JPH03262121A - 樹脂絶縁膜の剥離方法 - Google Patents
樹脂絶縁膜の剥離方法Info
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- JPH03262121A JPH03262121A JP6009790A JP6009790A JPH03262121A JP H03262121 A JPH03262121 A JP H03262121A JP 6009790 A JP6009790 A JP 6009790A JP 6009790 A JP6009790 A JP 6009790A JP H03262121 A JPH03262121 A JP H03262121A
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- Japan
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- insulating film
- resin insulating
- pix
- etching
- film
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- Pending
Links
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 53
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 53
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 title 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 15
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 abstract description 2
- 229940012017 ethylenediamine Drugs 0.000 abstract 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Weting (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路装置における保護1炭や層間絶
縁膜などに用いる樹脂絶縁膜の剥離方法に関する。
縁膜などに用いる樹脂絶縁膜の剥離方法に関する。
半導体集積回路装置の保護膜や層間絶縁膜として用いる
樹脂絶縁膜の形成方法は、下記記載の工程により形成し
ている。
樹脂絶縁膜の形成方法は、下記記載の工程により形成し
ている。
基板上に樹脂絶縁膜を回転塗布法により形成し、その後
加熱処理を行ないこの樹脂絶縁膜を焼成する。その後所
定のパターン形成のために、感光性樹脂膜を形成し、こ
の感光性樹脂膜を所定のホトマスクを用いて露光処理、
および現像処理を行ない感光性樹脂膜をバターニングす
る。その後このパターニングした感光性樹脂膜をエツチ
ングのマスクとして、樹脂絶縁膜をエンチングして、層
間絶縁膜であれば接続穴、保護膜であれば外部との接続
領域の開口を行なう。この樹脂絶縁膜のエツチングは、
反応性イオンエツチング装置を用い、酸素プラズマを用
いた乾式エツチングにより行なっている。
加熱処理を行ないこの樹脂絶縁膜を焼成する。その後所
定のパターン形成のために、感光性樹脂膜を形成し、こ
の感光性樹脂膜を所定のホトマスクを用いて露光処理、
および現像処理を行ない感光性樹脂膜をバターニングす
る。その後このパターニングした感光性樹脂膜をエツチ
ングのマスクとして、樹脂絶縁膜をエンチングして、層
間絶縁膜であれば接続穴、保護膜であれば外部との接続
領域の開口を行なう。この樹脂絶縁膜のエツチングは、
反応性イオンエツチング装置を用い、酸素プラズマを用
いた乾式エツチングにより行なっている。
この樹脂絶縁膜の形成方法において、樹脂絶縁膜のプラ
ズマ雰囲気中での処理工程以降の工程にてなんらかのミ
スがあった場合、この樹脂絶縁膜を剥離して、再度上記
の樹脂絶縁膜の形成工程を行なっている。
ズマ雰囲気中での処理工程以降の工程にてなんらかのミ
スがあった場合、この樹脂絶縁膜を剥離して、再度上記
の樹脂絶縁膜の形成工程を行なっている。
樹脂絶縁膜の剥離は、樹脂絶縁膜のエツチング液を用い
て、樹脂絶縁膜をエツチングすることにより除去してい
る。
て、樹脂絶縁膜をエツチングすることにより除去してい
る。
しかしながらプラズマ雰囲気中での処理工程以降の工程
を行なった樹脂絶縁膜を、この樹脂絶縁膜のエツチング
液を用いてエツチングを行なうと、基板上に樹脂絶縁膜
がエツチングされずに、斑状に残るという現象を生ずる
。これはプラズマ雰囲気中で、樹脂絶縁膜表面が変質し
、樹脂絶縁膜のエツチング液でエツチングされない変質
層が形成されるためである。
を行なった樹脂絶縁膜を、この樹脂絶縁膜のエツチング
液を用いてエツチングを行なうと、基板上に樹脂絶縁膜
がエツチングされずに、斑状に残るという現象を生ずる
。これはプラズマ雰囲気中で、樹脂絶縁膜表面が変質し
、樹脂絶縁膜のエツチング液でエツチングされない変質
層が形成されるためである。
本発明の目的は上記課題を解決して、樹脂絶縁膜がエツ
