JPH03249579A - 遮断器の合成遮断試験装置 - Google Patents
遮断器の合成遮断試験装置Info
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- JPH03249579A JPH03249579A JP2045954A JP4595490A JPH03249579A JP H03249579 A JPH03249579 A JP H03249579A JP 2045954 A JP2045954 A JP 2045954A JP 4595490 A JP4595490 A JP 4595490A JP H03249579 A JPH03249579 A JP H03249579A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は、遮断器の合成遮断試験装置に係り、特に交流
遮断器の合成遮断試験装置に関する。
遮断器の合成遮断試験装置に関する。
（従来の技術）
一般に遮断器は送電系統の故障に際し故障電流を遮断す
る。このような遮断器の責務に対し、試験場で遮断性能
を検証する場合第３図に示す試験回路で検証し遮断試験
時の現象を第４図に示し説明する。短絡発電機１を試験
用電源として限流リアクトル２を介し供試遮断器４に遮
断電流ＩＰを供給し電流遮断後に回復電圧を供給する直
接遮断試験が行われる。電流遮断後に供試遮断器４極間
に現れる過渡回復電圧の調整を過渡回復電圧調整用抵抗
９および過渡回復電圧調整用コンデンサ１０で行う。し
かし、直接遮断試験の設備容量が不足する場合には規定
の遮断電流を供給する電流源回路と、電流遮断後に過渡
回復電圧および回復電圧を供給する電圧源回路からなる
合成遮断試験回路で遮断性能を検証する。
る。このような遮断器の責務に対し、試験場で遮断性能
を検証する場合第３図に示す試験回路で検証し遮断試験
時の現象を第４図に示し説明する。短絡発電機１を試験
用電源として限流リアクトル２を介し供試遮断器４に遮
断電流ＩＰを供給し電流遮断後に回復電圧を供給する直
接遮断試験が行われる。電流遮断後に供試遮断器４極間
に現れる過渡回復電圧の調整を過渡回復電圧調整用抵抗
９および過渡回復電圧調整用コンデンサ１０で行う。し
かし、直接遮断試験の設備容量が不足する場合には規定
の遮断電流を供給する電流源回路と、電流遮断後に過渡
回復電圧および回復電圧を供給する電圧源回路からなる
合成遮断試験回路で遮断性能を検証する。
以下、第５図および第６図を参照して遮断器の合成遮断
試験を説明する。第５図は、遮断器の合成遮断試験の一
例を示すものである。短絡発電機１、限流りアクドル２
、補助遮断器３、供試遮断器４が直列に接続され、電流
源回路が構成されている。また充電装置５により予め充
電される主コンデンサ６と始動ギャップ７と電圧源リア
クトル８の直列回路と、これらに並列に接続される過渡
回復電圧調整用抵抗９と過渡回復電圧調整用コンデンサ
１０の直列回路から電圧源回路が構成される。
試験を説明する。第５図は、遮断器の合成遮断試験の一
例を示すものである。短絡発電機１、限流りアクドル２
、補助遮断器３、供試遮断器４が直列に接続され、電流
源回路が構成されている。また充電装置５により予め充
電される主コンデンサ６と始動ギャップ７と電圧源リア
クトル８の直列回路と、これらに並列に接続される過渡
回復電圧調整用抵抗９と過渡回復電圧調整用コンデンサ
１０の直列回路から電圧源回路が構成される。
電流源回路と電圧源回路は、補助遮断器３と供試遮断器
４の接続点と、電圧源リアクトル８と過渡回復電圧調整
用抵抗８の接続点とが接続され遮断器の合成遮断試験装
置が構成される。
４の接続点と、電圧源リアクトル８と過渡回復電圧調整
用抵抗８の接続点とが接続され遮断器の合成遮断試験装
置が構成される。
上記の通り構成した遮断器の合成遮断試験装置での遮断
試験時の現象を第６図に示す。短絡発電機１より限流リ
アクトル２、補助遮断器３を介して規定の電流源電流Ｉ
ｉ （遮断電流工ｐの大部分）を供試遮断器４に供給す
る。そして時刻ｔ、で合成遮断試験が可能となるように
補助遮断器３と供試遮断器４を開極する。電流源電流Ｉ
ｉの電流零点時刻ｔ３の直前（４００〜５００ｕｓ程度
