JPH03255302A - パターン検出装置 - Google Patents

パターン検出装置

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JPH03255302A
JPH03255302A JP5329290A JP5329290A JPH03255302A JP H03255302 A JPH03255302 A JP H03255302A JP 5329290 A JP5329290 A JP 5329290A JP 5329290 A JP5329290 A JP 5329290A JP H03255302 A JPH03255302 A JP H03255302A
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JP
Japan
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insulator
image
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Pending
Application number
JP5329290A
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English (en)
Inventor
Yasushi Yagi
康史 八木
Shinjiro Kawato
慎二郎 川戸
Toshio Takenaka
俊夫 竹中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、移動ロボットに搭載したカメラを変電所な
どの所定位置まで移動し、設備などの巡視点検をするた
めのパターン検出装置に関するものである。
[従来の技術] 第9図(a)、(b)は、例えば昭晃堂、昭和62年6
月9日発行「画像処理ハンドブック」(ページ613−
615)に示された従来の複合型部分パターンマツチン
グ法と呼ばれる認識方法による2値映像パターン及び部
分パターンの説明図である。このパターン検出方法は、
対象とする2値パターンの中から特徴的な部分パターン
P+。
p、、p、・・・・・・を選び、予め計算機内に記憶し
ておく。そして対象が視野内に入ると計算機はその部分
パターンと標準パターンとを比較し、画面中で最もよく
一致した点の位置座標を求める。こうして求めたPI、
P2の座標から計算される距離d+□と角度θ1□が、
対象物体の幾何学的関係と一致するとP+、P2ともに
正常に計算されたと判断する。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のパターン検圧装置は、以上のように構成されてい
るので、対象物までの距離が変化し、たり、画像中での
対象物に大きさの変化が見られたりすると標準パターン
と検査時の部分パターンとの間でマツチングが困難とな
り、正確な位置合わせができないと言う課題があった。
さらに多くの標準パターンを画像データとして記憶装置
に格納しておかなければならず、大容量のメモリを必要
とする等の課題があった。
この発明は、上記のような課題を解消するためになされ
たもので、画像中での対象物の大きさに変化のある場合
にも容易に適用することができるとともに、対象につい
ての記憶容量が少なくて済むパターン検出装置を得るこ
とを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るパターン検出装置は、被検査物体を視覚
装置で撮像し、その画像信号を量子化する画像入力手段
と、その画像信号の各画素において予め定められた方向
の濃度勾配を求める濃度勾配検出″手段と、前記濃度勾
配の方向成分の絶対値が一定量上の画素についてX、Y
方向に投影して計数手段で該画素を計数し、その計数値
の中から特徴量を求める情報処理手段と、前記特徴量を
予め計測して記憶装置に格納した基準値との差が容認範
囲内か否かを判断する異常検出手段とを備え、被検査物
体の異常を自動的に検出するようにしたものである。
〔作用〕
この発明におけるパターン検出装置は視覚装置で撮像し
た入力画像信号より、一定方向に濃度勾配を持つ画素成
分をX、Y両方向に投影して計数することにより特徴量
を求め、基準値と比較することによって被検査物体の異
常検出判断を行うので、被検査物体の特徴量が強調され
、画像中の対象物に大きさの変化があっても確実に対応
する。
[発明の実施例1 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は、この発明が適用されている実際の状況を説明する
ための説明図であり、図において、1は移動用ロボット
、2は視覚装置としてのカメラ、3は例えば被検出物体
の碍子である。
次に動作について説明する。まず、変電所や発電所等に
おいて、設備の保守点検を自動的に行う場合には、移動
ロボット1が検査場所の定位置まで移動し、碍子3をカ
メラ2で撮影する。外観検査をする時には、碍子3と他
の構造物とを区別して画像中より対象物のみを検出する
。
第2図は5この発明を構成するためのハードウェアの一
実施例を示すブロック図で、図において、4はカメラ2
の出力を取込む画像入力手段、5は対象物の映像から濃
度勾配を検出する濃度勾配検出手段としての方向性微分
回路、6は計数手段、7は対象物が正常か否かを判断す
る異常検出手段、8は記憶手段、9は情報処理手段とし
てのプロセッサCPUである。
最初に移動ロボット1は所定の位置まで移動する。そし
て、検査対象の碍子3をカメラ2で撮像し、ディジタル
の画像入力データをパターン検出装置20の画像入力手
段4に取込む(ステップ5TI)。第4図は入力画像の
一例であり、被検出物体の碍子以外に他の背景構造物を
含む入力画像が現われる。その入力画像より碍子3のヒ
ダ方向(図では上方から下方に)の濃度勾配を検出して
