JPH03242550A - Metal component analyzer - Google Patents
Metal component analyzerInfo
- Publication number
- JPH03242550A JPH03242550A JP3871690A JP3871690A JPH03242550A JP H03242550 A JPH03242550 A JP H03242550A JP 3871690 A JP3871690 A JP 3871690A JP 3871690 A JP3871690 A JP 3871690A JP H03242550 A JPH03242550 A JP H03242550A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample liquid
- flow path
- metal component
- column
- reactor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
本発明は金属成分分析装置にかかり、特に、分析すべき
イオンを濃縮し、あるいは分離させるカラムにおける濃
縮能力、分離能力低下の防止を図った分析装置に関する
ものである。The present invention relates to a metal component analyzer, and more particularly to an analyzer that prevents a decrease in the concentration and separation capabilities of a column that concentrates or separates ions to be analyzed.
第4図は本発明者らが先に特願昭63−180529号
で提案した金属成分分析装置である。
図中符号lは自動流路切換弁である。この自動流路切換
弁1の出口には試料l戊供給路3oが接続されている。
前記試料液供給路30には、送酸用ポンプ2、反応器3
、オーバーフロー相客i+”fr 4 、三方自動切換
弁5、加圧ポンプ6、圧カスイノチロAが取り付けられ
、この試料液供給路30は最總的に第1四方切換弁7に
接続されている。この第1四方切換弁7には、第1′t
R縮カラム8への流入路8aと第2濃縮カラム9への流
入路9aと溶離液供給路31が接続され、この溶離液供
給路31には、加圧ホンブ17と溶離液貯留部18が設
けられている。前記第1711縮カラム8からの流出路
8bと第2濃縮カラム9からの流出路9bは第2四方切
換弁10に接続されている。この第2四方切換弁lOに
は、さらに分離カラム11と吸光光度計12とからなる
分析手段32につながる流路33とυ[水路34につな
かる流路35か接続され、さらに、光間35には流量計
19か取り付けられている。
次いで前記金属成分分析装置の動作を説明する。
前記自動流路切換弁lには、6つの試料液光入路IA−
IFか接続されて、これら試料液流入路lA〜IFの−
っが試料液供給路30に遭択的に接続される。
試料l夜It、給路30に売人した試料液は送液用ポン
プ2によって反応″AX3に送られる。反応器3のJx
1Ilt側には、反応肢貯留部15と供給ポンプ16
を備えた反応ン夜供給路37が接続されており、試料液
中の金属をイオン化するための反応波が試料液に添加さ
れる。この反応l夜が添加された試料液は反応器3中で
所定温度で混合される。
この反応器3を通過した試料液はオーバーフロー容器4
に一旦貯留されるとともに、一定の貯留量を越えた試E
l液は符号り、で示す流路を通じて排水路34に排出さ
れる。オーバーフロー容器4を通過した試料液は三方切
換弁5に達する。また三方自動切換弁5は、試料液供給
路30を流れる試料液の一部を、符号L3で示す流路を
通じて排水路34に導くものであって、前記自動流路切
換弁1か切り換えられて別の試料液が供給された場合、
まず、流路L3側に流路を切り換えて、自動流路切換弁
1と三方切換弁5との間に残留していた先の試料液を完
全に洗い流した後、流路を切り換えることによって試料
液を試料液供給路30に沿−ンて流すよう1こしている
。
前記三方切換弁5を通過した試料液は加圧ポンプ6によ
り加圧される。なお、この加圧ポンプ6によって試料液
が所定圧以上に加圧された場合には、圧力スイッチ6A
がONとなって、制御部Cに対して加圧ポンプ6の動作
を停止させるための検出を信号を出力するようになって
いる。前記加圧ポンプ6に加圧された試料液は第1の四
方切換弁7によって笛1濃縮ツノラム8あるいは第2濃
縮カラム9に(j(給される。この第1四方切換弁7と
第2四方切換弁10は、試料e(j:給路30から供給
される試ネ1戚を濃縮カラム8あるいは9を通過せしめ
た後、流路35を経て排水路34に導く金属イオンメ層
線工程の流路と、溶流液供給路31から供給される溶離
液を濃縮カラム9あるいは8を通過せしめたあと分析手
段32に導く金属イオン溶離工程の流路とを、濃縮カラ
ム8,9に対して交互に形成するものである。この四方
切換弁710の切り換えは、流量計19で測定した流路
35を通過する試料液の流量値か設定の値になったとき
に制御部Cから発信される信号によって行なわれる。
そして、前記濃縮カラム8あるいは9を通過した試料l
ll中の金属イオンはカラム8あるいは9に吸着され、
このカラム8あるいは9に吸着された金属イオンか、溶
離液供給路31から供給される溶離液によりカラム8,
9から溶離されて分析手段32に述ばれる。さらに、分
析手段32に運ばれた金属イオンは、分離カラム11で
精製された後、N g!、液供給路38から供給される
発色l夜により発色され、この発色の度合か吸光光度計
12においてクロマトグラフ化されて濃度か測定される
。FIG. 4 shows a metal component analyzer previously proposed by the present inventors in Japanese Patent Application No. 180529/1983. The symbol l in the figure is an automatic flow path switching valve. A sample supply path 3o is connected to the outlet of the automatic flow path switching valve 1. The sample liquid supply path 30 includes an acid feeding pump 2 and a reactor 3.
