JPS60207079A - しや断器合成試験方法 - Google Patents

しや断器合成試験方法

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Publication number
JPS60207079A
JPS60207079A JP59063586A JP6358684A JPS60207079A JP S60207079 A JPS60207079 A JP S60207079A JP 59063586 A JP59063586 A JP 59063586A JP 6358684 A JP6358684 A JP 6358684A JP S60207079 A JPS60207079 A JP S60207079A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
breaker
voltage
test
voltage source
Prior art date
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Pending
Application number
JP59063586A
Other languages
English (en)
Inventor
Matsuo Matsuda
松田 松男
Kunio Yokokura
邦夫 横倉
Hisao Nishikawa
尚男 西川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS60207079A publication Critical patent/JPS60207079A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明はしゃ断器の合成試験方法に関し、特に実系統事
故電流しゃ断時と等価なしゃ断性能検証を行なう手段に
関する。
〔発明の技術的背景およびその問題点〕最近は送電系統
の大容量化に伴い、しゃ断器のしゃ断容聞も増大してい
る。このため送電系統から直接のしゃ断試験を行なうこ
とは勿論、短絡発電機による直接しゃ断試験を行なうこ
とも不可能である。なお、一般に、これらの高圧しゃ断
器は複数個のユニットしゃ断部を直列接続して構成され
ているので、通常は各ユニツ1−毎の試験が行なわれて
いるが、このユニット試験ですら直接試験では困難な場
合が多い。かくして以前からいわゆる合成試験法が開発
されており、合成試験による検証が行なわれている。
しゃ断器の合成試験については種々の方法が提案されて
いるが、基本的には比較的低電圧で大電流を供給する電
流源と、高電圧で小電流を供給する電圧源とを用い、上
記電流源から短絡電流を供給し、上記電圧源から回復電
圧を供給するものとなっている。そして現在、合成試験
を行なう場合、最も一般的に用いられている方法は、電
流重沓法である。
第1図は従来の電流重畳法による合成試験回路の一例を
示す図である。第1図において1は電流源であり、この
I流源1から保護しゃ断器2.投5り 入スイッチ、ii流調整用リすク1ヘル4および補助し
ゃ断器5を介して供試しや断器6に電流が供給される。
また7は充N装置であり、断路器8を介して電圧源コン
デンサ9を充°電させるものとなっている。電圧源コン
デンサ9は電圧源N流調整用リアクトル10および供試
しゃ断器6を介して予め充電されている。なお、上記コ
ンデンサ9とリアクトル10とは共振回路を構成してい
る。電流零点検出器11により供試しゃ断器6に流れる
電流零点が検出されると、スタータ12を介してギャッ
プ13による放電が行なわれ、電圧源電流が供試しゃ断
器6に供給される。なお、14および15は電流しゃ断
接に加わる再起電圧の振幅率。
周波数を調整するための抵抗とコンデンサである。
また充電装[7は新路器8により適時切り離され、るも
のとなっている。
第2図は第1図の回路において供試しゃ断器6で回路電
流をしゃ断したときの現象波形である。
補助しゃ断器5および供試しゃ断器6に引き外し指令が
与えられると、接触子が開離する。所定時間経過化後、
電8!零点直前の時刻T1にてギャップ13による放電
が行なわれ、電圧源コンデンサ9が結合する。そうする
と、電圧源コンデンサ9と電圧源電流調整用リアクトル
10による共振電流17が発生し、これが主電流16に
重畳する。
時刻T2にて補助しゃ断器5は電流零点を迎え、主電流
16をしゃ断して電流源1は切り離される。
その後、供試しゃ断器6には共振電流7だけが流れ、時
刻T3にてこの共振電117がしゃ断されると、供試し
ゃ断器6の極間電圧波形は19のようになる。この極間
電圧19に耐えるか否かによりしゃ断の良否が判定され
る。
第3図は合成試験時の極間回復電圧20aと、実系統し
ゃ断時の極間回復電圧20bとを対比して示した図であ
る。合成試験の場合には、再起電圧は基準値に調整でき
るが、極間回復電圧が直流のため、実系統での事故電流
しゃ断時に比べ苛酷な試験内容となっていた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、実系統における事故電流し中断時と同
等の条件を有する交流回復電圧が印加され、適正なしゃ
断性能検証を行なえる合成試験方法を提供することにあ
る。
〔発明の概要〕
本発明は上記目的を達成するために次の如く構成したこ
とを特徴としている。すなわち、供試ししゃ断し、しゃ
断電流の最終零点にリアクトルとコンデンサとからなる
共振回路により共振電流を重畳させて合成電流となし、
この合成電流をしゃ断した後において前記供試しゃ断器
に交流回復電圧を印加し、しゃ断の可否を検証するよう
にしたことを特徴としている。
〔発明の実施例〕
第4図は本発明の合成試験方法を実施するための回路構
成を示す図である。なお第1図と同一部分には同一符号
を付し、詳しい説明は省略する。
第4図に示すように、本実施例はN流源1と同位相の交
流電[21を設け、この電11121が電圧源用保護し
ゃ断器22.変圧器23.電圧源補助しゃ断器24.抵
抗25を介して供試しゃ断器6の両端に印加されるよう
に構成されている。
