JPH03242550A - 金属成分分折装置 - Google Patents
金属成分分折装置Info
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- JPH03242550A JPH03242550A JP3871690A JP3871690A JPH03242550A JP H03242550 A JPH03242550 A JP H03242550A JP 3871690 A JP3871690 A JP 3871690A JP 3871690 A JP3871690 A JP 3871690A JP H03242550 A JPH03242550 A JP H03242550A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は金属成分分析装置にかかり、特に、分析すべき
イオンを濃縮し、あるいは分離させるカラムにおける濃
縮能力、分離能力低下の防止を図った分析装置に関する
ものである。
イオンを濃縮し、あるいは分離させるカラムにおける濃
縮能力、分離能力低下の防止を図った分析装置に関する
ものである。
第４図は本発明者らが先に特願昭６３−１８０５２９号
で提案した金属成分分析装置である。 図中符号ｌは自動流路切換弁である。この自動流路切換
弁１の出口には試料ｌ戊供給路３ｏが接続されている。 前記試料液供給路３０には、送酸用ポンプ２、反応器３
、オーバーフロー相客ｉ＋”ｆｒ ４ 、三方自動切換
弁５、加圧ポンプ６、圧カスイノチロＡが取り付けられ
、この試料液供給路３０は最總的に第１四方切換弁７に
接続されている。この第１四方切換弁７には、第１′ｔ
Ｒ縮カラム８への流入路８ａと第２濃縮カラム９への流
入路９ａと溶離液供給路３１が接続され、この溶離液供
給路３１には、加圧ホンブ１７と溶離液貯留部１８が設
けられている。前記第１７１１縮カラム８からの流出路
８ｂと第２濃縮カラム９からの流出路９ｂは第２四方切
換弁１０に接続されている。この第２四方切換弁ｌＯに
は、さらに分離カラム１１と吸光光度計１２とからなる
分析手段３２につながる流路３３とυ［水路３４につな
かる流路３５か接続され、さらに、光間３５には流量計
１９か取り付けられている。 次いで前記金属成分分析装置の動作を説明する。 前記自動流路切換弁ｌには、６つの試料液光入路ＩＡ−
ＩＦか接続されて、これら試料液流入路ｌＡ〜ＩＦの−
っが試料液供給路３０に遭択的に接続される。 試料ｌ夜Ｉｔ、給路３０に売人した試料液は送液用ポン
プ２によって反応″ＡＸ３に送られる。反応器３のＪｘ
１Ｉｌｔ側には、反応肢貯留部１５と供給ポンプ１６
を備えた反応ン夜供給路３７が接続されており、試料液
中の金属をイオン化するための反応波が試料液に添加さ
れる。この反応ｌ夜が添加された試料液は反応器３中で
所定温度で混合される。 この反応器３を通過した試料液はオーバーフロー容器４
に一旦貯留されるとともに、一定の貯留量を越えた試Ｅ
ｌ液は符号り、で示す流路を通じて排水路３４に排出さ
れる。オーバーフロー容器４を通過した試料液は三方切
換弁５に達する。また三方自動切換弁５は、試料液供給
路３０を流れる試料液の一部を、符号Ｌ３で示す流路を
通じて排水路３４に導くものであって、前記自動流路切
換弁１か切り換えられて別の試料液が供給された場合、
まず、流路Ｌ３側に流路を切り換えて、自動流路切換弁
１と三方切換弁５との間に残留していた先の試料液を完
全に洗い流した後、流路を切り換えることによって試料
液を試料液供給路３０に沿−ンて流すよう１こしている
。 前記三方切換弁５を通過した試料液は加圧ポンプ６によ
り加圧される。なお、この加圧ポンプ６によって試料液
が所定圧以上に加圧された場合には、圧力スイッチ６Ａ
がＯＮとなって、制御部Ｃに対して加圧ポンプ６の動作
を停止させるための検出を信号を出力するようになって
いる。前記加圧ポンプ６に加圧された試料液は第１の四
方切換弁７によって笛１濃縮ツノラム８あるいは第２濃