, an overflow valve i+"fr 4 , a three-way automatic switching valve 5, a pressurizing pump 6, and a pressure filter A are attached, and this sample liquid supply path 30 is ultimately connected to the first four-way switching valve 7. This first four-way switching valve 7 has a first
The inflow path 8a to the R condensation column 8, the inflow path 9a to the second concentration column 9, and the eluent supply path 31 are connected, and the eluent supply path 31 is connected to the pressurized horn 17 and the eluent storage section 18. It is provided. The outflow path 8b from the 1711th condensation column 8 and the outflow path 9b from the second concentration column 9 are connected to a second four-way switching valve 10. This second four-way switching valve lO is further connected with a flow path 33 that connects to an analysis means 32 consisting of a separation column 11 and an absorption photometer 12, and a flow path 35 that connects to a water channel 34. A flow meter 19 is attached to 35. Next, the operation of the metal component analyzer will be explained. The automatic flow path switching valve l has six sample liquid optical input paths IA-
IF is connected, and these sample liquid inflow paths lA to IF -
are selectively connected to the sample liquid supply path 30. At night, the sample liquid sold to the supply path 30 is sent to the reaction "AX3" by the liquid sending pump 2. Jx of the reactor 3
On the 1Ilt side, there is a reaction limb storage section 15 and a supply pump 16.
A reaction wave supply path 37 equipped with a reaction wave is connected to the sample liquid, and a reaction wave for ionizing metals in the sample liquid is added to the sample liquid. The sample solution to which this reaction mixture has been added is mixed in the reactor 3 at a predetermined temperature. The sample liquid that has passed through this reactor 3 is transferred to an overflow container 4.
Trial E is stored once and exceeds a certain storage amount.
The l liquid is discharged to the drainage channel 34 through the flow path indicated by . The sample liquid that has passed through the overflow container 4 reaches the three-way switching valve 5. Moreover, the three-way automatic switching valve 5 guides a part of the sample liquid flowing through the sample liquid supply path 30 to the drainage path 34 through a flow path indicated by the symbol L3, and is configured so that the automatic flow path switching valve 1 is switched. If another sample solution is supplied,
First, the flow path is switched to the flow path L3 side to completely wash away the previous sample liquid remaining between the automatic flow path switching valve 1 and the three-way switching valve 5, and then the sample liquid is sampled by switching the flow path. The liquid is strained so that it flows along the sample liquid supply path 30. The sample liquid that has passed through the three-way switching valve 5 is pressurized by a pressure pump 6. Note that when the sample liquid is pressurized to a predetermined pressure or higher by this pressure pump 6, the pressure switch 6A is
is turned on and outputs a detection signal to the control unit C to stop the operation of the pressurizing pump 6. The sample liquid pressurized by the pressurizing pump 6 is fed to the pipe 1 concentrating column 8 or the second concentrating column 9 by the first four-way switching valve 7. The four-way switching valve 10 is a metal ion layer wire process in which the sample e (j) is supplied from the supply path 30 and is passed through the concentration column 8 or 9 and then guided to the drainage path 34 via the flow path 35. The flow path and the flow path for the metal ion elution process in which the eluent supplied from the eluent supply path 31 passes through the concentration column 9 or 8 and then leads to the analysis means 32 are connected to the concentration columns 8 and 9. The switching of the four-way switching valve 710 is transmitted from the control unit C when the flow rate of the sample liquid passing through the flow path 35 measured by the flow meter 19 reaches a set value. This is done by the signal. Then, the sample l that has passed through the concentration column 8 or 9
The metal ions in ll are adsorbed on column 8 or 9,
The metal ions adsorbed on the column 8 or 9 or the eluent supplied from the eluent supply path 31
9 and sent to the analysis means 32. Further, the metal ions carried to the analysis means 32 are purified by the separation column 11 and then subjected to N g! A color is developed by the colored liquid supplied from the liquid supply path 38, and the degree of color development is chromatographed in the spectrophotometer 12 and the concentration is measured.
