JPH0324633B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0324633B2 JPH0324633B2 JP56196923A JP19692381A JPH0324633B2 JP H0324633 B2 JPH0324633 B2 JP H0324633B2 JP 56196923 A JP56196923 A JP 56196923A JP 19692381 A JP19692381 A JP 19692381A JP H0324633 B2 JPH0324633 B2 JP H0324633B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- strip line
- metal case
- lower conductor
- interference rejection
- conductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 20
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 18
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 8
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims description 7
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 7
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 claims description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 8
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 6
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/16—Magnets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Waveguide Aerials (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Noise Elimination (AREA)
Description
本発明は妨害電界に対する受信機の排除能力を
評価するに好適な入射妨害排除能力評価装置に関
する。 最近、受信機における入射妨害排除能力の評
価、即ち周囲の電磁界の影響に対する受信機の耐
雑音特性が問題化している。この評価は1つの手
段としてジヤツキー法により行なわれるが、これ
は後に述べるように種々の問題点を有している。 第1図及び第2図はジヤツキー法による評価シ
ステムの構成例で、第1図はストリツプ線路(平
行導体)の構成、第2図は評価システムのブロツ
ク図を示す。ストリツプ線路は、下部導体1と該
下部導体1上に絶縁材による柱4a,4b,4
c,4dで平行に保持される上部導体2で構成さ
れる。下部導体1の両端部1a及び1bと上部導
体2の両端部2a及び2bは図示のごとく絞り込
まれ、互いに対応する端1aと2a,1bと2b
が絶縁物を介してテーパ状に機械結合される。ス
トリツプ線路の寸法はLa=2000mm、Lb=2750mm、
W1=900mm、W2=600mm、H=800mmで図示され
る。 ストリツプ線路の一方の結合端は平行導体1及
び2に妨害信号を印加するための給電端3aを構
成し、給電用同軸線(図示しない)を介して整合
回路10に接続される。妨害信号は整合回路10
を介してもうけられる妨害信号発生器11から供
給される。他方の結合端3bが終端抵抗12で終
端される。ストリツプ線路の下部導体1上には絶
縁用のプラスチツク製又は木製の台5を介して被
測定受信機6が配置され、電磁波の漏洩及び侵入
を防止するための電源用即止フイルタ18を介し
て電源が供給される。受信機6には更に、アンテ
ナ阻止フイルタ6を介して希望信号発生器14が
接続され希望信号が受信機6に印加されると共
に、スピーカ用阻止フイルタ/終端抵抗15及び
バンドパスフイルタ16を介して音声周波電圧計
17がもうけられ受信機6の出力信号が取り出さ
れる。 以上のごとき構成で、妨害信号発生器11のレ
ベルを低レベルから上昇させることにより受信機
6の入射妨害に対する排除能力を測定することが
でき、この方法によれば150KHzから150MHzの周
波数範囲における排除能力の評価が可能とされて