縮カラム９に（ｊ（給される。この第１四方切換弁７と
第２四方切換弁１０は、試料ｅ（ｊ：給路３０から供給
される試ネ１戚を濃縮カラム８あるいは９を通過せしめ
た後、流路３５を経て排水路３４に導く金属イオンメ層
線工程の流路と、溶流液供給路３１から供給される溶離
液を濃縮カラム９あるいは８を通過せしめたあと分析手
段３２に導く金属イオン溶離工程の流路とを、濃縮カラ
ム８，９に対して交互に形成するものである。この四方
切換弁７１０の切り換えは、流量計１９で測定した流路
３５を通過する試料液の流量値か設定の値になったとき
に制御部Ｃから発信される信号によって行なわれる。 そして、前記濃縮カラム８あるいは９を通過した試料ｌ
ｌｌ中の金属イオンはカラム８あるいは９に吸着され、
このカラム８あるいは９に吸着された金属イオンか、溶
離液供給路３１から供給される溶離液によりカラム８，
９から溶離されて分析手段３２に述ばれる。さらに、分
析手段３２に運ばれた金属イオンは、分離カラム１１で
精製された後、Ｎ ｇ！、液供給路３８から供給される
発色ｌ夜により発色され、この発色の度合か吸光光度計
１２においてクロマトグラフ化されて濃度か測定される
。
で提案した金属成分分析装置である。 図中符号ｌは自動流路切換弁である。この自動流路切換
弁１の出口には試料ｌ戊供給路３ｏが接続されている。 前記試料液供給路３０には、送酸用ポンプ２、反応器３
、オーバーフロー相客ｉ＋”ｆｒ ４ 、三方自動切換
弁５、加圧ポンプ６、圧カスイノチロＡが取り付けられ
、この試料液供給路３０は最總的に第１四方切換弁７に
接続されている。この第１四方切換弁７には、第１′ｔ
Ｒ縮カラム８への流入路８ａと第２濃縮カラム９への流
入路９ａと溶離液供給路３１が接続され、この溶離液供
給路３１には、加圧ホンブ１７と溶離液貯留部１８が設
けられている。前記第１７１１縮カラム８からの流出路
８ｂと第２濃縮カラム９からの流出路９ｂは第２四方切
換弁１０に接続されている。この第２四方切換弁ｌＯに
は、さらに分離カラム１１と吸光光度計１２とからなる
分析手段３２につながる流路３３とυ［水路３４につな
かる流路３５か接続され、さらに、光間３５には流量計
１９か取り付けられている。 次いで前記金属成分分析装置の動作を説明する。 前記自動流路切換弁ｌには、６つの試料液光入路ＩＡ−
ＩＦか接続されて、これら試料液流入路ｌＡ〜ＩＦの−
っが試料液供給路３０に遭択的に接続される。 試料ｌ夜Ｉｔ、給路３０に売人した試料液は送液用ポン
プ２によって反応″ＡＸ３に送られる。反応器３のＪｘ
１Ｉｌｔ側には、反応肢貯留部１５と供給ポンプ１６
を備えた反応ン夜供給路３７が接続されており、試料液
中の金属をイオン化するための反応波が試料液に添加さ
れる。この反応ｌ夜が添加された試料液は反応器３中で
所定温度で混合される。 この反応器３を通過した試料液はオーバーフロー容器４
に一旦貯留されるとともに、一定の貯留量を越えた試Ｅ
ｌ液は符号り、で示す流路を通じて排水路３４に排出さ
れる。オーバーフロー容器４を通過した試料液は三方切
換弁５に達する。また三方自動切換弁５は、試料液供給
路３０を流れる試料液の一部を、符号Ｌ３で示す流路を
通じて排水路３４に導くものであって、前記自動流路切
換弁１か切り換えられて別の試料液が供給された場合、
まず、流路Ｌ３側に流路を切り換えて、自動流路切換弁
１と三方切換弁５との間に残留していた先の試料液を完
全に洗い流した後、流路を切り換えることによって試料
液を試料液供給路３０に沿−ンて流すよう１こしている
。 前記三方切換弁５を通過した試料液は加圧ポンプ６によ
り加圧される。なお、この加圧ポンプ６によって試料液
が所定圧以上に加圧された場合には、圧力スイッチ６Ａ
がＯＮとなって、制御部Ｃに対して加圧ポンプ６の動作
を停止させるための検出を信号を出力するようになって
いる。前記加圧ポンプ６に加圧された試料液は第１の四
方切換弁７によって笛１濃縮ツノラム８あるいは第２濃
縮カラム９に（ｊ（給される。この第１四方切換弁７と
第２四方切換弁１０は、試料ｅ（ｊ：給路３０から供給
