JPH03237341A - 分光測色装置の光学系 - Google Patents

分光測色装置の光学系

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JPH03237341A
JPH03237341A JP27350089A JP27350089A JPH03237341A JP H03237341 A JPH03237341 A JP H03237341A JP 27350089 A JP27350089 A JP 27350089A JP 27350089 A JP27350089 A JP 27350089A JP H03237341 A JPH03237341 A JP H03237341A
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Yoji Watanabe
洋二 渡辺
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 積分球を用いた分光測色装置に於いて、試料及び参考標
準板との反射光束を交互に切換えて分光器に入射させる
ダブルビーム光学系に関する。
〔従来の技術〕
従来の積分球を用いたダブルビーム方式の分光測色装置
の光学系の1例を第3図aに示す。図に於いて、積分球
1外部にある光源11からの光束は積分球1に設けた入
射量ロアより積分球1内に入射され、積分球1内面で拡
散され、同じく積分球1に設けてあり試料2及び参考標
準板3を測定するための試料面開口5及び参考面間口6
に密着して取付けた、試料2及び参考標準板3をあらゆ
る方向から照射する。
試料2及び参考標準板3からの反射光束は、積分球1に
別々に設けた試料2及び参考標準板3用の受光開口4,
4′より積分球1外に出る。これら光束はそれぞれの光
路上に所定角度に調整、固定された反射ミラー20.2
0’ で、それぞれ光路を変えられてセクター21へ導
かれる。ここで、試料2からの反射光束はセクター21
のミラー面22で反射され再度光路を変更され、また参
考標準板3からの反射光束はセクター21の切欠孔23
を通過して分光器8に入射されるものである。セクター
21の1例は第3図すに示すように、一部切欠孔23を
有した円盤状の反射ミラーで、モーター24等で回転さ
れ、試料2及び参考標準板3からの反射光束を交互に切
換えて分光器8に入射させる動作を行うものである。
また図示しないが、セクター21と分光器8の間に集光
レンズを配して、試料2及び参考標準板3からの反射光
束を分光器8に導いている。
尚、分光器8の内部は公知のため図示しないが、入射し
た反射光束は凹面鏡、回折格子等を経て分光されて、例
えば固体撮像素子上に結像されるものである。さらに反
射率は、図示しない計測部等で固体撮像素子からの信号
を変換して求めるものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
ダブルビーム方式の分光測色装置の測定手順は、試料の
替わりに標準板をセットしてこれを測定した時の測光量
M1 (λ)、このとき参考標準板を測定した測光量S
1 (λ)を求める。次に標準板の替わりに試料をセッ
トしてこれを測定した時の測光量M2 (λ)、このと
き参考標準板を測定した測光量S2 (λ)を求める。
ここで、標準板の分光反射率をR(λ)とすると、試料
の分光反射率P(λ)は次の0式で求められる。
S、  (λ)  M2 (λ) P (λ)  =        X        
XR(λ)・・・■S2  (λ)  Ml (λ) 従って、ダブルビーム方式の分光測色装置では、測色毎
にM2  (λ)と82  (λ)を測定するものであ
るため、仮に光源などの変動に伴ないM2(λ)及びS
2  (λ)が変動しても、M2  (λ)/S2(λ
)は常に一定の値となることが必要な条件となるもので
ある。
しかし積分球を用いた従来のダブルビーム方式の分光測
色装置の光学系では、試料及び参考標準板からの反射光
束はそれぞれ別々の光路を経て別々の反射ミラーにより
光路の変更が行なわれ、セクターを経由して分光器に入
射されている。
このため、分光器までの光路長が長くなり、分光器に入
射される光量が減衰する。また、各々の光路途中に置か
れる反射ミラーやセクターは周囲温度の変化により狂い
が生じ、ダブルビーム方式の分光測色装置の本来の目的
であるところの光源の変動や、本体各部の熱変形などに
よる測光量の変動の補償を長時間にわたって実現するこ
とが困難である。従って長時間にわたる測定の場合、測
色値の安定性、測定精度が悪くなる。また各々光路を独
立して設けるため、装置の外形が大きくならざるを得な
かった。
そこで、試料及び参考標準板からの反射光束を同一光路
かつ短い光路で分光器に入射させ、光量の減衰を少なく
し、周囲温度変化の影響を受けに<<シ、測定値の安定
性、精度が良く、さらにコンパクトな光学系の開発が課
題となっていた。
〔課題を解決するための手段及び作用〕このような課題
を解決するために、積分球を用い、拡散光を試料及び参