第5図は第4図の回路において、供試しゃ断器6で回路
電流をしゃ断し、電圧源補助しゃ断器24を投入して交
流回復電圧を印加したときの現象波形である。
補助しゃ断器5および供試しゃ断器6に引き外し指令が
与えられると、接触子が開離する。所定時間経過後、電
流零点直前の時刻T1にてギャップ13による放電が行
なわれ、電圧源コンデンサ9が結合する。そうすると、
電圧源コンデンサ9と電圧源電流調整用リック1〜ル1
0による共振電流17が発生し、これが主電流16に重
畳する。
時刻T2にて補助しゃ断器5は電流零点を迎え、主電流
16をしゃ断して電流w、1は切り離される。
その後、供試しゃ断器6には共振電流17だけが流れ、
時刻T3にてこの共振電流がしゃ断される。
供試しゃ断器6が電流をしゃ断した後、時刻T4にて電
圧源補助しゃ断器24を投入すると、抵抗25を介して
供試しや断器6に交流電圧が印加される。このときの供
試しゃ断器6の極間電圧は第5図中261こ示すような
電圧となる。かくして実系統事故電流しゃ断時と等価な
゛しゃ断性能の検証が可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば供試しゃ断し、し
ゃ断電流のR終零点にリアクトルとコンデンサとからな
る共振回路により共振電流を重畳させて合成電流となし
、この合成電流をし15断した後において前記供試しゃ
断器に交流回復電圧を印加し、しゃ断の可否を検証する
ようにしたので、実系統における事故電流しゃ断時と同
等の条件を有する交流回復電圧が印加され、適正なしゃ
断性能検証が行なえるしゃ断器合成試験方法を提供でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の合成試験回路を示す図、第2図は第1図
の回路における検証時の電圧および電流波形を示す図、
第3図は従来の合成試験時と実系統における故障電流し
ゃ断時の電圧波形の違いを示す図、第4図は本発明の合
成試験方法を実施する場合の試験回路の一例を示した回
路図、第5図は本発明の方法による検証時の電圧および
電流の波形を示す図である。 1・・・電源、2・・・保護しゃ断器、3・・・投入ス
イッチ、4・・・電流調整用リアクトル、5・・・補助
しゃ断器、6・・・供試しゃ断器、7・・・充電装置、
8・・・断路器、9・・・電圧源コンデンサ、10・・
・電圧1電流調整用リアクトル、11・・・電流零点検
出器、12・・・スタータ、13・・・ギャップ、14
・・・抵抗、15・・・コンデンサ、16・・・主電流
、17・・・共振電流、18・・・しゃ断電流、19・
・・極間電圧、20a、20b・・・極間回復電圧、2
1・・・電源、22・・・電圧補助しゃ断器、23・・
・変圧器、24・・・電圧補助しゃ断器、25・・・抵
抗、26・・・極間電圧。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 2 第2図 第3図 第4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 定電流をしゃ断し、しゃ断電流の最終零点にリアクトル
    とコンデンサとからなる共振回路により共振電流を重畳
    させて合成電流となし、この合成電流をしゃ断した後に
    おいて前記供試しゃ断器に交流回復電圧を印加し、しゃ
    断の可否を検証するようにしたことを特徴とするしゃ断
    器合成試験方法。
JP59063586A 1984-03-31 1984-03-31 しや断器合成試験方法 Pending JPS60207079A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59063586A JPS60207079A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 しや断器合成試験方法

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JP59063586A JPS60207079A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 しや断器合成試験方法

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JPS60207079A true JPS60207079A (ja) 1985-10-18

Family

ID=13233515

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59063586A Pending JPS60207079A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 しや断器合成試験方法

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JP (1) JPS60207079A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0356879A (ja) * 1989-07-25 1991-03-12 Meidensha Corp 遮断器試験装置
US5153518A (en) * 1989-09-20 1992-10-06 Hitachi, Ltd. Synthetic equivalent test circuit of circuit breaker

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0356879A (ja) * 1989-07-25 1991-03-12 Meidensha Corp 遮断器試験装置
US5153518A (en) * 1989-09-20 1992-10-06 Hitachi, Ltd. Synthetic equivalent test circuit of circuit breaker

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