JPH03252995A - Rom回路 - Google Patents
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- JPH03252995A JPH03252995A JP2059795A JP5979590A JPH03252995A JP H03252995 A JPH03252995 A JP H03252995A JP 2059795 A JP2059795 A JP 2059795A JP 5979590 A JP5979590 A JP 5979590A JP H03252995 A JPH03252995 A JP H03252995A
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
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- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
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- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/08—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
- G11C17/10—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
- G11C17/12—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices
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- G—PHYSICS
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- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、リードオンリーメモリ (Read Onl
yMemory : ROM) 回路に係るもので、
特に、回路構成を簡略化して所要面積を減らしうるプリ
チャージ型ROM回路に係るものである。
yMemory : ROM) 回路に係るもので、
特に、回路構成を簡略化して所要面積を減らしうるプリ
チャージ型ROM回路に係るものである。
ROMメモリは、読み専用メモリ素子として各種の電気
・電子製品に広く使用されている。近年、ディジタル信
号処理技術の進歩によってROMの需要が増大しており
、半導体製造技術の発展はある特定な機能の遂行のため
の回路システムをワンチップ(One Chip)化す
ることを可能にした。たとえば、ディジタルオーディオ
チーブレコーダ(DA T : D+g+tal^ud
io Tape recorder)は、オーディオ信
号をディジタル的に処理して高品位の音質を提供しうる
装置で、専用ディジタル信号処理用チップ、即ちD S
P(Digital Signal Process
or)チップを具備している。DSPチップは集積度が
大変大きなCMOSロジックVLS Iで、内部に多数
個のROM、RAM及び周辺ロジック回路等をワンチッ
プ内に持っている。
・電子製品に広く使用されている。近年、ディジタル信
号処理技術の進歩によってROMの需要が増大しており
、半導体製造技術の発展はある特定な機能の遂行のため
の回路システムをワンチップ(One Chip)化す
ることを可能にした。たとえば、ディジタルオーディオ
チーブレコーダ(DA T : D+g+tal^ud
io Tape recorder)は、オーディオ信
号をディジタル的に処理して高品位の音質を提供しうる
装置で、専用ディジタル信号処理用チップ、即ちD S
P(Digital Signal Process
or)チップを具備している。DSPチップは集積度が
大変大きなCMOSロジックVLS Iで、内部に多数
個のROM、RAM及び周辺ロジック回路等をワンチッ
プ内に持っている。
現在のDSPチップに内装されるROM回路は、スタテ
ィックCMOS設計方式によるため、所要面積が大きい
ので全体的なりPSチップのサイズが大きくなる問題点
があった。
ィックCMOS設計方式によるため、所要面積が大きい
ので全体的なりPSチップのサイズが大きくなる問題点
があった。
本発明の目的は上記のような従来技術の問題点を解決す
るために、回路構成が簡略なROM回路を提供すること
