JPH0324436A - 電子顕微鏡用試料調整装置 - Google Patents
電子顕微鏡用試料調整装置Info
- Publication number
- JPH0324436A JPH0324436A JP16004789A JP16004789A JPH0324436A JP H0324436 A JPH0324436 A JP H0324436A JP 16004789 A JP16004789 A JP 16004789A JP 16004789 A JP16004789 A JP 16004789A JP H0324436 A JPH0324436 A JP H0324436A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- pressure
- pressure plate
- spring
- fixed
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、電子顕微鏡とくに透過型電子顕微鏡用の試料
調整装置に関する。
調整装置に関する。
[従来の技術]
第4図(a)は、基板lの表面に蒸着層2を形成した部
材3を示している。この部材3の基板1と蒸着Jifl
2の境界を観察する場合、部材3を切削、研磨し電子線
が透過可能なIOOOA以下の厚さの試料を作成して透
過型電子顕微鏡により観察するが、単一の部材3を切削
、研磨すると、基板lと蒸着層2の境界にひびわれが生
じたり、観察したい蒸着層断面が破壊されてしまう。そ
′こで、従来、第4図(b)に示すように複数の部材3
、3をエボキシ樹脂等の熱硬化性樹脂で接着しクリップ
等で加圧固定した後、恒温槽内で加熱固化させ、固化し
た試料4を切削、研磨して試料を作製している。
材3を示している。この部材3の基板1と蒸着Jifl
2の境界を観察する場合、部材3を切削、研磨し電子線
が透過可能なIOOOA以下の厚さの試料を作成して透
過型電子顕微鏡により観察するが、単一の部材3を切削
、研磨すると、基板lと蒸着層2の境界にひびわれが生
じたり、観察したい蒸着層断面が破壊されてしまう。そ
′こで、従来、第4図(b)に示すように複数の部材3
、3をエボキシ樹脂等の熱硬化性樹脂で接着しクリップ
等で加圧固定した後、恒温槽内で加熱固化させ、固化し
た試料4を切削、研磨して試料を作製している。
しかしながら、上記従来の方式においては、複数の部材
3、3をクリップ等で加圧固定する場合、試料の方向性
を整えてからクリップで固定する作業に時間を要し、固
定した試料を恒温槽内に押入する作業に時間を要してい
た。また、この際に試料の方向性をこわす原因ともなる
。さらには、クリップにより一定の圧力しかかけられな
いため、熱硬化性樹脂の量によって硬化時間及び接着速
度が異なり、試料作製時の再現精度が低下するという問
題を有していた。
3、3をクリップ等で加圧固定する場合、試料の方向性
を整えてからクリップで固定する作業に時間を要し、固
定した試料を恒温槽内に押入する作業に時間を要してい
た。また、この際に試料の方向性をこわす原因ともなる
。さらには、クリップにより一定の圧力しかかけられな
いため、熱硬化性樹脂の量によって硬化時間及び接着速
度が異なり、試料作製時の再現精度が低下するという問
題を有していた。
本発明は上記問題を解決するものであって、作業時間を
短縮させると共に試料作製時の再現精度を向上させるこ
とができる電子顕微鏡用試料調整装置を提供することを
目的とする。
短縮させると共に試料作製時の再現精度を向上させるこ
とができる電子顕微鏡用試料調整装置を提供することを
目的とする。
そのために本発明の電子顕微鏡用試料調整装置は、両支
持璧17、18間に支持ロッドl9、20を固定してな
る試料載置台11と、支持ロッド19、20内に摺動自
在に嵌押される加圧板12と、加圧板12に固定され一
方の支持壁18を貫通して配設される加圧用ロッド13
とを有し、加圧用ロッド13の両端には、加圧板12側
に加圧調整用ネジ15が嵌合し、一方の支持壁18の外
側にストッパー用ネジ16が嵌合し、加圧調整用ネジ1
5と一方の支持壁18との間にスプリング14が配設さ
れることを特徴とする。
持璧17、18間に支持ロッドl9、20を固定してな
る試料載置台11と、支持ロッド19、20内に摺動自
在に嵌押される加圧板12と、加圧板12に固定され一
方の支持壁18を貫通して配設される加圧用ロッド13
とを有し、加圧用ロッド13の両端には、加圧板12側
に加圧調整用ネジ15が嵌合し、一方の支持壁18の外
側にストッパー用ネジ16が嵌合し、加圧調整用ネジ1
5と一方の支持壁18との間にスプリング14が配設さ
れることを特徴とする。
また、このスプリング14は、試料に応じてスプリング
を交換してスプリングの作動範囲及び加圧圧力を任意に
選択できる。また、加圧圧力調整は、スプリングを用い
る以外に油圧を用いるようにしてもよい。
を交換してスプリングの作動範囲及び加圧圧力を任意に
選択できる。また、加圧圧力調整は、スプリングを用い
る以外に油圧を用いるようにしてもよい。
なお、上記構成に付加した番号は、理解を容易にするた
めに図面と対比させるためのもので、これにより本発明
の構成が何ら限定されるものではない。
めに図面と対比させるためのもので、これにより本発明
の構成が何ら限定されるものではない。
本発明においては、例えば、第1図に示すように、先ず
、ストッパー用ネジ16を反時計方向に回転させると、
加圧板12がスプリング14に坑して試料載置空間21