される試ネ１戚を濃縮カラム８あるいは９を通過せしめ
た後、流路３５を経て排水路３４に導く金属イオンメ層
線工程の流路と、溶流液供給路３１から供給される溶離
液を濃縮カラム９あるいは８を通過せしめたあと分析手
段３２に導く金属イオン溶離工程の流路とを、濃縮カラ
ム８，９に対して交互に形成するものである。この四方
切換弁７１０の切り換えは、流量計１９で測定した流路
３５を通過する試料液の流量値か設定の値になったとき
に制御部Ｃから発信される信号によって行なわれる。 そして、前記濃縮カラム８あるいは９を通過した試料ｌ
ｌｌ中の金属イオンはカラム８あるいは９に吸着され、
このカラム８あるいは９に吸着された金属イオンか、溶
離液供給路３１から供給される溶離液によりカラム８，
９から溶離されて分析手段３２に述ばれる。さらに、分
析手段３２に運ばれた金属イオンは、分離カラム１１で
精製された後、Ｎ ｇ！、液供給路３８から供給される
発色ｌ夜により発色され、この発色の度合か吸光光度計
１２においてクロマトグラフ化されて濃度か測定される
。
しかしなから、」二記構成の分析装置にあっては、試料
液を反応器３て１００’ｃ以−１−（具体的には、金属
塙のクラッドを確実に溶解させ得る１５０〜＋６０°Ｃ
）にまで加熱し、さらに、オーバーフロー ＩＩＩ容蒸
４において大気間数しているから、気泡か発生し０＜、
ポンプ６かエア％ｊＱき込んで正常な動作をすることか
できなくなるという問題かある。そこで、オーバーフロ
ー用古訝４を省路して管ｄ８を、ζ閉することがぢえら
れるか、密閉に伴うｌ［カーＩ： Ｗ：、によって試料
’ｒｌｋか高温のまま濃縮カラム８・９へ送り込まれる
こととなり、カラム内のイオン交換樹脂の劣化の原因に
なるという問題がある。 また、上記分析装置では、濃縮カラム８・９、あるいは
、分離カラム１０におけるイオン交換処理か必須である
が、これらのイオン交換能力は温度によって変化するか
ら、分析時の温度条件により、各カラムにおける濃縮、
分離に要する時間が異なり、分析の信頼性維持が難しい
という問題がある。 本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、試料送りポ
ンプのエア巻き込みを防止するとともに、分析時の温度
条件にかかわらず信頼性の高い分析を行うことを目的と
するものである。
液を反応器３て１００’ｃ以−１−（具体的には、金属
塙のクラッドを確実に溶解させ得る１５０〜＋６０°Ｃ
）にまで加熱し、さらに、オーバーフロー ＩＩＩ容蒸
４において大気間数しているから、気泡か発生し０＜、
ポンプ６かエア％ｊＱき込んで正常な動作をすることか
できなくなるという問題かある。そこで、オーバーフロ
ー用古訝４を省路して管ｄ８を、ζ閉することがぢえら
れるか、密閉に伴うｌ［カーＩ： Ｗ：、によって試料
’ｒｌｋか高温のまま濃縮カラム８・９へ送り込まれる
こととなり、カラム内のイオン交換樹脂の劣化の原因に
なるという問題がある。 また、上記分析装置では、濃縮カラム８・９、あるいは
、分離カラム１０におけるイオン交換処理か必須である
が、これらのイオン交換能力は温度によって変化するか
ら、分析時の温度条件により、各カラムにおける濃縮、
分離に要する時間が異なり、分析の信頼性維持が難しい
という問題がある。 本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、試料送りポ
ンプのエア巻き込みを防止するとともに、分析時の温度
条件にかかわらず信頼性の高い分析を行うことを目的と
するものである。
【課題を解決するための手段］
上記目的を達成するため、
本願の請求項１記載の発明は、試料液を加熱しつつ反応
調製する反応器より下流側に冷却装置を設けるようにし
たものである。 本願の請求項２記戦の発明は、請求項Ｉ記載の発明にお
いて、冷却装置中の試料液流路の断面積を、これよりも
上流側の流路よりも小さくしたものである。 本願の請求項３記載の発明は、金属成分分析装置中でイ
