JPH0323633B2 - - Google Patents
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- JPH0323633B2 JPH0323633B2 JP56185151A JP18515181A JPH0323633B2 JP H0323633 B2 JPH0323633 B2 JP H0323633B2 JP 56185151 A JP56185151 A JP 56185151A JP 18515181 A JP18515181 A JP 18515181A JP H0323633 B2 JPH0323633 B2 JP H0323633B2
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- Japan
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- group
- group element
- substrate
- derivative
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は第−族合金即ち化合物(以下化合
物と呼ぶ)の製造に関する。特に本発明は製造し
ようとする化合物の前記物質を、特に何もしなけ
れば冷い環境の下で、加熱された基体上に付着さ
せることに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to the production of Group-3 alloys or compounds (hereinafter referred to as compounds). In particular, the present invention relates to the deposition of said substance of the compound to be prepared onto a heated substrate in an otherwise cold environment.
有機金属化学蒸着法(以下MOCVD法と呼ぶ)
が提案されてきている。この方法は冷いガス状反
応物の流れを通常キヤリアーガスと混合して熱い
基体に衝突させることからなり、例えばキヤリア
ーガスとして水素を用いたトリメチルガリウムと
砒化水素との反応を挙げることができる。この反
応は次の式によつて表すことができる。 Metal-organic chemical vapor deposition method (hereinafter referred to as MOCVD method)
has been proposed. The process consists of impinging a stream of cold gaseous reactants, usually mixed with a carrier gas, against a hot substrate, such as the reaction of trimethylgallium with hydrogen arsenide using hydrogen as the carrier gas. This reaction can be expressed by the following equation.
(i) Ca(CH3)3(気)+AsH3(気)
H2・高温
――――→
基体CaAs(固)+3CH4(気)
例えば燐化インジウムのように、第族元素が
インジウムである第族第族化合物の製造に同
様な反応を適用しようとする試みは、トリアルキ
ルインジウムと第族元素水素化物、例えば燐化
水素及び砒化水素とが低温中で一緒に反応し、熱
い基体に到達する前に不揮発性重合物質を形成す
るので充分な成功は得られていない。重合体の形
成は次の式で要約することができる。(i) Ca (CH 3 ) 3 (air) + AsH 3 (air) H 2 / High temperature---→ Substrate CaAs (solid) + 3CH 4 (air) For example, when the group element is indium, such as indium phosphide. Attempts to apply similar reactions to the production of certain Group Group compounds have been made by reacting trialkylindium and Group element hydrides, such as hydrogen phosphide and hydrogen arsenide, together at low temperatures and applying them to a hot substrate. This has not been met with sufficient success because non-volatile polymeric substances are formed before reaching the target. The formation of the polymer can be summarized by the following equation.
(ii)
(式中、R=アルキル、Xは第族元素)この種
の反応アール・ジヂエンコ(R.Didchenko)その
他によるJ.In.Org.Nuc.Chem.14、35(1960)に記
載されている。この重合物質の形成は気相反応物
を枯渇させ、生成物の成長速度を低下し、形態を
悪くする結果を惹き起す。更に生成物中に存在す
るインジウムの量の正確な調節は、インジウム化
合物の気相濃度が上で示した如き反応(ii)によつて
変化していくので不可能である。トリメチルガリ
ウムと砒化水素は対応する重合物質を問題になる
程生ずることはない。(ii) (wherein R=alkyl, X is a group element) This type of reaction is described by R. Didchenko et al. in J. In. Org. Nuc. Chem. 14 , 35 (1960). The formation of this polymeric material depletes the gas phase reactants, resulting in reduced product growth rates and poor morphology. Moreover, precise control of the amount of indium present in the product is not possible since the gas phase concentration of the indium compound is changed by reaction (ii) as indicated above. Trimethyl gallium and hydrogen arsenide do not significantly form the corresponding polymeric substances.
