JPS61110048A - デイスク装置の媒体欠陥検出装置 - Google Patents
デイスク装置の媒体欠陥検出装置Info
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- JPS61110048A JPS61110048A JP23196684A JP23196684A JPS61110048A JP S61110048 A JPS61110048 A JP S61110048A JP 23196684 A JP23196684 A JP 23196684A JP 23196684 A JP23196684 A JP 23196684A JP S61110048 A JPS61110048 A JP S61110048A
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- oscillation
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(童東上の利用分野)
本発明はディスク装置の媒体欠陥検出装置に関し、特に
磁気ディスク装置や光デイスク装置に組込まれたディス
ク媒体に存在する欠陥を検出して、その欠陥の存在する
位置をそのディスク装置の特定の媒体に記録する試験装
置に関する。
磁気ディスク装置や光デイスク装置に組込まれたディス
ク媒体に存在する欠陥を検出して、その欠陥の存在する
位置をそのディスク装置の特定の媒体に記録する試験装
置に関する。
(従来の技術)
一般にディスク装置に使用される媒体では、その記録面
内におりて欠陥を皆無にすることは製造上不可能に近く
、また経済的ではな−ため、あらかじめ設定された所定
の個数以下の欠陥が存在するのを許容しているのが通例
である。従って、このような媒体で組込まれたディスク
装置を使用する際には、上記の欠陥箇所を回避してデー
タの書込みや読出しを行う必要があった。
内におりて欠陥を皆無にすることは製造上不可能に近く
、また経済的ではな−ため、あらかじめ設定された所定
の個数以下の欠陥が存在するのを許容しているのが通例
である。従って、このような媒体で組込まれたディスク
装置を使用する際には、上記の欠陥箇所を回避してデー
タの書込みや読出しを行う必要があった。
このため、エラーテストフォーマツタ(ETF)と称す
る媒体欠陥検出装置によって斯かる媒体の欠陥を検出し
、それらの欠陥の存在する位置をディスク装置の特定の
媒体に記録しておき、その媒体を使用するときには、上
記の記録を読取ることにより欠陥箇所を認識して使用を
回避し、データの書込み、または読出しを行うと云う手
段が採用されてきた。
る媒体欠陥検出装置によって斯かる媒体の欠陥を検出し
、それらの欠陥の存在する位置をディスク装置の特定の
媒体に記録しておき、その媒体を使用するときには、上
記の記録を読取ることにより欠陥箇所を認識して使用を
回避し、データの書込み、または読出しを行うと云う手
段が採用されてきた。
このような目的には、従来からエラーテストフォーマツ
タと称する媒体欠陥検出装置が使用され、この装置にお
ける媒体の欠陥の検出手段には、ル出し波形の出力の大
きさを判断して規格との対比によって良否を判定するア
ナログ方式と、読出し出力をもとにしてデータ弁別回路
によって弁別したディジタル信号のパターンを、書込む
時に使用される信号パターンと比較して良否を判定する
ディジタル方式との2方式が採用されてきた。
タと称する媒体欠陥検出装置が使用され、この装置にお
ける媒体の欠陥の検出手段には、ル出し波形の出力の大
きさを判断して規格との対比によって良否を判定するア
ナログ方式と、読出し出力をもとにしてデータ弁別回路
によって弁別したディジタル信号のパターンを、書込む
時に使用される信号パターンと比較して良否を判定する
ディジタル方式との2方式が採用されてきた。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、近年になって記録密度を向上させるため
の各種の変復調方式が開発導入された結果、例えば、モ
デ7アイドFM(MFM)方式の場合のように、媒体上
の磁化反転とデータのビットとの時間関係が一対一に対
応しないようになってきている。
の各種の変復調方式が開発導入された結果、例えば、モ
デ7アイドFM(MFM)方式の場合のように、媒体上
の磁化反転とデータのビットとの時間関係が一対一に対
応しないようになってきている。
従来のアナログ方式の媒体欠陥の検出手段では、その磁
化反転の間隔が斯かるディスク装置、および媒体にとっ
て物理的に可能な最小間隔となっている。このため、上
記のようなMFM方式で記録された場合には、先行のビ
ットによる磁化反転と、その後方のビットによる磁化反
転との間で媒体へ欠陥が存在すれば、その欠陥によって
信号のピークにシフトがひき起される。
化反転の間隔が斯かるディスク装置、および媒体にとっ
て物理的に可能な最小間隔となっている。このため、上
記のようなMFM方式で記録された場合には、先行のビ
ットによる磁化反転と、その後方のビットによる磁化反
転との間で媒体へ欠陥が存在すれば、その欠陥によって
信号のピークにシフトがひき起される。
この種の信号のピークシフトに関するエラーの検出は不
可能である。
可能である。
媒体欠陥検出装置では、斯かる欠点を補うためにディジ
