JPH03252572A - 回路基板テストフィクスチャ - Google Patents
回路基板テストフィクスチャInfo
- Publication number
- JPH03252572A JPH03252572A JP2050999A JP5099990A JPH03252572A JP H03252572 A JPH03252572 A JP H03252572A JP 2050999 A JP2050999 A JP 2050999A JP 5099990 A JP5099990 A JP 5099990A JP H03252572 A JPH03252572 A JP H03252572A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- circuit board
- pcb
- spring probe
- probe pins
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 64
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 33
- IYZWUWBAFUBNCH-UHFFFAOYSA-N 2,6-dichlorobiphenyl Chemical compound ClC1=CC=CC(Cl)=C1C1=CC=CC=C1 IYZWUWBAFUBNCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 12
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 150000003071 polychlorinated biphenyls Chemical class 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は回路基板テストフィクスチャに関する。
［従来の技術］
従来、電子部品を搭載した回路基板（以下、ＰＣＢと呼
ぶ。）の検査方式にはエツジコネクタからテスト信号を
入出力するファンクションテストと回路の各ノード毎に
テスト信号を入出力するインサーキットテストとがある
。
ぶ。）の検査方式にはエツジコネクタからテスト信号を
入出力するファンクションテストと回路の各ノード毎に
テスト信号を入出力するインサーキットテストとがある
。
前者のファンクションテストは被検査ＰＣＢとテスタ間
を接続するためにエッジコネクタフイクスチャが使用さ
れ、後者のインサーキットテストは被検査ＰＣＢの回路
の各ノードにテストビンを当てるためＢｅｄ ｏｆ
Ｎａ１ｌｓ（ベッドオブ ネイルス）フィクスチャが
使用される。
を接続するためにエッジコネクタフイクスチャが使用さ
れ、後者のインサーキットテストは被検査ＰＣＢの回路
の各ノードにテストビンを当てるためＢｅｄ ｏｆ
Ｎａ１ｌｓ（ベッドオブ ネイルス）フィクスチャが
使用される。
このファンクションテストとインサーキットテストの両
者の機能を兼ね備えたコンビネーションテスタも使用さ
れている。このコンビネーションテスタは、エッジコネ
クタフィクスチャとＢｅｄ ｏｆ Ｎａ１ｌｓフイ
クスチヤの両方のフィクスチャを備えているため費用が
かかり、また一種類の回路基板のためフィクスチャを交
換して検査することは工数もかかる。
者の機能を兼ね備えたコンビネーションテスタも使用さ
れている。このコンビネーションテスタは、エッジコネ
クタフィクスチャとＢｅｄ ｏｆ Ｎａ１ｌｓフイ
クスチヤの両方のフィクスチャを備えているため費用が
かかり、また一種類の回路基板のためフィクスチャを交
換して検査することは工数もかかる。
このため、Ｂｅｄ ｏｆ Ｎａ１ｌｓフイクスチヤ
でエツジコネクタにもテストビンを立ててインサーキッ
トテストとファンクションテストに共用する方法が考え
られる。
でエツジコネクタにもテストビンを立ててインサーキッ
トテストとファンクションテストに共用する方法が考え
られる。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、上記のようなりｅｄ ｏｆＮａｉｌｓ
フィクスチャでエツジコネクタにもテストビンな立てて
インサーキットテストとファンクションテストに共用す
る方法では、ファンクションテストにおいてインサーキ
ットテストのために接続されている各ノードへのテスト
ビン配線が、その線間のクロストークや信号の反射によ
り、被検査ＰＣＢの回路を誤動作させ正常なファンクシ
ョンテストを不可能にする欠点がある。
フィクスチャでエツジコネクタにもテストビンな立てて
インサーキットテストとファンクションテストに共用す
る方法では、ファンクションテストにおいてインサーキ
ットテストのために接続されている各ノードへのテスト
ビン配線が、その線間のクロストークや信号の反射によ
り、被検査ＰＣＢの回路を誤動作させ正常なファンクシ
ョンテストを不可能にする欠点がある。
本発明は、上記欠点に鑑みてなされたもので、ファンク
ションテストとインサーキットテストの両方の機能を兼
ね備え、接続されている各線間のクロストークや信号の
反射により被検査ＰＣＢの回路を誤動作させることのな
い回路基板テストフィクスチャを提供することを目的と
する。
ションテストとインサーキットテストの両方の機能を兼
ね備え、接続されている各線間のクロストークや信号の
反射により被検査ＰＣＢの回路を誤動作させることのな
い回路基板テストフィクスチャを提供することを目的と
する。
［課題を解決するための手段］
本発明は、回路基板の各ノードとの接続用スプリングプ