）時刻ｔ２に予め充電装置５により規定の値まで充電さ
れている電圧源回路の主コンデンサ６から電流零点検出
袋［７ａ、始動制御装置７ｂにより始動ギャップ７を始
動し電圧源リアクトル８を介して供試遮断器４に電圧源
電流Ｉｖを供給する。ここで供試遮断器４に流れる電流
Ｉｉ＋Ｉｖが遮断電流ＩＰとなる。電流源電流Ｉｉは補
助遮断器３により遮断され電流源回路は供試遮断器４か
ら切離され、遮断電流ＩＰは電圧源電流Ｉｖのみとなり
供試遮断器４により時刻ｔ４で遮断され、供試遮断器４
の極間には電圧源回路の定数によって決まる規定の過渡
回復電圧および回復電圧Ｖｐが現れる。しかし、この遮
断器の合成遮断試験装置によれば電流遮断後、供試遮断
器４の極間に現れる回復電圧は過渡回復電圧を含んだ直
流電圧となる。電流遮断後の絶縁耐力は回復電圧は周波
数にも関係し、第３図および第４図に示した直接遮断試
験とは完全に等価であると言切れない面があった。
試験時の現象を第６図に示す。短絡発電機１より限流リ
アクトル２、補助遮断器３を介して規定の電流源電流Ｉ
ｉ （遮断電流工ｐの大部分）を供試遮断器４に供給す
る。そして時刻ｔ、で合成遮断試験が可能となるように
補助遮断器３と供試遮断器４を開極する。電流源電流Ｉ
ｉの電流零点時刻ｔ３の直前（４００〜５００ｕｓ程度
）時刻ｔ２に予め充電装置５により規定の値まで充電さ
れている電圧源回路の主コンデンサ６から電流零点検出
袋［７ａ、始動制御装置７ｂにより始動ギャップ７を始
動し電圧源リアクトル８を介して供試遮断器４に電圧源
電流Ｉｖを供給する。ここで供試遮断器４に流れる電流
Ｉｉ＋Ｉｖが遮断電流ＩＰとなる。電流源電流Ｉｉは補
助遮断器３により遮断され電流源回路は供試遮断器４か
ら切離され、遮断電流ＩＰは電圧源電流Ｉｖのみとなり
供試遮断器４により時刻ｔ４で遮断され、供試遮断器４
の極間には電圧源回路の定数によって決まる規定の過渡
回復電圧および回復電圧Ｖｐが現れる。しかし、この遮
断器の合成遮断試験装置によれば電流遮断後、供試遮断
器４の極間に現れる回復電圧は過渡回復電圧を含んだ直
流電圧となる。電流遮断後の絶縁耐力は回復電圧は周波
数にも関係し、第３図および第４図に示した直接遮断試
験とは完全に等価であると言切れない面があった。
そのため交流の回復電圧を供試験遮断器に印加する方法
として第７図に示した回路が提案されている。第７図は
、第５図の供試遮断器４と並列にリアクトル１２を接続
した回路である。合成試験装置による供試遮断器に印加
される回復電圧は、第２図に示す交流の回復電圧が得ら
れる。しかし、一般にこの合成試験装置ではりアクドル
１２の値が非常に大きく （数ヘンリー）なり素子の実
現が容易でない欠点があった。
として第７図に示した回路が提案されている。第７図は
、第５図の供試遮断器４と並列にリアクトル１２を接続
した回路である。合成試験装置による供試遮断器に印加
される回復電圧は、第２図に示す交流の回復電圧が得ら
れる。しかし、一般にこの合成試験装置ではりアクドル
１２の値が非常に大きく （数ヘンリー）なり素子の実
現が容易でない欠点があった。
（発明が解決しようとする課題）
上記遮断器の合成遮断試験装置によると、電流遮断後に
供試遮断器に印加される回復電圧は直流電圧となり、送
電系統での使用状態と違った電圧が印加された遮断試験
となる。また、供試遮断器に並列にリアクトルを接続し
た合成試験装置ではりアクドルの値が非常に大きく実現
が容易でなａ 本発明の目的とするところは、短絡試験場にある高圧変
圧器とその低圧側に短絡試験用限流リアクトルを付加す
ることで容易に大容量のりアクドルの代替え品を得る事
ができ、遮断器の実使用状態に近い状態で遮断試験を可
能とする遮断器の合成遮断試験装置を提供することにあ
る。
供試遮断器に印加される回復電圧は直流電圧となり、送
電系統での使用状態と違った電圧が印加された遮断試験
となる。また、供試遮断器に並列にリアクトルを接続し
た合成試験装置ではりアクドルの値が非常に大きく実現
が容易でなａ 本発明の目的とするところは、短絡試験場にある高圧変
圧器とその低圧側に短絡試験用限流リアクトルを付加す
ることで容易に大容量のりアクドルの代替え品を得る事
ができ、遮断器の実使用状態に近い状態で遮断試験を可
能とする遮断器の合成遮断試験装置を提供することにあ
る。