しかしなから、」二記構成の分析装置にあっては、試料
液を反応器3て100’c以−1−(具体的には、金属
塙のクラッドを確実に溶解させ得る150〜+60°C
)にまで加熱し、さらに、オーバーフロー III容蒸
4において大気間数しているから、気泡か発生し0<、
ポンプ6かエア%jQき込んで正常な動作をすることか
できなくなるという問題かある。そこで、オーバーフロ
ー用古訝4を省路して管d8を、ζ閉することがぢえら
れるか、密閉に伴うl[カーI: W:、によって試料
’rlkか高温のまま濃縮カラム8・9へ送り込まれる
こととなり、カラム内のイオン交換樹脂の劣化の原因に
なるという問題がある。
また、上記分析装置では、濃縮カラム8・9、あるいは
、分離カラム10におけるイオン交換処理か必須である
が、これらのイオン交換能力は温度によって変化するか
ら、分析時の温度条件により、各カラムにおける濃縮、
分離に要する時間が異なり、分析の信頼性維持が難しい
という問題がある。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、試料送りポ
ンプのエア巻き込みを防止するとともに、分析時の温度
条件にかかわらず信頼性の高い分析を行うことを目的と
するものである。However, in the case of the analyzer having the structure described in 2, the sample liquid is heated in the reactor 3 at a temperature of 100°C or higher (specifically, at 150° to +60°C, which is sufficient to reliably dissolve the cladding of the metal wall). C
), and furthermore, since there is an atmosphere in the overflow III volume 4, bubbles are generated and the temperature is 0<,
There is a problem that the pump 6 cannot operate normally after pumping in air %jQ. Therefore, it is possible to omit the overflow pipe 4 and close the pipe d8. There is a problem that this causes deterioration of the ion exchange resin in the column. In addition, in the above analyzer, ion exchange processing is essential in the concentration columns 8 and 9 or the separation column 10, but since the ion exchange capacity of these changes depending on the temperature, the temperature conditions at the time of analysis may affect the ion exchange processing in each column. concentrated,
There is a problem that the time required for separation is different and it is difficult to maintain reliability of analysis. The present invention has been made in view of the above circumstances, and aims to prevent air entrainment in the sample feed pump and to perform highly reliable analysis regardless of the temperature conditions during analysis.
