JPH03238621A - 磁気ディスクサーティファイヤの磁気ディスクテスト方式 - Google Patents
磁気ディスクサーティファイヤの磁気ディスクテスト方式Info
- Publication number
- JPH03238621A JPH03238621A JP3518990A JP3518990A JPH03238621A JP H03238621 A JPH03238621 A JP H03238621A JP 3518990 A JP3518990 A JP 3518990A JP 3518990 A JP3518990 A JP 3518990A JP H03238621 A JPH03238621 A JP H03238621A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- area
- test
- magnetic disk
- error detection
- control circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
この発明は磁気ディスクサーテイファイヤの磁気ディス
クテスト方式に関するものである。
クテスト方式に関するものである。
［従来の技術］
情報の記録媒体として多用されている磁気ディスクは、
生産工程において記録媒体の品質が磁気ディスクサーテ
イファイヤにより検査される。検査においては適当な周
波数のテスト信号が書き込まれ、これを読み出して符号
の欠落（ＭＩＳ）、イ勇き出しくＥＸＴ）などのエラー
が検出され、また、テスト信号の波高値の変動（ＭＯＤ
）が測定される。これらの検査はディスクに設けられる
多数の各トラックごとに行われるので、検査にはかなり
の長時間を必要とする。これに対して、検査時間を短縮
して検査効率を向上するために、ディスクの記録媒体面
を外周エリアと内周エリアに２分割し、それぞれに対し
て磁気ヘッドと必要な回路を２組設けて同時に検査する
方法が行われている。
生産工程において記録媒体の品質が磁気ディスクサーテ
イファイヤにより検査される。検査においては適当な周
波数のテスト信号が書き込まれ、これを読み出して符号
の欠落（ＭＩＳ）、イ勇き出しくＥＸＴ）などのエラー
が検出され、また、テスト信号の波高値の変動（ＭＯＤ
）が測定される。これらの検査はディスクに設けられる
多数の各トラックごとに行われるので、検査にはかなり
の長時間を必要とする。これに対して、検査時間を短縮
して検査効率を向上するために、ディスクの記録媒体面
を外周エリアと内周エリアに２分割し、それぞれに対し
て磁気ヘッドと必要な回路を２組設けて同時に検査する
方法が行われている。
第２図（ａ）、（ｂ）および（ｃ）は、上記の２分割方
式の磁気ディスクサーテイファイヤを説明するもので、
図（ａ）において、被検査の磁気ディスクｌは、その記
録媒体が外周エリア１ａと内周エリアｉｂに２分割され
、各エリアに対してそれぞれ検査部２−１．２−２が設
けられる。各検査部の磁気ヘッド（ＨＤｌ）２ａ−１お
よび（ＨＤ２ ） ２ａ−２−はそれぞれのキャリアジ
機横２ｂ−１，２ｂ−２により外周エリアｌａおよび内
周エリアｌｂの範囲内のトラックを／−りする。各磁気
ヘッドに対して、図（ｂ）のように、それぞれライトア
ンプ２ｃｍ１，２ｃ２、リードアンプ２ｄ−１，２ｄ−
２、δき込み制御回路２ ｅ−１＋ ２ ｅ−２、およ
びエラー検出回路２ｆ−１２ｆ−２かそれぞれ接続され
ている。これらに対して、マイクロプロセッサ３により
制御されるテストコントローラ３ａを設け、これに図后
しないインデックス検出センサよりの、ディスクの円周
の起点を示すインデックス（ＩＮＤＥＸ）信号が人力し
、各部に対して必要な制御信号か与えられて、図（ｃ）
に示すシーケンスにより検査が行われる。図（Ｃ）にお
いて、磁気ヘッドＨＤｌ側とＨＤ２側のシーケンスは処
理内容が同一で、かつ位相が一致したもので、両側とも