チングされずに残ることがない樹脂絶縁膜の剥離方法を
提供することにある。
チングされずに残ることがない樹脂絶縁膜の剥離方法を
提供することにある。
上記目的を達成するため本発明の樹脂絶縁膜の剥離方法
は、樹脂絶縁膜を形成した基板を水に浸漬し、その後樹
脂絶縁膜のエツチング液を用いて樹脂絶縁膜をエツチン
グして除去する。
は、樹脂絶縁膜を形成した基板を水に浸漬し、その後樹
脂絶縁膜のエツチング液を用いて樹脂絶縁膜をエツチン
グして除去する。
以下本発明の実施例を、樹脂絶縁膜のうちPIX(日立
化成工業株式会社の商品名)を例にして説明する。
化成工業株式会社の商品名)を例にして説明する。
基板上に回転塗布法によりPIXを形成し、温度120
℃時間20分の加熱処理後、さらに温度300℃時間6
0分の加熱処理を行ない、その後ネガ型の感光性樹脂膜
を形成し、この感光性樹脂膜をエツチングマスクとして
、反応性イオンエツチング装置を用いて酸素プラズマに
てPIXをエツチングし、その後このPIXを剥離する
例で説明する。
℃時間20分の加熱処理後、さらに温度300℃時間6
0分の加熱処理を行ない、その後ネガ型の感光性樹脂膜
を形成し、この感光性樹脂膜をエツチングマスクとして
、反応性イオンエツチング装置を用いて酸素プラズマに
てPIXをエツチングし、その後このPIXを剥離する
例で説明する。
まずPIX上の感光性樹脂膜を除去し、PIXを露出さ
せる。その後基板を純水槽に浸漬する。
せる。その後基板を純水槽に浸漬する。
純水槽中に浸漬する時間は、30分から120分とし、
純水槽の液温は室温でよい。
純水槽の液温は室温でよい。
その後エチレンジアミンとヒドラジンとの混合溶液を用
いてPIXをエツチングし、樹脂絶縁膜であるPIXを
完全に除去する。
いてPIXをエツチングし、樹脂絶縁膜であるPIXを
完全に除去する。
PIXを形成した基板を純水槽に浸漬することにより、
このPIXが水を吸収する。そしてこの水が浸入した経
路を通ってエツチング液がPIX膜中に浸入し、PIX
を完全にエツチングする。
このPIXが水を吸収する。そしてこの水が浸入した経
路を通ってエツチング液がPIX膜中に浸入し、PIX
を完全にエツチングする。
このため樹脂絶縁膜であるPIXのエツチング残りが発
生せず、完全に除去される。
生せず、完全に除去される。
以上の説明で明らかなように、本発明の樹脂絶縁膜の剥
離方法においては、樹脂絶縁膜のエツチング残りが発生
せず、完全に樹脂絶縁膜を除去することが可能となる。
離方法においては、樹脂絶縁膜のエツチング残りが発生
せず、完全に樹脂絶縁膜を除去することが可能となる。
以上の説明においては、樹脂絶縁膜をプラズマ雰囲気中
でエツチング後に剥離する例で説明したが、樹脂絶縁膜
開口内の金属膜表面の酸化膜を除去するため、例えばア
ルゴンなどの不活性ガスのプラズマを用いて、金属膜表
面の酸化膜を除去する工程後の樹脂絶縁膜の剥離におい
ても、本発明の剥離方法は適用できる。
でエツチング後に剥離する例で説明したが、樹脂絶縁膜
開口内の金属膜表面の酸化膜を除去するため、例えばア
ルゴンなどの不活性ガスのプラズマを用いて、金属膜表
面の酸化膜を除去する工程後の樹脂絶縁膜の剥離におい
ても、本発明の剥離方法は適用できる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板上に形成した樹脂絶縁膜をプラズマ雰囲気中で処
理を行ない、その後該樹脂絶縁膜を剥離する方法におい
て、 前記樹脂絶縁膜を形成した該基板を水に浸漬し、しかる
のち前記樹脂絶縁膜のエッチング液を用いて前記樹脂絶
縁膜をエッチングして除去することを特徴とする樹脂絶
縁膜の剥離方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6009790A JPH03262121A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 樹脂絶縁膜の剥離方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6009790A JPH03262121A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 樹脂絶縁膜の剥離方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03262121A true JPH03262121A (ja) | 1991-11-21 |
Family
ID=13132252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6009790A Pending JPH03262121A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 樹脂絶縁膜の剥離方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03262121A (ja) |
-
1990
- 1990-03-13 JP JP6009790A patent/JPH03262121A/ja active Pending
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