JPH03240835A - 自己診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野Ｊ 本発明は、プログラムによって動作する装置において、
装置自体に、該装置の持つ諸機能か正常に動作するか否
かを各機能毎に順に自己診断させる自己診断方式に関す
るものである。

［従来の技術１ 前述のプログラムによって動作する装置とは、プログラ
ムによって装置本体に内蔵または外付けの回路や機器等
の動作を制御して、これらの回路や機器等によって発揮
される諸機能を使って一連の処理を実行し得る装置のこ
とであり、例えば、コノピーータを使って一定の業務処
理（例えば、金融業界等における取引業務）や情報処理
等を行う処理装置や、マイコンによって可動部の動作を
制御するようにした車両等における各種の制御装置なと
か該当するか、これらの具体例に限るものではない。

従来より、このような装置においては、使用者に負担を
かけずに運用時における処理機能の信頼性の向上を図る
ことから、例えば、装置の立ち上げ時に、装置自体に自
己の持つ諸機能が正零に動作するか否かを自己診断させ
ることが研究されている。

第２図は、このような装置における従来の自己診断方式
を示したものである。

この自己診断方式は、装置が、へ機能、８機能。

Ｎ機能を有している場合に、それぞれの機能が正常に動
作するか否かを確認する一定の機能試験として、各機能
に対応させてＡ機能試験、Ｂ機能試験、　・・Ｎ機能試
験を予め設定しておき、診断を必要とする時（例えば、
立ち上げ時に、自己診断の実施か要求されたときで、図
におけるステップ１０１が該当する）には、以下のステ
ップ１０２Ａ−１０２Ｎに示すように、各機能毎に順に
全機能について機能試験を実施して、全機能が正常であ
ると確認された場合に、装置が正常に動作することを通
知して、運用状態（ステップ１０３）に移行するもので
ある。

１発明か解決しようとする課題ｊ しかしながら、装置の持つ全ての機能に対して機能試験
を実施する従来の自己診断方式では、装置か正常である
と判断されて運用可能になるまでに長時間を必要とし、
例えば、立ち上げ・休止を繰り返す装置においては、自
己診断のために稼働率か大幅に低下するという問題が生
じていた。

そこで、対策として、例えば第２図のステップ１０１等
の判断ステップにより自己診断の不実施を選択可能にし
たり、あるいは機能試験の実施を一部の機能に制限する
ことか検討されたが、このような対策では、機能試験を
免れた機能から重度の１障害か発生して、そのために、
運用中により大きな肢害を被る虞れがあるなど、装置の
信頼性の点で不安かあり、短時間で装置の持つ全機能に
ついて自己診断することのできる新規な自己診断方式の
開発が今後の課題とされていた。

この発明は、前記事情に鑑みてなされたもので、プログ
ラムにより動作する装置において、装置目体に、該装置
の持つ諸機能が正常に動作するか否かを各機能毎に順に
自己診断させる自己診断方式であって、短時間で装置の
持つ全機能について自己診断することができ、従って、
装置の信頼性を低下させずに、自己診断に要する時間を
短縮するとことのできる自己診断方式を提供することを
目的とする。

、課題を解決するための手段］ 本発明に係る自己診断方式は、プログラムによって動作
する装置において、装置自体に、該装置の持つ諸機能が
正常に動作するか否かを各機能毎に順に自己診断させる
ものである。

その特徴とするところは、装置の休止時においても計時
を継続する計時部と、機能試験を実施するか否かを判断
するために使用する諸判断情報を格納しておく診断情報
記憶部と、この診断情報記憶部に諸判断情報を入力する
ための情報入力部とを備えた点である。

そして、前記診断情報記憶部には、前記諸判断情報の格
納部として、診断すべき各機能毎に、発生回数記憶エリ
アと、許容回数記憶エリアと、最終試験時期記憶エリア
と、許容期間記憶エリアとを設定しておく。

そして、前記発生回数記憶エリアには、装置の運用上で
支障のない軽度の障害である再開可能障害か装置の運用
中に実際に発生した回数ｎを格納しておき、前記許容回
数記憶エリアには、前記再開可能障害についての許容発
生回数Ｎを格納しておく。

また、前記最終試験時期記憶エリアには、最後に機能試
験を実施した時期ｔ１を確認可能にするために、機能試
験を実施する度にその実施した時期ｔ１を前記計時部よ
り読み取って格納しておき、前記許容期間記憶エリアに
は、機能試験を行わなくとも運用上で支障となる障害の
発生がないと推定される試験猶予期間Ｔを格納しておく
。

