP2018855 A JP 2018855A JP 1885590 A JP1885590 A JP 1885590A JP H03225322 A JPH03225322 A JP H03225322A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- light
- liquid crystal
- material layer
- recording
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Liquid Crystal (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は高分子液晶を用いた書き換え可能な記録媒体に
関する。
関する。
[従来の技術]
近年OAの普及等により、各種の情報データの量は増大
の一途をたどっている。このため、これらの情報データ
を高密度に蓄積する手段として、光デイスク記録装置の
開発が活発に行われている。しかしながら、情報の整理
、編集あるいはコンピューターにアクセスするためには
、記録材料として、情報の記録、消去を可逆的に行える
ことが必要不可欠であり、このような観点からカルコゲ
ナイドのような半導体、あるいは熱可塑性樹脂を記録材
料とする開発が進められている。しかし上記半導体では
毒性がある、或いは蒸着などの工程があるため、コスト
が高くなるという欠点があり、上記樹脂については、光
吸収剤として色素を用いるため、記録材料の寿命が短い
、あるいはコントラストが低く十分なSN比をとれない
という問題点があり、現在のところ実用化できるものは
見出されていない。
の一途をたどっている。このため、これらの情報データ
を高密度に蓄積する手段として、光デイスク記録装置の
開発が活発に行われている。しかしながら、情報の整理
、編集あるいはコンピューターにアクセスするためには
、記録材料として、情報の記録、消去を可逆的に行える
ことが必要不可欠であり、このような観点からカルコゲ
ナイドのような半導体、あるいは熱可塑性樹脂を記録材
料とする開発が進められている。しかし上記半導体では
毒性がある、或いは蒸着などの工程があるため、コスト
が高くなるという欠点があり、上記樹脂については、光
吸収剤として色素を用いるため、記録材料の寿命が短い
、あるいはコントラストが低く十分なSN比をとれない
という問題点があり、現在のところ実用化できるものは
見出されていない。
上記、問題点を解決するものとして、特開昭58−12
5247には、高分子液晶の透明な配列状態と不透明な
ランダム状態とを、熱と電界によって可逆的に変化させ
ることを特徴とする、記録材料が開示されている。ここ
では熱はレーザー光を光吸収剤に照射することにより発
生させることができ、すなわち、書き込み手段として、
レーザ光を用いることができる。このような例は特開昭
60−114823にも開示されており、高分子液晶と
しポリシロキサンが使用されている。
5247には、高分子液晶の透明な配列状態と不透明な
ランダム状態とを、熱と電界によって可逆的に変化させ
ることを特徴とする、記録材料が開示されている。ここ
では熱はレーザー光を光吸収剤に照射することにより発
生させることができ、すなわち、書き込み手段として、
レーザ光を用いることができる。このような例は特開昭
60−114823にも開示されており、高分子液晶と
しポリシロキサンが使用されている。
高分子液晶を記録材料として利用する記録媒体を繰返し
使用するためには記録した状態(−般的には不透明なラ
ンダム状態)を基の状態(一般的には透明な配列状態)
に戻す必要がある。この様にランダム状態から配列状態
に戻すために従来より種々の方法が提案されているが、
高分子液晶を液晶温度まで加熱し外部より電界を印加す
るというのが一般的である。外部電界を使用することは
システムが複雑となり、更に高速化、オーバーライド等
が難しくなる。
使用するためには記録した状態(−般的には不透明なラ
ンダム状態)を基の状態(一般的には透明な配列状態)
に戻す必要がある。この様にランダム状態から配列状態
に戻すために従来より種々の方法が提案されているが、
高分子液晶を液晶温度まで加熱し外部より電界を印加す
るというのが一般的である。外部電界を使用することは
システムが複雑となり、更に高速化、オーバーライド等
が難しくなる。
[発明が解決しようとする課題]
本発明は、光照射による光吸収性物質層の発熱による温
度変化で強誘電性物質より発生する焦電電流を電極間に
通じることにより、記録層に熱及び電界を印加し、高分
子液晶を再配列し、記録の消去ができる記録媒体を提供
しようとするものである。
度変化で強誘電性物質より発生する焦電電流を電極間に
通じることにより、記録層に熱及び電界を印加し、高分
子液晶を再配列し、記録の消去ができる記録媒体を提供
しようとするものである。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決するための本発明の構成は、電極、ポー
リング処理した強誘電性物質層、光吸収性物質層、配向