ローブピンと、該スプリングプローブピンより長ストロ
ークで形成され前記回路基板のエツジコネクタとの接続
のための長ストロークスプリングプローブピンとを有す
る回路基板テストフィクスチャであって、被検査回路基
板が長ストロークスプリングプローブピンのみに接触す
る位置と全スプリングプローブピンが接触する位置とを
切り換えて停止できる停止機構を備えるようにしたもの
である。
ローブピンと、該スプリングプローブピンより長ストロ
ークで形成され前記回路基板のエツジコネクタとの接続
のための長ストロークスプリングプローブピンとを有す
る回路基板テストフィクスチャであって、被検査回路基
板が長ストロークスプリングプローブピンのみに接触す
る位置と全スプリングプローブピンが接触する位置とを
切り換えて停止できる停止機構を備えるようにしたもの
である。
［実施例］
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例である回路基板テストフィク
スチャの外観図であり、第２図（ａ）。
スチャの外観図であり、第２図（ａ）。
（ｂ）及び（ｃ）は第１図に示す回路基板テストフィク
スチャの断面図である。
スチャの断面図である。
第１図において、回路基板テストフィクスチャ１の筐体
上面略中夫に矩形形状に形成されたシール４の上面には
被検査回路基板である被検査ＰＣＢ １０が取付けられ
る。この回路基板テストフィクスチャ１の側面にはレバ
ー１３及びエア吸口５が配設されている。このレバー１
３は第２図に示す半円形カム９を軸を支点として回動で
きるように構成され、また、エアー吸口５は図示せぬ空
気吸入機の吸入口と接続されて回路基板テストフィラス
チャ１内に吸引力を付与するものである。
上面略中夫に矩形形状に形成されたシール４の上面には
被検査回路基板である被検査ＰＣＢ １０が取付けられ
る。この回路基板テストフィクスチャ１の側面にはレバ
ー１３及びエア吸口５が配設されている。このレバー１
３は第２図に示す半円形カム９を軸を支点として回動で
きるように構成され、また、エアー吸口５は図示せぬ空
気吸入機の吸入口と接続されて回路基板テストフィラス
チャ１内に吸引力を付与するものである。
第２図（ａ）に示すように、この回路基板テストフィク
スチャ１のトッププレート３のシール４上に被検査ＰＣ
Ｂ １０が取付けられ、この被検査ＰＣＢ １０上に電
子部品１４及びエツジコネクタ１１が実装されている。
スチャ１のトッププレート３のシール４上に被検査ＰＣ
Ｂ １０が取付けられ、この被検査ＰＣＢ １０上に電
子部品１４及びエツジコネクタ１１が実装されている。
上記トッププレート３は上面が回路基板テストフィクス
チャ１のフランジ部１ａと接離可能に構成され、下面が
ベースプレート２に固定されているバネ６により上方に
付勢されている。また、ベースプレート２にはノード用
スプリングプローブピン７とエツジコネクタ用長ストロ
ークスプリングプローブピン８が直立して挿入配設され
ており、これらプローブビン７及び８先端の触針が伸縮
自在で且つ被検査ＰＣＢ １０に実装された電子部品１
４及びエツジコネクタ１１の端子に当接可能な位置に配
置されている。これらプローブビン７及び８は被検査Ｐ
ＣＢ １０の種類により位置及び種類等を交換できるよ
うに構成されている。また、プローブビン７及び８の他
端にはテスト用の信号を入出力する信号線１２が各プロ
ーブビン毎に接続されている。また、レバー１３により
回動される半円形カム９は第１図（ａ）に示すＡ点及び
破線で示すＢ点の状態になるように回動可能に構成され
ている。このＡ点及びＢ点のカム面の位置はトッププレ
ート３の下降を停止させるためのものであるから、この
停止状態が得られればカム９の形状は半円形形状でなく
てもよい。このカム９が第１図（ａ）に示す状態で、エ
ア吸口５からバキューム圧が加えられるとベースプレー
ト２とトッププレート３とシール４と被検査ＰＣＢ １
０は一つのバキューム室となるように構成されており、
バネ６の上方への付勢力よりもバキューム圧が強（なる
とトッププレート３が下方に移動してＡ点の位置で停止
するように構成されている。この時にはスプリングプロ
ーブピン７は被検査ＰＣＢ １０のノードには接触でき
ず、長ストロークスプリングプローブピン８のみが被検
査ＰＣＢ １０のエツジコネクタ１１に接触できるため
、長ストロークスプリングプローブピン８に配線された
信号線１２からテスト信号を入出力することによりファ
ンクションテストを被検査ＰＣＢ １０の各ノードが正
常な動作をする状態で実行できる。更に、レバー１３に
より第２図（Ｃ）のようにカム９を回転させた状態でエ
ア吸口５からバキューム圧を加えると、トッププレート
３はＢ点まで更に下方に移動してＢ点の位置で停止する
。この時、スプリングプローブピン７と長ストロークス
プリングプローブピン８の両方の触針が当接するので配
線された信号線１２からテスト信号を入出力してインサ
ーキットテストを実行することができる。
チャ１のフランジ部１ａと接離可能に構成され、下面が
ベースプレート２に固定されているバネ６により上方に
付勢されている。また、ベースプレート２にはノード用
スプリングプローブピン７とエツジコネクタ用長ストロ
ークスプリングプローブピン８が直立して挿入配設され
ており、これらプローブビン７及び８先端の触針が伸縮
自在で且つ被検査ＰＣＢ １０に実装された電子部品１
４及びエツジコネクタ１１の端子に当接可能な位置に配
置されている。これらプローブビン７及び８は被検査Ｐ
ＣＢ １０の種類により位置及び種類等を交換できるよ
