JPS5899766A - 入射妨害排除能力評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は妨害電界に対する受信機の排除能力を評価する
に好適な入射妨害排除能力評価装置に関する。

最近、受信機におけろ入射妨害排除能力の評価、即ち周
囲の電磁界の影響に対する受信機の耐雑音性１午が問題
化している。この評価は１つの□手段としてジヤツキ−
法により行なわれるが、これは後に述べるように種々の
問題点を有している。

第１図及び第２図はジヤツキ−法による評価システムの
構成例で、第１図はストリップ線路（平行導体）の構成
、第２図は評価システムのブロック図を示す。ストリッ
プ線路は、下部導体１と該下部導体１上に絶縁材に薫る
柱（，４ａ１４１）、４ＣＩ４ｄ）　　で平行に保持さ
れる上部導体２で構成さ第１の両端部２ａ及び２ｂは図
示のごとく絞り込まれ、Ｗいに対応する端（ｌａと２ａ
、ｌｂと２ｂ）が絶縁物を介してテーパ状に機械結合さ
れる。ストリップ線路の寸法＆”！、　Ｌａ−２０００
ｍｍ　ｔ　ｌＬｂ　””　２７５０　ｍｍ　、　、−Ｗ
１＝９００ｍｍ、　ｗ２：　６００ｍｍ、　）Ｉ＝８０
０ｍｍ−で図示される。

１ストＩＪツブ線路の一方の結合端は平行導体１及び２
に妨害信号を印加するための給電端３ａを構成し、給電
用同軸線（図示しない）を介して整合回路１０に接続さ
れる。妨害信号は整合回路１０を介してもうけられる妨
害信号発生器１１から供給さ゛れストリップ線路の下部
導体−１上には絶縁用のプラスチック製又は木製の台５
を介して被測定受信機６が配置され、電磁波の漏洩及び
侵木を防止するための電源用阻止フィルタ１８を介して
電源が供給される。受信機６には更に、４アンテナ阻止
フイルタ６を介して希望信号発生器１４が接続され希望
信号が受信機６に印加されると共に、スピーカ用阻止フ
ィルタ／終端抵抗１５及びバンドパスフィルター１６を
介して音声周波電圧計１７がもうけられ受信機６の出力
信号が取り出される。

以上のごとき構成で、妨害信号発生器１１のレベルを低
レベルから上昇させることにより受信機６０入射仲害に
対する排除能力を測定するととができ、この方法によｉ
ば１５０ＫＨｚから１５０　ＭＨｚの周波数範囲におけ
る排除能力の評価が可能とされている。

ところで、上記ストリップ線路のごとへ不平衡駆動され
る線路で−は一一路の１周の長さが１波長に基ている。

ストリ；プ線路原アンテナとして動作すれば、外部に電
竺竺が放射され、・トリ・ブ線路の摺囲に存在する反射
体、例えば壁面或いは測定者もしくは測定装置等で反射
された後ストリップ線路内部に再入射することになる。

そのため、ストリップ線路内部の電界は所定の強度を維
持できずこ適切な評価が困難となる。　　　　′スｌ−
ＩＪツブ線路内部の適切な電界強度は第３図に示す較正
曲線で説明される。これは１辺２０確の金属板をストリ
ップ線路の下部導体上に１ｃＩｒＬの高さで配置し、下
部導体に対する金属板の高周波電圧を適当なｐＨ定装置
、例えば高周波ミリボルトメータで測定するもので、縦
軸は金属板の検出電圧（ｍＶ）、横軸は周波数（ＭＨり
を示す。図中の（イ）は無変調の測定用送信機の無負荷
電圧がＩＯＶの場合の較正曲線で、ス）　ＩＪツブ線路
で適切な評価を得ろためには、該導体内に配置された金
属板の電圧が較正曲線（イ）を中心とする±２ｄＢの範
囲になければならないとされる。しかしながら、電磁波
の再入射があると金属板の電圧値は上記範囲から逸脱す
ることになるので、受信機の排除能力に対する適切な評
価は困難となる。これは第４図でより詳しく説明される
。

第４図は、金属ケース内 より８０ＣｎＬの高さに第１図で説明したストリップ線
路を配置した入射妨害排除能力評価装置を示し、金属ケ
ースの寸法は長さ３．５ｍ＋幅３．Ｏｍ　＋高さ２．５
ｍである。

周波数特性は第５図に示される。図から明らかなように
金属板の検出電圧が第３図で述べた較正曲線の許容範囲
を大きく逸脱することがわかる。

従って本発明は従来の技術の一上記欠点を改善するもの
で、その目的は、ストリップ線路内部の電界強度の適切
゛な保持が可能な入射妨害排除能力評価装置を提供する
ことにある。