人力したＩＮＤＥＸ信号の時点ごとに次の処理が行われ
る。まずトラックがシークされ、このトラックの１周に
対して書き込み制御回路２ｅによりテスト信号が書き込
まれる。
式の磁気ディスクサーテイファイヤを説明するもので、
図（ａ）において、被検査の磁気ディスクｌは、その記
録媒体が外周エリア１ａと内周エリアｉｂに２分割され
、各エリアに対してそれぞれ検査部２−１．２−２が設
けられる。各検査部の磁気ヘッド（ＨＤｌ）２ａ−１お
よび（ＨＤ２ ） ２ａ−２−はそれぞれのキャリアジ
機横２ｂ−１，２ｂ−２により外周エリアｌａおよび内
周エリアｌｂの範囲内のトラックを／−りする。各磁気
ヘッドに対して、図（ｂ）のように、それぞれライトア
ンプ２ｃｍ１，２ｃ２、リードアンプ２ｄ−１，２ｄ−
２、δき込み制御回路２ ｅ−１＋ ２ ｅ−２、およ
びエラー検出回路２ｆ−１２ｆ−２かそれぞれ接続され
ている。これらに対して、マイクロプロセッサ３により
制御されるテストコントローラ３ａを設け、これに図后
しないインデックス検出センサよりの、ディスクの円周
の起点を示すインデックス（ＩＮＤＥＸ）信号が人力し
、各部に対して必要な制御信号か与えられて、図（ｃ）
に示すシーケンスにより検査が行われる。図（Ｃ）にお
いて、磁気ヘッドＨＤｌ側とＨＤ２側のシーケンスは処
理内容が同一で、かつ位相が一致したもので、両側とも
人力したＩＮＤＥＸ信号の時点ごとに次の処理が行われ
る。まずトラックがシークされ、このトラックの１周に
対して書き込み制御回路２ｅによりテスト信号が書き込
まれる。
ついで、このトラックの１周に対してエラー検出回路２
ｆにより前記した検査項目が検査される。
ｆにより前記した検査項目が検査される。
図のＴＡＡ／！Ｉｆ定においてはテスト信号の波高値を
検出してその平均値をマイクロプロセッサ３により算出
する。算出された平均値を基準としてＭＩＳエラーに対
するテスト、・およびテスト信号の波高値のＭＯＤテス
トが行われ、これらが終了すると次の１周でテスト信号
が消去されてＥＸＴエラーがテストされる。なお、以上
の１トラックの検査はディスクの５回転で終Ｙし、次の
トラックか透次シークされて上記のテストシーケンスが
実行され、すべてのトラックが検査される。
検出してその平均値をマイクロプロセッサ３により算出
する。算出された平均値を基準としてＭＩＳエラーに対
するテスト、・およびテスト信号の波高値のＭＯＤテス
トが行われ、これらが終了すると次の１周でテスト信号
が消去されてＥＸＴエラーがテストされる。なお、以上
の１トラックの検査はディスクの５回転で終Ｙし、次の
トラックか透次シークされて上記のテストシーケンスが
実行され、すべてのトラックが検査される。
［解決しようとする課題］
上記の検査においては、記録媒体のエリアを２分割して
行うので検査時間が短縮されることは非常に有効である
が、しかし各磁気ヘッドＨＤＩ。
行うので検査時間が短縮されることは非常に有効である
が、しかし各磁気ヘッドＨＤＩ。
ＨＤ２に対して、それぞれ２組のδき込み制御回路２
ｅ−１、２ｅ−２と、エラー検出回路２ｆ−１，２ｆ−
２を設けられるので、回路数が増加することが欠点であ
る。そこで、これらを１組として共通使用し、装置を簡
易化することが望まれている。
ｅ−１、２ｅ−２と、エラー検出回路２ｆ−１，２ｆ−
２を設けられるので、回路数が増加することが欠点であ
る。そこで、これらを１組として共通使用し、装置を簡
易化することが望まれている。
この発明は以上に鑑みてなされたもので、記録媒体のエ
リアを２分割する方式の磁気ディスクサーテイファイヤ
において、１組の書き込み制御回路とエラー検出回路を
共通使用して回路を簡易化する、テスト方式を提供する
ことを目的とするものである。
リアを２分割する方式の磁気ディスクサーテイファイヤ
において、１組の書き込み制御回路とエラー検出回路を
共通使用して回路を簡易化する、テスト方式を提供する
ことを目的とするものである。
