JPH03254224A - 折返し試験回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の概要〕 伝送路に挿入される伝送装置の折返し試験回路に関し、 被試験機と試験機の両方に折返し伝送路が形成され、情
報が同一区間を繰り返し循環してしまうという誤動作を
防止することを目的とし、設定により終端装置にも非終
端装置にもなる伝送装置の複数個を伝送路で接続した通
信システムにおける折返し試験回路において、該伝送装
置に、隣接伝送装置から送られてきたループビットと、
非折返しを示す値のループピントのいずれかを選択する
セレクタを設け、ループビットにより折返しが指示され
て折返しを行なった伝送装置では、該セレクタに非折返
しを示す値のループビットを選択させてそれを折返し側
伝送装置へ送出させるよ、うに槽底する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、伝送路に挿入される伝送装置の折返し試験回
路に関する。

伝送路や伝送装置の正常／異常試験に折返し試験が広く
用いられている。本発明はこの際信号の折返しが繰り返
し行なわれることはないようにするものである。

〔従来の技術〕

ＣＮ　Ｅ　（Ｃｅｎｔｅｒ　Ｎｏｄｅ　Ｅｑｕｉｐｍｅ
ｎｔ）は伝送装置の１つであり、設定により終端装置（
監視機能を備える）にもまた非終端装置（信号を単にス
ルーにする）にもなる。本装置はループ機能（折返し試
験機能）を有し、本装置が接続された通信システムにお
いて異常が発生した場合に、故障箇所を特定するために
該機能が用いられる。

第２図でＣＮＥ、、ＣＮＥ、は伝送路１１＋、ｉ！、２
に挿入される上記伝送装置で、折返し用の信号線１３゜
ｌｌ、セレクタ１１．１２、ループビット″１”検出回
路などを備える。

今、ＣＮＥ、は試験機、ＣＮＥ、が被試験機とし、ＣＮ
　Ｅ　ｈで伝送路を折返すとすると、伝送装置ＣＮＥ、
側から伝送路７！１を詳しくは１３を通して伝送装置Ｃ
ＮＥ、に、ループピットを“ｌ”にした制御信号を送り
、ＣＮＥ、のループ終端情報メモリ１８には該ＣＮＥが
ループ終端であることを示すデータビット“１”をセッ
トする。制御装置ＣＮＥ、ではＣＮＥ、側から送られて
きた上記ループピット”１”を検出回路１’　６が検出
し、Ｈレベル信号をアンドゲート２０へ送る。またメモ
リ１８には終端“′ｌ“°がセットされているので、ア
ンドゲート２０へ該メモリ１８からＨレベル信号が送ら
れ、従って該ゲート２０はＨレベル信号を出力してセレ
クタ１２．１４を切替える。これによりＩｔ、、ｌ！、
、ｊ２．の折返し伝送路が構成される。

なお伝送路２．．２．は伝送路１．、ｌ、に含まれるも
のであるが、こ＼ではループビット用伝送路１１ｓ、１
ｍをループビット以外のデータ／信号用伝送路ＩＩ、！
、ｚとは別にして示している。従ってセレクタ１３．１
４も実際はセレクタ１１．１２に含まれるものである。

伝送装置ＣＮＥ、から試験データ（主信号とステータス
ビット）を送り、伝送装置ＣＮＥｂでこれを折り返し、
ＣＮＥ、でこれをチエツクして、伝送路ｉ、、ｉ、、こ
れに挿入される図示しない伝送装置及び折返し伝送装置
ＣＮＥｂの正常／異常を知る（主信号及びＳＴビットが
変化することなく試験機へ戻ってくれば正常）。

〔発明が解決しようとする課題〕

ループ機能の目的は、試験機から被試験機へ送った主信
号及びステータスビットが折返され、それらの内容が変
化することなく試験機へ戻ってくるのを確かめるにある
が、従来の回路構成では試験機へ戻ってきた主信号及び
ステータスビットが再び折返され、被試験機へ再送出さ
れてしまうという問題がある。

即ち、試験機ＣＮＥ、も終端が設定され、ループ終端情
報メモリ１７にデータビット“１”がセットされている
と、該メモリ１７からアンドゲート１９へＨレベル信号
が送られ、またＣＮＥ、からＣＮＥ、ヘループピット（
ステータスビットのうちの、折返し試験をする／しない
の情報を対向局に対して送るビット）が折返されてくる
から検出回路１５はこれを検出してＨレベル信号をアン
ドゲート１９へ送り、従ってアンドゲート１９はＨレベ
ル出力を生じてセレクタ１１．１３を切替え、こ＼でも
折返し伝送路を構成してしまう。