考標準板に照射して反射率を測定する分光測色装置に於
いて、試料及び参考標準板からの反射光束を積分球外に
取り出すための開口を前記2つの反射光束共通の開口と
して1個所設け、さらに該反射光束のいづれか一方の光
路を切換える反射ミラーを設けた。従って、該開口から
積分球外に出た試料及び参考標準板からの反射光束は、
いづれか一方の光束が反射ミラーにより光路を変換され
て分光器に、他方の光束は直接分光器に送られる。
この動作を交互に行うものである。
〔実施例〕
(第1実施例) 第1図a及びbは第1実施例の構成の要部図である。図
に於いて本実施例は積分球1に設けた試料2及び参考標
準板3からの反射光束を取り出す受光開口4と分光器8
の間に設けた光路変換部9を水平に移動する移動機構1
0などより構成されている。
積分球1にはこれを半割りにした一方の側に試料2及び
参考標準板3を測定する試料面開口5と参考面間口6を
、この他方の側に試料2及び参考標準板3からの反射光
束を積分球1外に出す受光開口4を試料面開口5と正対
する位置に設けである。さらに積分球■外部に配した光
源11からの光を積分球1内に入射する入射量ロアを、
光源11からの光が上記各開口を直射しない位置に設け
である。
光路変換部9は、試料面開口5と受光開口4の中心を結
ぶ直線と直交する平面上に位置するミラー固定枠12に
、短冊形で裏面に光を吸収する黒色処理等を施した反射
ミラー13を複数枚同一角度に固定したもので、この角
度はこれら反射ミラー13が、参考標準板3からの反射
光束を試料面開口5と受光開口4の中心を結ぶ直線と同
一方向に反射する位置で決めである。また光路変換部9
は、受光開口4に近接して設けてあり、この間口4から
の反射光束を効率よく反射するために十分な大きさとな
っている。
移動機構10は詳細図示しないが、移動台、モーター及
び移動台を水平に移動するためのラックとビニオンギヤ
ー、移動方向を切換える光電式スイッチなどからなり、
移動台上に前記ミラー固定枠12を固定したもので、こ
のミラー固定枠12を試料2からの反射光束の光路外及
び光路内に交互に移動するものである。
さらに、光路変換部9に近接して分光器8との間に集光
レンズ14が配しである。この集光レンズは、受光開口
4を通過した光束又は光路変換部9の反射ミラー13に
より光路を切換えられた光束を集光して、試料面開口5
と受光開口4の中心を結ぶ線上にあり、集光レンズ14
の焦点に位置する分光器8の光取入口8′に送るもので
ある。
このように構成した本実施例の装置では、光源11から
の光が入射量ロアから積分球1内に入射され、この内壁
で拡散反射される。この拡散反射光が、試料面開口5及
び参考面間口6に密着して取付けた試料2及び参考標準
板3よりさらに反射されて、このここで、受光開口4に
近接して配置した光路変換部9が試料2からの反射光束
の光路外にある場合(第1図a)、試料2からの反射光
束は集光レンズ14により集光され直接分光器8の光取
入口8′に入射される。また光路変換部9が試料2から
の反射光束の光路内に位置する場合(第1図b)、参考
標準板3からの光束が反射ミラー群により光路を切換え
られて、前記試料2からの反射光束と同一光路を経て集
光レンズ14により集光されて分光器8の光取入口8′
に入射されるものである。
(第2実施例) 本実施例は反射ミラーi3全体を移動せず、受光開口4
に近接して置いたまま各反射ミラー13の取付角度を同
時に所定角度に変更することにより、試料2及び参考標
準板3からの反射光束の光路を変換するものである。
第2図a及びbは本実施例の構成の要部図、第2図Cは
光路変換部9及び角度切換機構15の要部斜視図である
。図に於いて、積分球工、光路変換部9、集光レンズ1
4及び分光器8の各位置関係は第1実施例と同一であり
、また積分球1の構成も同じである。
光路変換部9は第1実施例と同様に配設したミラー固定
枠12に、第1実施例と同一形状の反射ミラー13を複
数枚取付けたもので、各反射ミラー13の上下端部面の
中央に、先端が尖鋭な丸棒状の支持棒16が固定されて
おり、各反射ミラー13はミラー固定枠12の対向する
一対の辺に所定間隔で対向して固定したピボット玉軸受
け17に、支持棒16を介して回動可能に取付けられて
いる。また各反射ミラー13の下端部面に固定した支持
棒16の一定位置に歯車18が固定されている。
角度切換機構15は、詳細図示しないがステッピングモ
ーター、タイミングベルト19などよりなり、このタイ
ミングベルト19を前記支持棒16の歯車18に掛けて
ステッピングモーターにより一定角度に切換可能とした
ものである。各反射ミラー13は、第2図a、+!:b
の位置に切換わるもので、第2図aは、反射ミラー13
の表面が試料面開口5と受光開口4の中心を結ぶ直線と
平行であり、第2図すはこの各反射ミラー13表面を参
考標準板3からの反射光束を上記直線と同一方向に反射
する位置にしたものである。
このように構成した本実施例の装置では、第1実施例と
同様に試料2及び参考標準板3からの反射光束は受光開
口4より積分球1外に出る。