「課題を解法するための１段」
この発明は、磁気ディスクの記録媒体の範囲を外周エリ
アと内周エリアに２分割し、各エリアに対して設けられ
た２個の磁気ヘッドにより、各エリアごとにトラックを
シークしてテスト信号をａき込み／読み出して記録媒体
を検査する磁気ディスクサーテイファイヤにおけるテス
ト方式であっテ、各エリアに対して共通する１組の古き
込み制御回路とエラー検出回路を設け、マイクロプロセ
、すにより制御されたテストコントローラにより、ａき
込み制御回路およびエラー検出回路に対して各エリアの
磁気へノドを切り替える。また、各エリアに対するテス
ト７−ケンスの位相を互いに磁気ディスクの１回転分す
らし、磁気ディスクの１回転ごとに行われる連続したト
ラックの７−ク、テスト信号の書き込み、テスト信号の
読み出しテスト、テスト信号の消去、および消去された
トラックのエキストラエラーテストを交互に行うもので
ある。
アと内周エリアに２分割し、各エリアに対して設けられ
た２個の磁気ヘッドにより、各エリアごとにトラックを
シークしてテスト信号をａき込み／読み出して記録媒体
を検査する磁気ディスクサーテイファイヤにおけるテス
ト方式であっテ、各エリアに対して共通する１組の古き
込み制御回路とエラー検出回路を設け、マイクロプロセ
、すにより制御されたテストコントローラにより、ａき
込み制御回路およびエラー検出回路に対して各エリアの
磁気へノドを切り替える。また、各エリアに対するテス
ト７−ケンスの位相を互いに磁気ディスクの１回転分す
らし、磁気ディスクの１回転ごとに行われる連続したト
ラックの７−ク、テスト信号の書き込み、テスト信号の
読み出しテスト、テスト信号の消去、および消去された
トラックのエキストラエラーテストを交互に行うもので
ある。
［作用コ
以上のテスト方式においては、記録媒体の範囲を２分割
された外周エリアと内周エリアに対する２個の磁気へノ
ドが、マイクロプロセンサにより制御すれたテストコン
トローラにより切り替えられで、共屈する１組のδき込
み制御回路とエラー検出回路に交互に接続される。各エ
リアに対するテストシーケンスの位相が磁気ディスクの
１回転分すらされて、トラックのシーク、テスト信号の
８き込み、テスト信号の読み出しテスト、テスト信号の
消去、および消去されたトラックに対するエキストラエ
ラーのテストが交互に行われる。
された外周エリアと内周エリアに対する２個の磁気へノ
ドが、マイクロプロセンサにより制御すれたテストコン
トローラにより切り替えられで、共屈する１組のδき込
み制御回路とエラー検出回路に交互に接続される。各エ
リアに対するテストシーケンスの位相が磁気ディスクの
１回転分すらされて、トラックのシーク、テスト信号の
８き込み、テスト信号の読み出しテスト、テスト信号の
消去、および消去されたトラックに対するエキストラエ
ラーのテストが交互に行われる。
［実施例コ
第１ 図（ａ）、（ｂ）は、この発明による磁気ディス
クサーテイファイヤのテスト方式の実施例における、回
路構成とテストシーケンスを示す。図（ａ）において、
磁気ディスクの記録媒体が外周エリアと内周エリアに２
分割され、各エリアに対して磁気ヘッドＨＤｔ 、ＨＤ
２が対応して設けられ、それぞれはライトアンプ２ ｃ
−１＋ ２ ｃ −２およびリードアンプ２ｄ−１，
２ｄ−２に接続されていることは前記した第２図（ｂ）
と同様である。これに対して１組のδき込み制御回路２
ｅとエラー検出回路２ｆ。
クサーテイファイヤのテスト方式の実施例における、回
路構成とテストシーケンスを示す。図（ａ）において、
磁気ディスクの記録媒体が外周エリアと内周エリアに２
分割され、各エリアに対して磁気ヘッドＨＤｔ 、ＨＤ
２が対応して設けられ、それぞれはライトアンプ２ ｃ
−１＋ ２ ｃ −２およびリードアンプ２ｄ−１，
２ｄ−２に接続されていることは前記した第２図（ｂ）
と同様である。これに対して１組のδき込み制御回路２
ｅとエラー検出回路２ｆ。