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明によれば、供試遮断器
に規定の遮断電流を供給する電流源回路と、電流遮断後
に規定の過渡回復電圧および回復電圧を供給する電圧源
回路からなる遮断器の合成遮断試験装置において、供試
遮断器と並列に変圧器を接続し、その二次側にリアクト
ルを接続したことを特徴とするものである。
に規定の遮断電流を供給する電流源回路と、電流遮断後
に規定の過渡回復電圧および回復電圧を供給する電圧源
回路からなる遮断器の合成遮断試験装置において、供試
遮断器と並列に変圧器を接続し、その二次側にリアクト
ルを接続したことを特徴とするものである。
（作用）
上記の遮断器の合成試験装置によると、供試遮断器が電
流零点で電流を遮断すると、供試遮断器の極間には電圧
源回路の定数で決まる過渡回復電圧および回復電圧が印
加されるが、電流遮断瞬時の過渡回復電圧は過渡回復電
圧調整用抵抗およびコンデンサで調整され、回復電圧は
主コンデンサ、電圧源リアクトルおよび供試遮断器に並
列に接続された変圧器による回路の共振より発生する周
波数の回復電圧が供試遮断器の極間に印加される。変圧
器の二次側に接続されるリアクトルを調整することによ
り任意の周波数の回復電圧が得られ遮断器が使用される
周波数（一般に５０Ｈｚ又は６０Ｈｚ）での遮断器の合
成遮断試験が可能となる。
流零点で電流を遮断すると、供試遮断器の極間には電圧
源回路の定数で決まる過渡回復電圧および回復電圧が印
加されるが、電流遮断瞬時の過渡回復電圧は過渡回復電
圧調整用抵抗およびコンデンサで調整され、回復電圧は
主コンデンサ、電圧源リアクトルおよび供試遮断器に並
列に接続された変圧器による回路の共振より発生する周
波数の回復電圧が供試遮断器の極間に印加される。変圧
器の二次側に接続されるリアクトルを調整することによ
り任意の周波数の回復電圧が得られ遮断器が使用される
周波数（一般に５０Ｈｚ又は６０Ｈｚ）での遮断器の合
成遮断試験が可能となる。
（実施例）
以下、本発明の一実施例を第１図および第２図を参照し
て説明する。
て説明する。
第１図は、本発明による遮断器の合成遮断試験装置の実
施例を示す図である。短終発電機１、限流リアクトル２
及び補助遮断器３を介し供試遮断器４に接続し電流源回
路を構成する。また充電装置１５により予め充電される
主コンデンサ６、始動ギャップ７、電圧源リアクトル８
の直列回路と、過渡回復電圧調整用抵抗９、過渡回復電
圧調整用コンデンサ１０の直列回路と、変圧器１１が前
記供試遮断器４に接続されると共に変圧器１１の二次側
にはりアクドル１２が接続され電圧源回路が構成される
。始動ギャップは電流源電流零点前（４００〜５００μ
ｓ程度）で始動制御できるように電流零点検出装置７ａ
、始動制御装置７ｂを備えている。
施例を示す図である。短終発電機１、限流リアクトル２
及び補助遮断器３を介し供試遮断器４に接続し電流源回
路を構成する。また充電装置１５により予め充電される
主コンデンサ６、始動ギャップ７、電圧源リアクトル８
の直列回路と、過渡回復電圧調整用抵抗９、過渡回復電
圧調整用コンデンサ１０の直列回路と、変圧器１１が前
記供試遮断器４に接続されると共に変圧器１１の二次側
にはりアクドル１２が接続され電圧源回路が構成される
。始動ギャップは電流源電流零点前（４００〜５００μ
ｓ程度）で始動制御できるように電流零点検出装置７ａ
、始動制御装置７ｂを備えている。
第１図に示した本発明の作用を第１図、第２図を参照し
て説明する。規定の遮断電流Ｉｐを供試遮断器４に供給
できるように電流源回路の短絡発電機１の励磁と限流リ
アクトル２の値を設定し、電流源電流Ｉｉを供給する。
て説明する。規定の遮断電流Ｉｐを供試遮断器４に供給
できるように電流源回路の短絡発電機１の励磁と限流リ
アクトル２の値を設定し、電流源電流Ｉｉを供給する。
時刻ｔ３で合成遮断試験が可能となるように時刻ｔ１で
供試遮断器４、補助遮断器３を開極する。電流源電流Ｉ
ｉの零点の時刻ｔ３の直前（４００〜５００μｓ程度）
の時刻ｔ２に予め充電装置５により充電された主コンデ
ンサ６から始動キャップ７を電流零点検出装置７ａ、始
動制御装置７ｂによって始動し電圧源リアクトル８を介
して電圧源電流Ｉｖを供試遮断器４に供給する。ここで
