JPH03239948A - シート状物質の特性測定方法 - Google Patents
シート状物質の特性測定方法Info
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- JPH03239948A JPH03239948A JP3805990A JP3805990A JPH03239948A JP H03239948 A JPH03239948 A JP H03239948A JP 3805990 A JP3805990 A JP 3805990A JP 3805990 A JP3805990 A JP 3805990A JP H03239948 A JPH03239948 A JP H03239948A
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- ray tube
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、Ｘ線管を使用してシート状物質の特性を測定
するシート状物質の特性測定方法に関するものである６ 〈従来の技術〉 Ｘ線管から放射されるＸ線を用いたシート状物質特性装
置には金属板等の厚さを測定する厚さ計や紙中の灰分量
を測定する灰分量等がある。ここで用いられるＸ線管を
用いたＸ！！発生手段は以下のようになっている。
するシート状物質の特性測定方法に関するものである６ 〈従来の技術〉 Ｘ線管から放射されるＸ線を用いたシート状物質特性装
置には金属板等の厚さを測定する厚さ計や紙中の灰分量
を測定する灰分量等がある。ここで用いられるＸ線管を
用いたＸ！！発生手段は以下のようになっている。
以下、従来の技術を図面を用いて説明する。
第３図は従来のＸ線管を用いたＸ線発生手段の概要図で
ある。
ある。
第３図において、１は熱電子を発生させる電子発生源の
フィラメントＦ１発生した熱電子を制御（収束）する電
子レンズＧ、熱電子の衝突によりＸ線を発生する金属（
ターゲット）及びこれ等を真空雰囲気内に収納するため
の管体Ｂ及び窓Ｗから成るＸ線管である。２はＸＩｌ管
１を駆動するＸ線管駆動回路であり、例えばフィラメン
トＦの一端をカソードにとした時、カソードに／電子レ
ンズＧ間に直流電源Ｅが、カソードに／ターゲットＴ間
に例えば５〜８ＫｅＶの高電圧（Ｘ線管印加電圧又はタ
ーゲット印加電圧という）ＨＶが夫々接続される構造か
ら成る。
フィラメントＦ１発生した熱電子を制御（収束）する電
子レンズＧ、熱電子の衝突によりＸ線を発生する金属（
ターゲット）及びこれ等を真空雰囲気内に収納するため
の管体Ｂ及び窓Ｗから成るＸ線管である。２はＸＩｌ管
１を駆動するＸ線管駆動回路であり、例えばフィラメン
トＦの一端をカソードにとした時、カソードに／電子レ
ンズＧ間に直流電源Ｅが、カソードに／ターゲットＴ間
に例えば５〜８ＫｅＶの高電圧（Ｘ線管印加電圧又はタ
ーゲット印加電圧という）ＨＶが夫々接続される構造か
ら成る。
この様な構成において、フィラメントＦに電流を流すと
、熱電子が発生する。この熱電子はカントに〜ターゲッ
トＴ間に印加されている高電圧Ｖによる電界で加速され
、電子レンズＧで収束されてターゲットＴに当たる。こ
の結果、特定のエネルギーの特性Ｘ線と連続したエネル
ギースペクトルを持つ制動放射Ｘ線が放出される。
、熱電子が発生する。この熱電子はカントに〜ターゲッ
トＴ間に印加されている高電圧Ｖによる電界で加速され
、電子レンズＧで収束されてターゲットＴに当たる。こ
の結果、特定のエネルギーの特性Ｘ線と連続したエネル
ギースペクトルを持つ制動放射Ｘ線が放出される。
この様な構成によって得られるＸ線を用いたシート状物
質の特性測定装置としては第４図のようなものがある。
質の特性測定装置としては第４図のようなものがある。
第４図は第３図を用いて構成される従来のシート状物質
の特性測定装置の説明に供する図である。
の特性測定装置の説明に供する図である。
第５図は第４図の説明に供する図である。
第４図乃至第５図において、３はＸ線を照射されその特
性が計られる被測定物であるシート状物質（以下「シー
ト」という）、４は透過Ｘ線を検出する例えば電離箱の
ようなＸ線検出器、５は増幅回路である。
性が計られる被測定物であるシート状物質（以下「シー
ト」という）、４は透過Ｘ線を検出する例えば電離箱の
ようなＸ線検出器、５は増幅回路である。
これによれば、Ｘ線管１からのＸ線をシート３に照射し
て、透過したＸ線の１をＸ線検出器４で検出して増幅回
１ｉ５を介して得ることで、シート３の特性を測定でき
る。
て、透過したＸ線の１をＸ線検出器４で検出して増幅回
