JPH03264886A - 光学式変位センサー - Google Patents
光学式変位センサーInfo
- Publication number
- JPH03264886A JPH03264886A JP2064897A JP6489790A JPH03264886A JP H03264886 A JPH03264886 A JP H03264886A JP 2064897 A JP2064897 A JP 2064897A JP 6489790 A JP6489790 A JP 6489790A JP H03264886 A JPH03264886 A JP H03264886A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- output
- phase
- optical path
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 57
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims description 10
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 45
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 9
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101000721172 Homo sapiens Protein DBF4 homolog A Proteins 0.000 description 1
- 102100025198 Protein DBF4 homolog A Human genes 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、投光手段から検知エリアに投光される光ビー
ムの被検知物体による反射光を、受光手段にて受光し、
受光手段出力に基づいて検知エリア内の被検知物体まで
の距離を測定するようにした光学式変位センサーに関す
るものである。
ムの被検知物体による反射光を、受光手段にて受光し、
受光手段出力に基づいて検知エリア内の被検知物体まで
の距離を測定するようにした光学式変位センサーに関す
るものである。
し従来の技術j
第6図はこの種の光学式変位センサーの従来例を示すブ
ロック図である。発光部1からの出力光を周波数10に
て輝度変調して、投光光学系により反射物体8へ投光す
る。そして、反射物体8からの反射光を受光光学系によ
り受光部2a上に入射させる。このとき、発光部1から
発光される参照光波形と受光部2aにて受光される測距
光波形との間には、第7図に示すように、反射物体8ま
での距離lに応じて、位相のずれθdを生ずる。この関
係を式で表せば、 1=cθd/ ’4 yr fo Cm’:l
−■ただし、1:反射物体までの距離〔m〕C:光速
〔Ill/sec〕 となり、位相差θdCsec)が測定されれば、反射物
体8までの距@1を求めることができる。第6図の槽底
においては、発光部1や受光部2a、及び回路系の経時
変化や温度・湿度変化に対する位相変動を補正するため
に、発光部1の光の一部をハーフミラ−32,33を介
して受光部2bに参照光として取り込み、測距光に対す
る受光回路系と同一の回路系をもって信号処理を行う。
ロック図である。発光部1からの出力光を周波数10に
て輝度変調して、投光光学系により反射物体8へ投光す
る。そして、反射物体8からの反射光を受光光学系によ
り受光部2a上に入射させる。このとき、発光部1から
発光される参照光波形と受光部2aにて受光される測距
光波形との間には、第7図に示すように、反射物体8ま
での距離lに応じて、位相のずれθdを生ずる。この関
係を式で表せば、 1=cθd/ ’4 yr fo Cm’:l
−■ただし、1:反射物体までの距離〔m〕C:光速
〔Ill/sec〕 となり、位相差θdCsec)が測定されれば、反射物
体8までの距@1を求めることができる。第6図の槽底
においては、発光部1や受光部2a、及び回路系の経時
変化や温度・湿度変化に対する位相変動を補正するため
に、発光部1の光の一部をハーフミラ−32,33を介
して受光部2bに参照光として取り込み、測距光に対す
る受光回路系と同一の回路系をもって信号処理を行う。
つまり、参照光と測距光の相対的な位相比較を行うこと
で、発光部1や受光部2a、回路系の絶対的位相変動を
打ち消すようにIIItj、シている。
で、発光部1や受光部2a、回路系の絶対的位相変動を
打ち消すようにIIItj、シている。
一方、変調周波数f0は測距分解能に大きく左右される
。今、位相分解能Δθd=2π/1000において、測
距分解能Δ1= 10 〔1111)を連敗するために
は、式■より、 fa=cΔθd/4πΔl ・・・■fo” 1
5 (MHz) てなければならないことが分かる。このような高い周波
数の位相比較を精度良く行うために、第6図の構成では
、受光回路21a、21bにより得られた受光信号を混
合器22a、22bに導いて、発振器23て発生させた
局部発振周波数と混合し、周波数変換により低い周波数
に変換してから位相比較を行っている。そして、位相比
較部4による位相比較の結果を積分器7により所定の時
定数で積分し、距離lに応じた電圧を出力している。ま
た、積分器7の出力を比較器9て所定の基準電圧Vrと
比較して、反射物体8の有無を判定するための判別出力
を得ている。
。今、位相分解能Δθd=2π/1000において、測
距分解能Δ1= 10 〔1111)を連敗するために
は、式■より、 fa=cΔθd/4πΔl ・・・■fo” 1
5 (MHz) てなければならないことが分かる。このような高い周波
数の位相比較を精度良く行うために、第6図の構成では
、受光回路21a、21bにより得られた受光信号を混
合器22a、22bに導いて、発振器23て発生させた
局部発振周波数と混合し、周波数変換により低い周波数