【課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、
本願の請求項1記載の発明は、試料液を加熱しつつ反応
調製する反応器より下流側に冷却装置を設けるようにし
たものである。
本願の請求項2記戦の発明は、請求項I記載の発明にお
いて、冷却装置中の試料液流路の断面積を、これよりも
上流側の流路よりも小さくしたものである。
本願の請求項3記載の発明は、金属成分分析装置中でイ
オン交換作用を行う要素を恒温槽中に収容するようにし
たものである。
本願の請求項4記載の発明は、試料液を加熱しつつ反応
調幣する反応器より下1i!ε側に冷却装置を設けると
ともに、試料液中の金属成分をイオン交換作用によって
濃縮、分離するカラムを恒温槽に収容するようにしたも
のである。
【作用】
請求項1紀戦の発明の構成であると、加熱状態の試事1
1fflが冷却された後にポンプへ吸い込まれるから、
ポンプへ気泡が吸い込まれることがない。
請求項2記戦の発明の構成であると、加熱器の出[Jに
背圧を生じさせて圧力を高く保つことができる。
請求項3記載の発明の構成であると、イオン交換処理を
一定の温度下で行うことができる。
請求項4記戦の発明の構成であると、ポンプへ吸い込ま
れる試料液の温度を下げて気泡の吸い込みを防止するこ
とができるとともに、イオン交換処理を一定の温度下で
行うことができる。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 of the present application is such that a cooling device is provided downstream of a reactor in which a reaction is prepared while heating a sample liquid. be. The invention according to claim 2 of the present application is the invention according to claim I, in which the cross-sectional area of the sample liquid flow path in the cooling device is made smaller than that of the flow path on the upstream side. The invention set forth in claim 3 of the present application is such that an element that performs an ion exchange action in a metal component analyzer is housed in a constant temperature bath. The invention as set forth in claim 4 of the present application is directed to the lower part of the reactor in which the reaction is prepared while heating the sample liquid. A cooling device is provided on the ε side, and a column for concentrating and separating metal components in the sample liquid by ion exchange action is housed in a constant temperature bath. [Operation] According to the structure of the invention in claim 1, trial 1 in a heated state
After 1ffl is cooled down, it is sucked into the pump, so
Air bubbles are not sucked into the pump. With the configuration of the invention of claim 2, it is possible to generate back pressure at the outlet of the heater and keep the pressure high. According to the configuration of the invention described in claim 3, the ion exchange treatment can be performed at a constant temperature. With the configuration of the invention of claim 4, the temperature of the sample liquid sucked into the pump can be lowered to prevent bubbles from being sucked in, and the ion exchange treatment can be performed at a constant temperature.
【実施例]
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。なお、
従来例と共通の部分には同一符号を付し、説明を簡略化
する。
第1図は本発明の第1実施例を示すものであって、この
第1実施例は、反応器3の下流側に試料液を冷却する冷
却装置40を設け、この冷却装置40の下流側に、試料
−夜をポンプ6および排水路34へ分岐させる分岐部4
1を設け、この分岐部41とポンプ6との間にチエツク
弁42を設けた構成となっている。
前記冷却装置40は、コイル状に成形された細い配管4
3と、該配管43へ冷却風を供給するファン44とから
構成されている。
前記配管43は全要約2mに設定され、その内径は、例
えば試料液供給管路30bが内径1. 5mmに設定さ
れている場合、これより小径の内径0.5mm程度に設
定されていて、流路中で絞りとしての機能を果し、加熱
器3の吐出側に背圧を与えるようになっている。また前
記ファン44は、コイル状に成形されて所定の流路長が
与えられた配管43へ強制的に空気を接触させて試料液
と外気との熱交換(冷却)を促進するようになっている
。
なお試料−夜の流量が少ない場合には、前記ファン44
を省略して自熱冷却に仔せるようにしてもよい。また、
コイル状の配管を水などの冷却肢に浸して、該冷却妓と
熱交換するようにしてもよい。
さらに、前記チエツク弁42は、ポンプ6の吸込圧以下
の動作圧に設定されていて、i!A縮カシカラム8へ試
料波を送り込むべくポンプ6が動作する際に試料液の吸
い込みを許容する一方、試料1戊の分析中のポンプ停止
に際して下方の排水路34から上界して来た気体のポン
プ6への吸い込みを防止している。
この第1実施例にあっては、加熱器3の下流に冷却装置
40内に絞られた配管43が存在しているから試料液の
圧力が高くなり、ポンプ6への吸い込みに際して気泡を
生じることかない。また、試料液が濃縮カラム8・9よ
リーヒ流で冷却されることになるから、濃縮カラム8・
9などに設けられたイオン交換樹脂の劣化を防止するこ
とができる。
次いで、第2図および第3図は本発明の第2実施例を示
すものである。この実施例は、イオン交換作用を行う1
g3縮カラム8・9、および、分離カラム11を恒温槽
50内に収容することにより、イオン交換のt温度条件
を一定化したものである。
前記恒J、WI50内に収容された濃縮カラム8・9は
、前記第1実施例と同様に、四方切替弁7と10との間
の管路LaおよびLbの途中に設けられ、また分離カラ
ム11は、四方切替弁10と吸光光度計12との間の管
路Lcの途中に設けられている。さらに、前記管路La
−Lb−Lcおけるカラムの上流側には、それぞれコイ
ル状部L aLb’、Lc’が設けられて、一定の熱交
換面積か与えられており、これらのコイル状部La’、
Lb’Lc’を恒温Fu5o内の熱媒体(例えば加
熱された空気や水)に接触させることにより、各管路L
aLb、I−c内の試料液を所定art−に維持するこ
とができるようになっている。さらに、前記iR縮カラ
ム8・9へ分離液を供給する管路Ldの途中にもコイル
状部Ld’が設けられて、系外からカラムへ送り込まれ
る液の温度をカラム内とできるだけ等しくすることがで
きるようになっている。また恒温槽50内の熱媒体は制
御装置Cによって一定温度に維持されるようになってい
る。なお、管路中のコイル状部で熱交換する方式に代え