層、高分子液晶から成る記録層及び透明電極層を順次積
層した層構成を基本的に有する記録媒体である。
リング処理した強誘電性物質層、光吸収性物質層、配向
層、高分子液晶から成る記録層及び透明電極層を順次積
層した層構成を基本的に有する記録媒体である。
具体的に説明すると、本発明は温度変化により強誘電電
流を発生する性質を示す焦電性物質層と高分子液晶から
なる記録層と光吸収性物質層とを一体化し、光照射によ
る光吸収層の発熱による温度変化で発生する焦電電流を
電極間に通じることによって記録層に電界及び熱を印加
し、高分子液晶を再配列することによって記録の消去が
できるようにした記録媒体である。
流を発生する性質を示す焦電性物質層と高分子液晶から
なる記録層と光吸収性物質層とを一体化し、光照射によ
る光吸収層の発熱による温度変化で発生する焦電電流を
電極間に通じることによって記録層に電界及び熱を印加
し、高分子液晶を再配列することによって記録の消去が
できるようにした記録媒体である。
又分極量をP1温度をTとすれば焦電率PYはPY−d
P/dTで表わされ、焦電電流をIPs時間をtとすれ
ばP−IPXtであるので、I p =Py XdT/
dTとなる。すなわち焦電電流は温度変化に伴う分極量
の大きさで決定される。代表的な強誘電性物質であるフ
ッ化ビニリデンとトリフルオロエチレンとの共重合体[
P(VDF/TrFE)]の誘電ヒステリシス曲線及び
EcSPrの値を下記第1表及び第3図に示す。
P/dTで表わされ、焦電電流をIPs時間をtとすれ
ばP−IPXtであるので、I p =Py XdT/
dTとなる。すなわち焦電電流は温度変化に伴う分極量
の大きさで決定される。代表的な強誘電性物質であるフ
ッ化ビニリデンとトリフルオロエチレンとの共重合体[
P(VDF/TrFE)]の誘電ヒステリシス曲線及び
EcSPrの値を下記第1表及び第3図に示す。
第1表
強誘電性物質より焦電電流を得るには外部より電界を加
えて分極の向きを揃える必要、すなわちポーリング処理
を施し、適当な方法で温度変化をつければ良い。ポーリ
ング処理は強誘電性物質を電極ではさみ、抗電界以上の
電界を印加するか、強誘電性物質層の片側にのみ電極を
設けた状態で適当なチャージャーにてコロナ帯電を施し
、表面電位を抗電界電位以上に上げることにより行うこ
とができる。
えて分極の向きを揃える必要、すなわちポーリング処理
を施し、適当な方法で温度変化をつければ良い。ポーリ
ング処理は強誘電性物質を電極ではさみ、抗電界以上の
電界を印加するか、強誘電性物質層の片側にのみ電極を
設けた状態で適当なチャージャーにてコロナ帯電を施し
、表面電位を抗電界電位以上に上げることにより行うこ
とができる。
図面を参照して基本的な層構成を説明すると、第1図に
示すように基板1の上に透明電極2、配向層3、高分子
液晶層4、光吸収性物質層5、強誘電性物質層B及び電
極7を順に積層したものである。
示すように基板1の上に透明電極2、配向層3、高分子
液晶層4、光吸収性物質層5、強誘電性物質層B及び電
極7を順に積層したものである。
第2図は第1図に示した例とは反対に、基板lの上に電
極7、強誘電性物質層6、光吸収性物質層5、配向層3
、高分子液晶層4、透明電極2の順に積層した例である
。
極7、強誘電性物質層6、光吸収性物質層5、配向層3
、高分子液晶層4、透明電極2の順に積層した例である
。
このようして作製された記録媒体は液晶温度でアニール
処理することにより均一な配向状態を得ることができる
。
処理することにより均一な配向状態を得ることができる
。
この記録媒体に半導体レーザー光のような高密度エネル
ギー光を透明電極側より記録信号に従って局所的に照射
すること等により相転移温度、あるいは透明点を経て加
熱され、その後冷却することにより、照射部分は光散乱
、光学活性、複屈折又は光吸収の差が生じ、記録が形成
される。
ギー光を透明電極側より記録信号に従って局所的に照射
すること等により相転移温度、あるいは透明点を経て加
熱され、その後冷却することにより、照射部分は光散乱
、光学活性、複屈折又は光吸収の差が生じ、記録が形成
される。
記録の消去は透明電極と電極を短絡させて光照射し、高
分子液晶層を液晶温度にし、かつ光照射による光吸収性
物質層の発熱による強誘電性物質層の温度変化により焦
電電流を発生させ電界を印加することにより行われる。
分子液晶層を液晶温度にし、かつ光照射による光吸収性
物質層の発熱による強誘電性物質層の温度変化により焦
電電流を発生させ電界を印加することにより行われる。
本発明で用いられる高分子液晶は公知のものが利用でき
、液晶基を主鎖ないし側鎖に有するものであり、その平
均分子量は500以上のものである。
、液晶基を主鎖ないし側鎖に有するものであり、その平
均分子量は500以上のものである。
又、高分子液晶は架橋されているものであってもよい。
更に架橋は光架橋であればなお好ましい。
以下に用いる高分子液晶の具体例を挙げる。
なお、
具体例において*は不斉炭素原子であることを示す。
O2
CR3
(CH2)支
N
なし
N
2)
Hs
9
?