いる。 ところで、上記ストリツプ線路のごとく不平衡
駆動される線路では線路の1周の長さが1波長に
相当する周波数からアンテナとして動作するとさ
れている。ストリツプ線路がアンテナとして動作
すれば、外部に電磁波が放射され、ストリツプ線
路の周囲に存在する反射体、例えば壁面或いは測
定者もしくは測定装置等で反射された後ストリツ
プ線路内部に再入射することになる。そのため、
ストリツプ線路内部の電界は所定の強度を維持で
きず、適切な評価が困難となる。 ストリツプ線路内部の適切な電界強度は第3図
に示す較正曲線で説明される。これは1辺20cmの
金属板をストリツプ線路の下部導体上に1cmの高
さで配置し、下部導体に対する金属板の高周波電
圧を適当な測定装置、例えば高周波ミリボルトメ
ータで測定するもので、縦軸は金属板の検出電圧
(mV)、横軸は周波数(MHz)を示す。図中のイ
は無変調の測定用送信機の無負荷電圧が10Vの場
合の較正曲線で、ストリツプ線路で適切な評価を
得るためには、該導体内に配置された金属板の電
圧が較正曲線イを中心とする±2dBの範囲になけ
ればならないとされる。しかしながら、電磁波の
再入射があると金属板の電圧値は上記範囲から逸
脱することになるので、受信機の排除能力に対す
る適切な評価は困難となる。これは第4図でより
詳しく説明される。 第4図は、金属ケース19の中に該ケースの下
面より80cmの高さに第1図で説明したストリツプ
線路を配置した入射妨害排除能力評価装置を示
し、金属ケースの寸法は長さ3.5m、幅3.0m、高
さ2.5mである。 上記構成における検出電圧(金属板の電圧)の
周波数特性は第5図に示される。図から明らかな
ように金属板の検出電圧が第3図で述べた較正曲
線の許容範囲を大きく逸脱することがわかる。 従つて本発明は従来の技術の上記欠点を改善す
るもので、その目的は、ストリツプ線路内部の電
界強度の適切な保持が可能な入射妨害排除能力評
価装置を提供することにある。 この目的を達成するための本発明の特徴は、互
いに並行な上部導体と下部導体の両端を絶縁物を
介してテーパ状に機械結合し一端に妨害信号給電
端他端に終端抵抗接続端を形成したストリツプ線
路を、閉じた金属ケース内に配置し、妨害信号の
供給で妨害電磁場を模擬することにより供試機の
妨害排除能力を評価する入射妨害排除能力評価装
置において、前記金属ケースの内面に装着される
磁性電波吸収体と、前記ストリツプ線路の下部導
体の並行部の両端で該下部導体が夫々ダンピング
抵抗を介して前記金属ケースに電気的に接続され
るごとく前記ストリツプ線路を前記金属ケース内
に保持する手段と、一端が前記ストリツプ線路の
妨害信号給電端に接続され他端が前記金属ケース
を貫通して妨害信号を供給する外部装置に接続さ
れる給電用同軸線と、該給電用同軸線と金属ケー
スとの間を電気的に絶縁する高周波損失の大きい
絶縁体と、前記ストリツプ線路のテーパ部に対向
して該線路内にもうけられる抵抗バツフルとを有
するごとき入射妨害排除能力評価装置にある。 以下図面により本発明の実施例を説明する。 第6図及び第7図は本発明による入射妨害排除
能力評価装置の一実施例で、第6図は平面図、第
7図は第6図のA―A断面図を示す。 図において参照番号20はほぼ直方体形状の金属
ケース19の内面全面に電波吸収体30を装着し
た電波暗箱で、使用者の出入り或いは測定装置の
搬出入等のための扉21を有する。電波吸収体3
0としては、電波暗箱の小型化及び測定周波数が
150MHz以下であることから、厚さの薄いフエラ
イト電波吸収体が好適である。電波暗箱20の寸法
は例えば長さLc3m、幅Wcが2.6m、高さHcが
2.6mとされ、その中に第1図のストリツプ線路
がもうけられる。ストリツプ線路は第6図に示す
ように、長手方向の中心軸が電波暗箱20の床面2
0aのひとつの対角線に一致する如く、下部導体
1をもつて絶縁性の保持台60上に配置され、し
かもストリツプ線路の上部導体2と電波暗箱20の
天井間の距離がストリツプ線路の並行導体1,2
間の距離よりも大となるように設定される。対角
線に一致させて配置させるのは電波暗箱を小型化
すると共に暗箱内でのワーキングエリアを広くと
るためであり、またストリツプ線路と暗箱の天井
との間の距離を大とするのはストリツプ線路のイ
ンピーダンス低下を防ぐためである。 保持台60は例えば木製で、ストリツプ線路内
の電界強度への床面20aからの影響を考慮し、
その高さhを70cm程度とすることが望ましい。こ
の高さhはストリツプ線路と暗箱の天井間の距離
を大とする上記要件を満足する。保持台60の両
側面には電波暗箱20の金属ケース19に一端が接
地されたグラウンド用導体板70a,70bがも
うけられ、各導体板とストリツプ線路の下部導体