、供試遮断器４に流れる遮断電流ＩＰは、Ｉｉ＋Ｉｖと
なる。
供試遮断器４、補助遮断器３を開極する。電流源電流Ｉ
ｉの零点の時刻ｔ３の直前（４００〜５００μｓ程度）
の時刻ｔ２に予め充電装置５により充電された主コンデ
ンサ６から始動キャップ７を電流零点検出装置７ａ、始
動制御装置７ｂによって始動し電圧源リアクトル８を介
して電圧源電流Ｉｖを供試遮断器４に供給する。ここで
、供試遮断器４に流れる遮断電流ＩＰは、Ｉｉ＋Ｉｖと
なる。
電流源電流Ｉｉは時刻ｔ３において補助遮断器３によっ
て遮断され電流源回路は供試遮断器４から切離され、遮
断電流Ｉｐは電圧源電流Ｉｖのみとなり供試遮断器４に
より時刻ｔ４で遮断され、供試遮断器４の極間には電圧
源回路の定数で決まる規定の過渡回復電圧および回復電
圧ＶＰが印加される。電流遮断瞬時の過渡回復電圧は過
渡回復電圧調整用抵抗９、過渡回復電圧調整用コンデン
サ１０で調整され。
て遮断され電流源回路は供試遮断器４から切離され、遮
断電流Ｉｐは電圧源電流Ｉｖのみとなり供試遮断器４に
より時刻ｔ４で遮断され、供試遮断器４の極間には電圧
源回路の定数で決まる規定の過渡回復電圧および回復電
圧ＶＰが印加される。電流遮断瞬時の過渡回復電圧は過
渡回復電圧調整用抵抗９、過渡回復電圧調整用コンデン
サ１０で調整され。
回復電圧は主コンデンサ６、電圧リアクトル８および供
試遮断器４に並列に接続された変圧器による回路の共振
により発生する周波数の回復電圧が供試遮断器４の極間
に印加される。変圧器１１の二次側に接続されるリアク
トル１２を調整することにより任意の周波数の回復電圧
が得られ遮断器が使用される周波数での遮断器の合成遮
断試験が可能となる。
試遮断器４に並列に接続された変圧器による回路の共振
により発生する周波数の回復電圧が供試遮断器４の極間
に印加される。変圧器１１の二次側に接続されるリアク
トル１２を調整することにより任意の周波数の回復電圧
が得られ遮断器が使用される周波数での遮断器の合成遮
断試験が可能となる。
以上のように本発明では、供試遮断器に規定の遮断電流
を供給する電流源回路と、規定の回復電圧を供給する電
圧源回路からなる遮断器の合成試験装置において、供試
遮断器に並列に変圧器を接続し、変圧器二次側のりアク
ドルを調整することにより、主コンデンサ、電圧源リア
クトル、変圧器回路で決まる共振周波数の回復電圧が供
試遮断器の極間に印加され、遮断器が使用される系統の
周波数での合成遮断試験を可能とした。従来の試験装置
では、直流の回復電圧のため等個性が問題となるが交流
の回復電圧を印加でき、実使用状態に近い状態での遮断
試験が可能な遮断器の合成遮断試験装置を提供すること
ができる。
を供給する電流源回路と、規定の回復電圧を供給する電
圧源回路からなる遮断器の合成試験装置において、供試
遮断器に並列に変圧器を接続し、変圧器二次側のりアク
ドルを調整することにより、主コンデンサ、電圧源リア
クトル、変圧器回路で決まる共振周波数の回復電圧が供
試遮断器の極間に印加され、遮断器が使用される系統の
周波数での合成遮断試験を可能とした。従来の試験装置
では、直流の回復電圧のため等個性が問題となるが交流
の回復電圧を印加でき、実使用状態に近い状態での遮断
試験が可能な遮断器の合成遮断試験装置を提供すること
ができる。
第１図は本発明の一実施例を示す遮断器の合成遮断試験
装置の回路図、第２図は第１図に示す回路における遮断
試験時の電圧及び電流波形を示す図、第３図は従来の通
常行われる遮断器の遮断試験装置の回路図、第４図は第
３図に示す回路における遮断試験時の電気的現象を示す
図、第５図は第３図に示した回路で試験容量が不足し遮
断試験ができない場合に一般的に用いられる遮断器の合
成遮断試験装置の回路図、第６図は第５図に示す回路に
おける遮断試験時の電気的現象を示す図、第７図は合成
遮断試験で交流の回復電圧を得るための試験装置の回路
図である。 １・・・短絡発電機、 ２・・・限流リアクトル、
３・・・補助遮断器、 ４・・供試遮断器、５・・
・充電装置、 ６・・主コンデンサ、７・・・始
動ギャップ、 ７ａ・電流零点検出装置、７ｂ・・・
始動制御装置、 ８・・電圧源リアクトル、９・・・
過渡回復電圧調整抵抗、 １０・・・過渡回復電圧調整コンデンサ、１１・・・変