そして、各機能毎にその機能が正常に動作するか否かを
自己診断する時には、前記再開可能障害の発生回数ｎが
許容発生回数Ｎを超えているか否かをすす断させるとと
もに、前記計時部から現診断時期ｔ、を読み取らせて、
（ｔ２　　ｔ１）が試験猶予期間Ｔを超えているか否か
を判断させる。

そして、前記発生回数ｎが許容発生回数Ｎを超えておら
ず、かつ、（１１１１）が試験ＳＷ％期間Ｔを超えてい
ない場合に限って、その機能については、機能試験を実
施せずに正常に動作するものと自己診断させる。

［作用］ 本発明に係る自己診断方式は、装置の持つ諸機能が正常
に動作するか否かを各機能毎に順に全機能について自己
診断するものである。

しかし、この各機能毎の自己診断では、まず、軽度の障
害である再開可能障害が装置の運用中に実際に発生した
回数ｎが前記再開可能障害についての許容発生回数Ｎを
超えているか否かを判断させ、さらに、最後に機能試験
を実施した時期ｔ１から現診断時期ｔ、までの期間が機
能試験を行わなくとも運用上で支障となる障害の発生が
ないと推定される試験猶予期間Ｔを超えているか否かを
判断させる。

そして、これらの判断によってその機能に重度の障害か
潜んでいる蓋然性が高いか否かを診断し、重度の障害か
潜んでいる蓋然性の高い機能に対しては確実に機能試験
を実行することによって、機能試験を免れた機能から重
度の障害が発生するという不安材料を排除して装置の信
頼性を高め、方、重度の障害が潜んでいる蓋然性の低い
機能に対しては機能試験を省略することによって、診断
時間の短縮を図る。

従って、装置の信頼性を低下させずに、自己診断に要す
る時間を短縮するとことができる。

′実施例１ 以下、本発明の一実施例を図面に基、づいて説明する。

第１図は本発明に係る自己診断方式の一実施例における
処理の要部を抽出した流れ図、第３図は前記一実施例に
おける処理を概略的に示した流れ図、第４図は前記一実
施例における装置構成を示すブロック図、第５図は前記
一実施例の装置構成における要部の構成説明図である。

この一実施例の自己診断方式は、コンピュータを使って
金融業務等における取引業務をオンラインで処理する処
理装置において、該装置の立ち上げ時に、該装置自体に
自己の持つ諸機能がｂ常に動作するか否かを各機能毎に
順に自己診断させるものである。

この一実施例の自己診断方式は、装置的には、第４図に
示すように、中央処理装置たるＣＰＵ２１と、主記憶装
置として前記ＣＰＵ２１に接続されたメモリ２２と、前
記ＣＰＵ２１に対する入出力部２３と、補助記憶装置と
してＣＰＵ２１に接続された二次メモリ２４と、ＣＰＵ
２１による処理をオンライン化するために通信網への接
続を行う回線部２５と、ＣＰＵ２１に対する入出力情報
などを表示するための表示部２６とを備え、さらに、計
時部２８と、診断情報記憶部２９と、情報入力部３０と
を備えた構成となっている。

ここに、前記ＣＰＵ２１．　メモリ２２．入出力部２３
．二次メモリ２４２回線部２５１表示部２６は、いずれ
も、自己診断を行う処理装置の運用時には、該処理装置
の機能部品（機器）として活用され、また、該処理装置
の自己診断時には、実施例における機能部品（機器）と
して活用される。　即ち、前記メモリ２２あるいは二次
メモリ２４には、処理装置としての業務処理用のプログ
ラムの外に前記一実施例を実行する自己診断用のプログ
ラムか格納されており、前記ＣＰＵ２１は、処理装置の
立ち上げ時には、その自己診断用のプログラムを読み出
して、一定の自己診断処理を実行するものである。

前記計時部２８、診断情報記憶部２９、情報入力部３０
なとは、いずれも、本発明の一実施例のために新設した
もので、これらの機器の構成・機能等については、以下
に詳述する。

前記計時部２８および診断情報記憶部２９は、専用のハ
、テリー３１を電源として駆動されるもので、処理装置
の電源か落とされる休止時においても、計時部２８は計
時を継続し、診断情報記憶部２９は記憶内容を保持し続
ける。