オン交換作用を行う要素を恒温槽中に収容するようにし
たものである。 本願の請求項４記載の発明は、試料液を加熱しつつ反応
調幣する反応器より下１ｉ！ε側に冷却装置を設けると
ともに、試料液中の金属成分をイオン交換作用によって
濃縮、分離するカラムを恒温槽に収容するようにしたも
のである。 【作用】 請求項１紀戦の発明の構成であると、加熱状態の試事１
１ｆｆｌが冷却された後にポンプへ吸い込まれるから、
ポンプへ気泡が吸い込まれることがない。 請求項２記戦の発明の構成であると、加熱器の出［Ｊに
背圧を生じさせて圧力を高く保つことができる。 請求項３記載の発明の構成であると、イオン交換処理を
一定の温度下で行うことができる。 請求項４記戦の発明の構成であると、ポンプへ吸い込ま
れる試料液の温度を下げて気泡の吸い込みを防止するこ
とができるとともに、イオン交換処理を一定の温度下で
行うことができる。
調製する反応器より下流側に冷却装置を設けるようにし
たものである。 本願の請求項２記戦の発明は、請求項Ｉ記載の発明にお
いて、冷却装置中の試料液流路の断面積を、これよりも
上流側の流路よりも小さくしたものである。 本願の請求項３記載の発明は、金属成分分析装置中でイ
オン交換作用を行う要素を恒温槽中に収容するようにし
たものである。 本願の請求項４記載の発明は、試料液を加熱しつつ反応
調幣する反応器より下１ｉ！ε側に冷却装置を設けると
ともに、試料液中の金属成分をイオン交換作用によって
濃縮、分離するカラムを恒温槽に収容するようにしたも
のである。 【作用】 請求項１紀戦の発明の構成であると、加熱状態の試事１
１ｆｆｌが冷却された後にポンプへ吸い込まれるから、
ポンプへ気泡が吸い込まれることがない。 請求項２記戦の発明の構成であると、加熱器の出［Ｊに
背圧を生じさせて圧力を高く保つことができる。 請求項３記載の発明の構成であると、イオン交換処理を
一定の温度下で行うことができる。 請求項４記戦の発明の構成であると、ポンプへ吸い込ま
れる試料液の温度を下げて気泡の吸い込みを防止するこ
とができるとともに、イオン交換処理を一定の温度下で
行うことができる。
【実施例］
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。なお、
従来例と共通の部分には同一符号を付し、説明を簡略化
する。 第１図は本発明の第１実施例を示すものであって、この
第１実施例は、反応器３の下流側に試料液を冷却する冷
却装置４０を設け、この冷却装置４０の下流側に、試料
−夜をポンプ６および排水路３４へ分岐させる分岐部４
１を設け、この分岐部４１とポンプ６との間にチエツク
弁４２を設けた構成となっている。 前記冷却装置４０は、コイル状に成形された細い配管４
３と、該配管４３へ冷却風を供給するファン４４とから
構成されている。 前記配管４３は全要約２ｍに設定され、その内径は、例
えば試料液供給管路３０ｂが内径１． ５ｍｍに設定さ
れている場合、これより小径の内径０．５ｍｍ程度に設
定されていて、流路中で絞りとしての機能を果し、加熱
器３の吐出側に背圧を与えるようになっている。また前
記ファン４４は、コイル状に成形されて所定の流路長が
与えられた配管４３へ強制的に空気を接触させて試料液
と外気との熱交換（冷却）を促進するようになっている
。 なお試料−夜の流量が少ない場合には、前記ファン４４
を省略して自熱冷却に仔せるようにしてもよい。また、
コイル状の配管を水などの冷却肢に浸して、該冷却妓と
熱交換するようにしてもよい。 さらに、前記チエツク弁４２は、ポンプ６の吸込圧以下
の動作圧に設定されていて、ｉ！Ａ縮カシカラム８へ試
料波を送り込むべくポンプ６が動作する際に試料液の吸
い込みを許容する一方、試料１戊の分析中のポンプ停止
に際して下方の排水路３４から上界して来た気体のポン
プ６への吸い込みを防止している。 この第１実施例にあっては、加熱器３の下流に冷却装置
４０内に絞られた配管４３が存在しているから試料液の
圧力が高くなり、ポンプ６への吸い込みに際して気泡を