1の並行部分の各々の対応端とが夫々ダンピング
抵抗80a,80bを介して電気的に結合され
る。ダンピング抵抗としては200(Ω)前後のもの
が望ましい。 ストリツプ線路の給電端3aには、第6図に示
されるように、妨害信号を供給する給電用同軸ケ
ーブル40の一端が接続される。同軸ケーブル4
0の他端は絶縁リング50による電波暗箱20との
間の電気的絶縁を介して暗箱20の外に導き出さ
れ、妨害信号を供給する外部装置(第2図の妨害
信号発生器11)に接続される。絶縁リング50
としては電気的絶縁性及び高周波損失の大きなも
の、例えばフエライト或いはダストコアなどが用
いられる。絶縁リング50は同軸ケーブル40と
電波暗箱20との間に密着してもうけられその寸法
は例えば厚さ50mm〜100mm、外径16mm、内径8mm
のものが用いられる。 ストリツプ線路内には、第7図に示すように、
ストリツプ線路のテーパ部に対向して抵抗体バツ
フル90a,90bがもうけられる。抵抗体バツ
フルは、ストリツプ線路のテーパ部と並行導体部
とをほぼ実質的に区画するごとく、絶縁体91
a,91bを介して空間配置される。 以上の如き構成の入射妨害排除能力評価装置の
実験例を第8図に示す。なお本実験例における仕
様は次の通りである。
評価するに好適な入射妨害排除能力評価装置に関
する。 最近、受信機における入射妨害排除能力の評
価、即ち周囲の電磁界の影響に対する受信機の耐
雑音特性が問題化している。この評価は1つの手
段としてジヤツキー法により行なわれるが、これ
は後に述べるように種々の問題点を有している。 第1図及び第2図はジヤツキー法による評価シ
ステムの構成例で、第1図はストリツプ線路(平
行導体)の構成、第2図は評価システムのブロツ
ク図を示す。ストリツプ線路は、下部導体1と該
下部導体1上に絶縁材による柱4a,4b,4
c,4dで平行に保持される上部導体2で構成さ
れる。下部導体1の両端部1a及び1bと上部導
体2の両端部2a及び2bは図示のごとく絞り込
まれ、互いに対応する端1aと2a,1bと2b
が絶縁物を介してテーパ状に機械結合される。ス
トリツプ線路の寸法はLa=2000mm、Lb=2750mm、
W1=900mm、W2=600mm、H=800mmで図示され
る。 ストリツプ線路の一方の結合端は平行導体1及
び2に妨害信号を印加するための給電端3aを構
成し、給電用同軸線(図示しない)を介して整合
回路10に接続される。妨害信号は整合回路10
を介してもうけられる妨害信号発生器11から供
給される。他方の結合端3bが終端抵抗12で終
端される。ストリツプ線路の下部導体1上には絶
縁用のプラスチツク製又は木製の台5を介して被
測定受信機6が配置され、電磁波の漏洩及び侵入
を防止するための電源用即止フイルタ18を介し
て電源が供給される。受信機6には更に、アンテ
ナ阻止フイルタ6を介して希望信号発生器14が
接続され希望信号が受信機6に印加されると共
に、スピーカ用阻止フイルタ/終端抵抗15及び
バンドパスフイルタ16を介して音声周波電圧計
17がもうけられ受信機6の出力信号が取り出さ
れる。 以上のごとき構成で、妨害信号発生器11のレ
ベルを低レベルから上昇させることにより受信機
6の入射妨害に対する排除能力を測定することが
でき、この方法によれば150KHzから150MHzの周
波数範囲における排除能力の評価が可能とされて
いる。 ところで、上記ストリツプ線路のごとく不平衡
駆動される線路では線路の1周の長さが1波長に
相当する周波数からアンテナとして動作するとさ
れている。ストリツプ線路がアンテナとして動作
すれば、外部に電磁波が放射され、ストリツプ線
路の周囲に存在する反射体、例えば壁面或いは測
定者もしくは測定装置等で反射された後ストリツ
プ線路内部に再入射することになる。そのため、
ストリツプ線路内部の電界は所定の強度を維持で
きず、適切な評価が困難となる。 ストリツプ線路内部の適切な電界強度は第3図
に示す較正曲線で説明される。これは1辺20cmの
金属板をストリツプ線路の下部導体上に1cmの高
さで配置し、下部導体に対する金属板の高周波電
圧を適当な測定装置、例えば高周波ミリボルトメ
ータで測定するもので、縦軸は金属板の検出電圧
(mV)、横軸は周波数(MHz)を示す。図中のイ
は無変調の測定用送信機の無負荷電圧が10Vの場
合の較正曲線で、ストリツプ線路で適切な評価を
得るためには、該導体内に配置された金属板の電
圧が較正曲線イを中心とする±2dBの範囲になけ
ればならないとされる。しかしながら、電磁波の
再入射があると金属板の電圧値は上記範囲から逸
脱することになるので、受信機の排除能力に対す
る適切な評価は困難となる。これは第4図でより
