JPH03257539A - 周辺装置の連続試験方式 - Google Patents
周辺装置の連続試験方式Info
- Publication number
- JPH03257539A JPH03257539A JP2057011A JP5701190A JPH03257539A JP H03257539 A JPH03257539 A JP H03257539A JP 2057011 A JP2057011 A JP 2057011A JP 5701190 A JP5701190 A JP 5701190A JP H03257539 A JPH03257539 A JP H03257539A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- data comparison
- test
- comparison error
- peripheral device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、情報処理システムに利用される周辺装置の連
続試験方式に関する。
続試験方式に関する。
従来、周辺装置の持続性を試験する為に、使用媒体の全
面に対して、書込動作と、書込動作の正常性を調べるの
に行う読出動作とを繰返し行うが、このような周辺装置
の連続試験における終了条件は、使用する媒体の全面に
対して試験が終了することであった。
面に対して、書込動作と、書込動作の正常性を調べるの
に行う読出動作とを繰返し行うが、このような周辺装置
の連続試験における終了条件は、使用する媒体の全面に
対して試験が終了することであった。
上述した従来の周辺装置の連続試験方式は、周辺装置の
終了条件が使用した媒体の全面に対して試験が終了する
ことであるため、周辺装置の固定障害が原因でデータ比
較エラーが発生した場合、読出動作毎にデータ比較エラ
ーメツセージが出力されるので無意味なデータが多く出
力され、試験終了までに非常に時間がかかるという欠点
があった。
終了条件が使用した媒体の全面に対して試験が終了する
ことであるため、周辺装置の固定障害が原因でデータ比
較エラーが発生した場合、読出動作毎にデータ比較エラ
ーメツセージが出力されるので無意味なデータが多く出
力され、試験終了までに非常に時間がかかるという欠点
があった。
本発明の周辺装置の連続試験方式は、周辺装置から読出
されたデータと期待読出データとでデータ比較を行う手
段と、 該データ比較を行った結果、読出されたデータと期待読
出データとで不一致が生じた際、データ比較エラーメツ
セージを出力する機能と、前記不一致が生じた際、デー
タ比較エラーカウンタに１を加える手段と、 前記データ比較エラーカウンタがある規定値になったら
連続試験を終了させる手段と、読出動作を行った結果、
読出されたデータと期待読出データとが一致した際は前
記データ比較エラーカウンタを０クリアする手段とを含
むことを特徴とする。
されたデータと期待読出データとでデータ比較を行う手
段と、 該データ比較を行った結果、読出されたデータと期待読
出データとで不一致が生じた際、データ比較エラーメツ
セージを出力する機能と、前記不一致が生じた際、デー
タ比較エラーカウンタに１を加える手段と、 前記データ比較エラーカウンタがある規定値になったら
連続試験を終了させる手段と、読出動作を行った結果、
読出されたデータと期待読出データとが一致した際は前
記データ比較エラーカウンタを０クリアする手段とを含
むことを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明を適用した周辺装置の試験方式のフロー
チャートであり、第２図は本実施例の機器構成のブロッ
ク図である。本機器はプログラムの制御を行う中央処理
装置１．プログラムを格納するメモリ２．操作者とプロ
グラムのインタフェースをつかさどるシステムコンソー
ル３及び被試験対象装置４から構成される。
チャートであり、第２図は本実施例の機器構成のブロッ
ク図である。本機器はプログラムの制御を行う中央処理
装置１．プログラムを格納するメモリ２．操作者とプロ
グラムのインタフェースをつかさどるシステムコンソー
ル３及び被試験対象装置４から構成される。
第１図において、まずステップ１００でデータ比較エラ
ーカウンタをＯクリアする。そしてステップ１０１で書
込動作を行い、ステップ１０２でステップ１０１で書込
まれたデータに対する読出動作を行った後、読出された
データと期待読出データとのデータ比較を行う。
ーカウンタをＯクリアする。そしてステップ１０１で書
込動作を行い、ステップ１０２でステップ１０１で書込
まれたデータに対する読出動作を行った後、読出された
データと期待読出データとのデータ比較を行う。
次にステップ１０３の判断でデータ比較エラーが発生し
たら、ステップ１０４でデータ比較エラーメツセージを
出力した後、データ比較エラーカウンタに１を加える。
たら、ステップ１０４でデータ比較エラーメツセージを
出力した後、データ比較エラーカウンタに１を加える。
その後、ステップ１０５でデータ比較エラーカウンタを
規定値と比較し、データ比較エラーカウンタの方が大き
ければ試験を終了し、小さければステップ１０６で使用
媒体の全面に対して試験を行なったかを判断し、全面に
対して行っていれば試験を終了し、行っていなければス
テップ１０１の書込動作にもどる。
規定値と比較し、データ比較エラーカウンタの方が大き
ければ試験を終了し、小さければステップ１０６で使用
媒体の全面に対して試験を行なったかを判断し、全面に
対して行っていれば試験を終了し、行っていなければス
テップ１０１の書込動作にもどる。
一方、ステップ１０３でデータ比較エラーが発生しなか
った場合は、ステップ１０７でデータ比較エラーカウン