にある。
るために、回路構成が簡略なROM回路を提供すること
にある。
本発明の他の目的は、DAT用DSPチップの高付加価
値及び高品位化を図りうるROM回路を提供することに
ある。
値及び高品位化を図りうるROM回路を提供することに
ある。
前記目的を達成するために、本発明は、M b i t
(Mは自然数〉のアドレス信号をデコーディングして、
L(−2”) 個のワードラインとN (Nは自然数
)個の出力ラインの各交差部にプログラムされたNbi
t のデータを出力するROM回路において、前記M
b i t のアドレス信号を入力してLbit のワ
ード信号を発生するためのデコーダ;前記Lbit の
ワード信号をクロック信号により前記対応するワードラ
イン上に各々供給するためのゲート手段; 前記り個のワードラインとN個の出力ラインの各交差部
にMOSトランジスタの結合有無により所定のデータが
記録されたメモリセルアレイ;そして、 前記N個の出力ラインの各々に前記クロック信号により
プリチャージさせるためのプリチャージ手段を具備した
ことを特徴とする。
(Mは自然数〉のアドレス信号をデコーディングして、
L(−2”) 個のワードラインとN (Nは自然数
)個の出力ラインの各交差部にプログラムされたNbi
t のデータを出力するROM回路において、前記M
b i t のアドレス信号を入力してLbit のワ
ード信号を発生するためのデコーダ;前記Lbit の
ワード信号をクロック信号により前記対応するワードラ
イン上に各々供給するためのゲート手段; 前記り個のワードラインとN個の出力ラインの各交差部
にMOSトランジスタの結合有無により所定のデータが
記録されたメモリセルアレイ;そして、 前記N個の出力ラインの各々に前記クロック信号により
プリチャージさせるためのプリチャージ手段を具備した
ことを特徴とする。
ここで、プリチャージ手段はクロック信号により出力ラ
イン毎に一つのPチャンネルMOSトランジスタを通じ
てプリチャージさせることを特徴とする。
イン毎に一つのPチャンネルMOSトランジスタを通じ
てプリチャージさせることを特徴とする。
このような本発明によるROM回路は、従来のROM回
路に比べてAND回路部の回路構成を大幅に簡略化する
ことができ、配線領域を減らすことができて、ROM回
路が占める面積を縮小させうる。
路に比べてAND回路部の回路構成を大幅に簡略化する
ことができ、配線領域を減らすことができて、ROM回
路が占める面積を縮小させうる。
以下に、添付した図面に図示されている本発明による望
ましい実施例を通じて本発明の詳細な説明する。
ましい実施例を通じて本発明の詳細な説明する。
まず、本発明の詳細な説明する前に従来方式のROM回
路を説明する。
路を説明する。
第1図は従来のCMO3設計方式による2×3スタティ
ックROMの回路図である。
ックROMの回路図である。
第1図において、ROM回路は大別するとデコーダ1と
エンコーダ2とで区分される。デコーダ1は入力される
2bit のアドレス信号AO,A、 をデコーディ
ングして4 bit のワード信号を発生する。これは
出力端子にワードラインW。−W、が各々連絡され、4
個のANDゲートG1〜G4を具備し、入力状態により
対応するワードラインを各々駆動する。
エンコーダ2とで区分される。デコーダ1は入力される
2bit のアドレス信号AO,A、 をデコーディ
ングして4 bit のワード信号を発生する。これは
出力端子にワードラインW。−W、が各々連絡され、4
個のANDゲートG1〜G4を具備し、入力状態により
対応するワードラインを各々駆動する。
エンコーダ2は、第1伝導型、例えばPチャンネルMO
Sトランジスタで構成されるAND回路部3と1、第2
伝導型、例えばNチャンネルMOSトランジスタで構成
されるOR回路部4とから構成される。
Sトランジスタで構成されるAND回路部3と1、第2
伝導型、例えばNチャンネルMOSトランジスタで構成
されるOR回路部4とから構成される。
AND回路部3とOR回路部4は、3個の出力ラインD
。−D2に連絡される。OR回路部4は、ワードライン
W。−W3と出力ラインD。−D2の各交差部で、製造
工程時にNチャンネルMO5トランジスタの結合有無に
より所定データがプログラムされて記憶される領域であ
る。
。−D2に連絡される。OR回路部4は、ワードライン
W。−W3と出力ラインD。−D2の各交差部で、製造
工程時にNチャンネルMO5トランジスタの結合有無に
より所定データがプログラムされて記憶される領域であ
る。
NチャンネルMOSトランジスタのドレイン電極は出力
