JPH03242320A - 酸化物超伝導体薄膜 - Google Patents

酸化物超伝導体薄膜

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JPH03242320A
JPH03242320A JP2035119A JP3511990A JPH03242320A JP H03242320 A JPH03242320 A JP H03242320A JP 2035119 A JP2035119 A JP 2035119A JP 3511990 A JP3511990 A JP 3511990A JP H03242320 A JPH03242320 A JP H03242320A
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JP
Japan
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thin film
substrate
plane
oxide superconductor
layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP2035119A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Enomoto
陽一 榎本
Shugo Kubo
衆伍 久保
Tsunekazu Iwata
岩田 恒和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E40/00Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

Landscapes

  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は酸化物超伝導体薄膜、さらに詳細には超伝導素
子を構成するのに用いる酸化物超伝導体薄膜に関するも
のである。
(従来の技術) 酸化物超伝導体は低キヤリア濃度であるため、結晶粒界
にポテンシャルバリアが形成され、超伝導電流応用を図
る場合、問題となっている。このなめ、結晶粒界を持た
ない単結晶薄膜の作製が試みられ、高い臨界電流密度の
実現に成功している。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、高い超伝導転移温度を持つ酸化物超伝導体Ba
2LnCu307−δ(Ln :Y、La、Er。
E u、G d、D y )はいずれも層状の結晶構造
を持つため電気伝導特性に異方性が表れ、単結晶膜を用
いる場合にも、方位に注意する必要がある等の問題が生
じることになる。すなわち、超伝導電流はCu−0基底
面内をよく流れるのに対し、面間では低い値に抑えられ
てしまう、したがって、第1図に示すように、SrTi
O3単結晶基板(110)面上にBa2LnCu307
−δをエピタキシャル成長させると、電気伝導特性が基
板面内の角度に強く依存することになってしまう、さら
に、熱膨張係数にも異方性がありC軸方向で値が大きく
、膜厚の厚い試料ではC軸に垂直方向にクラックが発生
し問題であった。
一方、5rTi○3(IC)O)基板上にエピタキシャ
ル成長させると、第2図に示すように、Cu−0基底面
は基板面と平行となり面内の角度依存性はなくなる。し
かし、この場合には面に垂直方向に異方性が表れ、特に
超伝導のコヒーレンス長ζが面に垂直方向で短くなり、
膜上に堆積したものとの電気的な結合は弱い、実際、第
2図の構造を持つ薄膜を用いて、ジョセフソン接合を形
成しようとしても、短いこのため、超伝導電流を観測す
るのに今のところ成功していない。
(発明の目的) 本発明の目的は、高Tc酸化物超伝導体単結晶薄膜に起
きる強い電気伝導特性の異方性を、単結晶薄膜の優れた
特性を保ったまま減少させる薄膜を提供することにある
(課題を解決するための手段) このような目的を達成するために本発明は、高Tc酸化
物超伝導体の(110)面を持つ単結晶薄膜と(103
)面を持つ単結晶薄膜とを交互に堆積し多層化すること
により、各層のCu−0基底面の方位を変えたことをも
つとも主要な特徴とする。従来の技術とはCu−0基底
面の構成が異なる。
(作用) 第3図は本発明の詳細な説明する図であって、1は基板
、2は酸化物超伝導体薄膜、3はCu−〇基底面、4は
酸化物超伝導体薄膜2のうち(1] 0)配向した層(
(110)配向面層)で、5は酸化物超伝導体薄膜2の
うち(103)配向した層((103)配向面層)であ
る。
各層で、Cu−0基底面3の方向が異なり、電気伝導度
のよい方向が直交することになる。
またCu−0基底面3が基板1に立っているため、堆積
方向のコヒーレンス長は長く、したがって、(110)
配向面層4と(103)配向面層5の結合はよい。この
ような構成になっているから、基板1の[100]方向
に電流を流す場合には、(110)配向面層4のCu−
0面に沿って、また基板1の[110]方向に電流を流
す場合には(103)配向面層5のCu−0面に沿って
超伝導電流が流れることになる。この結果から明らかな
ように、従来の技術に比べ(110)基板上のエピタキ
シャル成長にもかかわらず面内の異方性が減少する。
このような構造はBa2LnCu307−δの層状結晶
構造から可能となるものである。すなわち、Ba2Ln
Cu307−δは3つの単純ペロブスカイト(2個のB
 a Cu 3−sと1個のLnCu3−δ)の積み重
ねより構成され、A−サイトの原子の種類に注目せずに
その基本単位のみ注目すると、(110)配向層も(1
03)配向層も同じ結晶構造になり、異なる配向層でも
基本的には相互にエピタキシャル成長が可能になる。(
110)配向と(103)配向との差は、BaとLnの