一−Dc4CN
0
一吠◇%CN
1
一←◇()cN
02
(CH2)I
CH3
O
0(Co(CH2) ll−C0+ v−C0−0C
H2−CH−C2 I3 5 co−ベへo−c−)o− このような高分子液晶は通常単独ないし混合されて使用
され、 更に他の低分子液晶を加えて 使用される。
H2−CH−C2 I3 5 co−ベへo−c−)o− このような高分子液晶は通常単独ないし混合されて使用
され、 更に他の低分子液晶を加えて 使用される。
この低分子液晶は高分子液晶の粘
度、相転移温度等をコントロールして、記録特性及び消
去特性の改善を目的とするもので、ネマチックやスメチ
ックあるいはコレステリック液晶で公知の低分子液晶が
利用できる。
去特性の改善を目的とするもので、ネマチックやスメチ
ックあるいはコレステリック液晶で公知の低分子液晶が
利用できる。
このような高分子液晶を使用して、例えばメチルエチル
ケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等
のケトン系、酢酸ブチル、酢酸エチル、カルピトールア
セテート、ブチルカルピトールアセテート等のエステル
系、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、テトラヒド
ロフラン等のエーテル系、ないしトルエン、キシレン等
の芳香族系、ジクロロエタン等のハロゲン化アルキル系
、N、N−ジメチルホルムアミド、アルコール系等の溶
媒に溶解して、例えばスピンコード、デイツプ等のコー
ディングにより記録媒体を作製することができる。
ケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等
のケトン系、酢酸ブチル、酢酸エチル、カルピトールア
セテート、ブチルカルピトールアセテート等のエステル
系、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、テトラヒド
ロフラン等のエーテル系、ないしトルエン、キシレン等
の芳香族系、ジクロロエタン等のハロゲン化アルキル系
、N、N−ジメチルホルムアミド、アルコール系等の溶
媒に溶解して、例えばスピンコード、デイツプ等のコー
ディングにより記録媒体を作製することができる。
又、セル型の構造を有する記録媒体には直接充填するこ
とも可能である。
とも可能である。
場合によっては一度昇温し、徐冷して相を形成させる。
その時は必要に応じて電場や磁場を印加する。
なお、液晶層の厚さは0.01−100μ腸程度とされ
る。
る。
更に高分子液晶層中には光吸収性物質の1種以上が含有
されていてもよい。
されていてもよい。
光吸収性物質は例えばレーザーのような光で制御、使用
され、場合によっては多色性色素も使用される。これら
の光吸収性物質の光吸収は使用されるレーザーの波長に
適応すべきである。
され、場合によっては多色性色素も使用される。これら
の光吸収性物質の光吸収は使用されるレーザーの波長に
適応すべきである。
種々のレーザーの波長を用いて記録読み取り過程を行う
べき場合には使用されるレーザーの波長範囲で高い吸収
を示す光吸収性物質の混合物を用いることが好ましい。
べき場合には使用されるレーザーの波長範囲で高い吸収
を示す光吸収性物質の混合物を用いることが好ましい。
具体的に例を挙げると、下記のとおりである。
(アゾ染料)
例えば、
−1
H3
(アズレン染料)
(フタロシアニン)
例えば、
R−アルキル基
式中R
−n−CtzH2s
(ナフタロシアニン)
又は
(金属錯体)
例えば、
で・ある。
これ等の物質は溶解又は分散して使用され、例えば、U
V安定剤、酸化防止剤、又は軟化剤等を含有することが
でき、キャスティング1蒸着等で成膜し、光吸収性物質
層を形成することができる。更にCr、Ge、N15T
is Pt5A1等の金属材料を蒸着、スパッタリング
等で設け、光吸収性物質層とすることができる。これら
の金属材料は電極としても作用するので好都合である。
V安定剤、酸化防止剤、又は軟化剤等を含有することが
でき、キャスティング1蒸着等で成膜し、光吸収性物質
層を形成することができる。更にCr、Ge、N15T
is Pt5A1等の金属材料を蒸着、スパッタリング
等で設け、光吸収性物質層とすることができる。これら
の金属材料は電極としても作用するので好都合である。
焦電電流について簡単に説明する。強誘電性物質に交流
電界を印加すると第4図の様な誘電ヒステリシス曲線が
得られる。ここでX軸と交叉する点を抗電界Ec (
分極を反転させるのに必要な最小の電界)、Y軸と交叉
する点を残留分極Pr(電界0で残留している分極量)
と−般に定義されている。強誘電性物質は一般的に微結
晶がアモルファス中に分散した構造であり、結晶全体の
分極が揃ったり、反転したりすることにより、このよう
