JPH03242591A - ビーム電流密度分布計測装置 - Google Patents
ビーム電流密度分布計測装置Info
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- JPH03242591A JPH03242591A JP3935190A JP3935190A JPH03242591A JP H03242591 A JPH03242591 A JP H03242591A JP 3935190 A JP3935190 A JP 3935190A JP 3935190 A JP3935190 A JP 3935190A JP H03242591 A JPH03242591 A JP H03242591A
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- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えばイオン注入装置、イオンビームエツ
チング装置等のイオン処理装置に用いられて、イオンビ
ームのビーム電流密度分布を計測するビーム電流密度分
布計測装置に関する。
チング装置等のイオン処理装置に用いられて、イオンビ
ームのビーム電流密度分布を計測するビーム電流密度分
布計測装置に関する。
例えばイオン注入装置においては、ウェーハのチャージ
アップ(帯電)を低減させるためには、ウェーハに照射
するイオンビームのビーム電流密度分布をできるだけ均
一にし、かつその分布の幅を広げることが重要である。
アップ(帯電)を低減させるためには、ウェーハに照射
するイオンビームのビーム電流密度分布をできるだけ均
一にし、かつその分布の幅を広げることが重要である。
そのためには、まずはイオンビームのビーム電流密度分
布を計測する必要があり、そのために第4図に示すよう
なビーム電流密度分布計測装置が従来提案されている。
布を計測する必要があり、そのために第4図に示すよう
なビーム電流密度分布計測装置が従来提案されている。
この装置は、複数のコレクタ電極4、変換回路10、ア
ナログスイッチ20、切換制御回路30、D/A変換器
42、アンプ44および表示装置46を備えている。
ナログスイッチ20、切換制御回路30、D/A変換器
42、アンプ44および表示装置46を備えている。
各コレクタ電極4は、この例では、紙面表側から裏側方
向へ向かうイオンビーム2を受は止めるキャッチプレー
ト6の手前側に、X方向およびY方向に十字状に配列さ
れている。
向へ向かうイオンビーム2を受は止めるキャッチプレー
ト6の手前側に、X方向およびY方向に十字状に配列さ
れている。
変換回路10は、各コレクタ電極4にそれぞれ接続され
た複数の抵抗11を有しており、それらの両端には、イ
オンビーム照射に伴って各コレクタ電極4に流れるビー
ム電流に対応した計測信号(電圧信号)S3がそれぞれ
発生する。
た複数の抵抗11を有しており、それらの両端には、イ
オンビーム照射に伴って各コレクタ電極4に流れるビー
ム電流に対応した計測信号(電圧信号)S3がそれぞれ
発生する。
アナログスイッチ20は、変換回路10の各抵抗11に
接続された複数のスイッチング素子21を有しており、
切換制御回路30の制御下で、変換回路10からの各計
測信号S3を択一的に切り換えて出力する。
接続された複数のスイッチング素子21を有しており、
切換制御回路30の制御下で、変換回路10からの各計
測信号S3を択一的に切り換えて出力する。
切換制御回路30ば、所定周波数のパルスを発生させる
パルス発生器31.このパルスをカウントシ(アンプカ
ウントおよびダウンカウントの繰り返し)、アナログス
イッチ20のどのスイッチング素子21をオンさせるか
の位置信号S1を出力するカウンタ32、および、この
位置信号Sに基づいてアナログスイッチ20のスイッチ
ング素子21を択一的に順次切り換えてオンさせるデコ
ーダ33を有している。
パルス発生器31.このパルスをカウントシ(アンプカ
ウントおよびダウンカウントの繰り返し)、アナログス
イッチ20のどのスイッチング素子21をオンさせるか
の位置信号S1を出力するカウンタ32、および、この
位置信号Sに基づいてアナログスイッチ20のスイッチ
ング素子21を択一的に順次切り換えてオンさせるデコ
ーダ33を有している。
切換制御回路30からの前記位置信号St は、D/A
変換器42によってアナログに変換されて三角波信号S
2となり、これが表示装置(例えばオシロスコープ)4
6のX軸端子に入力される。
変換器42によってアナログに変換されて三角波信号S
2となり、これが表示装置(例えばオシロスコープ)4
6のX軸端子に入力される。
一方、アナログスイッチ20からの計測信号S3は、ア
ンプ44によって増幅され、表示装置46のYI[lI
端子に人力される。
ンプ44によって増幅され、表示装置46のYI[lI
端子に人力される。
従って表示装置46には、例えば第3図中に実線Mで示
すように、各コレクタ電極4の配列に対応した位置に、
そのコレクタ電極4で計測したイオンビーム2のビーム
電流密度がそれぞれ表示され、それによってイオンビー