て、各カラム、あるいはその上流側の管路を電気ヒータ
、蒸気ヒータなどによって直接加熱するようにしてもよ
いのはもちろんである。
このようにイオン交換作用を行うカラムの温度を一定に
維持することにより、これらの濃縮能力あるいは分離能
力が一定になり、したがって、使用環境に作用されるこ
となく信M t<’tおよび再現性の高い分析を行うこ
とができる。
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、水頭は下記の効果を奏す
る。
■試料液を加熱しつつ反応調製する反応器より下流側に
冷却装置を設けたから、加熱状態の試料、夜が冷却され
た後にポンプへ吸い込まれることになり、ポンプへ気泡
か吸い込まれることかなく、動作不良か防止される。
■冷却装置を構成する流路の面積を絞るようにした場合
には、加熱器の出口に背圧を生じさせて圧力を高く保ち
、気泡の発生をさらに確実に防止することかできる。
■イオン交換処理を行う要素を恒温槽中においたのて、
イオン交換処理を一定の温度下で行うことかでき、した
がって濃縮、分離の各処理時間なとの条件を一定に維持
しつつ再現性よい分析を行うことができる。[Example] Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition,
Components common to the conventional example are given the same reference numerals to simplify the explanation. FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention, in which a cooling device 40 for cooling the sample liquid is provided downstream of the reactor 3, and a cooling device 40 is provided downstream of the cooling device 40. Then, there is a branch 4 which branches the sample to a pump 6 and a drain 34.
1 is provided, and a check valve 42 is provided between this branch portion 41 and the pump 6. The cooling device 40 includes a thin pipe 4 formed into a coil shape.
3, and a fan 44 that supplies cooling air to the pipe 43. The total length of the pipe 43 is set to 2 m, and the inner diameter of the pipe 43 is, for example, 1.5 m. If the diameter is set to 5 mm, the inner diameter is set to a smaller diameter of about 0.5 mm, which functions as a throttle in the flow path and applies back pressure to the discharge side of the heater 3. There is. The fan 44 also forces air into contact with the pipe 43, which is formed into a coil shape and has a predetermined flow path length, to promote heat exchange (cooling) between the sample liquid and the outside air. There is. Note that when the flow rate of the sample at night is low, the fan 44
may be omitted to rely on self-thermal cooling. Also,
The coiled piping may be immersed in a cooling element such as water to exchange heat with the cooling element. Furthermore, the check valve 42 is set at an operating pressure lower than the suction pressure of the pump 6, i! When the pump 6 operates to send a sample wave to the A-shrinking column 8, the sample liquid is sucked in, while when the pump is stopped during the analysis of the sample 1, the gas that has risen from the lower drainage channel 34 is sucked in. This prevents suction into the pump 6. In this first embodiment, since the constricted pipe 43 is present in the cooling device 40 downstream of the heater 3, the pressure of the sample liquid increases, and bubbles are not generated when the sample liquid is sucked into the pump 6. It's fleeting. In addition, since the sample liquid is cooled by the Leahy flow through the concentration columns 8 and 9, the concentration columns 8 and 9
Deterioration of the ion exchange resin provided in 9 etc. can be prevented. Next, FIGS. 2 and 3 show a second embodiment of the present invention. In this example, 1
By housing the g3 condensation columns 8 and 9 and the separation column 11 in a constant temperature bath 50, the t temperature conditions for ion exchange are made constant. The concentration columns 8 and 9 accommodated in the above-mentioned WI 50 are provided in the middle of the pipes La and Lb between the four-way switching valves 7 and 10, as in the first embodiment, and the separation columns 11 is provided in the middle of the conduit Lc between the four-way switching valve 10 and the absorption photometer 12. Furthermore, the pipe La
On the upstream side of the column in -Lb-Lc, coiled portions LaLb' and Lc' are provided, giving a certain heat exchange area, and these coiled portions La',
By bringing Lb'Lc' into contact with a heat medium (e.g. heated air or water) in a constant temperature Fu5o, each pipe L