タをＯクリアしてステップ１０６の判断を行う。
った場合は、ステップ１０７でデータ比較エラーカウン
タをＯクリアしてステップ１０６の判断を行う。
以上説明したように本発明は、周辺装置の連続試験で読
出動作を行った結果、データ比較エラーが連続しである
規定回数発生したら試験を終了する処理を追加すること
により、周辺装置の固定障害が原因でデータ比較エラー
が発生した場合に無意味な試験を続行することなく終了
する為、システムを有効に利用できる効果がある。
出動作を行った結果、データ比較エラーが連続しである
規定回数発生したら試験を終了する処理を追加すること
により、周辺装置の固定障害が原因でデータ比較エラー
が発生した場合に無意味な試験を続行することなく終了
する為、システムを有効に利用できる効果がある。
第１図は本発明の周辺装置の試験方式のフローチャート
、第２図は本実施例の機器構成のブロック図である。 １・・・中央処理装置、２・・・メモリ、３・・・シス
テム第 ！ 図
、第２図は本実施例の機器構成のブロック図である。 １・・・中央処理装置、２・・・メモリ、３・・・シス
テム第 ！ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 周辺装置から読出されたデータと期待読出データとでデ
ータ比較を行う手段と、 該データ比較を行った結果、読出されたデータと期待読
出データとで不一致が生じた際、データ比較エラーメッ
セージを出力する機能と、 前記不一致が生じた際、データ比較エラーカウンタに１
を加える手段と、 前記データ比較エラーカウンタがある規定値になったら
連続試験を終了させる手段と、 読出動作を行った結果、読出されたデータと期待読出デ
ータとが一致した際は前記データ比較エラーカウンタを
０クリアする手段とを含むことを特徴とする周辺装置の
連続試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2057011A JPH03257539A (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | 周辺装置の連続試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2057011A JPH03257539A (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | 周辺装置の連続試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03257539A true JPH03257539A (ja) | 1991-11-18 |
Family
ID=13043501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2057011A Pending JPH03257539A (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | 周辺装置の連続試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03257539A (ja) |
-
1990
- 1990-03-07 JP JP2057011A patent/JPH03257539A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20080276129A1 (en) | Software tracing | |
| CN104407806B (zh) | 独立磁盘冗余阵列组硬盘信息的修改方法和装置 | |
| JPH03257539A (ja) | 周辺装置の連続試験方式 | |
| US5533195A (en) | Testing tool for diagnosing defective computer system devices | |
| CA1260572A (en) | Diagnostic method for addressing arrangement verification | |
| JPS62122000A (ja) | 記憶素子 | |
| KR0121094B1 (ko) | 메모리 테스트 방법 | |
| JPH0358254A (ja) | チャネルのデータ転送試験方式 | |
| JPH0997194A (ja) | フェイルメモリのデータ取得装置 | |
| JPH0426500B2 (ja) | ||
| JPS6381605A (ja) | 磁気テ−プ装置の試験方式 | |
| JP2612469B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
| JPH05165737A (ja) | メモリ試験方式 | |
| JPH01162300A (ja) | Ｒｏｍチェック回路試験方式 | |
| JPH039435A (ja) | システム異常試験方式 | |
| JPS6218068B2 (ja) | ||
| JPH0253143A (ja) | 擬似障害発生システム | |
| JPS61223569A (ja) | 制御基板の検査方法 | |
| JPS63187444A (ja) | 磁気テ−プ装置の試験装置 | |
| JPS60254244A (ja) | 再試行制御方式 | |
| JPS6322342B2 (ja) | ||
| JPS61269746A (ja) | 情報処理装置 | |
| JPH0520115A (ja) | 情報処理装置の擬似障害試験方式 | |
| JPH11212731A (ja) | ファイル装置試験方法 | |
| JPH03265037A (ja) | 大容量メモリ初期診断制御方式 |