本発明によれば、第5族元素水素化物と第族
元素のアルキル誘導体とを熱い基体に衝突させて
反応させる代りに、第族元素のアルキル誘導体
に電子密度を賦与し、それによつて該誘導体を、
不揮発性重合体を形成する、第族水素化物との
反応を受けることがない弱いルイス酸にする。然
る後、この変性された誘導体は、必要な第族元
素の水素化物と混合して、加熱させたサセプター
(susceptor)板上の基体へ運び、そこで必要な第
族−第族化合物を付着させる。ルイス酸はこ
こでは電子が不足し、電子受容体である元素又は
化合物として定義し、ルイス塩基は過剰の電子を
もち、電子供与体である元素又は化合物として定
義する。 According to the present invention, instead of causing the group 5 element hydride and the group element alkyl derivative to react by colliding with a hot substrate, electron density is imparted to the group group element alkyl derivative, thereby making the derivative of,
It is a weak Lewis acid that does not undergo reaction with group hydrides to form non-volatile polymers. This modified derivative is then mixed with the required Group element hydride and conveyed to the substrate on a heated susceptor plate where the required Group-Group compound is deposited. . A Lewis acid is defined herein as an element or compound that is electron deficient and is an electron acceptor, and a Lewis base is defined as an element or compound that has an excess of electrons and is an electron donor.
本発明による第一の方法は、(i)希望の第族元
素のアルキル誘導体と、(ii)第族元素のアルキル
誘導体とを反応させて揮発性中間体を形成し、然
る後のそ揮発性中間体と(iii)希望の第族元素の水
素化物とを水素ガスの流れ中のガスとして運び熱
い基体に衝突させる。この方法で第族元素のア
ルキル誘導体に、それと第族元素のアルキル誘
導体との反応で電子密度が賦与され、揮発性中間
体が形成される。この揮発性中間体は第族元素
水素化物と熱い基体上で反応する。反応は次の式
によつて表すことができる。 A first method according to the invention involves reacting (i) the desired alkyl derivative of the group element with (ii) the alkyl derivative of the group element to form a volatile intermediate, which is then evaporated. The intermediate and (iii) the desired Group element hydride are carried as a gas in a hydrogen gas stream and impinged on the hot substrate. In this way, the alkyl derivative of the group element is endowed with electron density by reaction with the alkyl derivative of the group element, forming a volatile intermediate. This volatile intermediate reacts with the Group element hydride on the hot substrate. The reaction can be represented by the following equation.
MR3(気)+XR′3(気) H2
――→
低温
R3M・XR′3(気)
R3M・XR′3(気)+X′H3(気)
H2
―――→
高温板MX′+XR′3+3RH
式中、Mは第族元素、XとX′は第族元素、
RとR′はアルキル基である。XはX′と同じでも
よいがそうである必要はなく、RはR′と同じで
もよいが、そうである必要はない。RとR′はメ
チル又はエチル基であるのが好ましい。MR 3 (Ki) + XR′ 3 (Ki) H 2 --→ Low temperature R 3 M・XR′ 3 (Ki) R 3 M・XR′ 3 (Ki) + X′H 3 (Ki)
H 2 ---→ High temperature plate MX'+XR' 3 +3RH In the formula, M is a group element, X and X' are group elements,
R and R' are alkyl groups. X may be, but need not be, the same as X', and R may be, but need not be, the same as R'. Preferably R and R' are methyl or ethyl groups.
上記式において、MR3は冷い時にXR′3と反応
し、形成された化合物R3M・XR′3は、XR′3が
X′H3より強いルイス塩基なのでX′H3の存在でも
安定であり、従つて望ましくない重合体の形成は
止まる。 In the above formula, MR 3 reacts with XR′ 3 when cold, and the compound R 3 M·XR′ 3 formed is
Since it is a stronger Lewis base than X'H 3 , it is stable in the presence of X'H 3 and thus the formation of undesirable polymers is stopped.
本発明による第二の方法は、希望の第族元素
のアルキル誘導体のアルキル基を、電子供与基で
置換し、然る後得られた第族元素の置換アルキ
ル誘導体を、水素ガス流中の必要な第族元素水
素化物と混合して熱い基体へ運ぶことからなる。 A second process according to the invention involves substituting the alkyl group of the desired alkyl derivative of the group element with an electron donating group, and then displacing the obtained substituted alkyl derivative of the group element in a stream of hydrogen gas as required. consisting of mixing with a group element hydride and transporting it to a hot substrate.
この方法で、第族元素の置換アルキル誘導体
で、置換してない第族元素のアルキル誘導体よ
り弱いイス酸であるものが調製される。この第
族元素の置換アルキル誘導体は、MOCVD法で
用いると、それが熱い基体に達する迄第族元素
水素化物と反応しない。 In this way substituted alkyl derivatives of group elements are prepared which are weaker isic acids than unsubstituted alkyl derivatives of group elements. This substituted alkyl derivative of the Group element does not react with the Group element hydride when used in the MOCVD process until it reaches the hot substrate.