詳しく説明される。 第4図は、金属ケース19の中に該ケースの下
面より80cmの高さに第1図で説明したストリツプ
線路を配置した入射妨害排除能力評価装置を示
し、金属ケースの寸法は長さ3.5m、幅3.0m、高
さ2.5mである。 上記構成における検出電圧(金属板の電圧)の
周波数特性は第5図に示される。図から明らかな
ように金属板の検出電圧が第3図で述べた較正曲
線の許容範囲を大きく逸脱することがわかる。 従つて本発明は従来の技術の上記欠点を改善す
るもので、その目的は、ストリツプ線路内部の電
界強度の適切な保持が可能な入射妨害排除能力評
価装置を提供することにある。 この目的を達成するための本発明の特徴は、互
いに並行な上部導体と下部導体の両端を絶縁物を
介してテーパ状に機械結合し一端に妨害信号給電
端他端に終端抵抗接続端を形成したストリツプ線
路を、閉じた金属ケース内に配置し、妨害信号の
供給で妨害電磁場を模擬することにより供試機の
妨害排除能力を評価する入射妨害排除能力評価装
置において、前記金属ケースの内面に装着される
磁性電波吸収体と、前記ストリツプ線路の下部導
体の並行部の両端で該下部導体が夫々ダンピング
抵抗を介して前記金属ケースに電気的に接続され
るごとく前記ストリツプ線路を前記金属ケース内
に保持する手段と、一端が前記ストリツプ線路の
妨害信号給電端に接続され他端が前記金属ケース
を貫通して妨害信号を供給する外部装置に接続さ
れる給電用同軸線と、該給電用同軸線と金属ケー
スとの間を電気的に絶縁する高周波損失の大きい
絶縁体と、前記ストリツプ線路のテーパ部に対向
して該線路内にもうけられる抵抗バツフルとを有
するごとき入射妨害排除能力評価装置にある。 以下図面により本発明の実施例を説明する。 第6図及び第7図は本発明による入射妨害排除
能力評価装置の一実施例で、第6図は平面図、第
7図は第6図のA―A断面図を示す。 図において参照番号20はほぼ直方体形状の金属
ケース19の内面全面に電波吸収体30を装着し
た電波暗箱で、使用者の出入り或いは測定装置の
搬出入等のための扉21を有する。電波吸収体3
0としては、電波暗箱の小型化及び測定周波数が
150MHz以下であることから、厚さの薄いフエラ
イト電波吸収体が好適である。電波暗箱20の寸法
は例えば長さLc3m、幅Wcが2.6m、高さHcが
2.6mとされ、その中に第1図のストリツプ線路
がもうけられる。ストリツプ線路は第6図に示す
ように、長手方向の中心軸が電波暗箱20の床面2
0aのひとつの対角線に一致する如く、下部導体
1をもつて絶縁性の保持台60上に配置され、し
かもストリツプ線路の上部導体2と電波暗箱20の
天井間の距離がストリツプ線路の並行導体1,2
間の距離よりも大となるように設定される。対角
線に一致させて配置させるのは電波暗箱を小型化
すると共に暗箱内でのワーキングエリアを広くと
るためであり、またストリツプ線路と暗箱の天井
との間の距離を大とするのはストリツプ線路のイ
ンピーダンス低下を防ぐためである。 保持台60は例えば木製で、ストリツプ線路内
の電界強度への床面20aからの影響を考慮し、
その高さhを70cm程度とすることが望ましい。こ
の高さhはストリツプ線路と暗箱の天井間の距離
を大とする上記要件を満足する。保持台60の両
側面には電波暗箱20の金属ケース19に一端が接
地されたグラウンド用導体板70a,70bがも
うけられ、各導体板とストリツプ線路の下部導体
1の並行部分の各々の対応端とが夫々ダンピング
抵抗80a,80bを介して電気的に結合され
る。ダンピング抵抗としては200(Ω)前後のもの
が望ましい。 ストリツプ線路の給電端3aには、第6図に示
されるように、妨害信号を供給する給電用同軸ケ
ーブル40の一端が接続される。同軸ケーブル4
0の他端は絶縁リング50による電波暗箱20との
間の電気的絶縁を介して暗箱20の外に導き出さ
れ、妨害信号を供給する外部装置(第2図の妨害
信号発生器11)に接続される。絶縁リング50
としては電気的絶縁性及び高周波損失の大きなも
の、例えばフエライト或いはダストコアなどが用
いられる。絶縁リング50は同軸ケーブル40と
電波暗箱20との間に密着してもうけられその寸法
は例えば厚さ50mm〜100mm、外径16mm、内径8mm
のものが用いられる。 ストリツプ線路内には、第7図に示すように、
ストリツプ線路のテーパ部に対向して抵抗体バツ
フル90a,90bがもうけられる。抵抗体バツ
フルは、ストリツプ線路のテーパ部と並行導体部
とをほぼ実質的に区画するごとく、絶縁体91
a,91bを介して空間配置される。 以上の如き構成の入射妨害排除能力評価装置の
実験例を第8図に示す。なお本実験例における仕
様は次の通りである。
【表】
第8図から明らかなように第3図の較正曲線イ