を広げる方向に移動し、所望の位置でストッパー用ネジ
16の回転を停止させると加圧板12はその位置で固定
される。そして、2個の部材を貼合わせた試料4の方向
性を整えながらストッパー用ネジ■6を時計方向に回転
させると、加圧板12が試料4の方向に移動し、加圧板
12が試料4に完全に当接すると、スプリング14の圧
力が試料4に作用する。そして、ヒータ25、サーモス
タット26および温度制御装置27により試料4を任意
の温度で加熱し、試料4を固定するものである。
、ストッパー用ネジ16を反時計方向に回転させると、
加圧板12がスプリング14に坑して試料載置空間21
を広げる方向に移動し、所望の位置でストッパー用ネジ
16の回転を停止させると加圧板12はその位置で固定
される。そして、2個の部材を貼合わせた試料4の方向
性を整えながらストッパー用ネジ■6を時計方向に回転
させると、加圧板12が試料4の方向に移動し、加圧板
12が試料4に完全に当接すると、スプリング14の圧
力が試料4に作用する。そして、ヒータ25、サーモス
タット26および温度制御装置27により試料4を任意
の温度で加熱し、試料4を固定するものである。
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。第
1図は本発明の電子顕微鏡用試料調整装置の1実施例を
示す平面図、第2図は第1図の■一n線に沿う断面図、
第3図は第1図のIII−III線に沿う断面図である
。
1図は本発明の電子顕微鏡用試料調整装置の1実施例を
示す平面図、第2図は第1図の■一n線に沿う断面図、
第3図は第1図のIII−III線に沿う断面図である
。
本発明の試料調整装置10は、概略、試料載置台I L
加圧板12、加圧用ロッド13、スプリング14、加
圧調整用ネジ15およびストッパー用ネジ16から構成
される。
加圧板12、加圧用ロッド13、スプリング14、加
圧調整用ネジ15およびストッパー用ネジ16から構成
される。
試料載置台11は、断面凹型形状をなし両側に支持壁1
7、18を有し、両支持壁1 7、1 8 1ijlに
2本の支持ロッド19、20を固定している。
7、18を有し、両支持壁1 7、1 8 1ijlに
2本の支持ロッド19、20を固定している。
加圧板12は、支持ロッドl9、20内に摺動自在に嵌
押されると共に、加圧板12には、支持壁18を貫通し
て加圧用ロンド13が固定されている。
押されると共に、加圧板12には、支持壁18を貫通し
て加圧用ロンド13が固定されている。
加圧用ロッド13の両端には、それぞれ雄ネジが切られ
ており、加圧板12側に加圧調整用ネジ15が嵌合し、
支持u.18の外側にストッパー用ネジ16が嵌合し、
加圧調整用ネジ15と支持壁18との間にスプリング1
4が配設されている。
ており、加圧板12側に加圧調整用ネジ15が嵌合し、
支持u.18の外側にストッパー用ネジ16が嵌合し、
加圧調整用ネジ15と支持壁18との間にスプリング1
4が配設されている。
このスプリング14は、加圧用ロッド13を取り外すこ
とにより、使用圧力に応じたスプリングを選択すること
ができる。前記加圧調整用ネジ15により、スプリング
14の付勢力を調整することができ、また、ストッパー
用ネジ16により加圧板12を所定の位置に固定するこ
とができる。
とにより、使用圧力に応じたスプリングを選択すること
ができる。前記加圧調整用ネジ15により、スプリング
14の付勢力を調整することができ、また、ストッパー
用ネジ16により加圧板12を所定の位置に固定するこ
とができる。
また、試料戦置空間21の周囲すなわち加圧板12の前
面および試料載置台11の底面から支持壁17の前面に
わたって、テフロン部材22、23が設けられ、接着用
樹脂が試料@置台11に付着した場合でもその固着を防
止できる。
面および試料載置台11の底面から支持壁17の前面に
わたって、テフロン部材22、23が設けられ、接着用
樹脂が試料@置台11に付着した場合でもその固着を防
止できる。
また、第3図に示すように、テフロン部材23の外周に
は、ヒータ25わよびサーモスタット26が配設され、
温度制御装置27により試料を任意温度で加熱可能に構
成されている。
は、ヒータ25わよびサーモスタット26が配設され、
温度制御装置27により試料を任意温度で加熱可能に構
成されている。
上記構成からなる本発明の作用について説明する。
先ず、ストッパー用ネジ16を反時計方向に回転させる
と、加圧板12がスプリング14に坑して試料載置空間
21を広げる方向に移動し、所望の位置でストッパー用
ネジ16の回転を停止させると加圧板12はその位置で
固定される。この状態で第4図(b)で説明した試料4
を載置し、試料4の方向性を整えながらストッパー用ネ
ジ16を時計方向に回転させると、加圧板12が試料4
の方向に移動し、加圧板12が試料4に完全に当接する
と、スプリング14の圧力が試料4に作用する。そして
、ヒータ25、サーモスタット26および温度制御装置
27により試料4を任意温度で加熱し、試料4を作製す
るものである。
と、加圧板12がスプリング14に坑して試料載置空間
21を広げる方向に移動し、所望の位置でストッパー用
ネジ16の回転を停止させると加圧板12はその位置で
固定される。この状態で第4図(b)で説明した試料4
を載置し、試料4の方向性を整えながらストッパー用ネ
ジ16を時計方向に回転させると、加圧板12が試料4
の方向に移動し、加圧板12が試料4に完全に当接する
と、スプリング14の圧力が試料4に作用する。そして
、ヒータ25、サーモスタット26および温度制御装置