本発明を次の実施例及び、本発明の方法を実施
するための装置の概略図である付図に関連して記
述する。 The invention will now be described with reference to the following examples and the accompanying drawings, which are schematic illustrations of apparatus for carrying out the method of the invention.
例示した装置は外部冷却用ジヤケツト9に冷却
用水を流通させるための入口及び出口管2及び3
のついた水冷容器1を有する。容器1の内部には
黒鉛台4があり、その上に蒸着のための基体5が
置かれている。容器1の外から伸びた熱電対6は
台4の内部へ入り、容器の外側は誘導加熱コイル
7によつて取り囲まれている。容器の内部は排気
管8を有する。これらの点では本発明は
MOCVD用標準反応容器であるが、但し水冷ジ
ヤケツト9は短くなつていて、容器1の蒸気入口
端部は覆つていない。その理由は明らかであろ
う。 The illustrated device includes inlet and outlet pipes 2 and 3 for communicating cooling water to an external cooling jacket 9.
It has a water-cooled container 1 with a . Inside the container 1 is a graphite table 4, on which a substrate 5 for vapor deposition is placed. A thermocouple 6 extending from the outside of the container 1 enters the inside of the stand 4, and the outside of the container is surrounded by an induction heating coil 7. The interior of the container has an exhaust pipe 8. In these respects, the present invention
A standard reaction vessel for MOCVD, except that the water cooling jacket 9 is shortened and the steam inlet end of the vessel 1 is not covered. The reason should be obvious.
容器1の入口端には、本発明により付加体即ち
化合物への反応のための蒸気流の入口通路10が
ある。通路10は第族アルキル誘導体蒸気のた
めの軸方向の入口11と電子付与蒸気を入れるた
めの入口11に隣接した径方向の入口12を有す
る。調節板13は径方向の入口12の前の通路を
制限し、部分的に閉じた反応室を定めるようにし
である。調節板13の直ぐ正面には、H2Sと
ZnMe2の如きドープ剤のための径方向の入口1
4がある。通路は容器1の中へ伸び、容器内部と
通路10とを通じさせるための側孔15を有す
る。径方向の入口16が、第族水素化物蒸気の
ために容器の水冷ジヤケツト9の外側部に取りつ
けてある。 At the inlet end of the vessel 1 there is an inlet passage 10 for the flow of vapor for reaction to adducts or compounds according to the invention. The passageway 10 has an axial inlet 11 for group alkyl derivative vapor and a radial inlet 12 adjacent to the inlet 11 for admitting electron donating vapor. The baffle plate 13 is such that it limits the passage in front of the radial inlet 12 and defines a partially closed reaction chamber. Immediately in front of the adjustment plate 13 are H 2 S and
Radial inlet 1 for dopant such as ZnMe 2
There are 4. The passage extends into the container 1 and has a side hole 15 for communicating the interior of the container with the passage 10. A radial inlet 16 is attached to the outer side of the water cooling jacket 9 of the vessel for the group hydride vapor.
ヒーターテープの如き手段が入口通路10の温
度を上昇させるために配備されており、典型的に
は周囲より20°高い温度へ上昇させ、通路10で
生じた付加物即ち化合物の凝集を防いでいる。前
に言及した水冷ジヤケツトを短くすることにより
早過ぎる凝集も阻止されている。 Means such as a heater tape is provided to increase the temperature of the inlet passageway 10, typically to 20° above ambient, to prevent agglomeration of adducts or compounds formed in the passageway 10. . Premature agglomeration is also prevented by shortening the water cooling jacket mentioned earlier.
次に特定の実施例に言及する。 Reference will now be made to specific examples.
実施例 1
水素中にトリメチルインジウム10-4モル分率い
れたものからなる第一低温蒸気流を入口11から
通路10へ流し、同じ濃度のトリエチルホスフイ
ンを水素中に入れたものからなる第二低温蒸気流
を入口12から通路10へ流す。それらの流れは
反応室内で反応し、揮発性付加物を与え、それは
入口15から容器1へ入り、入口16から容器へ
入つた同じく水素と混合された約15倍の量のホス
フインを含む第三低温蒸気流と接触する。混合し
た蒸気流は、加熱された基体5(典型的には650°
±50℃)に衝突して燐インジウムを付着した。反
応は次式によつて表すことができる。Example 1 A first cryogenic vapor stream consisting of 10 -4 moles of trimethylindium in hydrogen was passed from inlet 11 to passage 10, and a second stream consisting of the same concentration of triethylphosphine in hydrogen. A stream of cold steam flows from inlet 12 into passageway 10. Those streams react in the reaction chamber to give a volatile adduct, which enters vessel 1 through inlet 15 and a third substance containing about 15 times the amount of phosphine, also mixed with hydrogen, which enters the vessel through inlet 16. Contact with cold vapor stream. The mixed vapor stream is directed over a heated substrate 5 (typically 650°
±50℃) to deposit indium phosphorus. The reaction can be expressed by the following equation.