ここで、光路変換部9の各反射ミラー13表面が前記直
線と平行である場合(第2図a)、試料2からの反射光
束は、各反射ミラー13の間を通過し、集光レンズ14
により集光されて直接分光器8に入射される。またこの
反射ミラーを所定角度に回動可変した場合(第2図b)
、参考標準板3からの反射光束が反射され、上記試料2
からの反射光束と同一経路を経て集光され、分光器8に
入射されるものである。
また図示しないが、第1及び第2実施例と同一構成の積
分球1を用い、参考標準板3からの反射光束を切換える
ために、試料2の反射光束の光路外に、参考標準板3か
らの反射光束が集光レンズを経て分光器8に入射できる
角度に反射ミラーを固定し、これらの反射光束を切換え
るために切欠孔を有する回転円盤を、積分球と反射ミラ
ーの間でこれらの反射光束が重ならない位置に設けた光
学系もある。しかしながら、この光学系は第1及び第2
実施例より光路が長くなるため光量の減衰が大きく、さ
らに装置も大きくならざるを得ないため、望ましい実施
態様とは言い難い。
尚、第1及び第2実施例に於いて、試料2及び参考標準
板3の位置を変えて、試料2からの反射光束を反射ミラ
ー13で切換え、また参考標準板3からの反射光束をそ
のまま、集光レンズ14を経て分光器8に導いてもよい
。また第1実施例で、移動機構10は水平移動を行うも
のに限定されず、例えば回転移動、扉の開閉のような移
動などでもよく、受光開口4の系外に光路変換部9を移
動するものであればよい。同様に、第2実施例に於いて
も、光路変換部9及び角度切換機構15は、受光開口4
より出す試料2及び参考標準板3からの反射光束を、反
射ミラー13を用いて確実に切換え、これを分光器8に
送るものであればよい。
〔発明の効果〕
上述のように構成したことにより、試料及び参考標準板
からの反射光束を同一光路を経て分光器に導くため、光
路長の短縮が可能となり、分光器に入射される光量の減
衰が少なくなる。また前記反射光束の光路の切換えは1
ケ所の光路変換部で行なわれるため、周囲温度変化によ
る光量の変動は少なくなる。
従って分光器に入射される光量が増大しかつ光量の変動
が少なくなるため、測定時に於ける光量の変動率は従来
の装置よりさらに小さくなり、測定値の安定性、精度が
向上する。さらに、分光器までの光路長が短縮できるた
め、装置の小型化が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1実施例の要部構成図でaは各反射ミラーが
試料からの反射光束の光路外、bは同光路内にある場合
、第2図第2実施例の要部構成図でaは各反射ミラーの
表面が試料面開口と受光開口の中心を結ぶ直線と平行、
bは各反射ミラーが参考標準板からの反射光束をこの直
線と同一方向に反射する位置にある場合、Cは第2実施
例の要部斜視図、第3図3は従来のダブルビーム方式の
分光測定器の1例、Cはセクターの1例である。 1・・・積分球、  2・・・試料、 3・・・参考標準板、 4,4′ ・・・受光開口、5
・・・試料面開口、 6・・・参考面間口、7・・・入
射開口、  8・・・分光器、8′ ・・・光取入口、
 9・・・光路変換部、10・・・移動機構、 11・
・・光源、12・・・ミラー固定枠、13・・・反射ミ
ラー15・・・角度切換機構。 手続補正書(方式) 平成3年5月14日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 積分球を用い、拡散光を試料及び参考標準板に照射して
    反射率を測定する分光測色装置に於いて、試料及び参考
    標準板からの反射光束を積分球外に取り出すための開口
    を、前記2つの反射光束共通の開口として1個所設け、
    さらに該反射光束のいづれか一方の光路を切換える反射
    ミラーを設けて、試料及び参考標準板からの反射光束を
    交互に切換えて分光器の光取入口に送ることを特徴とす
    る分光測色装置の光学系。
JP1273500A 1989-10-20 1989-10-20 分光測色装置の光学系 Expired - Lifetime JPH0612335B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012020440A1 (en) * 2010-08-12 2012-02-16 Consiglio Nazionale Delle Ricerche Device for diffuse light spectroscopy

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56122936A (en) * 1980-02-29 1981-09-26 Shimadzu Corp Reflection factor measuring device
JPS6212994U (ja) * 1985-07-05 1987-01-26

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