の許容範囲(±2dB)を満足し、第5図のデイプ
及びピーク(許容範囲を逸脱する部分)を完全に
除去することができる。 本発明の構成によれば、次のような理由から較
正曲線の許容範囲が満足される。 (1) 電波吸収体を装着した電波暗箱内にストリツ
プ線路を配置しているので、ストリツプ線路が
アンテナとして動作する周波数以上での電磁波
の再入射による線路内の電界強度への影響が抑
制されること。 (2) 妨害信号供給用の同軸ケーブルが電波暗箱と
電気的に絶縁されているので、ストリツプ線路
と電波暗箱の壁面と同軸ケーブルとで形成され
る一種の分布定数回路がオープン回路となりこ
れによる共振が抑制され、この結果10MHz近傍
に生ずる大きなデイプが除去できること。な
お、同軸ケーブルと電波暗箱との間の絶縁体と
してフエライトのような高周波損失の大きいも
のを用いるので、内部から高周波が漏れるおそ
れはない。 (3) ストリツプ線路をダンピング抵抗を介して電
波暗箱にグラウンドしているので、直接接地し
た場合にストリツプ線路と電波暗箱との間に形
成される一種の分布定数回路による共振を抑制
でき、30MHz近傍に生ずる大きなデイプを除去
できること。これは第9図A、第9図B、第9
図Cから明らかにされる。第9図Aはストリツ
プ線路を抵抗を介することなく直接接地した場
合、第9図Bは200Ωのダンピング抵抗を介し
て接地した場合、第9図Cは電気的に浮かした
場合である。これらの実験例で明らかなよう
に、直接接地の場合には30MHz近傍のデイプは
改善されず、また電気的に浮かした場合には許
容範囲内には収まるが、7MHz近傍に大きなデ
イプが発生する。 (4) ストリツプ線路内に抵抗体バツフルをもうけ
ているので、ストリツプ線路のテーパ部より空
間に放射された電磁波が線路内に発生させる定
在波を抑制することができ、第9図Bに見られ
る70MHz近傍のピークを除去できること。 なお、上記実施例においては電波暗箱内にお
ける同軸ケーブルの長さについては言及しなか
つたが、暗箱内に露出しているケーブル長さに
よつては、ストリツプ線路内の電場との結合で
共振するおそれがある。これを防止するために
は、電波暗箱内のケーブルの長さを最高使用周
波数の波長(150MHz)の1/4以下とするこ
とが望ましいが、実際上この長さで配線するこ
とは困難であるので、空間に浮いているケーブ
ルの長さを1/4以下とし、他の部分を例えば
床面のフエライト電波吸収体に接してから外部
に引き出すようにする。この場合フエライトに
接して引き廻す部分は全体の長さの1/3程度
とすることが望ましい。これによりフエライト
の磁気損失を利用してケーブルの共振をダンプ
することが可能となる。 以上説明したように本発明によれば、平行導体
内部の電界強度を所望の周波数範囲で適切に保持
することができ、しかもコンパクトな寸法の入射
妨害排除能力評価装置を提供することができ、電
子機器の製造工程における最終的な検査部門の一
環として容易に設置することが可能となる。
の許容範囲(±2dB)を満足し、第5図のデイプ
及びピーク(許容範囲を逸脱する部分)を完全に
除去することができる。 本発明の構成によれば、次のような理由から較
正曲線の許容範囲が満足される。 (1) 電波吸収体を装着した電波暗箱内にストリツ
プ線路を配置しているので、ストリツプ線路が
アンテナとして動作する周波数以上での電磁波
の再入射による線路内の電界強度への影響が抑
制されること。 (2) 妨害信号供給用の同軸ケーブルが電波暗箱と
電気的に絶縁されているので、ストリツプ線路
と電波暗箱の壁面と同軸ケーブルとで形成され
る一種の分布定数回路がオープン回路となりこ
れによる共振が抑制され、この結果10MHz近傍
に生ずる大きなデイプが除去できること。な
お、同軸ケーブルと電波暗箱との間の絶縁体と
してフエライトのような高周波損失の大きいも
のを用いるので、内部から高周波が漏れるおそ
れはない。 (3) ストリツプ線路をダンピング抵抗を介して電
波暗箱にグラウンドしているので、直接接地し
た場合にストリツプ線路と電波暗箱との間に形
成される一種の分布定数回路による共振を抑制
でき、30MHz近傍に生ずる大きなデイプを除去
できること。これは第9図A、第9図B、第9
図Cから明らかにされる。第9図Aはストリツ
プ線路を抵抗を介することなく直接接地した場
合、第9図Bは200Ωのダンピング抵抗を介し
て接地した場合、第9図Cは電気的に浮かした
場合である。これらの実験例で明らかなよう
に、直接接地の場合には30MHz近傍のデイプは
改善されず、また電気的に浮かした場合には許
容範囲内には収まるが、7MHz近傍に大きなデ
イプが発生する。 (4) ストリツプ線路内に抵抗体バツフルをもうけ