InMe3+PEt3H2(気)
――――→
低温Me3In・PEt3
Me3In・PEt3+PH3
H2(気)
――――→
高温基体InP+PEt3+3MeH
付着速度は蒸気流導入量を流量調節器を用いて
調節することにより、単位面積当り約5〜6ミク
ロン/時に調節した。InMe 3 +PEt 3 H 2 (air) ――――→ Low temperature Me 3 In・PEt 3 Me 3 In・PEt 3 +PH 3 H 2 (air) ――――→ High temperature substrate InP + PEt 3 +3MeH Deposition speed is determined by introduction of vapor flow The amount was adjusted to approximately 5-6 microns/hour per unit area by adjusting the amount using a flow regulator.
更に次の実施例では反応装置及び条件は上述し
たのと同様にした。 Additionally, in the following examples, the reactor and conditions were similar to those described above.
実施例 2
MOCVD法により高温基体上に砒化インジウ
ムをつくつた。この場合トリメチルインジウムと
トリエチルアルシン、次いで過剰量のアルシンを
低温水素ガス流中で一緒、基体に衝突させた。反
応は次の式で表すことができる。Example 2 Indium arsenide was produced on a high temperature substrate by the MOCVD method. In this case, trimethylindium and triethylarsine, followed by excess arsine, were bombarded together in a stream of cold hydrogen gas onto the substrate. The reaction can be expressed by the following equation.
InMe3+AsEt3〓〓
Me3In・AsEt3+AsH3
H2
――→
低温InAs+AsEt3+3MeH
実施例 3
MOCVD法により熱い基体上に燐化インジウ
ムをつくつた。この場合トリエチルインジウムと
トリエチルアミン、次いで過剰量のホスフインを
低温水素ガス流中で一緒にし、基体に衝突させ
た。反応は次の式によつて表すことができる。InMe 3 +AsEt 3 〓〓 Me 3 In・AsEt 3 +AsH 3 H 2 ---→ Low temperature InAs + AsEt 3 +3MeH Example 3 Indium phosphide was produced on a hot substrate by the MOCVD method. In this case, triethylindium and triethylamine, followed by an excess of phosphine, were combined in a stream of cold hydrogen gas and impinged on the substrate. The reaction can be represented by the following equation.
InEt3+NEt3
H2
――→
低温Et3In・NEt3
Et3In・NEt3+PH3
H2
―――→
高温基体InP+NEt3+3EtH
実施例 4
MOCVD法により熱い基体上に砒化ガリウム
インジウム三成分合金をつくつた。この場合トリ
メチルガリウム、トリメチルインジウム及びトリ
エチルホスフイン、次いで過剰量のアルシンを低
温水素ガス流で一緒にし、基体に衝突させた。反
応は次の式で表すことができる。InEt 3 +NEt 3 H 2 ---→ Low temperature Et 3 In・NEt 3 Et 3 In・NEt 3 +PH 3 H 2 ---→ High temperature substrate InP + NEt 3 +3EtH Example 4 Three components of gallium indium arsenide on a hot substrate by MOCVD method I made an alloy. In this case trimethylgallium, trimethylindium and triethylphosphine, followed by excess arsine, were combined in a stream of cold hydrogen gas and impinged on the substrate. The reaction can be expressed by the following equation.
xGaMe3+(1−X)InMe3+PEt3H2
――→
低温(1−X)InMe3・PEt3+xMe3Ga・PEt3
xMe3Ga・PEt3+(1−X)Me3In・PEt3+AsH3
H2
―――→
高温基体GaXIn(1-X)As+PEt3+3MeH
本発明による第二の方法を次の実施例で例示す
る。xGaMe 3 + (1-X) InMe 3 + PEt 3 H 2 ---→ Low temperature (1-X) InMe 3・PEt 3 +xMe 3 Ga・PEt 3 xMe 3 Ga・PEt 3 + (1-X) Me 3 In・PEt 3 +AsH 3 H 2 ---→ High temperature substrate Ga X In (1-X) As+PEt 3 +3MeH A second method according to the invention is illustrated in the following example.