ラインに連結され、ゲート電極はワードラインに連結さ
れ、ソース電極は第1電圧供給電源(Vss又はグラウ
ンド電位)に連結される。前記AND回路部3は、各出
力ラインと第2電圧供給電源V D I+との間にアド
レス信号のビット数と同一な個数のPチャンネルMOS
トランジスタがその電流通路が相互に直列に連結される
ように構成され、各PチャンネルMOSトランジスタの
ゲート電極にはこれらのPチャンネルMOSトランジス
タによって駆動される出力ライン(例えば、出力ライン
Do)とワードラインW。−W、の交差点でNチャンネ
ルMOSトランジスタで結合されるワードライン(例え
ば、ワードラインW1.W2)が各々連結される。
ラインに連結され、ゲート電極はワードラインに連結さ
れ、ソース電極は第1電圧供給電源(Vss又はグラウ
ンド電位)に連結される。前記AND回路部3は、各出
力ラインと第2電圧供給電源V D I+との間にアド
レス信号のビット数と同一な個数のPチャンネルMOS
トランジスタがその電流通路が相互に直列に連結される
ように構成され、各PチャンネルMOSトランジスタの
ゲート電極にはこれらのPチャンネルMOSトランジス
タによって駆動される出力ライン(例えば、出力ライン
Do)とワードラインW。−W、の交差点でNチャンネ
ルMOSトランジスタで結合されるワードライン(例え
ば、ワードラインW1.W2)が各々連結される。
このように構成されたROM回路のアドレス信号A。、
A+ による出力状態は下記の表1の通りである。
A+ による出力状態は下記の表1の通りである。
表 1
したがって、このような従来のCMO3設計方式のRO
M回路においては、NチャンネルMOSトランジスタに
対応するPチャンネルMOSトランジスタが同時に具備
されなければならない。さらに、PチャンネルMOSト
ランジスタはNチャンネルMOSトランジスタに比べて
、キャリヤの移動速度が遅いので、相対的に大きなチャ
ンネル幅を持つので、より多い面積を占めた。
M回路においては、NチャンネルMOSトランジスタに
対応するPチャンネルMOSトランジスタが同時に具備
されなければならない。さらに、PチャンネルMOSト
ランジスタはNチャンネルMOSトランジスタに比べて
、キャリヤの移動速度が遅いので、相対的に大きなチャ
ンネル幅を持つので、より多い面積を占めた。
また、PチャンネルMOSトランジスタで構成されるA
ND回路部3に対応するワードラインの連結のための配
線領域を要するので、メモリ容量が大きくなる程配線領
域の面積も比例的に大きくなる短所を持っている。
ND回路部3に対応するワードラインの連結のための配
線領域を要するので、メモリ容量が大きくなる程配線領
域の面積も比例的に大きくなる短所を持っている。
第2図は本発明による2×3プリチヤ一ジAND型RO
M回路図である。第2図において、デコーダ10及びメ
モリセルアレイまたはOR回路部24は上述の第1図の
デコーダ及びOR回路部4と同一な構成である。前記デ
コーダ10の各出力端子はゲート手段22を通じて各ワ
ードラインW。−W3に連結される。このゲート手段2
2は一側の入力端子にクロック信号CKが入力され、他
側の入力端子に対応する前記デコーダ10の出力端子が
接続された4個のANDゲートG5〜G6で構成される
。これらのANDゲートG s = G−はクロック信
号CKのハイレベルでデコーダ10の出力信号をワード
ラインに供給する。
M回路図である。第2図において、デコーダ10及びメ
モリセルアレイまたはOR回路部24は上述の第1図の
デコーダ及びOR回路部4と同一な構成である。前記デ
コーダ10の各出力端子はゲート手段22を通じて各ワ
ードラインW。−W3に連結される。このゲート手段2
2は一側の入力端子にクロック信号CKが入力され、他
側の入力端子に対応する前記デコーダ10の出力端子が
接続された4個のANDゲートG5〜G6で構成される
。これらのANDゲートG s = G−はクロック信
号CKのハイレベルでデコーダ10の出力信号をワード
ラインに供給する。
また、各出力ラインD。−D2は、プリチャージ手段2
6を通じて第2電圧供給電源VDDに連結される。この
プリチャージ手段26は各出力ラインD。
6を通じて第2電圧供給電源VDDに連結される。この
プリチャージ手段26は各出力ラインD。
〜D2 に第2電圧供給電源V D Dをクロック信号
CKのローレベル期間に各々供給するために、ソース電
極が第2電圧供給電源VDDに連結され、ドレイン電極
が対応する出力ラインに連結され、ゲート電極にクロッ
ク信号CKが供給されるように連結されたPチャンネル