ているので、ストリツプ線路のテーパ部より空
間に放射された電磁波が線路内に発生させる定
在波を抑制することができ、第9図Bに見られ
る70MHz近傍のピークを除去できること。 なお、上記実施例においては電波暗箱内にお
ける同軸ケーブルの長さについては言及しなか
つたが、暗箱内に露出しているケーブル長さに
よつては、ストリツプ線路内の電場との結合で
共振するおそれがある。これを防止するために
は、電波暗箱内のケーブルの長さを最高使用周
波数の波長(150MHz)の1/4以下とするこ
とが望ましいが、実際上この長さで配線するこ
とは困難であるので、空間に浮いているケーブ
ルの長さを1/4以下とし、他の部分を例えば
床面のフエライト電波吸収体に接してから外部
に引き出すようにする。この場合フエライトに
接して引き廻す部分は全体の長さの1/3程度
とすることが望ましい。これによりフエライト
の磁気損失を利用してケーブルの共振をダンプ
することが可能となる。 以上説明したように本発明によれば、平行導体
内部の電界強度を所望の周波数範囲で適切に保持
することができ、しかもコンパクトな寸法の入射
妨害排除能力評価装置を提供することができ、電
子機器の製造工程における最終的な検査部門の一
環として容易に設置することが可能となる。
第1図はストリツプ線路の構成図、第2図は入
射妨害排除能力評価システムのブロツク図、第3
図は較正曲線、第4図は入射妨害排除能力評価装
置の従来例、第5図は第4図の構成の周波数特
性、第6図は本発明による入射妨害排除能力評価
装置の一実施例、第7図は第6図のA―A断面
図、第8図は本発明による入射妨害排除能力評価
装置の実験例、第9図Aはストリツプ線路を直接
電波暗箱に接地した場合の周波数特性、第9図B
はストリツプ線路を抵抗を介して電波暗箱に接地
した場合の周波数特性、第9図Cはストリツプ線
と電波暗箱とを電気的に絶縁した場合の周波数特
性を示す。 1:下部導体、2:上部導体、3a:給電端、
3b:終端抵抗端、6:被測定受信機、20:電
波暗箱、30:電波吸収体、40:給電用同軸ケ
ーブル、50:絶縁リング、60:保持台、80
a,80b:ダンピング抵抗、90a,90b:
抵抗体バツフル。
射妨害排除能力評価システムのブロツク図、第3
図は較正曲線、第4図は入射妨害排除能力評価装
置の従来例、第5図は第4図の構成の周波数特
性、第6図は本発明による入射妨害排除能力評価
装置の一実施例、第7図は第6図のA―A断面
図、第8図は本発明による入射妨害排除能力評価
装置の実験例、第9図Aはストリツプ線路を直接
電波暗箱に接地した場合の周波数特性、第9図B
はストリツプ線路を抵抗を介して電波暗箱に接地
した場合の周波数特性、第9図Cはストリツプ線
と電波暗箱とを電気的に絶縁した場合の周波数特
性を示す。 1:下部導体、2:上部導体、3a:給電端、
3b:終端抵抗端、6:被測定受信機、20:電
波暗箱、30:電波吸収体、40:給電用同軸ケ
ーブル、50:絶縁リング、60:保持台、80
a,80b:ダンピング抵抗、90a,90b:
抵抗体バツフル。
Claims (1)
- 1 互いに並行な上部導体と下部導体の両端を絶
縁物を介してテーパ状に機械結合し一端に妨害信
号給電端他端に終端抵抗接続端を形成したストリ
ツプ線路を、閉じた金属ケース内に配置し、妨害
信号の供給で妨害電磁場を模擬することにより供
試機の妨害排除能力を評価する入射妨害排除能力
評価装置において、前記金属ケースの内面に装着
される磁性電波吸収体と、前記ストリツプ線路の
下部導体の並行部の両端で該下部導体が夫々ダン
ピング抵抗を介して前記金属ケースに電気的に接
続されるごとく前記ストリツプ線路を前記金属ケ
ース内に保持する手段と、一端が前記ストリツプ
線路の妨害信号給電端に接続され他端が前記金属
ケースを貫通して妨害信号を供給する外部装置に
接続される給電用同軸ケーブルと、該給電用同軸
ケーブルと金属ケースとの間を電気的に絶縁する
高周波損失の大きい絶縁体と、前記ストリツプ線
路のテーパ部に対向して該線路内にもうけられる
抵抗バツフルとを有することを特徴とする入射妨
害排除能力評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56196923A JPS5899766A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 入射妨害排除能力評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56196923A JPS5899766A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 入射妨害排除能力評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5899766A JPS5899766A (ja) | 1983-06-14 |