タル方式の欠陥検出手段を併用するようになってきたが
、大きな媒体欠陥があった場合には、ディジタル方式で
は読出し出力の弁別回路に前置した位相合わせ発振器(
PLO)が十分な続出し出力レベルを与えず、所定の発
振周波数からずれてしまってデータの弁別が不可能にな
ると云う欠点があった。近年、ビット密度が増加するに
伴って、1ビツトの時間に対する欠陥の大きさが相対的
に大きくなってきたため、ますます斯かる状態が出現し
やすb状態になってきており、欠陥検査の遂行上に大き
な障害となっている。
タル方式の欠陥検出手段を併用するようになってきたが
、大きな媒体欠陥があった場合には、ディジタル方式で
は読出し出力の弁別回路に前置した位相合わせ発振器(
PLO)が十分な続出し出力レベルを与えず、所定の発
振周波数からずれてしまってデータの弁別が不可能にな
ると云う欠点があった。近年、ビット密度が増加するに
伴って、1ビツトの時間に対する欠陥の大きさが相対的
に大きくなってきたため、ますます斯かる状態が出現し
やすb状態になってきており、欠陥検査の遂行上に大き
な障害となっている。
本発明の目的は、ディスク媒体の欠陥を検出するための
読出しデータを入力して、その周波数に同期して時定数
の異なる複数個の位相合わせ形発振器(PLO)を発振
させると共に、発振器選択信号を入力して解読し、上記
複数個の位相合わせ形発振器のうちのひとつの出力を指
定して回路を開閉することによって上記欠点を除去し、
上記ディジタル方式の欠陥検査手段を改良して媒体欠陥
検出遂行能力を増大できるように構成したディスク装置
の媒体欠陥検出装置を提供することにある。
読出しデータを入力して、その周波数に同期して時定数
の異なる複数個の位相合わせ形発振器(PLO)を発振
させると共に、発振器選択信号を入力して解読し、上記
複数個の位相合わせ形発振器のうちのひとつの出力を指
定して回路を開閉することによって上記欠点を除去し、
上記ディジタル方式の欠陥検査手段を改良して媒体欠陥
検出遂行能力を増大できるように構成したディスク装置
の媒体欠陥検出装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明によるディスク装置の媒体欠陥検出装置は複数個
の位相合わせ形発振器と、デコーダと、複数個のスイッ
チと、データ弁別回路とを具備して構成したものである
。
の位相合わせ形発振器と、デコーダと、複数個のスイッ
チと、データ弁別回路とを具備して構成したものである
。
複数個の位相合わせ形発振器は、ディスク媒体の欠陥を
検出するための読出しデータを外部より入力した時に、
読出しデータの周波数に同期して発振する時定数の異な
るものである。
検出するための読出しデータを外部より入力した時に、
読出しデータの周波数に同期して発振する時定数の異な
るものである。
デコーダ回路は、発振器選択信号を外部より入力して解
読し、解読結果に対応して複数個の位相合わせ形発振器
のうちのひとつの出力を指定するためのものである。
読し、解読結果に対応して複数個の位相合わせ形発振器
のうちのひとつの出力を指定するためのものである。
複数個のスイッチは、デコーダ回路により複数個の位相
合わせ形発振器に対志して外部回路を選択的に開閉する
ためのものである。
合わせ形発振器に対志して外部回路を選択的に開閉する
ためのものである。
データ弁別回路は、複数個のスイッチから選択的に出力
された読出しデータを入力してデータの弁別を行うため
のものである。
された読出しデータを入力してデータの弁別を行うため
のものである。
(実施例)
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明によるディスク装置の媒体欠陥検査装
置の一実施例を示すブロック図である。第1図において
、41〜44はそれぞれ位相合わせ発振器、51〜54
はそれぞれスイッチ、6はデータ弁別回路、7はデコー
ダ回路である。
置の一実施例を示すブロック図である。第1図において
、41〜44はそれぞれ位相合わせ発振器、51〜54
はそれぞれスイッチ、6はデータ弁別回路、7はデコー
ダ回路である。
第1図において、位相合わせ発揚器(PLO)41〜4
4はそれぞれ異なる時定数を有する。デコーダ回路7は
信号線2.3上の発振器選択信号を入力して解読し、4
本の出力線のうちの1本だけに出力信号を送出し、4つ
のスイッチ51〜54のうちの特定のひとつに作用して
、該当する発振器よりデータ弁別回路6への回路を閉じ
る。
4はそれぞれ異なる時定数を有する。デコーダ回路7は
信号線2.3上の発振器選択信号を入力して解読し、4
本の出力線のうちの1本だけに出力信号を送出し、4つ
のスイッチ51〜54のうちの特定のひとつに作用して
、該当する発振器よりデータ弁別回路6への回路を閉じ
る。
次に、上記の構成を有する媒体欠陥検出装置の動作につ
いて説明する。
いて説明する。
第1図において、信号線1上の読出し信号は、発振周波
数は同一であるが時定数のそれぞれ異なる発振器41〜
44に入力され、それぞれの時定数に従って発振を開始
する。信号線2,3上の発振器選択信号は最初に時定数
の最も短A発振器41のスイッチ51が選択されるよう
に設計されており、上記最短の時定数の次の長さの時定
数を有する発振器42のスイッチ52の発振が十分に確