また、診断情報記憶部２９は、機能試験を実施するか否
かを判断するために使用する請判断情報を格納しておく
記憶装置であり、前記請判断情報の格納部として、第５
図に示すように、発生回数記憶エリア２９ａと、許容回
数記憶エリア２ｔ９ｂと、最終試験時期記憶エリア２９
ｃと、許容期間記憶エリア２９ｄとを有している。

また、これらの各エリア２９ａ、２９ｂ　　２９Ｃ，２
９ｄは、いずれも、処理装置に装備されて自己診断の対
象となる各機能毎に、設けられている。

ここに、前記発生回数記憶エリア２９ａには、再開可能
障害が処理装置の運用中に実際に発生した回数ｎを格納
しておく。

なお、再開可能障害とは、処理装置の運用上で支障のな
い軽度の障害（即ち、処理装置の運用状態を中止するよ
うな必要のない障害）を意味し、例えば、入出力部２３
の印字機能において、印字濃度が若干薄くなるといった
障害が該当する。

従って、印字が不能になる等の重度の障害は、ここでい
う再開可能障害には、該当しない。

前記許容回数記憶エリア２９ｂには、前記再開可能障害
についての許容発生回数Ｎを格納しておく　。

この許容発生回数Ｎは、機能試験によって厳重に機能チ
エツクしたほうが好ましいが否かを判断する基準値であ
り、再開可能障害であっても頻繁に発生する場合には重
度の障害が潜んでいる蓋然性が高いという本廓発明者等
の知見に基づいて導入したものであり、予め過去の経験
や実験から算定してエリア２９ｂに格納しておく。

ｎ≧Ｎの場合が、重度の障害が潜んでいる蓋然性が高く
、機能試験を実施することが好ましいことを意味する。

前記最終試験時期記憶工１／ア２９ｃには、最後に機能
試験を実施した時期ｔ、を確認可能にするために、機能
試験を実施する度にその実施した時期１．を前記計時部
より読み取って格納しておく。

前記許容期間記憶エリア２９ｄには、機能試験を行わな
くとも運用上で支障となる重度の障害の発生がないと推
定される試験猶予Ｍ間Ｔを格納しておく。

この試験猶予期間Ｔも、予め過去の経験や実験によって
算定して、格納しておく。

なお、前述のｔｌやＴを表す基準単位とし【は、“日（
日付）”を使用することが多いと、甲われるか、処理装
置の用途・種類や診断対象の機能によっては、Ｍ週”あ
るいは“時、分”などを使用することも考えられる。

前記情報入力部３０は、前記診断情報記憶部２９に格納
する請判断情報（即ち、再開可能障害の実際の発生回数
ｎ、許容発生回数Ｎ、最終試験実施時期ｔ＋、）！予期
間Ｔなどの情報）を入力するための専用の入力部である
が、この入力部３０は、前記入出力部２３のキーボード
上に設定しても良い。

この人力部３０は、発生回数ｎの状況等に応じて診断情
報記憶部２９に既に格納されている情報を修正したりク
リア（消去）する場合、機能試験を実施したために診断
情報記憶Ｍ２９における情報を初期設定し直す場合、処
理装置の運用中に再開可能障害が発生したために発生回
数ｎを更新させる場合などに利用する。

なお、入力部３０から入力可能な情報の内、発生回数ｎ
や、最終試験実施時期ｔ、は、ＣＰＵ２１による処理で
、自動的に、記憶部２９の所定のエリアに書き込ませる
ようにしても良い。

例えば、処理装置の運用時における再開可能障害の発生
回数は、ＣＰＵ２１に接続された図示略の時期読取部に
よって検出させ、その発生回数ｎを前記ＣＰＵ２１によ
ってエリア２９ａに格納させる。この場合に、エリア２
９ａに格納する発生回数ｎは、障害か発生する毎に、更
新することになる。

また、時期ｔ、の場合は、機能試験を実施する度に、Ｃ
ＰＵ２１に接続された図示略の時期読取部によって計時
部にカウントされている時期を読み取らせ、その時期を
前記ＣＰＵ２１によってエリア２９ｃに格納させる。

なお、この場合の格納は、更新登録によって最終のもの
たけを残すようにしても良く、また、以前のものはその
まま試験実施経歴として残すようにしでも良い。

以下、前述の如き装置構成をなす一実施例の動作、即ち
、自己診断用のプログラムを前記Ｃ，ＰＵ２１が実行し
た場合の動作を説明する。

なお、処理装置の一番最初の立ち上げ時には、前記計時
部２８が動作していることを確認し、また１、診断情報
記憶部２９の各エリアの情報が初期設定されていること
を確認する。