MOSトランジスタでM4或する。
CKのローレベル期間に各々供給するために、ソース電
極が第2電圧供給電源VDDに連結され、ドレイン電極
が対応する出力ラインに連結され、ゲート電極にクロッ
ク信号CKが供給されるように連結されたPチャンネル
MOSトランジスタでM4或する。
このように構成した本発明による実施例の入力による出
力状態は下記表2の通りである。
力状態は下記表2の通りである。
表 2
例えば、アドレス信号A+、Ao が00であるときを
仮定して回路動作を見てみれば、デコーダ10のAND
ゲートG1 の出力のみ“ビ状態になり、残りのAND
ゲートG2〜G、の出力は゛0″状態になる。一方、ク
ロック信号がCKが゛0′°状態であるときには、プリ
チャージ手段26のPチャンネルMOSトランジスタは
ターンオンされ、出力ラインD。−D2に電流が注入さ
れて、これらは各々“1”状態にプリチャージされてい
る。
仮定して回路動作を見てみれば、デコーダ10のAND
ゲートG1 の出力のみ“ビ状態になり、残りのAND
ゲートG2〜G、の出力は゛0″状態になる。一方、ク
ロック信号がCKが゛0′°状態であるときには、プリ
チャージ手段26のPチャンネルMOSトランジスタは
ターンオンされ、出力ラインD。−D2に電流が注入さ
れて、これらは各々“1”状態にプリチャージされてい
る。
クロック信号がCKが“O”状態て゛1″状態に転換す
ると、プリチャージ手段26のPチャンネルMOSトラ
ンジスタはターンオフされ、ゲート手段22の論理乗ゲ
ー)Gs は2つの入力端子に供給される信号がすべて
“1”状態になってその出力端子が°゛l”状態にワー
ドラインW0 に連結されたメモリセルアレイまたはO
R回路部24のNチャンネルMOSトランジスタがター
ンオンされる。これにNチャンネルMOSトランジスタ
が連結された出力ラインD1.Di には第1電圧供給
電源(V5.またはグラウンド電位)が印加されて“0
“状態になり、出力ラインDoはプリチャージされた“
1”状態をそのまま維持する。したがって、出力状態は
“100”となる。
ると、プリチャージ手段26のPチャンネルMOSトラ
ンジスタはターンオフされ、ゲート手段22の論理乗ゲ
ー)Gs は2つの入力端子に供給される信号がすべて
“1”状態になってその出力端子が°゛l”状態にワー
ドラインW0 に連結されたメモリセルアレイまたはO
R回路部24のNチャンネルMOSトランジスタがター
ンオンされる。これにNチャンネルMOSトランジスタ
が連結された出力ラインD1.Di には第1電圧供給
電源(V5.またはグラウンド電位)が印加されて“0
“状態になり、出力ラインDoはプリチャージされた“
1”状態をそのまま維持する。したがって、出力状態は
“100”となる。
本発明の実施例において、ゲート手段22のANDゲー
ト65〜G、は、第3図に示されたように、各々4個の
MOSトランジスタで構成されるCMOS−NANDゲ
ート回路28と2個のMOSトランジスタで構成される
CMOSインバータ回路29で構成されるので、総6個
のMOSトランジスタを要する。
ト65〜G、は、第3図に示されたように、各々4個の
MOSトランジスタで構成されるCMOS−NANDゲ
ート回路28と2個のMOSトランジスタで構成される
CMOSインバータ回路29で構成されるので、総6個
のMOSトランジスタを要する。
したがって、ゲート手段22の追加でトランジスタの数
が増加されるようであるが、全体的なROM回路のトラ
ンジスタの個数は容量が大きい程大幅に減少され、これ
らを論理的に証明するために、所要面積がコンパクト化
(Compact 1on)されることを見てみると、
下記の通りである。たとえば、Mbit の入力、 N
bit の出力をもつROM回路のワードラインの数は
2M=Lと仮定する。
が増加されるようであるが、全体的なROM回路のトラ
ンジスタの個数は容量が大きい程大幅に減少され、これ
らを論理的に証明するために、所要面積がコンパクト化
(Compact 1on)されることを見てみると、
下記の通りである。たとえば、Mbit の入力、 N
bit の出力をもつROM回路のワードラインの数は
2M=Lと仮定する。
従来のスタティックCMOS方式のROM回路において
、エンコーダのトランジスタの個数は2LN個になる。
、エンコーダのトランジスタの個数は2LN個になる。
即ち、ANDゲート部とOR回路部のトランジスタの個
数は同一となり、OR回路部でトランジスタがすべての
交差部に形成されていなくてもトランジスタが形成され
ていない交差部においても面積は同一にレイアウトされ