うに構成されている。また、プローブビン７及び８の他
端にはテスト用の信号を入出力する信号線１２が各プロ
ーブビン毎に接続されている。また、レバー１３により
回動される半円形カム９は第１図（ａ）に示すＡ点及び
破線で示すＢ点の状態になるように回動可能に構成され
ている。このＡ点及びＢ点のカム面の位置はトッププレ
ート３の下降を停止させるためのものであるから、この
停止状態が得られればカム９の形状は半円形形状でなく
てもよい。このカム９が第１図（ａ）に示す状態で、エ
ア吸口５からバキューム圧が加えられるとベースプレー
ト２とトッププレート３とシール４と被検査ＰＣＢ １
０は一つのバキューム室となるように構成されており、
バネ６の上方への付勢力よりもバキューム圧が強（なる
とトッププレート３が下方に移動してＡ点の位置で停止
するように構成されている。この時にはスプリングプロ
ーブピン７は被検査ＰＣＢ １０のノードには接触でき
ず、長ストロークスプリングプローブピン８のみが被検
査ＰＣＢ １０のエツジコネクタ１１に接触できるため
、長ストロークスプリングプローブピン８に配線された
信号線１２からテスト信号を入出力することによりファ
ンクションテストを被検査ＰＣＢ １０の各ノードが正
常な動作をする状態で実行できる。更に、レバー１３に
より第２図（Ｃ）のようにカム９を回転させた状態でエ
ア吸口５からバキューム圧を加えると、トッププレート
３はＢ点まで更に下方に移動してＢ点の位置で停止する
。この時、スプリングプローブピン７と長ストロークス
プリングプローブピン８の両方の触針が当接するので配
線された信号線１２からテスト信号を入出力してインサ
ーキットテストを実行することができる。
逆に、テストが終りエア吸口５からのバキューム圧を停
止させればバネ６の付勢力によりトッププレート３は第
２図（ａ）の状態に復帰する。
止させればバネ６の付勢力によりトッププレート３は第
２図（ａ）の状態に復帰する。
上記構成よりなる本実施例の作用について第２図を用い
て説明する。
て説明する。
まず、第２図（ａ）に示すようにテストを実施していな
い時には、トッププレート３はベースプレート２に固定
されているバネ６で押し上げられているため、ノード用
スプリングプローブピン７とエツジコネクタ用長ストロ
ークスプリングプローブピン８とも被検査ＰＣＢ １０
に接触していない。この状態でエア吸口５からバキュー
ム圧が加えられ、バネ６の付勢力に抗してバキューム圧
が強くなるとトッププレート３が移動して第２図（ｂ）
に示すＡ点の位置でトッププレート３が停止する。この
時、スプリングプローブピン７は被検査ＰＣＢ １０の
ノードには接触できず、長ストロークスプリングプロー
ブピン８のみが被検査ＰＣＢ １０のエツジコネクタ１
１に接触できるため長ストロークスプリングプローブピ
ン８に配線された信号線１２からテスト信号を入出力し
て被検査ＰＣＢ １０の各ノードが正常な動作をする状
態でファンクションテストを実行する。
い時には、トッププレート３はベースプレート２に固定
されているバネ６で押し上げられているため、ノード用
スプリングプローブピン７とエツジコネクタ用長ストロ
ークスプリングプローブピン８とも被検査ＰＣＢ １０
に接触していない。この状態でエア吸口５からバキュー
ム圧が加えられ、バネ６の付勢力に抗してバキューム圧
が強くなるとトッププレート３が移動して第２図（ｂ）
に示すＡ点の位置でトッププレート３が停止する。この
時、スプリングプローブピン７は被検査ＰＣＢ １０の
ノードには接触できず、長ストロークスプリングプロー
ブピン８のみが被検査ＰＣＢ １０のエツジコネクタ１
１に接触できるため長ストロークスプリングプローブピ
ン８に配線された信号線１２からテスト信号を入出力し
て被検査ＰＣＢ １０の各ノードが正常な動作をする状
態でファンクションテストを実行する。
次に、レバー１３を回動して第２図（Ｃ）のようにカム
９をＢ点の位置まで回転させた状態でエア吸口５からバ
キューム圧を加えると、トッププレート３はＢ点で停止
できるので、スプリングプローブピン７と長ストローク
スプリングプローブピン８に配線された信号線１２から
テスト信号を入出力してインサーキットテストを実行す
る。
９をＢ点の位置まで回転させた状態でエア吸口５からバ
キューム圧を加えると、トッププレート３はＢ点で停止
できるので、スプリングプローブピン７と長ストローク
スプリングプローブピン８に配線された信号線１２から
テスト信号を入出力してインサーキットテストを実行す
る。
以上のような動作をさせることによってインサーキット
テスト及びファンクションテストを夫々実行することが
できる。
テスト及びファンクションテストを夫々実行することが
できる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば正常なファンクシ
ョンテスト動作をさせられるインサーキットテストとフ
ァンクションテストへの共用が可能となり、ファンクシ
ョンテスト時にインサーキットテストのために接続され
ている各ノードへのテストビン配線が、その線間のクロ
ストークや信号の反射により、被検査ＰＣＢの回路を誤
動作させない効果がある。また、テストフイクスチャを
交換する工数も削減できる効果がある。
ョンテスト動作をさせられるインサーキットテストとフ
ァンクションテストへの共用が可能となり、ファンクシ
ョンテスト時にインサーキットテストのために接続され
ている各ノードへのテストビン配線が、その線間のクロ
ストークや信号の反射により、被検査ＰＣＢの回路を誤
動作させない効果がある。また、テストフイクスチャを