27により試料4を任意温度で加熱し、試料4を作製す
るものである。
以上のように本発明によれば、加圧板を所望の位置で固
定することが可能なため、試料の方向性を整えながらス
プリングにより加圧することができる。
定することが可能なため、試料の方向性を整えながらス
プリングにより加圧することができる。
また、スプリングの圧力が可変可能なため、試料の物性
に応じた圧力及び熱硬化性樹脂の種類等を選択すること
ができる。
に応じた圧力及び熱硬化性樹脂の種類等を選択すること
ができる。
また、試料調整装置自体を任意温度で加熱可能なため、
従来のように恒温槽での作業が不要となる。
従来のように恒温槽での作業が不要となる。
従って、作業時間を短縮させると共に試料作製時の再現
精度を向上させることができる
精度を向上させることができる
第1図は本発明の電子顕微鏡用試料調整装置の1実施例
を示す平面図、第2図は第1図の■−■線に沿う断面図
、第3図は第1図のI[[−III線に沿う断面図、第
4図は試料の作成方法を説明するための断面図である。 4・・・試料、1l・・・試料載置台、l2・・・加圧
板、13・・・加圧用ロンド、l5・・・加圧調整用ネ
ジ、16・・・ストッパー用ネジ、17、18・・・支
持壁、19、20・・・支持ロッド、25・・・ヒータ
。 第1図 出 願 人 東亜燃料工業株式会社
を示す平面図、第2図は第1図の■−■線に沿う断面図
、第3図は第1図のI[[−III線に沿う断面図、第
4図は試料の作成方法を説明するための断面図である。 4・・・試料、1l・・・試料載置台、l2・・・加圧
板、13・・・加圧用ロンド、l5・・・加圧調整用ネ
ジ、16・・・ストッパー用ネジ、17、18・・・支
持壁、19、20・・・支持ロッド、25・・・ヒータ
。 第1図 出 願 人 東亜燃料工業株式会社
Claims (4)
- (1)両支持壁間に支持ロッドを固定してなる試料載置
台と、該支持ロッド内に摺動自在に嵌挿される加圧板と
、該加圧板に固定され一方の支持壁を貫通して配設され
る加圧用ロッドとを有し、該加圧用ロッドは、加圧圧力
を任意に選択できる機構を有することを特徴とする電子
顕微鏡用試料調整装置。 - (2)前記加圧圧力を任意に選択できる機構として加圧
ロッドの両端には、前記加圧板側に加圧調整用ネジが嵌
合し、前記一方の支持壁の外側にストッパー用ネジが嵌
合し、前記加圧調整用ネジと前記一方の支持壁との間に
スプリングが配設されることを特徴とする請求項1に記
載の電子顕微鏡用試料調整装置。 - (3)前記加圧板と試料載置台の表面にテフロン部材を
設けたことを特徴とする請求項1に記載の電子顕微鏡用
試料調整装置。 - (4)試料載置台にヒータを設けることを特徴とする請
求項1に記載の電子顕微鏡用試料調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16004789A JPH0324436A (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 電子顕微鏡用試料調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16004789A JPH0324436A (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 電子顕微鏡用試料調整装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0324436A true JPH0324436A (ja) | 1991-02-01 |
Family
ID=15706774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16004789A Pending JPH0324436A (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 電子顕微鏡用試料調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0324436A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08254488A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-01 | Nec Corp | 二重収束型二次イオン質量分析装置用試料ホルダー |
| KR20040036406A (ko) * | 2002-10-25 | 2004-04-30 | 삼성전자주식회사 | 시편 고정 장치 및 이를 포함하는 시편 연마 장치 |
-
1989
- 1989-06-22 JP JP16004789A patent/JPH0324436A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08254488A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-01 | Nec Corp | 二重収束型二次イオン質量分析装置用試料ホルダー |
| KR20040036406A (ko) * | 2002-10-25 | 2004-04-30 | 삼성전자주식회사 | 시편 고정 장치 및 이를 포함하는 시편 연마 장치 |
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