るので、トランジスタの個数は同一であると仮定する。
数は同一となり、OR回路部でトランジスタがすべての
交差部に形成されていなくてもトランジスタが形成され
ていない交差部においても面積は同一にレイアウトされ
るので、トランジスタの個数は同一であると仮定する。
本発明によるプリチャージAND型ROM回路の場合に
おけるエンコーダのトランジスタの個数は、LN+ 6
L+N個である。
おけるエンコーダのトランジスタの個数は、LN+ 6
L+N個である。
ここで、LNはメモリセルアレイ又はOR回路部24の
NチャンネルMOSトランジスタの個数であり、6Lは
ゲート手段22のMOSトランジスタの個数であり、N
はプリチャージ手段26のPチャンネルMOSトランジ
スタの個数である。
NチャンネルMOSトランジスタの個数であり、6Lは
ゲート手段22のMOSトランジスタの個数であり、N
はプリチャージ手段26のPチャンネルMOSトランジ
スタの個数である。
したがって、LN+6 L+N< 2 LNの条件によ
りこの不等式を整理すると6 L+N<LNとなり、こ
こで大略L=Nと仮定すると、L == 2M >7
という条件をうろことができる。したがって、M≧3以
上、即ち入力ビツト数が3bit以上であり、出力ビツ
ト数が3 bit以上であるとプリチャージAND型R
OM回路が既存のスタティックCMOS−ROM回路よ
りサイズが小さくなることが分かる。
りこの不等式を整理すると6 L+N<LNとなり、こ
こで大略L=Nと仮定すると、L == 2M >7
という条件をうろことができる。したがって、M≧3以
上、即ち入力ビツト数が3bit以上であり、出力ビツ
ト数が3 bit以上であるとプリチャージAND型R
OM回路が既存のスタティックCMOS−ROM回路よ
りサイズが小さくなることが分かる。
第4図は本発明による他の実施例であるプリチャージN
OR型ROMの回路図である。第4図においては、クロ
ック信号CKの“1”状態でプリチャージさせ、“0”
状態で定常動作させるために、第2図のゲート手段22
のANDゲートをインバータ及びNORゲートに置換さ
せたゲート手段32で構成したROM回路を示す。ここ
で、プリチャージ手段36にはクロック信号CKを反転
して供給するためにゲート手段32のNORゲー)NO
RIの出力をプリチャージ手段36のPチャンネルMO
Sトランジスタのゲート電極に各々供給する。
OR型ROMの回路図である。第4図においては、クロ
ック信号CKの“1”状態でプリチャージさせ、“0”
状態で定常動作させるために、第2図のゲート手段22
のANDゲートをインバータ及びNORゲートに置換さ
せたゲート手段32で構成したROM回路を示す。ここ
で、プリチャージ手段36にはクロック信号CKを反転
して供給するためにゲート手段32のNORゲー)NO
RIの出力をプリチャージ手段36のPチャンネルMO
Sトランジスタのゲート電極に各々供給する。
したがって、クロック信号CKの”l“状態でプリチャ
ージさせ、“0”状態で定常動作を遂行する。
ージさせ、“0”状態で定常動作を遂行する。
コンパクト化(Compact 1on)の程度は上述
のプリチャージAND型ROM回路と同一である。
のプリチャージAND型ROM回路と同一である。
以上のように、本発明においてCMO3型O3M回路に
おけるPチャンネルMO3)ランジスクのAND回路部
をクロック信号により駆動される出力ライン数のPチャ
ンネルMOSトランジスタとワードラインの数のNOR
ゲート及びインバータで代替することにより、3X8サ
イズ以上のROM回路のサイズを従来のスタティックC
MOS・ROM回路に比べてメモリ容量に比例して減少
させうる。これは、DAT等に使用される専用DSPチ
ップ内のROM回路の占有面積を減らしうるようにして
同一チップ面積内に他の多くの機能の回路を追加しろる
余裕を与えるようになってDSPチップの高付加価値及
び高品位化を図りうる。
おけるPチャンネルMO3)ランジスクのAND回路部
をクロック信号により駆動される出力ライン数のPチャ
ンネルMOSトランジスタとワードラインの数のNOR
ゲート及びインバータで代替することにより、3X8サ
イズ以上のROM回路のサイズを従来のスタティックC
MOS・ROM回路に比べてメモリ容量に比例して減少
させうる。これは、DAT等に使用される専用DSPチ
ップ内のROM回路の占有面積を減らしうるようにして
同一チップ面積内に他の多くの機能の回路を追加しろる
余裕を与えるようになってDSPチップの高付加価値及
び高品位化を図りうる。
第1図は従来のCMO3設計方式による2×3スタティ