交換する工数も削減できる効果がある。
第１図は本発明に係る回路基板テストフィクスチャの外
観図、第２図（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）は第１図に示す
回路基板テストフィクスチャの断面図である。
観図、第２図（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）は第１図に示す
回路基板テストフィクスチャの断面図である。
Claims (2)
- （１）回路基板の各ノードとの接続用スプリングプロー
ブピンと、該スプリングプローブピンより長ストローク
で形成され前記回路基板のエッジコネクタとの接続のた
めの長ストロークスプリングプローブピンとを有する回
路基板テストフィクスチャであって、被検査回路基板が
長ストロークスプリングプローブピンのみに接触する位
置と全スプリングプローブピンが接触する位置とを切り
換えて停止できる停止機構を備えるようにしたことを特
徴とする回路基板テストフィクスチャ。 - （２）前記停止機構はカムで構成されていることを特徴
とする請求項１記載の回路基板テストフィクスチヤ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2050999A JPH03252572A (ja) | 1990-03-01 | 1990-03-01 | 回路基板テストフィクスチャ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2050999A JPH03252572A (ja) | 1990-03-01 | 1990-03-01 | 回路基板テストフィクスチャ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03252572A true JPH03252572A (ja) | 1991-11-11 |
Family
ID=12874489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2050999A Pending JPH03252572A (ja) | 1990-03-01 | 1990-03-01 | 回路基板テストフィクスチャ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03252572A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0566571U (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-03 | 住友重機械プラスチックマシナリー株式会社 | インサーキットテスタ用治具 |
| CN102879693A (zh) * | 2012-10-16 | 2013-01-16 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 一种辅助测试治具 |
| CN105954637A (zh) * | 2016-04-25 | 2016-09-21 | 昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司 | 一种电子软板Flex测试设备 |
| CN109597230A (zh) * | 2019-01-28 | 2019-04-09 | 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 | 一种lcd模组自动压接点亮设备 |
-
1990
- 1990-03-01 JP JP2050999A patent/JPH03252572A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0566571U (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-03 | 住友重機械プラスチックマシナリー株式会社 | インサーキットテスタ用治具 |
| CN102879693A (zh) * | 2012-10-16 | 2013-01-16 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 一种辅助测试治具 |
| CN102879693B (zh) * | 2012-10-16 | 2014-12-24 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 一种辅助测试治具 |
| CN105954637A (zh) * | 2016-04-25 | 2016-09-21 | 昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司 | 一种电子软板Flex测试设备 |
| CN109597230A (zh) * | 2019-01-28 | 2019-04-09 | 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 | 一种lcd模组自动压接点亮设备 |
| CN109597230B (zh) * | 2019-01-28 | 2021-09-24 | 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 | 一种lcd模组自动压接点亮设备 |
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