本発明はか狐る、被試験機と試験機の両方に折返し伝送
路が形成され、情報が同一区間を繰り返し循環してしま
うという誤動作を防止することを目的とするものである
。

〔課題を解決するための手段〕

第１図に示すように本発明では各伝送装置ＣＮＥに、隣
接（折返し試験の往路で言って下流側）伝送装置から送
られてくるループピットと、非折返しを示す値本例では
“０”のループピットのいずれかを選択して、次の（同
上流側）伝送装置へ送出するセレクタ１４ａを設ける。

〔作用〕

情報（主信号とＳＴビット）が試験局と被試験局との間
のループを循環してしまうという問題は、折返し局でル
ープピットを反転して送出することで解決できる。即ち
、反転したループピット本例では“０゛′のループビッ
トであればこれを受ける伝送装置のアンドゲート１９（
第２図）の出力はＬレベルで、セレクタ１１　１３は通
常の往路側を選択し、折返し側ｉ４を選択することはな
いから、情報の循環は回避される。

〔実施例］ あるＴＳ（Ｔｉ■ｅ　５ｌｏｔ）もしくはバスにおける
折返しは、■制御信号中のループビットが“１”である
こと、及び■ＣＮＥ内のループ終端情報が終端１に設定
されている、の２つの論理積が１のとき行なわれる。と
ころが第２図の従来の回路構成では折返し局ＣＮ　Ｅ　
ｂでループビットをそのま＼折返すため、折返しを指示
する“ｌ”のループピントが被試験機ＣＮＥｂから試験
機ＣＮＥ、へ戻ってくる。従って試験機ＣＮＥ、がルー
プ終端に設定されていると、戻ってきた主信号及び制御
信号が折返されて再び被試験機に送出される。即ち、信
号が同一区間をぐるぐる廻り続けるという誤動作が生し
る。

この点本発明のように、折返し局ＣＮＥ、ではループ方
向Ａ−Ｃにはループビットを通さず、代って“０”にし
たループビットをＣ方向へ送出する。これにより１回折
返された主信号及び制御信号はループビットが“′０”
になって戻り、折返しを再発することはない。また本発
明では、図のＡ−Ｃの橋渡しの部分のみに変更を加えて
おり、固定“０”ビットがセレクタ１４ａによって選択
されるのは、折返しが起ったときだけである。これによ
り、非ループ時の主信号及びＯＨ信号は保存される。

第３図にループビット送出回路の具体例を示す。

アンドゲート２０は集積回！ＡＬＳＯ８、セレクタ１４
ａは同ＡＬＳ　１５７である。装置外部よりの人力Ａ詳
しくは検出回路１６の出力が第４図の如くであり、ルー
プ終端情報メモＩＪ　１　Ｂの記憶内容が同図の如くで
あると、セレクタ１４ａの出力Ｃは同図の如くなる。即
ち入力Ａとメモリ記憶内容が共にＨなら出力ＣはＬ、い
ずれかがＬなら出力Ｃは入力りと同じである。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明により、特定の制御情報に対
する処理が複数の装置において行なわれる誤動作（折返
しの重複によって信号が同一区間を循環する）を防止す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理図、 第２図は従来例を示すブロック図、 第３図は本発明の実施例を示すブロック図、第４図は第
３図の動作説明図である。 本発明の実施例を示すフロック図 ｆｉｌ！！Ｉ 第１図でＣＮＥは伝送装置、２．〜１４は伝送路、１６
はループビット“Ｉ　Ｉ＋検出回路、１８はループ終端
情報メモリ、１４ａ、１２はセレクタである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、設定により終端装置にも非終端装置にもなる伝送装
   置の複数個を伝送路で接続した通信システムにおける折
   返し試験回路において、 該伝送装置に、隣接伝送装置から送られてきたループビ
   ットと、非折返しを示す値（“０”）のループビットの
   いずれかを選択するセレクタ（１４ａ）を設け、 ループビットにより折返しが指示されて折返しを行なっ
   た伝送装置では、該セレクタに非折返しを示す値のルー
   プビットを選択させてそれを折返し側伝送装置へ送出さ
   せるようにしてなることを特徴とする折返し試験回路。