実施例 5
MOCVD法により熱い基体上に燐化インジウ
ムをつくつた。この場合ホスフインとジメチル
ジエチルアミノ インジウム(Me2InNEt2)を
低温水素ガス流中で一緒にし、熱い基体に衝突さ
せた。ジメチル ジエチルアミノ インジウムを
従来の化学的手段によりつくつた。ジエチル ジ
エチルアミノ インジウムは全紙賦与アミン基に
よりアルキル基の一つを置換したトリメチル イ
ンジウムであることは分るであろう。従つてジメ
チルジエチルアミノ インジウムはトリメチル
インジウムより弱いルイス酸である。MCCVD反
応は次の式によつて表すことができる。Example 5 Indium phosphide was produced on a hot substrate by MOCVD. In this case phosphine and dimethyl
Diethylamino indium (Me 2 InNEt 2 ) was combined in a stream of cold hydrogen gas and bombarded with a hot substrate. Dimethyl diethylamino indium was prepared by conventional chemical means. It will be seen that diethyl diethylamino indium is trimethyl indium with one of the alkyl groups replaced by a whole paper endowed amine group. Therefore, dimethyldiethylamino indium is trimethyl
It is a weaker Lewis acid than indium. The MCCVD reaction can be expressed by the following equation.
Me2InNEt2+PH3H2
――→
高温板InP+副生成物
ジメチル ジエチルアミノ インジウムは低温
ではPH3と反応して不揮発性生成物を生ずること
はない。ジメチル ジメチルアミノ インジウム
を用いてもよく、その揮発性は大きいので好まし
い。Me 2 InNEt 2 + PH 3 H 2 ---→ Hot plate InP + by-products Dimethyl diethylamino Indium does not react with PH 3 to produce non-volatile products at low temperatures. Dimethyl dimethylamino indium may also be used and is preferred because of its high volatility.
実施例 6
MOCVD法により熱い基体上に燐砒化ガリウ
ムインジウム四成分合金をつくつた。この場合ト
リメチル ガリウム、トリメチル インジウム、
トリエチル ホスフイン及び過剰量のアルシンと
ホスフインを低温ガスとして基体を衝突させた。
反応は次の式で表すことができる。Example 6 A gallium indium phosphorus arsenide quaternary alloy was prepared on a hot substrate by MOCVD. In this case trimethyl gallium, trimethyl indium,
Triethyl phosphine and excess amounts of arsine and phosphine were used as cold gases to collide with the substrate.
The reaction can be expressed by the following equation.
GaMe3+InMe3+PEt3
低温
――→
GaMe3・PEt3+InMe3・PEt3
GaMe3・PEt3+InMe3・PEt3+AsH3+PH3
高温
――→
基体GaXIn1-XAsyPl-y+PEt3+MeH
この反応では之等の式は釣合つていないが、正
確には合金のxとyの項が含まれている。GaMe 3 +InMe 3 +PEt 3Low temperature――→ GaMe 3・PEt 3 +InMe 3・PEt 3 GaMe 3・PEt 3 +InMe 3・PEt 3 +AsH 3 +PH 3High temperature――→ Substrate Ga X In 1-X AsyP ly +PEt 3 +MeH In this reaction, these equations are not balanced, but to be exact, they include the x and y terms of the alloy.
本発明は原理的には、希望の反応部位へ運ぶの
がむづかしくなる位強いルイス酸であるアルキル
誘導体を含むどんな系にも適用できる。 The invention can in principle be applied to any system containing alkyl derivatives that are strong enough Lewis acids to be difficult to transport to the desired reaction site.
図面は本発明の方法を実施するための装置の概
略図である。
1……容器、5……基体、9……水冷ジヤケツ
ト、11,12,16……反応蒸気入口、14…
…ドープ剤入口、8……排気管。
The drawing is a schematic illustration of an apparatus for carrying out the method of the invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Container, 5... Substrate, 9... Water cooling jacket, 11, 12, 16... Reaction steam inlet, 14...
...Dope inlet, 8...Exhaust pipe.