およびスイッチＳＷＩ ３ｂ−１と５Ｗ２３ｂ−２を
設ける。マイクロプロセッサ３によりテストコントロー
ラ３ａが制御され、これと入力したＩＮＤＥＸ信号とに
より各スイッチｓｗ、、ＳＷ、２が切り替えられて、各
磁気ヘッドＨＤ ｌ＋ ＨＤ ２に対するテストシーケ
ンスが実行される。図（Ｃ）において、各テストシーケ
ンスの位相は互いに磁気ディスクの１回転分（各ＩＮＤ
ＥＸ信号間）ずらされている。まず外周エリアのトラッ
クがシークされ、これに対して書き込み制御回路２ｅよ
り出力されたテスト信号がＨＤ、により書き込まれる。
設ける。マイクロプロセッサ３によりテストコントロー
ラ３ａが制御され、これと入力したＩＮＤＥＸ信号とに
より各スイッチｓｗ、、ＳＷ、２が切り替えられて、各
磁気ヘッドＨＤ ｌ＋ ＨＤ ２に対するテストシーケ
ンスが実行される。図（Ｃ）において、各テストシーケ
ンスの位相は互いに磁気ディスクの１回転分（各ＩＮＤ
ＥＸ信号間）ずらされている。まず外周エリアのトラッ
クがシークされ、これに対して書き込み制御回路２ｅよ
り出力されたテスト信号がＨＤ、により書き込まれる。
ここで図中実線と点線はＩＮＤＥＸ信号による各スイッ
チＳＷＩ 、ＳＷ２の切り替えタイミングを示し、この
切り替えにより、ＨＤｌにより読み出された外周エリア
のテスト信号がエラー検出回路２ｆに人力してＴＡＡ測
定（トラック１周分のピーク値の平均値の測定）、ＭＩ
ＳおよびＭＯＤテストがなされ、同時に内周エリアのト
ラックに対してＨＤ２によりテスト信号が書き込まれる
。これが終ｒすると各スイッチが再び切り替えられ、外
周エリアのトラックのテスト信号かＨＤｒ により消去
されるとともに、内周エリアのトラックに対するＴＡＡ
測定とＭＩＳおよびＭＯＤテストが行われる。ついで各
スイッチが切り替えられ、外周エリアのトラックのＥＸ
Ｔテストがなされて外周エリアのトラックのテストが１
巡する。同時に内周エリアのトラックのテスト信号か消
去され、さらに各スイッチの切り替えによりそのＥＸＴ
テストか行われてそのトラックに対するテストが１逸す
る。
チＳＷＩ 、ＳＷ２の切り替えタイミングを示し、この
切り替えにより、ＨＤｌにより読み出された外周エリア
のテスト信号がエラー検出回路２ｆに人力してＴＡＡ測
定（トラック１周分のピーク値の平均値の測定）、ＭＩ
ＳおよびＭＯＤテストがなされ、同時に内周エリアのト
ラックに対してＨＤ２によりテスト信号が書き込まれる
。これが終ｒすると各スイッチが再び切り替えられ、外
周エリアのトラックのテスト信号かＨＤｒ により消去
されるとともに、内周エリアのトラックに対するＴＡＡ
測定とＭＩＳおよびＭＯＤテストが行われる。ついで各
スイッチが切り替えられ、外周エリアのトラックのＥＸ
Ｔテストがなされて外周エリアのトラックのテストが１
巡する。同時に内周エリアのトラックのテスト信号か消
去され、さらに各スイッチの切り替えによりそのＥＸＴ
テストか行われてそのトラックに対するテストが１逸す
る。
各トラックに対してこのようなテストシーケンスが順次
に行われる。
に行われる。
［発明の効果コ
以りの説明により明らかなように、この発明によるテス
ト方式によれば、従来２組が必要とされた古き込み制御
回路とエラー検出回路か１組に節約されるとともに、従
来と同一の試験時間でテストかなされるもので、６ｆｔ
負（ディスクサーテイファイヤの簡易化に寄与する効果
には大きいものかある。
ト方式によれば、従来２組が必要とされた古き込み制御
回路とエラー検出回路か１組に節約されるとともに、従
来と同一の試験時間でテストかなされるもので、６ｆｔ
負（ディスクサーテイファイヤの簡易化に寄与する効果
には大きいものかある。
４図而の而？Ｆ、な説明
第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による磁気ディ
スクサーテイファイヤのテスト方式の実施例における、
回路構成とテストシーケンスを示す図、第２図（ａ）、