The sample liquid in aLb and Ic can be maintained at a predetermined art-. Furthermore, a coiled portion Ld' is also provided in the middle of the pipe line Ld that supplies the separated liquid to the iR condensation columns 8 and 9, so that the temperature of the liquid fed into the column from outside the system is made as equal as possible to that inside the column. is now possible. Further, the heat medium in the constant temperature bath 50 is maintained at a constant temperature by the control device C. Note that instead of exchanging heat using the coiled portion in the pipe, it is of course possible to directly heat each column or the pipe on the upstream side thereof using an electric heater, a steam heater, or the like. By maintaining the temperature of the column that performs the ion exchange function constant in this way, the concentration or separation ability of these columns becomes constant, and therefore reliability and reproducibility can be maintained without being influenced by the usage environment. A high level of analysis can be performed. [Effects of the Invention] As is clear from the above explanation, the water head has the following effects. ■Since a cooling device is installed downstream of the reactor that heats the sample solution and prepares the reaction, the heated sample will be sucked into the pump after it has cooled down, and air bubbles will not be sucked into the pump. , malfunction or be prevented. (2) If the area of the flow path constituting the cooling device is narrowed down, back pressure can be generated at the outlet of the heater to keep the pressure high, thereby further reliably preventing the generation of bubbles. ■Place the elements for ion exchange treatment in a constant temperature bath,
The ion exchange treatment can be performed at a constant temperature, and therefore analysis can be performed with good reproducibility while maintaining conditions such as concentration and separation treatment times constant.
第1図は本発明の第1実施例を示す配管図、第2図およ
び第3図は本発明の第2実施例を示すもので、第2図は
配管図、第3図は恒1晶槽内の配管図、第4図は従来の
分析装置の配管図である。
2 ・送l夜用ポンプ、3・・・・・・反応器、6・・
・・・加圧ポツプ、8.9・ ・・濃縮カラム、30・
・・・・試料l夜(j(給路、11 ・ 分離カラム、
12・・・・吸光光変針、21・・・・・発色l夜、4
0・・・・・・冷却装置、41分岐部、42・・・チエ
’/り弁、43・・・・・配管、44・・・・・ファン
、50・・・・・・↑亘を品種。Fig. 1 is a piping diagram showing a first embodiment of the present invention, Figs. 2 and 3 are a piping diagram showing a second embodiment of the invention, Fig. 2 is a piping diagram, and Fig. 3 is a piping diagram. FIG. 4 is a piping diagram of a conventional analyzer. 2 ・Night pump, 3... Reactor, 6...
...pressurized pop, 8.9...concentration column, 30.
...Sample l night (j (feed path, 11 ・ Separation column,
12... Absorption light change, 21... Color development l night, 4
0...Cooling device, 41 Branch, 42...Cheer/return valve, 43...Piping, 44...Fan, 50...↑Wataru Variety.
Claims (4)
られて前記試料液を加熱しつつ反応調製する反応器と、
該反応器により反応調製されてポンプにより送り出され
た試料液中の金属イオンを吸着するカラムと、該カラム
から溶離液中に分離された金属イオンを分析する分析手
段とから構成された金属成分分析装置において、前記反
応器とポンプとの間の試料液流路に該流路中の試料液を
冷却する冷却装置を設けたことを特徴とする金属成分分
析装置。(1) a reactor that is installed in a flow path through which a sample liquid containing a metal component flows and prepares a reaction while heating the sample liquid;
Metal component analysis consisting of a column that adsorbs metal ions in a sample solution prepared by the reactor and sent out by a pump, and an analysis means that analyzes metal ions separated into an eluent from the column. A metal component analysis apparatus, characterized in that the sample liquid flow path between the reactor and the pump is provided with a cooling device for cooling the sample liquid in the flow path.
側の流路に対して断面積が小さくされたことを特徴とす
る請求項1記載の金属成分分析装置。(2) The metal component analysis apparatus according to claim 1, wherein the sample liquid flow path in the cooling device has a cross-sectional area smaller than that of the flow path upstream thereof.