方向成分を抽出するために、一方向性を持った方向性微
分回路5で第5図に示すように微分処理を行う(ステッ
プ5T2)、例えばヒダが水平な場合には、第6図(C
)の様な空間微分オペレータを用いる。この微分オペレ
ータはヒダ等のエツジの正負方向成分を検出できればよ
い。第6図の場合、(A)のハツチングは対象物の画像
を表わす。Xi、Yl、Zlの位置における上、下方向
の微分処理結果は、各々、同図(B)のX2.Y2、Z
2の方向性微分回路の電気信号で表わされる。対象物の
水平エツジ部で信号レベルが大きくなり、濃度勾配は信
号の符号で表わしている。
従って、方向性微分回路5は、正負方向成分を検出可能
なオペレータであればよい(ステップ5T3)。この微
分画像に対し、微分値の絶対値が所定のしきい値以上の
画素について、正負別々にヒダと垂直な方向の画素数を
計数手段6によって計数する。
第7図(a)、(b)は、計数された周期バターン軸方
向の投影データである。この投影データに対し、画素計
数値nが所定のしきい値78以上の領域を碍子3の水平
方向の対象物候補領域としてR,、R2,R,・・・・
・・を検出する(ステップST4,5T5)。
次に、前記各々の対象物候補領域R,,R,。
R3・・・・・・内についてヒダ方向の画素数を計数し
第2図に示すように投影処理を行い(ステップ5T6)
、その画素数が所定のしきい値78以上の領域を碍子の
対象物候補領域として検出する。さらに、前記、第7図
と第8図の2つの投影データより碍子領域の輻W(R,
)、高さH1中心位置(x、y)、構成画素Sをプロセ
ッサ9により算出する(ステップ5T7)。これらの特
徴量を予め計測して記憶手段8に格納してある基準値と
異常検出手段7で比較することによってパターン固定を
行い、目的とする碍子3の検出を行う(ステップ5T8
)。
基準値との比較は(1)式に示すように各々の特徴量と
基準値との差が所定の容認範囲内であれば、目的とする
碍子は検出されたものとする。又、容認した範囲外の場
合に異常と判定して異常信号を出力する(ステップ5T
9)。
但し、WX1△W:幅Wの基準値と容認範囲HK、△H
:Hの基準値と容認範囲 SX、△S:幅Sの基準値と容認範囲 abc :絶対値 また、評価値としては、碍子の存在候補領域内における
物体占有密度ρ=s/ (WXH)や領域の縦横比W/
Hを用いてもよく上記実施例と同様の効果を奏する。
また、本実施例では、碍子の検出について説明したが、
階段、梯子、電線等のように同一方向成分がくりかえす
物体であれば同様に適用することができる。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、撮像された被検査物体
の画像信号を取込む画像入力手段と、その画像信号から
一定方向の濃度勾配を求める濃度勾配検出手段と、その
濃度勾配をX、Y方向に投影して画素を計数し特徴量を
求める情報処理手段と、その特徴量と基準値と比較して
被検査物体の異常を検出する異常検出手段とをもって装
置を構成したので、画像中での大きさの変化にも容易に
適用でき、パターン検出の適用範囲の拡大と検出の信頼
性が向上する効果がある。又、多(の標準パターンを持
つ必要がなくなり、メモリ容量が少なくてすむため小形
、安価となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示す応用例の説明図、
第2図はこの発明の一実施例によるハードウェアの構成
を示すブロック図、第3図は、被検出物体を検出するた
めの手順を示すフローチャート、第4図は入力画像の説
明図、第5図は方向性微分画像の説明図、第6図は水平
エツジ成分を検出する微分オペレータと波形の説明図、
第7図は第5図の画像を垂直方向に画素数を計数した投
影データ特性図、第8図は水平方向への投影データとパ
ターン検出のための評価値の説明図、第9図は従来のパ
ターン検出方法の説明図である。 図において、2はカメラ(視覚装置)、4は画像入力手
段、5は方向性微分回路(濃度勾配検出手段)、6は計
数手段、7は異常検出手段、8は記憶手段、9はプロセ
ッサ(情報処理手段)である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一方向性成分を繰り返される被検査物体を視覚装置によ
    って撮像し、その画像信号を量子化する画像入力手段と
    、前記画像信号の各画素における濃度勾配の予め決めら
    れた方向の成分を求める濃度勾配検出手段と、前記濃度
    勾配の方向成分の絶対値が一定量上の画素についてX、
    Y方向に投影する計数手段で該画素を計数し、その計数
    値の中から特徴量を求める情報処理手段と、前記特徴量
    及び予め計測して記憶手段に格納してある基準値との差
    が容認範囲内か否かを検出する異常検出手段とを備えた
    パターン検出装置。
JP5329290A 1990-03-05 1990-03-05 パターン検出装置 Pending JPH03255302A (ja)

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JP5329290A JPH03255302A (ja) 1990-03-05 1990-03-05 パターン検出装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108010019A (zh) * 2017-11-29 2018-05-08 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 一种基于自适应切割单个绝缘子的缺陷检测方法
JP2018521406A (ja) * 2015-06-15 2018-08-02 ドネクル 表面を自動的に検査するためのシステムおよび方法

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