| JPH0324633B2 true JPH0324633B2 (ja) | 1991-04-03 |
Family
ID=16365912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56196923A Granted JPS5899766A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 入射妨害排除能力評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5899766A (ja) |
-
1981
- 1981-12-09 JP JP56196923A patent/JPS5899766A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5899766A (ja) | 1983-06-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5469067A (en) | Detecting partial discharge using a detection coil and analysis of output signal and noise frequency spectrums | |
| US6236218B1 (en) | Method and a device for space-charge measurement in cables using a pulsed electroacoustic method | |
| EP0047065A2 (en) | Distributed phase RF coil | |
| Chen et al. | Partial discharge detection by RF coil in 161 kV power transformer | |
| JPH0324633B2 (ja) | ||
| JP2738507B2 (ja) | 微小電磁波測定および強電磁波発生用セル | |
| JPH0734605B2 (ja) | 絶縁監視用アンテナ装置 | |
| JP2000162263A (ja) | ガス絶縁機器の部分放電検出装置 | |
| JPH04198847A (ja) | 含水率の測定方法 | |
| RU2693556C1 (ru) | Линейная магнитная антенна для вч диапазона | |
| Attardo et al. | GHz TEM cell: radiated immunity test performance | |
| JPS6347018B2 (ja) | ||
| CN1029033C (zh) | 绝缘状态的检测方法及装置 | |
| JPS6331323Y2 (ja) | ||
| JPH06273472A (ja) | 部分放電検出センサ | |
| JP2831450B2 (ja) | コロナ放電検出装置 | |
| DeVore et al. | Radio frequency spectral characteristics of an HVDC converter station | |
| JPH0523393B2 (ja) | ||
| Iskra | Screening effectiveness measurement of a coaxial cable isolator | |
| JP2593447Y2 (ja) | ノイズレス接地線 | |
| JPH03170077A (ja) | ワイヤシールドケーブルの部分放電測定方法 | |
| Showers | Modeling of fields produced by currents on power supply wiring | |
| Kanellakos | REVISION OF STANDARDS FOR MEASUREMENTS OF SHIELDING EFFECTIVENESS OF ENCLOSURES | |
| JPH05264620A (ja) | Temセル | |
| Lockwood | New Technique for the Determination of the Integrity of Shielded Enclosures by the Measurement of the Perpendicular Magnetic Field |