ックROMの回路図、第2図は本発明による望ましい一
実施例の2×3プリチヤ一ジAND型ROMの回路図、
第3図は第2図のゲート手段に採用されたANDゲート
の詳細回路図、第4図は本発明による望ましい他の実施
例のMXNプリチャージNOR型ROMの回路図である
。 1、10.30:デコーダ 2,20:エンコーダ
3:AND回路部 4:○R回路部22.32:ゲ
ート手段 24.34:メモリセルアレイ 26.36:プリチャージ手段 29;インバータ回路 61〜G8:ANDゲート Do−D、 :出力ライン INV:インバータ 切。〜W3:ワードライン NOR: N ORゲート 第1図
ックROMの回路図、第2図は本発明による望ましい一
実施例の2×3プリチヤ一ジAND型ROMの回路図、
第3図は第2図のゲート手段に採用されたANDゲート
の詳細回路図、第4図は本発明による望ましい他の実施
例のMXNプリチャージNOR型ROMの回路図である
。 1、10.30:デコーダ 2,20:エンコーダ
3:AND回路部 4:○R回路部22.32:ゲ
ート手段 24.34:メモリセルアレイ 26.36:プリチャージ手段 29;インバータ回路 61〜G8:ANDゲート Do−D、 :出力ライン INV:インバータ 切。〜W3:ワードライン NOR: N ORゲート 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、Mbit(Mは自然数)のアドレス信号をデコーデ
ィングして、L(=2^M)個のワードラインとN(N
は自然数)個の出力ラインの各交差部にプログラムされ
たNbitのデータを出力するROM回路において、 前記Mbitのアドレス信号を入力してLbitのワー
ド信号を発生するためのデコーダ; 前記Lbitのワード信号をクロック信号により前記対
応するワードライン上に各々供給するためのゲート手段
; 前記L個のワードラインとN個の出力ラインの各交差部
にMOSトランジスタの結合有無により所定のデータが
記録されたメモリセルアレイ;そして、 前記N個の出力ラインの各々に前記クロック信号により
プリチャージさせるためのプリチャージ手段を具備した
ことを特徴とするROM回路。 2、前記プリチャージ手段は、第1電圧供給電源と前記
各出力ラインとの間に連絡されて前記クロック信号によ
リターンオン/ターンオフされるスイッチング素子を具
備したcとを特徴とする請求項1に記載のROM回路。 3、前記スイッチング素子は第1伝導型のMOSトラン
ジスタで構成し、前記メモリセルアレイのMOSトラン
ジスタは、第2伝導型であることを特徴とする請求項2
に記載のROM回路。 4、前記第1伝導型MOSトランジスタは、Pチャンネ
ルMOSトランジスタであり、第2伝導型MOSトラン
ジスタはNチャンネルMOSトランジスタであることを
特徴とする請求項3に記載のROM回路。 5、前記ゲート手段は、一側の入力端子にクロック信号
が加えられ、他側の入力端子に前記デコーダの対応する
出力信号が加えられ、出力端子に対応するワードライン
が連絡されるL個のANDゲートを具備したことを特徴
とする請求項1に記載のROM回路。 6、前記ゲート手段は、一側の入力端子にクロック信号
が加えられ、他側の入力端子に前記デコーダの対応する
出力信号がインバータを通じて加えられ、出力端子に対
応するワードラインが連絡されるL個のNORゲートを
具備し、前記プリチャージ手段は前記クロック信号を反
転させて入力することを特徴とする請求項1に記載のR
OM回路。 7、前記プリチャージ手段は、前記ゲート手段のL個の
NORゲートの中のある一つを通じてクロック信号の供
給を受けることを特徴とする請求項6に記載のROM回
路。 8、前記アドレス信号は3bit以上であり、出力ライ
ンは8bit以上であることを特徴とする請求項1に記
載のROM回路。 9、前記ゲート手段はクロック信号の論理“1”状態で
デコーダの出力状態“1”をワードライン上に供給し、
前記プリチャージ手段はクロック信号の論理“0”状態
で出力ラインをプリチャージさせることを特徴とする請
求項1に記載のROM回路。 10、前記ゲート手段はクロック信号の論理“0”状態
でデコーダの出力状態“1”をワードライン上に供給し
、前記プリチャージ手段はクロック信号の論理“1”状
態で出力ラインをプリチャージさせることを特徴とする
請求項1に記載のROM回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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