１ｉ５を介して得ることで、シート３の特性を測定でき
る。
この時、透過Ｘ線の強度（Ｘ線検出器の出力）■と、シ
ートの単位面積当たりの重量（坪量）ＢＷは、 １＝Ｉｏ −ｅｘｐ （−ｔｔ−ＢＷ） −（１
）の関係がある。但し、μは吸収係数、Ｉｏは透過Ｘ線
の強度最大時（透過前の強度）の値を表わす。
ートの単位面積当たりの重量（坪量）ＢＷは、 １＝Ｉｏ −ｅｘｐ （−ｔｔ−ＢＷ） −（１
）の関係がある。但し、μは吸収係数、Ｉｏは透過Ｘ線
の強度最大時（透過前の強度）の値を表わす。
第５図にこの関係からなるＸ線のエネルギー分布として
、槽軸に坪量ＢＷ、縦軸に出力Ｉをとった時の検量線を
図示する。
、槽軸に坪量ＢＷ、縦軸に出力Ｉをとった時の検量線を
図示する。
ところで、前記出力Ｉは照射する制動放射Ｘ線のエイ・
ルギーによって変動する。即ち、Ｘ線管１のターゲラト
ルカソード間に印加しているＸ線管印加電圧か変動する
と、Ｘ線のエネルギー分布即ち検量線（第５図実線）が
破線α（印加電圧大）β（印加電圧小）のように変るこ
ととなる。
ルギーによって変動する。即ち、Ｘ線管１のターゲラト
ルカソード間に印加しているＸ線管印加電圧か変動する
と、Ｘ線のエネルギー分布即ち検量線（第５図実線）が
破線α（印加電圧大）β（印加電圧小）のように変るこ
ととなる。
〈発明か解決しようとする課題〉
このように従来の技術にあっては、実際のオンライン測
定時に、温度変動その池の理由により高電圧源の出力電
圧が変動することによる出力誤差があるため、これを防
ぐ手段として、必要に応じて温度調整をする必要がある
か、シート状物質の特性測定装置を設！する場所等の条
件等によってはこのような配慮をすることも大変であっ
たりして、場合によってはある程度の出力誤差のあるこ
とも見込まなければならない等使用上不利となることも
ある、という問題点があった。
定時に、温度変動その池の理由により高電圧源の出力電
圧が変動することによる出力誤差があるため、これを防
ぐ手段として、必要に応じて温度調整をする必要がある
か、シート状物質の特性測定装置を設！する場所等の条
件等によってはこのような配慮をすることも大変であっ
たりして、場合によってはある程度の出力誤差のあるこ
とも見込まなければならない等使用上不利となることも
ある、という問題点があった。
本発明は、従来の技術の有するこのような間穎点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、特別
な温度調整を行なうことなく、簡単な回路千Ｆ２を追加
するだけで、Ｘ＠管のターゲラトルカソード間に印加し
ているＸ線管印加電圧が変ることによって生じる出力誤
差を除くことかできるシート状物質の特性測定方法を提
供するものである。
てなされたものであり、その目的とするところは、特別
な温度調整を行なうことなく、簡単な回路千Ｆ２を追加
するだけで、Ｘ＠管のターゲラトルカソード間に印加し
ているＸ線管印加電圧が変ることによって生じる出力誤
差を除くことかできるシート状物質の特性測定方法を提
供するものである。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するために、本発明は、シート状物質を
挟んで一方の側に設けられてこのシート状物質にＸ線を
照射するＸ線発生手段と、前記シート状物質の他方の側
に設けられてこのシート状物質を透過したＸ線を検出す
るＸ線検出器とを具備して透過Ｘ線量からシート状物質
の特性を測定する装置において、測定に先立って前記Ｘ
線発生手段のＸ線管印加電圧の設定値に対する変動量及
びこの変動量に係わる検量線の補１Ｅｊｉを測定する各
坪量に対して予め求め、測定時はＸ線管印加電圧をモニ
ターして設定値からの変動量を把握することでその都度
Ｘ線検出器出力における前記検量線の補正量を得、該検
量線の補正量を用いて前記その都度のＸ線検出器出力を
補圧して前記シート状物質の特性を測定するようにした
方法である。
挟んで一方の側に設けられてこのシート状物質にＸ線を
照射するＸ線発生手段と、前記シート状物質の他方の側
に設けられてこのシート状物質を透過したＸ線を検出す
るＸ線検出器とを具備して透過Ｘ線量からシート状物質
の特性を測定する装置において、測定に先立って前記Ｘ
線発生手段のＸ線管印加電圧の設定値に対する変動量及
びこの変動量に係わる検量線の補１Ｅｊｉを測定する各
坪量に対して予め求め、測定時はＸ線管印加電圧をモニ
ターして設定値からの変動量を把握することでその都度
Ｘ線検出器出力における前記検量線の補正量を得、該検
量線の補正量を用いて前記その都度のＸ線検出器出力を
補圧して前記シート状物質の特性を測定するようにした