圧器、 １２・・・リアクトル。
装置の回路図、第２図は第１図に示す回路における遮断
試験時の電圧及び電流波形を示す図、第３図は従来の通
常行われる遮断器の遮断試験装置の回路図、第４図は第
３図に示す回路における遮断試験時の電気的現象を示す
図、第５図は第３図に示した回路で試験容量が不足し遮
断試験ができない場合に一般的に用いられる遮断器の合
成遮断試験装置の回路図、第６図は第５図に示す回路に
おける遮断試験時の電気的現象を示す図、第７図は合成
遮断試験で交流の回復電圧を得るための試験装置の回路
図である。 １・・・短絡発電機、 ２・・・限流リアクトル、
３・・・補助遮断器、 ４・・供試遮断器、５・・
・充電装置、 ６・・主コンデンサ、７・・・始
動ギャップ、 ７ａ・電流零点検出装置、７ｂ・・・
始動制御装置、 ８・・電圧源リアクトル、９・・・
過渡回復電圧調整抵抗、 １０・・・過渡回復電圧調整コンデンサ、１１・・・変
圧器、 １２・・・リアクトル。
Claims (1)
- 試験用電源、限流リアクトル、補助遮断器及び供試遮断
器が直列に接続され閉回路を形成し、前記供試遮断器に
規定の電流を供給する電流源回路と、主コンデンサ、始
動ギャップ及び電圧源リアクトルの直列回路と、過渡回
復電圧調整用抵抗と過渡回復電圧調整用コンデンサの直
列回路が、前記供試遮断器に並列に接続され規定の過渡
回復電圧および回復電圧を供給する電圧源回路からなる
遮断器の合成遮断試験装置において、前記供試遮断器に
並列に変圧器を配置し、変圧器の二次側にリアクトルを
接続したことを特徴とする遮断器の合成遮断試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2045954A JPH03249579A (ja) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | 遮断器の合成遮断試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2045954A JPH03249579A (ja) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | 遮断器の合成遮断試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03249579A true JPH03249579A (ja) | 1991-11-07 |
Family
ID=12733672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2045954A Pending JPH03249579A (ja) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | 遮断器の合成遮断試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03249579A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012194076A (ja) * | 2011-03-16 | 2012-10-11 | Toshiba Corp | 開閉装置の試験装置及びその試験方法 |
| CN113985191A (zh) * | 2021-12-29 | 2022-01-28 | 苏州电器科学研究院股份有限公司 | 特高压变压器短路承受能力试验系统及方法 |
-
1990
- 1990-02-28 JP JP2045954A patent/JPH03249579A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012194076A (ja) * | 2011-03-16 | 2012-10-11 | Toshiba Corp | 開閉装置の試験装置及びその試験方法 |
| CN113985191A (zh) * | 2021-12-29 | 2022-01-28 | 苏州电器科学研究院股份有限公司 | 特高压变压器短路承受能力试验系统及方法 |
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