この場合に、初期設定とは、エリア２９ｂ、２９ｄには
診断すべき各機能に対する許容発生回数Ｎや試験猶予期
間Ｔの情報が格納され、また、エリア２９ａ、２９ｃは
情報が未格納な状＠（クリアされている状聾）になって
いることを示す。

初期設定されていない場合には、前記情報入力部３０か
らの入力により、診断情報記憶部２９を初期設定する。

また、処理装置の２番目以降の立ち上げ時には、必要が
あれば、診断情報記憶部２９の各エリアの情報を、前記
情報入力部３０からの入力により、修正する。

また、処理装置かＡ＄Ｉ能、８機能、　・Ｎ機能を有し
ている場合には、それぞれの機能が正常に動作するか否
かを確認する一定の機能試験として、各機能に対応させ
てへ機能試験、Ｂ機能試験Ｎｌ能試験を設定し、予め、
メモリ２２または二次メモリ２４に格納しておく。

さて、この一実施例の自己診断方法は、処理装置の立ち
上げ時に、第３図に示すように、該装置の持つ諸機能か
正常に動作するか否かを各機能毎に順に全機能について
自己診断しくステップ３゜ＯＡ、３００Ｂ、・・・・３
０ＯＮ）、全ての機能が正常であると診断される場合に
、処理装置か正常に動作することを通知して、通常の運
用業務を開始可能にするものである。

ところが、各機能毎の自己診断ては、まず、機能試験の
実施が必要であるか否かを判断させ（ステップ３１０．
Ａ、３１０Ｂ、・・・・・・３１ＯＮ）、機能試験の実
施か必要であると判断される場合についてだけ機能試験
を実行しくステップ３２０　、Ａ　。

３２０　Ｂ、・・・・３２ＯＮ）、機能試験の実施が必
要でないと判断される場合には機能試験を実行しない。

このような、各機能毎の自己診断のメカヘズムを、詳細
に示すと、第１図の如くである。

即ち、各機能毎の自己診断では、まず、診断情報記憶部
２９のエリア２９ａ、２９ｂに格納されている情報に基
づいて、前記再開可能障害の発生回数ｎが許容発生回数
Ｎを超えているか否かを判断させ（ステップ２００）、
超えていない場合には、さらに、前記計時部から現診断
時期１．を読み取らせて、（ｔ２　　ｔ１）が試験猶予
期間Ｔを超えているか否かを判断させる（ステップ２０
１）。

そして、前記発生回数ｎが許容発生回数Ｎを超えておら
ず、かつ、（１１−１，）が試験猶予期間Ｔを超えてい
ない場合に限って、その機能については、機能試験を実
施せずに正常に動作するものと自己診断させ、次の機能
に対する診断に移る（ステップ２０３）。

しかし、前記発生回数ｎが許容発生回数Ｎを超えている
場合、あるいは、（１１１１）が試験猶予期間Ｔを超え
ている場合は、いずれも機能試験を実施しくステップ２
０４）、さらに前記計時部から現試験実施時期ｔ、を読
み取らせて、その値にエリア２９ｃに格納されている時
期を書き換えてから、次の機能に対する診断に移る（ス
テ、プ２０３）。

前述のステップ２００，２０１は第３図における判断ス
テップ３１０Ａ、３１０Ｂ　　・−３１ＯＮに該当し、
また、ステップ２０４，２０５は第３図における試験実
行ステップ３２０Ａ、３２０Ｂ、・　・３２ＯＮに該当
する。

前述のステップ２０１．２０２は、換言すれば、重度の
障害か潜んでいる蓋然性の程度を評価して、機能試験の
実施か必要であるか否かを判断するものである。

即ち、一実施例の自己診断方式は、診断対象となる処理
装置の全機能について、各機能毎に重度の障害が潜んで
いる蓋然性か高いか否かを診断し、重度の障害が潜んで
いる蓋然性の高い機能に対しては確実に機能試験を実行
することによって、機能試験を免れた機能から重度の障
害が発生するという不安材料を排除して装置の信頼性を
高め、方、重度の障害が潜んでいる蓋然性の低い搗能に
対しては機能試験を省略することによって、診断時間の
短縮を図るものであるから、装置の信頼性を低下させず
に、自己診断に要する時間を短縮するとことができる。