方法である。
く作用〉
（イ）まず、Ｘ線管のターゲラトルカソード間のＸ線管
印加電圧の当初の設定値に対する変動量と、この変動量
によって生じる検量線の補正量とを、測定する各坪量に
対して、予め求めておく。
印加電圧の当初の設定値に対する変動量と、この変動量
によって生じる検量線の補正量とを、測定する各坪量に
対して、予め求めておく。
（ロ）次に、このＸ線管印加電圧を常にモニタして前記
設定値からの変動量を求める。
設定値からの変動量を求める。
（ハ）その上で、その都度の出力値に前記予め求めてお
いた検量線の補正量を加えて正しい測定値を求める。
いた検量線の補正量を加えて正しい測定値を求める。
〈実施例〉
実施例について図面を参照して説明する。
尚、以下の図面において、第３図乃至第５図と重複する
部分は同一番号を付してその説明は省略する。
部分は同一番号を付してその説明は省略する。
第１図は本発明のシート状物質の特性測定方法の説明に
供する装置の具体的実施例のプロｌり系統図である。又
、第２図は第１図の説明に供する図て゛、りる。
供する装置の具体的実施例のプロｌり系統図である。又
、第２図は第１図の説明に供する図て゛、りる。
第１図において−６は分圧回路、７は電圧検出＋段、８
はｉ寅算手段である。分圧回ｉ６及び電圧検出手段７は
Ｘ線管印加電圧を常時モニターする回路であり、この時
に分圧回路６はＸ線管印加電圧ＨＶか前記したように数
ＫｅＶと高電圧であるので、電圧仕様に併せて適当に分
圧して検出するために設けられた（従ってこの回路は必
要に応じて設けられる）ものである。
はｉ寅算手段である。分圧回ｉ６及び電圧検出手段７は
Ｘ線管印加電圧を常時モニターする回路であり、この時
に分圧回路６はＸ線管印加電圧ＨＶか前記したように数
ＫｅＶと高電圧であるので、電圧仕様に併せて適当に分
圧して検出するために設けられた（従ってこの回路は必
要に応じて設けられる）ものである。
以下にこの様なブロックの動作機能について第２図を併
せて用いながら説明する。
せて用いながら説明する。
■、Ｘ線管印加電圧ＨＶが安定した状態で、Ｘ線管１と
Ｘ線検出器４との間に坪量ＢＷが異なる複数の基準サン
プルを挟んで、その基準サンプルに対するＸ線管印加電
圧ＨＶに基づく出力■の変化を、第２図（Ａ）に示すよ
う、な横軸に坪量ＢＷを取り縦軸に出力（透過Ｘ線の強
度）■をとった時の、検量線を作成する。
Ｘ線検出器４との間に坪量ＢＷが異なる複数の基準サン
プルを挟んで、その基準サンプルに対するＸ線管印加電
圧ＨＶに基づく出力■の変化を、第２図（Ａ）に示すよ
う、な横軸に坪量ＢＷを取り縦軸に出力（透過Ｘ線の強
度）■をとった時の、検量線を作成する。
■１次に、実際に使用する範囲の坪量、即ち第２図（Ａ
＞の横軸坪量の中間付近“ＢＷ、””の基準サンプルを
Ｘ線管／Ｘ線検出器間に挟んで、Ｘ線管印加電圧ＨＶを
少し変動とさせて、この変動電圧を分圧回路６．電圧検
出手段７を介して演算手段８に導き、そのときのＸ線検
出器４からの出力■の変動１ΔＩとの関係を演算手段８
で求める。
＞の横軸坪量の中間付近“ＢＷ、””の基準サンプルを
Ｘ線管／Ｘ線検出器間に挟んで、Ｘ線管印加電圧ＨＶを
少し変動とさせて、この変動電圧を分圧回路６．電圧検
出手段７を介して演算手段８に導き、そのときのＸ線検
出器４からの出力■の変動１ΔＩとの関係を演算手段８
で求める。
この関係は、第２図（Ｂ）に示すように、横軸をＸ線管
印加電圧Ｈｖ、６軸を出力の変動量ΔＩとして表わすこ
とかできる。
印加電圧Ｈｖ、６軸を出力の変動量ΔＩとして表わすこ
とかできる。
これにより、Ｘ線管印加電圧ＨＶの設定値に対する変動
量に対応した出力Ｉの変動量Δ■が求められる。この出
力の変動量か即ち出力Ｉによって生じる検量線の補正量
である。
量に対応した出力Ｉの変動量Δ■が求められる。この出
力の変動量か即ち出力Ｉによって生じる検量線の補正量
である。
このようにして求められるグラフを、例えばグラフ化し
た数値として或は関数の形で演算手段８の記憶要素に検
量線の補正量として記憶しておく。
た数値として或は関数の形で演算手段８の記憶要素に検
量線の補正量として記憶しておく。
■、実際の測定時においてＸ線管印加電圧を常にモニタ
ーして設定値からの変動量を把握することて゛その都度
出力値に検量線の補正量を加え、正しい測定値を得るた
めに、具体的に、Ｘ線検出器４／増幅回路５の出力Ｉと
同時にＸ線管印加電圧Ｈｖｆ）電圧検出手段７の出力と
をもとに、演算手段８て゛Ｘ線管印加電圧変動量から検
量線の補正量を求め、出力値にこの補正量を加えて正し
い出力値を算出する。
ーして設定値からの変動量を把握することて゛その都度