配置の違いにより生じる結果であり、(110)配向は
Baの上にはBaがLnの上にはLnが選択成長したも
のであり、(103)配向はLnの上にBaが成長した
ものである。
S r T i○3(110)基板上にエピタキシャル
成長させた薄膜では実際に両配向の共存がしばしば見ら
れる。
ところでBa2LnCu307−δの結晶成長速度はa
−b面で大きい、この点に注目し、薄膜作製条件を制御
することにより、(110)配向と(103)配向を選
択することができ、この多層構造を実現することができ
た。
以下に実施例によって本発明の詳細な説明する。
(実施例1)(スパッタ方による作製)第4図に、5r
Ti○3(110)面上に、Ba2YCu307−δを
エピタキシャル成長させた場合の、RFマグネトロンス
パッタの作製条件と堆積膜の配向方位の関係を示す、こ
の関係をもとに、初めに基板温度を600℃とし、RF
印加電圧1.8kVで(103)配向膜を作製し、その
後第2段階として基板温度を550”C1RF印加電圧
1.2kVで(110)配向膜を堆積することにより多
層膜を形成することができる。ただし、この条件はスパ
ッタ装置により変わる。したがって、初めに第4図の関
係を個々のスパッタ装置で求め、その条件に従い薄膜を
作製すればよい。
第5図(a)、(b)は各層の厚みを150nmとし、
2層に積層した場合の薄膜の特性を示す。
体積固有抵抗および超伝導臨界電流の温度依存性は[1
10]および[100]でほとんど変わらず、また単結
晶薄膜に近い特性が実現していることがわかる。
(実施例2)(スパッタ法と真空蒸着法の組み合わせに
よる方法) 真空蒸着法の場合、スパッタ法に比べ薄膜の堆積速度を
速くすることができる。このため、5rTio3(11
0)基板上には(103)配向膜が作製できる。したが
って、第1段階として基板温度600℃で真空蒸着法に
より(103)配向膜を作製し、その後第2段階として
マグネトロンスパッタ法で基板温度550℃、RF印加
電圧1.2kVで(110)配向膜を堆積すると、本発
明の多層膜を形成することができる。なお2層以上の多
層膜はこの操作を繰り返せばよい、第6図にこの方法で
作製した薄膜の体積固有抵抗の温度依存を示す。この結
果からも抵抗の異方性が小さくなっていることがわかる
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、異方性の小さいしかも単
結晶に近い酸化物超伝導体薄膜Ba2LnCu3C)7
−δ (L n : Y、L a、E r、E u、G d、
D y )が5rTi03基板(110)面上に形成で
きる。
したがって、超伝導電流応用あるいは電極にこの酸化物
超伝導薄膜を用いる場合、面内は等方の特性をもち、し
かもCu−0基底面が基板に垂直方向に格子状に組み上
げられるため磁束量子の運動も小さくなるという利点が
ある。また基板にコヒーレンス長が長く、接合作製等の
薄膜上に上部電極を形成する場合に10両者の結合が強
くなるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はSrTiO3単結晶基板(110)面上にBa
2YCu307−δをエピタキシャル成長させた場合の
Cu−0基底面の構成を示す図、第2図は5rTi03
(100)基板上にエピタキシャル成長させた場合のC
u−0基底面に示す図、第3図は本発明の詳細な説明す
る図であって、基板に平行に(110)面を持つ層と(
103)面を持つ層とを交互にエピタキシャル成長させ
た多層構造の場合のCu−0基底面に示す図、第4図は
5rTi03基板(110)面上に、Ba2YCu30
7−δをエピタキシャル成長させた場合の、RFマグネ
トロンスパッタの作製条件と堆積膜の配向方位の関係を
示す図、□第5図はRFマグネトロンスパッタの作製条
件を各層で変えて作製した場合の薄膜の特性を示す図、
第6図は真空蒸着法とスパッタ法を交互に使用し堆積し
た薄膜の体積固有抵抗の温度依存性を示す図である。 1・・・基板、2・・・酸化物超伝導体薄膜、3・・・
Cu−0基底面、4・・−(110)配向面層、5・・
・ (103)配向面層。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に設けられた、組成式: Ba_2LnCu_3O_7_−_δ (Ln:Y、La、Er、Eu、Gd、Dy)の酸化物
    超伝導体薄膜において、前記薄膜は前記基板に平行に(
    110)面を持つ層と(103)面を持つ層との多層構
    造であることを特徴とする酸化物超伝導体薄膜。
  2. (2)前記基板はSrTiO_3単結晶の(110)面
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の酸
    化物超伝導体薄膜。
JP2035119A 1990-02-16 1990-02-16 酸化物超伝導体薄膜 Pending JPH03242320A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1997023896A3 (de) * 1995-12-22 1997-08-28 Forschungszentrum Juelich Gmbh Schichtenfolge mit wenigstens einem epitaktischen, nicht c-achsen orientierten htsl-dünnfilm oder mit einer schicht aus einer mit htsl kristallographisch vergleichbaren struktur
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