この目的を達成するための本発明の特徴は、互いに並行
な上部導体と下部導体の両端を絶縁物を介し′てテーバ
状に機械結合し一端に妨Ｍ信号給電端他端に終端抵爺接
゛続端を形成したストリ・プ線路を一１閉じた金属ケー
ス内に配置し、妨害信号の供給で妨害電磁場を模擬する
ことにより供試機の妨害排除能力を評価する入射妨害排
除能力評価装置において、前記金属ケースの内面に装着
される磁性電波吸収体と、前記ストリップ線路の下部導
体の並行部の両端で該下部導体が夫々ダンピング抵抗を
介して前記金属ケースに電気的に接続されるごとく前記
ストリップ線路を前記金属ケニス内に保持する手段と、
一端が前記ストリップ線路の妨害信号給電端に接続され
他端が前記金属ケースを貫通して妨害信号を供給する外
部装置に接続される給電用同軸線と、該給電用同軸線と
金属ケースとの間を電気的に絶縁する高周波損失の大き
い絶縁体と、前記ストリップ線路のテーバ部に対向して
該線路内にもうけられる抵抗バッフ元とを有するごとき
入射妨害排除能力評価装置にある。

以−を回向により本発明の詳細な説明する。

第６図及び第７図は本発明による入射妨害排除能力評価
装置の一実施例で、第６図は平面図、第７図は第６図の
Ａ−Ａ断面図を示す。

図において参照番号恕はほぼ直方体形状の金属ケース１
９の内面全面に電波吸収体７３０を装着した電波暗箱で
、使用者の出入り或いは測定装置の搬出入等のための扉
２１を有する。電波吸収体３０としては、電波暗箱の小
型化及び測定周波数が１５０ＭＩ−Ｉｚ以下であるこｔ
から、厚さの薄いフェライト電波吸収体が好適である。

電波暗箱否の寸法は例えば長さＬＣが３ｍ、幅Ｗ。が２
．６ｍ、高さ■１ｏが２．６　ｍとされ、その中に第１
図、のストリップ線路がもうけもれる。ストリップ線路
は第６図に示すように、長手方向の中心軸が電波暗箱明
の床面２０ａのひとつの対角線に一致する如（、下部導
体１をもって絶縁性の保持台６０上に配置され、しかも
ストリップ線路の上部導体２と電波暗箱４の天井間の距
離がストリップ線路の並行導体（，１，２）間の距離よ
りも犬となるように設定される。対角線に一致させて配
置させるのは電波暗箱を小型化すると共に暗箱内でのワ
ーキングエリアを広（とるためであり、またストリップ
線路と暗箱の天井との間の距離を犬とするのはストリッ
プ線路のインビーダ保持台６０は例えば木製で、ストリ
ップ線路内の電界強度への゛床面２０ａからの影響を考
慮し、その高さｈ−を７０ｃｍ程度とすることが望まし
い。この高さｈは一トリ・プ線路と暗箱の天五間の距離
を犬とする上記要件を満足する。保持台６ｏの両側面に
は電波暗箱４の金属ケース１９に一端が接地されたグラ
ウンド用溝′体板（７０ａ、　７０ｂ）がもうけられ、
各導体板とストリップ線路の下部導体１の並行部分の各
々の対応端とが夫々ダンピング抵抗（８０ａ。

８０ｂ）を介して電気的に結合される。ダンピング抵抗
としては２００（Ω）前後のものが望ましい。

ストリップ線路の給電端３ａには、第６図に示されるよ
うに、妨害信号を供給する給電用同軸ケーブル４０の一
端が接続される。同軸ケーブル４０の他端は絶縁リング
５０による電波暗箱明との間の電気的絶縁を介して暗箱
否の外に導き出され、妨°害信号を供給する外部装置（
第２図の妨害信号発生器１１）に接続される。絶縁リン
グ５０とし゛ては電気的絶縁性及び高周波損失の大きな
もの、例えばフ王うイト或いはダストコアなどが、用い
られろ。絶縁リング５０は同軸ケーブル４０と電波暗箱
囮との間に密着してもうけられその寸法は例えば厚さ５
０１ｍ〜１００朋、外径１６Ｍｍ、内径８闘のものが用
いられろ。

ストリップ線路内には、第７図に示すように、ス）　Ｉ
Ｊノブ線路のテーバ部に対向しη抵抗体バッフル（９０
ａ、９０ｂ）がもうけられろ。抵抗体バックルは、ス）
　ＩＪツブ耐路のテーバ部と並行導体部とをほぼ実質的
に区画するごと（、絶縁体（９１ａ、９１ｂ）を介して
空間配置される。

以上の如き構成の入射妨害排除能力評価装置の実験例を
第８図に示す。なお本実験例における仕様は次の通りで
ある。

第８−から明らかなように第３図の較正曲線＠）の許容
範囲（±２ｄＢ）を満足し、第５図のディプ及びピーク
（許容範囲を逸脱する部分）を完全に除去することがで
きる。

本発明の構成によれば、次のような理由から較正曲線の
許容範囲が満足される。

（１］　　電波吸収体を装着した電波暗箱内にストリッ
プ線路を配置しているので、ストリップ線路がアンテナ
として動作する周波数以上での電磁波の再入射による線
路内の電界強度への影響が抑制されろこと。