生じることかない。また、試料液が濃縮カラム８・９よ
リーヒ流で冷却されることになるから、濃縮カラム８・
９などに設けられたイオン交換樹脂の劣化を防止するこ
とができる。 次いで、第２図および第３図は本発明の第２実施例を示
すものである。この実施例は、イオン交換作用を行う１
ｇ３縮カラム８・９、および、分離カラム１１を恒温槽
５０内に収容することにより、イオン交換のｔ温度条件
を一定化したものである。 前記恒Ｊ、ＷＩ５０内に収容された濃縮カラム８・９は
、前記第１実施例と同様に、四方切替弁７と１０との間
の管路ＬａおよびＬｂの途中に設けられ、また分離カラ
ム１１は、四方切替弁１０と吸光光度計１２との間の管
路Ｌｃの途中に設けられている。さらに、前記管路Ｌａ
−Ｌｂ−Ｌｃおけるカラムの上流側には、それぞれコイ
ル状部Ｌ ａＬｂ’、Ｌｃ’が設けられて、一定の熱交
換面積か与えられており、これらのコイル状部Ｌａ’、
Ｌｂ’Ｌｃ’を恒温Ｆｕ５ｏ内の熱媒体（例えば加
熱された空気や水）に接触させることにより、各管路Ｌ
ａＬｂ、Ｉ−ｃ内の試料液を所定ａｒｔ−に維持するこ
とができるようになっている。さらに、前記ｉＲ縮カラ
ム８・９へ分離液を供給する管路Ｌｄの途中にもコイル
状部Ｌｄ’が設けられて、系外からカラムへ送り込まれ
る液の温度をカラム内とできるだけ等しくすることがで
きるようになっている。また恒温槽５０内の熱媒体は制
御装置Ｃによって一定温度に維持されるようになってい
る。なお、管路中のコイル状部で熱交換する方式に代え
て、各カラム、あるいはその上流側の管路を電気ヒータ
、蒸気ヒータなどによって直接加熱するようにしてもよ
いのはもちろんである。 このようにイオン交換作用を行うカラムの温度を一定に
維持することにより、これらの濃縮能力あるいは分離能
力が一定になり、したがって、使用環境に作用されるこ
となく信Ｍ ｔ＜’ｔおよび再現性の高い分析を行うこ
とができる。 【発明の効果】 以上の説明で明らかなように、水頭は下記の効果を奏す
る。 ■試料液を加熱しつつ反応調製する反応器より下流側に
冷却装置を設けたから、加熱状態の試料、夜が冷却され
た後にポンプへ吸い込まれることになり、ポンプへ気泡
か吸い込まれることかなく、動作不良か防止される。 ■冷却装置を構成する流路の面積を絞るようにした場合
には、加熱器の出口に背圧を生じさせて圧力を高く保ち
、気泡の発生をさらに確実に防止することかできる。 ■イオン交換処理を行う要素を恒温槽中においたのて、
イオン交換処理を一定の温度下で行うことかでき、した
がって濃縮、分離の各処理時間なとの条件を一定に維持
しつつ再現性よい分析を行うことができる。
従来例と共通の部分には同一符号を付し、説明を簡略化
する。 第１図は本発明の第１実施例を示すものであって、この
第１実施例は、反応器３の下流側に試料液を冷却する冷
却装置４０を設け、この冷却装置４０の下流側に、試料
−夜をポンプ６および排水路３４へ分岐させる分岐部４
１を設け、この分岐部４１とポンプ６との間にチエツク
弁４２を設けた構成となっている。 前記冷却装置４０は、コイル状に成形された細い配管４
３と、該配管４３へ冷却風を供給するファン４４とから
構成されている。 前記配管４３は全要約２ｍに設定され、その内径は、例
えば試料液供給管路３０ｂが内径１． ５ｍｍに設定さ
れている場合、これより小径の内径０．５ｍｍ程度に設
定されていて、流路中で絞りとしての機能を果し、加熱
器３の吐出側に背圧を与えるようになっている。また前
記ファン４４は、コイル状に成形されて所定の流路長が
与えられた配管４３へ強制的に空気を接触させて試料液
と外気との熱交換（冷却）を促進するようになっている
。 なお試料−夜の流量が少ない場合には、前記ファン４４
を省略して自熱冷却に仔せるようにしてもよい。また、
コイル状の配管を水などの冷却肢に浸して、該冷却妓と
熱交換するようにしてもよい。 さらに、前記チエツク弁４２は、ポンプ６の吸込圧以下
の動作圧に設定されていて、ｉ！Ａ縮カシカラム８へ試
料波を送り込むべくポンプ６が動作する際に試料液の吸