なヒステリシス曲線が得られる。抗電界、残留分極は温
度に依存し、高温になるに従い、小さくなり、キュリー
温度を越えると消失する(詳しくは古川猛夫 高分子加
工85巻9号1986年) 本発明で使用することのできる強誘電性物質はポリフッ
化ビニリデン、フッ化ビニリデンとトリフルオロエチレ
ンとの共重合体、フッ化ビニリデンとテトラフルオロエ
チレンとの共重合体、ポリシアン化ビニリデン等であり
、テトラヒドロフラン、メチルエチルケトン、N、N−
ジメチルホルムアミド、N、N−ジメチルアセトアミド
、アセトン等に溶解し適当なキャスト法で製膜し強誘電
性物質層を得ることができる。更に真空蒸着法によって
も製膜することができる。
電界を印加すると第4図の様な誘電ヒステリシス曲線が
得られる。ここでX軸と交叉する点を抗電界Ec (
分極を反転させるのに必要な最小の電界)、Y軸と交叉
する点を残留分極Pr(電界0で残留している分極量)
と−般に定義されている。強誘電性物質は一般的に微結
晶がアモルファス中に分散した構造であり、結晶全体の
分極が揃ったり、反転したりすることにより、このよう
なヒステリシス曲線が得られる。抗電界、残留分極は温
度に依存し、高温になるに従い、小さくなり、キュリー
温度を越えると消失する(詳しくは古川猛夫 高分子加
工85巻9号1986年) 本発明で使用することのできる強誘電性物質はポリフッ
化ビニリデン、フッ化ビニリデンとトリフルオロエチレ
ンとの共重合体、フッ化ビニリデンとテトラフルオロエ
チレンとの共重合体、ポリシアン化ビニリデン等であり
、テトラヒドロフラン、メチルエチルケトン、N、N−
ジメチルホルムアミド、N、N−ジメチルアセトアミド
、アセトン等に溶解し適当なキャスト法で製膜し強誘電
性物質層を得ることができる。更に真空蒸着法によって
も製膜することができる。
配向層の材料としてはポリイミド、ポリビニルアルコー
ル、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデンなどの有機高分
子材料やシランカップリング剤、あるいはSiO等の酸
化物が適している。
ル、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデンなどの有機高分
子材料やシランカップリング剤、あるいはSiO等の酸
化物が適している。
[実施例コ
以下、実施例によって本発明を具体的に説明する。
1 、2mm厚のガラス基板上に電極としてITO(ス
ズをドープした酸化インジウム)をスパッタで設け、次
にP (VDF/TrFE)(共重合比65/35(仏
)アトケム社製)のメチルエチルケトン溶液を用意し、
スピナーにてITO上に塗布し、100℃で乾燥し、膜
厚0.5μ腸の強誘電性物質層を設けた。次に強誘電性
物質層上にCrを100OXの厚さに蒸着し、光吸収性
物質層とした。
ズをドープした酸化インジウム)をスパッタで設け、次
にP (VDF/TrFE)(共重合比65/35(仏
)アトケム社製)のメチルエチルケトン溶液を用意し、
スピナーにてITO上に塗布し、100℃で乾燥し、膜
厚0.5μ腸の強誘電性物質層を設けた。次に強誘電性
物質層上にCrを100OXの厚さに蒸着し、光吸収性
物質層とした。
この光吸収性物質層は導電層としても作用する程度の電
気抵抗を有している(〜50Ω/口)。
気抵抗を有している(〜50Ω/口)。
次にポリビニルアルコールの水/メタノール溶液を用意
し、スピナーにて光吸収性物質上に乾燥後の膜厚が10
00人になるように塗布し、100g/ci+’の圧力
で5回のラビング処理を施し、配向層とした。次に高分
子液晶Lc34をテトラヒドロフランに溶解し、スピナ
ーにて配向層上に塗布し、2μ層厚の高分子液晶層を設
けた。次に高分子液晶層上に酸化亜鉛をスパッタにて成
膜し透明電極層を設け、第2図の構成の記録媒体を作製
した。
し、スピナーにて光吸収性物質上に乾燥後の膜厚が10
00人になるように塗布し、100g/ci+’の圧力
で5回のラビング処理を施し、配向層とした。次に高分
子液晶Lc34をテトラヒドロフランに溶解し、スピナ
ーにて配向層上に塗布し、2μ層厚の高分子液晶層を設
けた。次に高分子液晶層上に酸化亜鉛をスパッタにて成
膜し透明電極層を設け、第2図の構成の記録媒体を作製
した。
この記録媒体を150℃でアニール処理することにより
高分子液晶が配向し、配向性の良い記録媒体が得られた
。次にITO電極とCr層(光吸収性物質層)間に30
vの直流を印加し強誘電性物質層をポーリング処理した
。
高分子液晶が配向し、配向性の良い記録媒体が得られた
。次にITO電極とCr層(光吸収性物質層)間に30
vの直流を印加し強誘電性物質層をポーリング処理した
。
このようにして処理した記録媒体に780n■の半導体
レーザー光をスポット径5μ観に絞り照射強度1 、2
mWでlμSee基板側より照射し、偏光顕微鏡で観察