（２）・妨害信号供給用の同軸ケーブルが電波暗箱と電
気的に絶縁されているので、ストリップ線路と電波暗箱
のｉ面と同軸ケーブルとで形成される一種の分布定数回
路かオープン回路となりこれによる共振が抑制され、こ
の結果１０ＭＨｚ近傍に生ずる大きなディプが除去でき
ること。なお、同軸ケーブルと電波暗箱との間の絶縁体
としてフェライトのような高周波損失の太きいものを用
いるので、内部から高周波が漏れろおそれはない。

（３）ス）　ＩＪツブ線路をダンピング抵抗を介して電
波暗箱にグラウンドしているので、直接、接地した場合
にス）　ＩＪツブ線路と電波暗箱との間に形成される一
種の分布定数回路による共振を抑制でき、：３０ＭＨｚ
近傍に生ずる大きなディプを除去できろこと。これは第
９図Ａ、第９図Ｂ、第９図Ｃかも明らかにされる。第９
図Ａはス）　ＩＪツブ線路を抵抗を介することなく直接
接地した場合、第９図Ｂは２００Ωのダンピング権抵抗
を介して接地した場合、第９図Ｃは電気的に浮かした場
合である。これらの実験例で明らかなように、直接接地
の場合には３０　ＭＨｚ近傍のティグは改善されず、ま
た電気的に浮かした場合には許容範囲内には収まるが、
７ＭＨｚＭＨｚ近傍なディプが発生する。

（４）ストリップ線路内に抵抗体バッフルをもうけてい
るので、ストリップ線路のテーバ部より空間に放射され
た電磁波が線路内に発生させる定在波を抑制することが
でき、第９図Ｂに見られる７９Ｍ）（ｚ　　近傍のピー
クを除去できること。

なお、上記実施例においては電波暗箱内におけろ同軸ケ
ーブルの長さについては言及しなカ・ったが、暗箱内に
ｉ出しているケーブルの長さによっては、ストリップ線
路内の電場との結合で共振するおそれがあ乞。これを防
止するためには、電波暗箱内のケーブルの長さを最高使
用周波数の波長（１５０ＭＩ（ｚ　）の１／４以下とす
ることが望ましいが、実際上この長さで配線することは
困難であるので、空間に浮いているケーブルの長さを１
／４以下とし、他の部分を例えば床面のラエライト電波
、吸収体に接して力；ら外部に引き出すよｔうにする。

この場合フェライトに接して引き廻す部分は全体の長さ
の１／３程度とすることが望ましい。これによりフェラ
イトの磁気損失を利用してケーブルの共振をダンプする
ことが可能となる。

以上説明したように本発明によれば、平１行導体、内部
の電界強度を所望の周波数範囲で適切に保持することが
でき、−シかもコンパクトな寸法の入射妨害排除能力評
価装置を提供することができ、電子機器の製造工程にお
ける最終的な検査部門の一環として容易に設置すること
が可能と九る。〜

【図面の簡単な説明】

第１図はストーリーツブ線路の構成図、第２図は入射妨
害排除能力評価システムのブロック図、第３図は較正曲
線、−第４図は入射妨害排除能力評価装置の従来例、第
５図は第４図の構成の周波数特性、第６図は本発明によ
る入射妨害排除能力評価装置の一実施例、第７図は第６
図のＡ−Ａ断面図、第８図は本発明による入射妨害排除
能力評価装置の実験例１、第９図Ａはストリップ線路を
直接電波暗箱に接地した場合の周波数特性、第９図Ｈは
ストリップ線路を抵抗を介して電波暗箱に接地した場合
の周波数特性、第９図Ｃはストリップ線と電波暗箱とを
電気的に絶縁した一合の周波数特性を示゛す。　　− １ニ一下部導４体、　　　　２：上部導体、３ａ：給′
電端、　　　３ｂ＝−終端抵抗端、３０：電波吸収体、
　　　４０：給電用同軸ケーブル、５０：絶縁リング、
　　６０：保持台、８０ａ、８０ｂ：ダンピング抵抗、 ９０ａ、９０ｂ：抵抗体バッフル。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 互いに並行な上部導体と゛下部導体の両端を絶縁　１物
   を介してテーバ状に機械結合し一端に筋書信号給電端他
   端に終端抵抗接続端を形成したストリップ線路を゛、閉
   じた金属ケニス内に配置し、妨害信号の供給で妨害電磁
   場を模擬することにより供試機の妨害排除能力を評価す
   る入射妨害排除能力計　１（価装置におい獣前記金属ケ
   ースの内面に装着さ第１る磁性′電波吸収体と、前記ス
   トリップ線路の下゛部導体の並行部の両端で該下部導体
   が夫々ダンビッグ抵抗を介して前記金属ケースに電気的
   に接続１　　されるごとく前記ストリップ線路を前記金
   属ケ−１１ス内に保持する手段と、一端が前記ス）　Ｉ
   Ｊツブ線線路路妨害信号給電端に接続され他端−；二前
   記金゛属ケースを貫通して妨害信号を供給する外部装置
   に接続される給電用同軸ケーブルと、該給電用同軸ケ周
   波損失の大きい絶縁体と、前記ストリップ線路のテーバ
   部に対向して該線路内にもうけられる抵抗バッフルとを
   有することを特徴とする入射妨害排除能力評価装置。