Claims (1)
付着させる方法であつて、第族元素のアルキル
誘導体と第族元素の水素化物とを混合させるた
めに各々蒸気流に運ばせる方法において、その蒸
気流中の第族元素のアルキル誘導体が、電子密
度を与えることにより弱いルイス酸へ変性されて
いることを特徴とする方法。 2 希望の第族元素のアルキル誘導体を第族
元素のアルキル誘導体、即ち、ルイス塩基と一緒
にし、それによつて揮発性付加物を形成し、然る
後、揮発性付加物と希望の第族元素の水素化物
とを蒸気として運び熱い基体上に衝突させる特許
請求の範囲第1項に記載の方法。 3 変性した誘導体が第族元素アルキル誘導体
のアルキル基を電子賦与基で置換することにより
製造される特許請求の範囲第1項に記載の方法。 4 変性した誘導体がそれを基体上へ運ぶ直前に
製造される特許請求の範囲第1−3項のいずれか
に記載の方法。 5 第族元素がガインジウムである特許請求の
範囲第1−4項のいずれかに記載の方法。 6 第族元素のアルキル誘導体を含有する蒸気
流を、電子を与える化合物の蒸気流と混合し、そ
れによつて変性した誘導体を形成し、この誘導体
を含む蒸気流を第族元素の水素化物を含有する
蒸気流と混合し、次にその混合した流れを基体に
接触させる特許請求の範囲第1−5項のいずれか
に記載の方法。 7 第一の混合蒸気流を大体周囲の温度に維持
し、変性した誘導体の凝集を避ける特許請求の範
囲第5項に記載の方法。 8 全てのガス流が過剰の水素を含有する特許請
求の範囲第1項又は第7項に記載の方法。 9 第族元素のアルキル誘導体の混合物が基体
へ運ばれる前に変性される特許請求の範囲第1−
8項のいずれかに記載の方法。 10 第族元素の水素化物を基体へ運ぶ特許請
求の範囲第1−9項のいずれかに記載の方法。[Scope of Claims] 1. A method for depositing a group-group compound on a heated substrate, comprising: mixing an alkyl derivative of a group element and a hydride of a group element, each in a vapor stream; A method characterized in that the alkyl derivatives of group elements in the vapor stream are modified into weak Lewis acids by imparting electron density. 2. Combining the alkyl derivative of the desired group element with an alkyl derivative of the group element, i.e., a Lewis base, thereby forming a volatile adduct, and then combining the volatile adduct with the desired group element. 2. A method as claimed in claim 1, in which the hydride is carried as a vapor and impinged onto a hot substrate. 3. The method according to claim 1, wherein the modified derivative is produced by substituting an alkyl group of a group element alkyl derivative with an electron donating group. 4. A method according to any of claims 1 to 3, wherein the modified derivative is prepared immediately before transferring it onto the substrate. 5. The method according to any one of claims 1 to 4, wherein the group element is gainium. 6 A vapor stream containing an alkyl derivative of a group element is mixed with a vapor stream of a compound that donates electrons, thereby forming a modified derivative, and a vapor stream containing this derivative is mixed with a vapor stream containing a hydride of a group element. 6. A method according to any one of claims 1 to 5, further comprising mixing a vapor stream with a vapor stream and then contacting the mixed stream with a substrate. 7. The method of claim 5, wherein the first mixed vapor stream is maintained at approximately ambient temperature to avoid agglomeration of the modified derivative. 8. A method according to claim 1 or claim 7, wherein all gas streams contain excess hydrogen. 9 Claim 1-- The mixture of alkyl derivatives of group elements is modified before being delivered to the substrate.
The method described in any of Item 8. 10. The method according to any one of claims 1 to 9, for transporting a hydride of a group element to a substrate.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8036902 | 1980-11-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57145972A JPS57145972A (en) | 1982-09-09 |
| JPH0323633B2 true JPH0323633B2 (en) | 1991-03-29 |
Family
ID=10517376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18515181A Granted JPS57145972A (en) | 1980-11-18 | 1981-11-18 | Formation of group iii-v compount |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57145972A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4720560A (en) * | 1984-10-25 | 1988-01-19 | Morton Thiokol, Inc. | Hybrid organometallic compounds, particularly for metal organic chemical vapor deposition |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4944788A (en) * | 1972-09-01 | 1974-04-27 | ||
| JPS5136588A (en) * | 1974-09-25 | 1976-03-27 | Sumitomo Electric Industries | TASHINDOJIKU KEEBURU |
-
1981
- 1981-11-18 JP JP18515181A patent/JPS57145972A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57145972A (en) | 1982-09-09 |
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