なお、前述の一実施例では、装置の立ち上げ時に自己診
断を実施する場合を示したが、自己診断を実施する時期
は、装置の立ち上げ時に限定せず、装置の運用中等にお
いても、必要があれば、割り込みで実施可能にすること
も考えられる。

Ｅ発明の効果Ｊ 以上の説明から明らかなように、本発明に係る自己診断
方式は、装置の持つ諸機能が正常に動作するか否かを各
機能毎に順に全機能について自己診断する。

そして、この各機能毎の自己診断では、まず、軽度の障
害である再開可能障害が装置の運用中に実際に発生した
回数ｎが前記再開可能障害についての許容発生回数Ｎを
超えているか否かを判断させ、さらに、最後に機能試験
を実施した時期ｔから現診断時期ｔ、までの期間が機能
試験を行わなくとも運用上で支障となる障害の発生がな
いと推定される試験猶予期間Ｔを超えているか否かを判
断させる。

そして、これらの判断によってその機能に重度の障害が
潜んでいる蒼然性が高いか否かを診断し、重度の障害が
潜んでいる蓋然性の高い機能に対しては確実に機能試験
を実行することによって、機能試験を免れた機能から重
度の障害か発生するという不安材料を排除して装置の信
頼性を高め、方、重度の障害か潜んでいる蓋然性の低い
機能に対しては機能試験を省略することによって、診断
時間の短縮を図る。

従って、装置の信頼性を低下させずに、自己診断に要す
る時間を短縮するとことかできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る自己診断方式の一実施例における
処理の要部を抽出した流れ図、第２図は従来の自己診断
方式を示す流れ図、第３図は前記一実施例における処理
を概略的に示した流れ図、第４図は前記一実施例におけ
る装置構成を心すブロック図、第５図は前記一実施例に
おける診断情報記憶部の構成説明図である。 ２Ｉ・・・・・・ＣＰＵ、２２・・・・・メモリ、２３
・・・・・・入出力部、２４・・・・・二次メモリ、２
６・・・・表示部、２８・・・・・・計時部、２９・・
・・・・診断情報記憶部、３０・情報入力部、３１・・
バッテリ。 従来の自己診断方式の流れ図 第 ２図 一実施例の処理を概略餉に示した流れ図第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 プログラムによって動作する装置において、装置自体に
   、該装置の持つ諸機能が正常に動作するか否かを各機能
   毎に順に自己診断させる自己診断方式であって、 装置の休止時においても計時を継続する計時部と、機能
   試験を実施するか否かを判断するために使用する諸判断
   情報を格納しておく診断情報記憶部と、この診断情報記
   憶部に諸判断情報を入力するための情報入力部とを備え
   ておき、 前記診断情報記憶部には、前記諸判断情報の格納部とし
   て、診断すべき各機能毎に、発生回数記憶エリアと、許
   容回数記憶エリアと、最終試験時期記憶エリアと、許容
   期間記憶エリアとを設定しておき、 前記発生回数記憶エリアには、装置の運用上で支障のな
   い軽度の障害である再開可能障害が装置の運用中に実際
   に発生した回数ｎを格納しておき、前記許容回数記憶エ
   リアには、前記再開可能障害についての許容発生回数Ｎ
   を格納しておき、前記最終試験時期記憶エリアには、最
   後に機能試験を実施した時期ｔ＿１を確認可能にするた
   めに、機能試験を実施する度にその実施した時期ｔ＿１
   を前記計時部より読み取って格納しておき、 前記許容期間記憶エリアには、機能試験を行わなくとも
   運用上で支障となる障害の発生がないと推定される試験
   猶予期間Ｔを格納しておき、各機能毎にその機能が正常
   に動作するか否かを自己診断する時には、前記再開可能
   障害の発生回数ｎが許容発生回数Ｎを超えているか否か
   を判断させるとともに、前記計時部から現診断時期ｔ＿
   ２を読み取らせて、（ｔ＿２−ｔ＿１）が試験猶予期間
   Ｔを超えているか否かを判断させ、 前記発生回数ｎが許容発生回数Ｎを超えておらず、かつ
   、（ｔ＿２−ｔ＿２）が試験猶予期間Ｔを超えていない
   場合に限って、その機能については、機能試験を実施せ
   ずに正常に動作するものと自己診断させることを特徴と
   した自己診断方式。