ム2のビーム電流密度分布が表示される。
すように、各コレクタ電極4の配列に対応した位置に、
そのコレクタ電極4で計測したイオンビーム2のビーム
電流密度がそれぞれ表示され、それによってイオンビー
ム2のビーム電流密度分布が表示される。
ところが、イオンビーム2のビーム電流密度分布は、イ
オンビーム2を発生させるイオン源のパラメータをオペ
レータがどのように選ぶかによって、あるいは同パラメ
ータの経時的な変化等によって変化するものであり、従
来のようにそれを表示装置46に表示させるだけでは、
オペレータが表示装置46を見てビーム電流密度分布の
異常を常に監視しておかなければならず、非常に手間が
かかり、FA(ファクトリ−・オートメーション)化の
流れにも反する。
オンビーム2を発生させるイオン源のパラメータをオペ
レータがどのように選ぶかによって、あるいは同パラメ
ータの経時的な変化等によって変化するものであり、従
来のようにそれを表示装置46に表示させるだけでは、
オペレータが表示装置46を見てビーム電流密度分布の
異常を常に監視しておかなければならず、非常に手間が
かかり、FA(ファクトリ−・オートメーション)化の
流れにも反する。
そこでこの発明は、イオンビームのビーム電流密度分布
に一定の基準を設け、同分布がこの基準外になったこと
を自動的に検出することができるようにしたビーム電流
密度分布計測装置を提供することを主たる目的とする。
に一定の基準を設け、同分布がこの基準外になったこと
を自動的に検出することができるようにしたビーム電流
密度分布計測装置を提供することを主たる目的とする。
上記目的を達成するため、この発明のビーム電流密度分
布計測装置は、イオンビームの照射領域に並設された複
数のコレクタ電極と、この各コレクタ電極に流れるビー
ム電流に対応した計測信号をそれぞれ発生させる変換回
路と、この変換回路からの各計測信号を択一的に切り換
えて出力するためのスイッチと、このスイッチの切り換
えを制御する共にその切換位置を表す位置信号を発生す
る切換制御回路と、前記スイッチから出力される計測信
号の値を前記切換制御回路から出力される装置信号の内
容に関連づけて格納する第■の記憶手段と、イオンビー
ムのビーム電流密度の各コレクタ電極の位置ごとの上限
値および下限値を予め格納している第2の記憶手段と、
第1の記憶手段内に格納された計測信号の値が、第2の
記憶手段内に格納されている上限値と下限値の範囲内に
入っているか否かを各コレクタ電極の位置ごとに判定し
、範囲内に入っていないものがある場合に警報信号を出
力する判定手段とを備えることを特徴とする。
布計測装置は、イオンビームの照射領域に並設された複
数のコレクタ電極と、この各コレクタ電極に流れるビー
ム電流に対応した計測信号をそれぞれ発生させる変換回
路と、この変換回路からの各計測信号を択一的に切り換
えて出力するためのスイッチと、このスイッチの切り換
えを制御する共にその切換位置を表す位置信号を発生す
る切換制御回路と、前記スイッチから出力される計測信
号の値を前記切換制御回路から出力される装置信号の内
容に関連づけて格納する第■の記憶手段と、イオンビー
ムのビーム電流密度の各コレクタ電極の位置ごとの上限
値および下限値を予め格納している第2の記憶手段と、
第1の記憶手段内に格納された計測信号の値が、第2の
記憶手段内に格納されている上限値と下限値の範囲内に
入っているか否かを各コレクタ電極の位置ごとに判定し
、範囲内に入っていないものがある場合に警報信号を出
力する判定手段とを備えることを特徴とする。
〔作用]
上記出力によれば、複数のコレクタ電極の部分にイオン
ビームを照射した状態で、切換制御回路によってスイッ
チを順次切り換えると、第1の記憶手段内に、各コレク
タ電極に流れるビーム電流に対応した計測信号の値が切
換制御回路から出力される装置信号の内容に関連づけて
格納される。
ビームを照射した状態で、切換制御回路によってスイッ
チを順次切り換えると、第1の記憶手段内に、各コレク
タ電極に流れるビーム電流に対応した計測信号の値が切
換制御回路から出力される装置信号の内容に関連づけて
格納される。
そしてこのようにして格納された計測信号の値が、判定
手段によって、第2の記憶手段内に予め格納しであるビ
ーム電流密度の上限値と下限値の範囲内に入っているか
否かが各コレクタ電極の位置ごとに判定され、範囲内に
入っていないものがあると11信号が出力される。
手段によって、第2の記憶手段内に予め格納しであるビ
ーム電流密度の上限値と下限値の範囲内に入っているか
否かが各コレクタ電極の位置ごとに判定され、範囲内に
入っていないものがあると11信号が出力される。
このようにして、イオンビームのビーム電流密度分布が
基準外になったことを自動的に検出することができる。
基準外になったことを自動的に検出することができる。
第1図は、この発明の一実施例に係るビーム電流密度分
布計測装置を示す図である。第4図の従来例と同一また
は相当する部分には同一符号を付し、以下においては当
該従来例との相違点を主に説明する。
布計測装置を示す図である。第4図の従来例と同一また
は相当する部分には同一符号を付し、以下においては当
該従来例との相違点を主に説明する。