られて前記試料液を加熱しつつ反応調製し、反応調製さ
れた試料液を濃縮するとともに、金属イオンを溶離液中
に分離させ、分離された金属イオンを分析するようにし
た金属成分分析装置において、該金属成分装置の試料液
の流路中に設けられて該試料液をイオン交換する機能を
有する要素を恒温槽に収容したことを特徴とする金属成
分分析装置。(3) Provided in a flow path through which a sample liquid containing metal components flows, the sample liquid is heated and subjected to reaction preparation, the reaction-prepared sample liquid is concentrated, and metal ions are separated into the eluent. , a metal component analyzer configured to analyze separated metal ions, comprising an element installed in a sample liquid flow path of the metal component apparatus and having a function of ion-exchanging the sample liquid, housed in a constant temperature bath. A metal component analyzer characterized by:
られて前記試料液を加熱しつつ反応調製する反応器と、
該反応器により反応調製されてポンプにより送り出され
た試料液中の金属イオンを吸着するカラムと、該カラム
から溶離液中に分離された金属イオンを分析する分析手
段とから構成された金属成分分析装置において、前記反
応器とポンプとの間の試料液流路に該流路中の試料液を
冷却する冷却装置を設けるとともに、前記カラムを恒温
槽に収容したことを特徴とする金属成分分析装置。(4) a reactor that is installed in a flow path through which a sample liquid containing a metal component flows and prepares a reaction while heating the sample liquid;
Metal component analysis consisting of a column that adsorbs metal ions in a sample solution prepared by the reactor and sent out by a pump, and an analysis means that analyzes metal ions separated into an eluent from the column. A metal component analyzer, characterized in that the sample liquid flow path between the reactor and the pump is provided with a cooling device for cooling the sample liquid in the flow path, and the column is housed in a constant temperature bath. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3871690A JPH03242550A (en) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Metal component analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3871690A JPH03242550A (en) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Metal component analyzer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03242550A true JPH03242550A (en) | 1991-10-29 |
Family
ID=12533049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3871690A Pending JPH03242550A (en) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Metal component analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03242550A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015187595A (en) * | 2014-03-14 | 2015-10-29 | 株式会社島津製作所 | Analysis equipment |
-
1990
- 1990-02-20 JP JP3871690A patent/JPH03242550A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015187595A (en) * | 2014-03-14 | 2015-10-29 | 株式会社島津製作所 | Analysis equipment |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2951418B2 (en) | Sample liquid component analyzer | |
| US8771517B2 (en) | IC system including sample pretreatment and using a single pump | |
| GR3021381T3 (en) | Expansion vessel for domestic hot water in connection with a connector arsembly. | |
| JPH03500684A (en) | Apparatus and method for sample dispensing in gas chromatography | |
| JPH03242550A (en) | Metal component analyzer | |
| JP2892094B2 (en) | Metal component analyzer | |
| JP3358691B2 (en) | Iron measurement device | |
| JP3051015B2 (en) | Metal component analyzer | |
| JP7684139B2 (en) | Quality control system, object control system and object control method | |
| CN216955883U (en) | Purifier and chromatographic analysis system | |
| JP3050684B2 (en) | Trace ion analyzer | |
| JP7786008B1 (en) | Impurity collection system, water quality testing system and liquid manufacturing and supply system | |
| JPH03242552A (en) | Metal component analyzer | |
| JP3237312B2 (en) | Iron measurement device | |
| JPH07198695A (en) | Metal component analyzer | |
| JP2701760B2 (en) | Chemical composition monitor | |
| JPH0712788A (en) | Dissolved gas automatic analysis method and device | |
| JPH03215742A (en) | Metal component analyzer | |
| JPH03215741A (en) | Metal component analyzer | |
| JP3089867B2 (en) | Salt detection method and apparatus | |
| WO2026023198A1 (en) | Impurity acquisition system, water quality inspection system, and liquid production/supply system | |
| JPH0623354A (en) | Apparatus for desalting condensed water | |
| JPH02280050A (en) | Metal component analyzer | |
| JPH0587785A (en) | Metal component analyzer | |
| JPH05146687A (en) | Method for detecting concentration of sulfate ion in treatment device of spent resin |