（ｂ）および（ｃ）は、磁気ディスクサーテイファイヤ
における記録媒体エリアの２分割方式と、従来の回路構
成およびテストシーケンスを示す図である。
スクサーテイファイヤのテスト方式の実施例における、
回路構成とテストシーケンスを示す図、第２図（ａ）、
（ｂ）および（ｃ）は、磁気ディスクサーテイファイヤ
における記録媒体エリアの２分割方式と、従来の回路構
成およびテストシーケンスを示す図である。
１・・・磁気ディスク、 ｌａ・・・外周エリア、
１ｂ・・・内周エリア、 ２・・・検査部、２ａ・・
・磁気へノド、 ２ｂ・・・キャリッジ機構、２Ｃ
・・・ライトアンプ、 ２ｄ・・・リードアンプ、２
ｅ・・・書き込み制御回路、 ２ｆ・・・エラー検出回路、 ３・・・マイクロプロセ、す、 ３ａ・・・テストコントローラ、３ｂ・・・スイッチ。
１ｂ・・・内周エリア、 ２・・・検査部、２ａ・・
・磁気へノド、 ２ｂ・・・キャリッジ機構、２Ｃ
・・・ライトアンプ、 ２ｄ・・・リードアンプ、２
ｅ・・・書き込み制御回路、 ２ｆ・・・エラー検出回路、 ３・・・マイクロプロセ、す、 ３ａ・・・テストコントローラ、３ｂ・・・スイッチ。
Claims (1)
- （１）磁気ディスクの記録媒体の範囲を外周エリアと内
周エリアに２分割し、該各エリアに対して設けられた２
個の磁気ヘッドにより、該各エリアごとにテスト信号を
書き込み／読み出して上記記録媒体を検査する磁気ディ
スクサーティファイヤにおいて、上記各エリアに対して
共通する１組の書き込み制御回路とエラー検出回路を設
け、マイクロプロセッサにより制御されたテストコント
ローラにより、上記書き込み制御回路とエラー検出回路
に対して上記各エリアに対する磁気ヘッドを切り替え、
かつ、上記各エリアに対するテストシーケンスの位相を
互いに上記磁気ディスクの１回転分ずらして、上記磁気
ディスクの１回転ごとに順次に行われるトラックのシー
ク、上記テスト信号の書き込み、該書き込まれたテスト
信号の読み出しテスト、該テスト信号の消去、および該
消去されたトラックのエキストラエラーテストを交互に
行うことを特徴とする、磁気ディスクサーティファイヤ
の磁気ディスクテスト方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3518990A JPH03238621A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | 磁気ディスクサーティファイヤの磁気ディスクテスト方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3518990A JPH03238621A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | 磁気ディスクサーティファイヤの磁気ディスクテスト方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03238621A true JPH03238621A (ja) | 1991-10-24 |
Family
ID=12434907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3518990A Pending JPH03238621A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | 磁気ディスクサーティファイヤの磁気ディスクテスト方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03238621A (ja) |
-
1990
- 1990-02-16 JP JP3518990A patent/JPH03238621A/ja active Pending
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