この実施例においては、第4図で説明した出力の他に、
CPU51、メモリ52およびI10ポート53を有す
るマイクロコンピュータ5oとA/D変換器48とを更
に備えている。
CPU51、メモリ52およびI10ポート53を有す
るマイクロコンピュータ5oとA/D変換器48とを更
に備えている。
そして、前述した切換制御回路3o内のカウンタ32か
ら出力される、アナログスイッチ2oのどのスイッチン
グ素子21をオンさせるかの(即ちとのコレクタ電極4
を選択するかの)位置信号SIと、前述したアナログス
イッチ2oから出力される計測信号S3をアンプ44で
増幅しかっA/D変換器4日でディジタルに変換した計
測信号S4を、マイクロコンピュータ5o内に取り込む
ようにしている。
ら出力される、アナログスイッチ2oのどのスイッチン
グ素子21をオンさせるかの(即ちとのコレクタ電極4
を選択するかの)位置信号SIと、前述したアナログス
イッチ2oから出力される計測信号S3をアンプ44で
増幅しかっA/D変換器4日でディジタルに変換した計
測信号S4を、マイクロコンピュータ5o内に取り込む
ようにしている。
このマイクロコンピュータ50は、機能的には、第2図
に示すように、第1の記憶手段55、第2の記憶手段5
6および判定手段57を備えている。
に示すように、第1の記憶手段55、第2の記憶手段5
6および判定手段57を備えている。
第1の記憶手段55は、取り込んだ計測信号s4の値を
位置信号S1の内容に関連づけて格納する。
位置信号S1の内容に関連づけて格納する。
位置信号S1は選択したコレクタ電極の位置を表してお
り、計測信号S4はそのコレクタ電極の位置におけるビ
ーム電流密度を表しているので、この記憶手段55には
、例えば第3図中に実線Mで示すような実測のビーム電
流密度分布が格納されることになる。
り、計測信号S4はそのコレクタ電極の位置におけるビ
ーム電流密度を表しているので、この記憶手段55には
、例えば第3図中に実線Mで示すような実測のビーム電
流密度分布が格納されることになる。
第2の記憶手段56には、イオンビーム2のビーム電流
密度の各コレクタ電極4の位置ごとの許容される上限値
および下限値が予め格納されている。即ち、例えば第3
図中に破線Uで示すような上限のビーム電流密度分布お
よび破線りで示すような下限のビーム電流密度分布が格
納されている。
密度の各コレクタ電極4の位置ごとの許容される上限値
および下限値が予め格納されている。即ち、例えば第3
図中に破線Uで示すような上限のビーム電流密度分布お
よび破線りで示すような下限のビーム電流密度分布が格
納されている。
これが、基準のビーム電流密度分布である。
そして判定手段57は、記憶手段55内に格納された計
測信号S4の値が、記憶手段56内に格納されている上
限値と下限値の範囲内に入っているか否かを各コレクタ
電極4の位置ごとに判定し、範囲内に入っていないもの
がある場合に警報信号S、を出力する。即ち、第3図中
に実線Mで示す実測のビーム雫流密度分布が、破線Uで
示す上限と破線りで示す下限の範囲内に入っているか否
かを判定し、入っていない部分があれば警報信号S5が
出力される。
測信号S4の値が、記憶手段56内に格納されている上
限値と下限値の範囲内に入っているか否かを各コレクタ
電極4の位置ごとに判定し、範囲内に入っていないもの
がある場合に警報信号S、を出力する。即ち、第3図中
に実線Mで示す実測のビーム雫流密度分布が、破線Uで
示す上限と破線りで示す下限の範囲内に入っているか否
かを判定し、入っていない部分があれば警報信号S5が
出力される。
このようにして、イオンビーム2のビーム電流密度分布
が基準外になったことを自動的に検出することができる
。
が基準外になったことを自動的に検出することができる
。
警報信号S、の用い方は色々あり、例えば、それを警報
表示に用いても良いし、更に進んでイオン注入等を停止
させるインターロックに用いても良い。
表示に用いても良いし、更に進んでイオン注入等を停止
させるインターロックに用いても良い。
なお、上記例ではイオンビーム2のX方向およびY方向
のビーム電流密度分布を切り換えて計測することができ
るように多数のコレクタ電極4を十字状に配置している
が、このコレクタ電極4の数や配置は任意であり、また
その数に応じて変換回路10内の抵抗11やアナログス
イッチ20内のスイッチング素子21の数を決めれば良
い。
のビーム電流密度分布を切り換えて計測することができ
るように多数のコレクタ電極4を十字状に配置している
が、このコレクタ電極4の数や配置は任意であり、また
その数に応じて変換回路10内の抵抗11やアナログス
イッチ20内のスイッチング素子21の数を決めれば良
い。
また、従来例と同様にD/A変換器42および表示装置
46も設けておけば便利であるが、これらは、この発明
の目的達成のためには必須のものではない。
46も設けておけば便利であるが、これらは、この発明
の目的達成のためには必須のものではない。
以上のようにこの発明によれば、イオンビームのビーム
電流密度分布を計測し、かつそれが予め定めである基準
内にあるか否かを判定手段によって判定するようにした