したところレーザー光が照射された部分の高分子液晶層
は配向が乱れ、クロスニコル下で暗の状態の記録部が形
成されていた。
レーザー光をスポット径5μ観に絞り照射強度1 、2
mWでlμSee基板側より照射し、偏光顕微鏡で観察
したところレーザー光が照射された部分の高分子液晶層
は配向が乱れ、クロスニコル下で暗の状態の記録部が形
成されていた。
次に酸化亜鉛透明電極層とCr層を短絡した状態で、基
板側より 780nwの半導体レーザー光をスポット径
5μ園に絞り、照射光強度51Wで2μSee記録部に
照射したところ、記録部゛の乱れた配向が再配向し、記
録が消去されていた。
板側より 780nwの半導体レーザー光をスポット径
5μ園に絞り、照射光強度51Wで2μSee記録部に
照射したところ、記録部゛の乱れた配向が再配向し、記
録が消去されていた。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の記録媒体は強誘電性物質
層の温度変化により発生する焦電電流がもたらす電界の
効果により迅速に消去することが可能である。
層の温度変化により発生する焦電電流がもたらす電界の
効果により迅速に消去することが可能である。
第1図及び第2図は本発明の記録媒体の具体例の構成を
示す断面の模式図である。 第3図及び第4図は誘電ヒステリシス曲線を説明するた
めのグラフである。 l・・・基板、2・・・透明電極、3・・・配向層、4
・・・高分子液晶層、5・・・光吸収性物質層、B・・
・強誘電性物質層、7・・・電極。 第 図
示す断面の模式図である。 第3図及び第4図は誘電ヒステリシス曲線を説明するた
めのグラフである。 l・・・基板、2・・・透明電極、3・・・配向層、4
・・・高分子液晶層、5・・・光吸収性物質層、B・・
・強誘電性物質層、7・・・電極。 第 図
Claims (1)
- (1)電極、ポーリング処理した強誘電性物質層、光吸
収性物質層、配向層、高分子液晶から成る記録層及び透
明電極層を順次積層した層構成を基本的に有する記録媒
体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018855A JPH03225322A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018855A JPH03225322A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03225322A true JPH03225322A (ja) | 1991-10-04 |
Family
ID=11983154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018855A Pending JPH03225322A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03225322A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08181199A (ja) * | 1994-09-13 | 1996-07-12 | Hughes Aircraft Co | 光学的に監視可能な透明な光学チャック |
| WO2000073061A3 (en) * | 1999-03-12 | 2001-06-28 | Rexam Inc | Bright metallized film laminate |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2018855A patent/JPH03225322A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08181199A (ja) * | 1994-09-13 | 1996-07-12 | Hughes Aircraft Co | 光学的に監視可能な透明な光学チャック |
| WO2000073061A3 (en) * | 1999-03-12 | 2001-06-28 | Rexam Inc | Bright metallized film laminate |
| US6287672B1 (en) | 1999-03-12 | 2001-09-11 | Rexam, Inc. | Bright metallized film laminate |
| US6565955B2 (en) | 1999-03-12 | 2003-05-20 | Soliant Llc | Bright indium-metallized formable film laminate |
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