出力値に検量線の補正量を加え、正しい測定値を得るた
めに、具体的に、Ｘ線検出器４／増幅回路５の出力Ｉと
同時にＸ線管印加電圧Ｈｖｆ）電圧検出手段７の出力と
をもとに、演算手段８て゛Ｘ線管印加電圧変動量から検
量線の補正量を求め、出力値にこの補正量を加えて正し
い出力値を算出する。
以上により、温度変動等に基因する印加電圧変動を常に
補正した形での正しい坪量を求めることができる。
補正した形での正しい坪量を求めることができる。
尚、最初に作成しておく補正量は、測定範囲の中間付近
だけでなく、いくつかの坪量について予め求めておけば
、より正しい補正ができる。
だけでなく、いくつかの坪量について予め求めておけば
、より正しい補正ができる。
〈発明の効果〉
本発明は、以上説明したように測定するので、実際のオ
ンライン測定においては、誤差要因の１つであったＸ線
管印加電圧の変動による誤差の影響を除くことができる
から、実用上十分の効果を得ることができる。
ンライン測定においては、誤差要因の１つであったＸ線
管印加電圧の変動による誤差の影響を除くことができる
から、実用上十分の効果を得ることができる。
第１図は本発明のシート状物質の特性測定方法を説明す
るための装置である具体的実施例のブロック系統図、第
２図は第１図の説明に供する図、第３図は従来のＸ線管
を用いたＸ線発生手段の概要図、第４図は第３図を用い
て構成される従来のシート状物質の特性測定装置の説明
に供する図、第５図は第４図の説明に供する図である。 １・・・Ｘ線管、２・・・Ｘ線管駆動回路、３・・・シ
ート 状物質（シ ト）、 ・・検出器、 ・・増幅回路、 ・・分圧回路、 ・・電圧検出手段、 ・・演算手段。
るための装置である具体的実施例のブロック系統図、第
２図は第１図の説明に供する図、第３図は従来のＸ線管
を用いたＸ線発生手段の概要図、第４図は第３図を用い
て構成される従来のシート状物質の特性測定装置の説明
に供する図、第５図は第４図の説明に供する図である。 １・・・Ｘ線管、２・・・Ｘ線管駆動回路、３・・・シ
ート 状物質（シ ト）、 ・・検出器、 ・・増幅回路、 ・・分圧回路、 ・・電圧検出手段、 ・・演算手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シート状物質を挟んで一方の側に設けられてこのシート
状物質にＸ線を照射するＸ線発生手段、前記シート状物
質の他方の側に設けられてこのシート状物質を透過した
Ｘ線を検出するＸ線検出器を具備して透過Ｘ線量からシ
ート状物質の特性を測定する装置において、測定に先立
って前記Ｘ線発生手段のＸ線管印加電圧の設定値に対す
る変動量及びこの変動量に係わる検量線の補正量を測定
する各坪量に対して予め求め、 測定時はＸ線管印加電圧をモニターして設定値からの変
動量を把握することでその都度Ｘ線検出器出力における
前記検量線の補正量を得、該検量線の補正量を用いて前
記その都度のＸ線検出器出力を補正して前記シート状物
質の特性を測定するシート状物質の特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3805990A JPH03239948A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | シート状物質の特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3805990A JPH03239948A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | シート状物質の特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03239948A true JPH03239948A (ja) | 1991-10-25 |
Family
ID=12514932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3805990A Pending JPH03239948A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | シート状物質の特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03239948A (ja) |
-
1990
- 1990-02-19 JP JP3805990A patent/JPH03239948A/ja active Pending
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