ので、イオンビームのビーム電流密度分布が基準外にな
ったことを自動的に検出することができる。
電流密度分布を計測し、かつそれが予め定めである基準
内にあるか否かを判定手段によって判定するようにした
ので、イオンビームのビーム電流密度分布が基準外にな
ったことを自動的に検出することができる。
第1図は、この発明の一実施例に係るビーム電流密度分
布計測装置を示す図である。第2図は、第1図中のマイ
クロコンピュータの機能ブロック図である。第3図は、
ビーム電流密度分布の一例を示す図である。第4図は、
従来のビーム電流密度分布計測装置の一例を示す図であ
る。 29.・イオンビーム、4・・・コレクタ電極、IO・
・・変換回路、20・・・アナログスインチ、30・・
・切換制御回路、48.・・A/D変換器、50・・・
マイクロコンピュータ、55・・・第1の記憶手段、5
6・・・第2の記憶手段、57.・・判定手段。
布計測装置を示す図である。第2図は、第1図中のマイ
クロコンピュータの機能ブロック図である。第3図は、
ビーム電流密度分布の一例を示す図である。第4図は、
従来のビーム電流密度分布計測装置の一例を示す図であ
る。 29.・イオンビーム、4・・・コレクタ電極、IO・
・・変換回路、20・・・アナログスインチ、30・・
・切換制御回路、48.・・A/D変換器、50・・・
マイクロコンピュータ、55・・・第1の記憶手段、5
6・・・第2の記憶手段、57.・・判定手段。
Claims (1)
- (1)イオンビームの照射領域に並設された複数のコレ
クタ電極と、この各コレクタ電極に流れるビーム電流に
対応した計測信号をそれぞれ発生させる変換回路と、こ
の変換回路からの各計測信号を択一的に切り換えて出力
するためのスイッチと、このスイッチの切り換えを制御
する共にその切換位置を表す位置信号を発生する切換制
御回路と、前記スイッチから出力される計測信号の値を
前記切換制御回路から出力される位置信号の内容に関連
づけて格納する第1の記憶手段と、イオンビームのビー
ム電流密度の各コレクタ電極の位置ごとの上限値および
下限値を予め格納している第2の記憶手段と、第1の記
憶手段内に格納された計測信号の値が、第2の記憶手段
内に格納されている上限値と下限値の範囲内に入ってい
るか否かを各コレクタ電極の位置ごとに判定し、範囲内
に入っていないものがある場合に警報信号を出力する判
定手段とを備えることを特徴とするビーム電流密度分布
計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3935190A JPH03242591A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | ビーム電流密度分布計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3935190A JPH03242591A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | ビーム電流密度分布計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03242591A true JPH03242591A (ja) | 1991-10-29 |
Family
ID=12550656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3935190A Pending JPH03242591A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | ビーム電流密度分布計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03242591A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109633243A (zh) * | 2019-01-22 | 2019-04-16 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 一种基于多相位采样的束流信号峰值幅度精确提取方法 |
-
1990
- 1990-02-19 JP JP3935190A patent/JPH03242591A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109633243A (zh) * | 2019-01-22 | 2019-04-16 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 一种基于多相位采样的束流信号峰值幅度精确提取方法 |
| CN109633243B (zh) * | 2019-01-22 | 2021-06-18 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 一种基于多相位采样的束流信号峰值幅度精确提取方法 |
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