い込みを許容する一方、試料１戊の分析中のポンプ停止
に際して下方の排水路３４から上界して来た気体のポン
プ６への吸い込みを防止している。 この第１実施例にあっては、加熱器３の下流に冷却装置
４０内に絞られた配管４３が存在しているから試料液の
圧力が高くなり、ポンプ６への吸い込みに際して気泡を
生じることかない。また、試料液が濃縮カラム８・９よ
リーヒ流で冷却されることになるから、濃縮カラム８・
９などに設けられたイオン交換樹脂の劣化を防止するこ
とができる。 次いで、第２図および第３図は本発明の第２実施例を示
すものである。この実施例は、イオン交換作用を行う１
ｇ３縮カラム８・９、および、分離カラム１１を恒温槽
５０内に収容することにより、イオン交換のｔ温度条件
を一定化したものである。 前記恒Ｊ、ＷＩ５０内に収容された濃縮カラム８・９は
、前記第１実施例と同様に、四方切替弁７と１０との間
の管路ＬａおよびＬｂの途中に設けられ、また分離カラ
ム１１は、四方切替弁１０と吸光光度計１２との間の管
路Ｌｃの途中に設けられている。さらに、前記管路Ｌａ
−Ｌｂ−Ｌｃおけるカラムの上流側には、それぞれコイ
ル状部Ｌ ａＬｂ’、Ｌｃ’が設けられて、一定の熱交
換面積か与えられており、これらのコイル状部Ｌａ’、
Ｌｂ’Ｌｃ’を恒温Ｆｕ５ｏ内の熱媒体（例えば加
熱された空気や水）に接触させることにより、各管路Ｌ
ａＬｂ、Ｉ−ｃ内の試料液を所定ａｒｔ−に維持するこ
とができるようになっている。さらに、前記ｉＲ縮カラ
ム８・９へ分離液を供給する管路Ｌｄの途中にもコイル
状部Ｌｄ’が設けられて、系外からカラムへ送り込まれ
る液の温度をカラム内とできるだけ等しくすることがで
きるようになっている。また恒温槽５０内の熱媒体は制
御装置Ｃによって一定温度に維持されるようになってい
る。なお、管路中のコイル状部で熱交換する方式に代え
て、各カラム、あるいはその上流側の管路を電気ヒータ
、蒸気ヒータなどによって直接加熱するようにしてもよ
いのはもちろんである。 このようにイオン交換作用を行うカラムの温度を一定に
維持することにより、これらの濃縮能力あるいは分離能
力が一定になり、したがって、使用環境に作用されるこ
となく信Ｍ ｔ＜’ｔおよび再現性の高い分析を行うこ
とができる。 【発明の効果】 以上の説明で明らかなように、水頭は下記の効果を奏す
る。 ■試料液を加熱しつつ反応調製する反応器より下流側に
冷却装置を設けたから、加熱状態の試料、夜が冷却され
た後にポンプへ吸い込まれることになり、ポンプへ気泡
か吸い込まれることかなく、動作不良か防止される。 ■冷却装置を構成する流路の面積を絞るようにした場合
には、加熱器の出口に背圧を生じさせて圧力を高く保ち
、気泡の発生をさらに確実に防止することかできる。 ■イオン交換処理を行う要素を恒温槽中においたのて、
イオン交換処理を一定の温度下で行うことかでき、した
がって濃縮、分離の各処理時間なとの条件を一定に維持
しつつ再現性よい分析を行うことができる。
第１図は本発明の第１実施例を示す配管図、第２図およ
び第３図は本発明の第２実施例を示すもので、第２図は
配管図、第３図は恒１晶槽内の配管図、第４図は従来の
分析装置の配管図である。 ２ ・送ｌ夜用ポンプ、３・・・・・・反応器、６・・
・・・加圧ポツプ、８．９・ ・・濃縮カラム、３０・
・・・・試料ｌ夜（ｊ（給路、１１ ・ 分離カラム、
１２・・・・吸光光変針、２１・・・・・発色ｌ夜、４
０・・・・・・冷却装置、４１分岐部、４２・・・チエ
’／り弁、４３・・・・・配管、４４・・・・・ファン
、５０・・・・・・↑亘を品種。
び第３図は本発明の第２実施例を示すもので、第２図は
配管図、第３図は恒１晶槽内の配管図、第４図は従来の
分析装置の配管図である。 ２ ・送ｌ夜用ポンプ、３・・・・・・反応器、６・・
・・・加圧ポツプ、８．９・ ・・濃縮カラム、３０・
・・・・試料ｌ夜（ｊ（給路、１１ ・ 分離カラム、
１２・・・・吸光光変針、２１・・・・・発色ｌ夜、４
０・・・・・・冷却装置、４１分岐部、４２・・・チエ