立した時点で、前者のスイッチ51から後者のスイッチ
52へと、発振波形をゼロクロスするタイミングで発振
器選択信号を切替える。
数は同一であるが時定数のそれぞれ異なる発振器41〜
44に入力され、それぞれの時定数に従って発振を開始
する。信号線2,3上の発振器選択信号は最初に時定数
の最も短A発振器41のスイッチ51が選択されるよう
に設計されており、上記最短の時定数の次の長さの時定
数を有する発振器42のスイッチ52の発振が十分に確
立した時点で、前者のスイッチ51から後者のスイッチ
52へと、発振波形をゼロクロスするタイミングで発振
器選択信号を切替える。
以下、同様にして順次、時定数の長い発振器への切換え
、最後に最長の時定数を有する発振器44のスイッチ5
4を選択し、スイッチ54で発振を継続させることによ
り、媒体の欠陥に起因する読出し出力の減少による処理
続行不能事態を回避できるようにしている。
、最後に最長の時定数を有する発振器44のスイッチ5
4を選択し、スイッチ54で発振を継続させることによ
り、媒体の欠陥に起因する読出し出力の減少による処理
続行不能事態を回避できるようにしている。
(発明の効果)
以上説明したように本発明には、ディスク媒体の欠陥を
検出するための読出しデータを入力して、その周波数に
同期して時定数の異なる複数個の位相合わせ形発振器を
発振させると共に、発振器選択信号を入力して解読し、
上記複数個の位相合わせ形発振器のうちのひとつの出力
を指定して回路を開閉することによって、従来不可能で
あった大きな欠陥を含むディスク媒体に対してディジタ
ル方式によりエラーテスト7オーマツタの動作を可能な
らしめることができると云う効果がある。
検出するための読出しデータを入力して、その周波数に
同期して時定数の異なる複数個の位相合わせ形発振器を
発振させると共に、発振器選択信号を入力して解読し、
上記複数個の位相合わせ形発振器のうちのひとつの出力
を指定して回路を開閉することによって、従来不可能で
あった大きな欠陥を含むディスク媒体に対してディジタ
ル方式によりエラーテスト7オーマツタの動作を可能な
らしめることができると云う効果がある。
第1図は、本発明によるディスク装置の媒体欠陥検出装
置の一実施例を示すブロック図である。 41〜44・・・位相合わせ形発振器 51〜54・・・スイッチ 6・・・データ弁別回路 7・・・デコーダ回路 1〜3・−信号線
置の一実施例を示すブロック図である。 41〜44・・・位相合わせ形発振器 51〜54・・・スイッチ 6・・・データ弁別回路 7・・・デコーダ回路 1〜3・−信号線
Claims (1)
- ディスク媒体の欠陥を検出するための読出しデータを外
部より入力した時に、前記読出しデータの周波数に同期
して発振する時定数の異なる複数個の位相合わせ形発振
器と、発振器選択信号を外部より入力して解読し、前記
解読結果に対応して前記複数個の位相合わせ形発振器の
うちのひとつの出力を指定するためのデコーダ回路と、
前記デコーダ回路の指定により前記複数個の位相合わせ
形発振器に対応して選択的に外部回路を開閉するための
複数個のスイッチと、前記複数個のスイッチから選択的
に出力された前記読出しデータを入力してデータの弁別
を行うためのデータ弁別回路とを具備して構成したこと
を特徴とするディスク装置の媒体欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23196684A JPS61110048A (ja) | 1984-11-02 | 1984-11-02 | デイスク装置の媒体欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23196684A JPS61110048A (ja) | 1984-11-02 | 1984-11-02 | デイスク装置の媒体欠陥検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61110048A true JPS61110048A (ja) | 1986-05-28 |
Family
ID=16931839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23196684A Pending JPS61110048A (ja) | 1984-11-02 | 1984-11-02 | デイスク装置の媒体欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61110048A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63157369A (ja) * | 1986-12-20 | 1988-06-30 | Fujitsu Ltd | ディスク装置の試験方法 |
-
1984
- 1984-11-02 JP JP23196684A patent/JPS61110048A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63157369A (ja) * | 1986-12-20 | 1988-06-30 | Fujitsu Ltd | ディスク装置の試験方法 |
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