’／り弁、４３・・・・・配管、４４・・・・・ファン
、５０・・・・・・↑亘を品種。
Claims (4)
- （１）金属成分を含有する試料液が流れる流路中に設け
られて前記試料液を加熱しつつ反応調製する反応器と、
該反応器により反応調製されてポンプにより送り出され
た試料液中の金属イオンを吸着するカラムと、該カラム
から溶離液中に分離された金属イオンを分析する分析手
段とから構成された金属成分分析装置において、前記反
応器とポンプとの間の試料液流路に該流路中の試料液を
冷却する冷却装置を設けたことを特徴とする金属成分分
析装置。 - （２）前記冷却装置中の試料液流路は、これよりも上流
側の流路に対して断面積が小さくされたことを特徴とす
る請求項１記載の金属成分分析装置。 - （３）金属成分を含有する試料液が流れる流路中に設け
られて前記試料液を加熱しつつ反応調製し、反応調製さ
れた試料液を濃縮するとともに、金属イオンを溶離液中
に分離させ、分離された金属イオンを分析するようにし
た金属成分分析装置において、該金属成分装置の試料液
の流路中に設けられて該試料液をイオン交換する機能を
有する要素を恒温槽に収容したことを特徴とする金属成
分分析装置。 - （４）金属成分を含有する試料液が流れる流路中に設け
られて前記試料液を加熱しつつ反応調製する反応器と、
該反応器により反応調製されてポンプにより送り出され
た試料液中の金属イオンを吸着するカラムと、該カラム
から溶離液中に分離された金属イオンを分析する分析手
段とから構成された金属成分分析装置において、前記反
応器とポンプとの間の試料液流路に該流路中の試料液を
冷却する冷却装置を設けるとともに、前記カラムを恒温
槽に収容したことを特徴とする金属成分分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3871690A JPH03242550A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 金属成分分折装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3871690A JPH03242550A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 金属成分分折装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03242550A true JPH03242550A (ja) | 1991-10-29 |
Family
ID=12533049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3871690A Pending JPH03242550A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 金属成分分折装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03242550A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015187595A (ja) * | 2014-03-14 | 2015-10-29 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
-
1990
- 1990-02-20 JP JP3871690A patent/JPH03242550A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015187595A (ja) * | 2014-03-14 | 2015-10-29 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
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