に変換してから位相比較を行っている。そして、位相比
較部4による位相比較の結果を積分器7により所定の時
定数で積分し、距離lに応じた電圧を出力している。ま
た、積分器7の出力を比較器9て所定の基準電圧Vrと
比較して、反射物体8の有無を判定するための判別出力
を得ている。
このように、従来の光学式変位センサーにおいては、発
光部や受光部、回路系の絶対的位相変動を打ち消すため
に、参照光系の受光回路系を設けている。参照光系の受
光回路系は、測距光系の受光回路系と同一の回路素子て
構成された同一の回路としており、理想的には全く同一
の絶対位相変動を生しることが期待されるものである。
光部や受光部、回路系の絶対的位相変動を打ち消すため
に、参照光系の受光回路系を設けている。参照光系の受
光回路系は、測距光系の受光回路系と同一の回路素子て
構成された同一の回路としており、理想的には全く同一
の絶対位相変動を生しることが期待されるものである。
しかしながら、現実には個々の回路素子のばらつきや回
路の配線、配置等に起因する種々のばらつきが有り、そ
れに伴う相対的位相誤差が発生するという問題があった
。
路の配線、配置等に起因する種々のばらつきが有り、そ
れに伴う相対的位相誤差が発生するという問題があった
。
そこで、第8図に示すように、ミラー31のような光路
切換器3により発光部1からの光を反射物体にて反射さ
せて受光部2に入射させる第1の光路と、発光部1から
の光を受光部2に直接入射させる第2の光路とを時系列
的に切り換えることにより、測距光の受光回路系と参照
光の受光回路系のばらつきを解消することが提案されて
いる(特願平01−4056号出m参照)。これにより
、個々の回路素子や回路ブロックの絶対的な位相変動特
性にばらつきがあったとしても、安定な測距が可能とな
る。
切換器3により発光部1からの光を反射物体にて反射さ
せて受光部2に入射させる第1の光路と、発光部1から
の光を受光部2に直接入射させる第2の光路とを時系列
的に切り換えることにより、測距光の受光回路系と参照
光の受光回路系のばらつきを解消することが提案されて
いる(特願平01−4056号出m参照)。これにより
、個々の回路素子や回路ブロックの絶対的な位相変動特
性にばらつきがあったとしても、安定な測距が可能とな
る。
[発明が解決しようとする課題〕
上述の従来技術にあっては、次のような問題が有る。
■測距のための変調周波数f。は、数百kHz〜数十M
Hzという高周波であるため、空間的なシールドを施
しても、その電源やアースラインから信号が漏れて、受
光回路系へ誘導ノイズが現れてしまう。これは、かなり
厳重なシールド及び電源ラインのバイパスを行っても完
全に取り除くことは困難である。この誘導ノイズは、受
光信号のレベルか小さくなると、変位測定に影響を与え
ることになる。例えば、被検知物体の反射率か低くなっ
たり、被検知物体との距離か大きくなることで、受光信
号のレベルが誘導ノイズと同程度にまで低下すると、本
来、受光信号の持っている位相情報か失われて、誘導ノ
イズの持つ位相情報が検出されてしまう。その結果、大
きな測距誤差が生しることになる。このような測距誤差
は、シールドや電源のバイパスが不完全で誘導ノイズの
レベルが大きくなればなるほど、顕著に現れることにな
る。
Hzという高周波であるため、空間的なシールドを施
しても、その電源やアースラインから信号が漏れて、受
光回路系へ誘導ノイズが現れてしまう。これは、かなり
厳重なシールド及び電源ラインのバイパスを行っても完
全に取り除くことは困難である。この誘導ノイズは、受
光信号のレベルか小さくなると、変位測定に影響を与え
ることになる。例えば、被検知物体の反射率か低くなっ
たり、被検知物体との距離か大きくなることで、受光信
号のレベルが誘導ノイズと同程度にまで低下すると、本
来、受光信号の持っている位相情報か失われて、誘導ノ
イズの持つ位相情報が検出されてしまう。その結果、大
きな測距誤差が生しることになる。このような測距誤差
は、シールドや電源のバイパスが不完全で誘導ノイズの
レベルが大きくなればなるほど、顕著に現れることにな
る。
■第6図に示す槽底のように、距離信号を比較器9によ
って所定の基準電圧Vrと比較して、ある距離内におけ
る反射物体の有無を判定する場合、受光信号のレベルが
受光回路系のノイズレベルと同程度にまで低下すると、
その位相情報は多くのノイズを含むようになり、比較器
9が誤動作して、その出力がON10 F Fを繰り返
すことになる。
って所定の基準電圧Vrと比較して、ある距離内におけ
る反射物体の有無を判定する場合、受光信号のレベルが
受光回路系のノイズレベルと同程度にまで低下すると、
その位相情報は多くのノイズを含むようになり、比較器
9が誤動作して、その出力がON10 F Fを繰り返
すことになる。
この問題は比較器9に多少のヒステリシスを持たせても
、位相ノイズは最悪の場合には±360度にも達するの
で、簡単に解決することはてきない。
、位相ノイズは最悪の場合には±360度にも達するの
で、簡単に解決することはてきない。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、光学式変位センサーにおいて、
受光信号のレベルが低下した場合の誤動作を回避するこ
とにある。
の目的とするところは、光学式変位センサーにおいて、
受光信号のレベルが低下した場合の誤動作を回避するこ
とにある。
[課題を解決するための手段]
本発明に係る光学式変位センサーにあっては、上記の課
題を解決するために、第1図に示すように、発光部1か
らの光を反射物体にて反射させて受光部2に入射させる
第1の光路と、発光部1がらの光を受光部2に直接入射
させる第2の光路と、発光部1からの光を受光部2に入
射させない第3の光路とを切り換える光路切換用のミラ
ー31と、発光部1の発光位相と受光部2の受光位相と
の位相差を求める位相比較部4と、第1の光路選択時と
第2の光路選択時における位相比較部4の出力差に応し
て距離信号を発生する距離演算部5と、第3の光路選択
時における受光出力を打ち消すための位相シフト出力を
発生する自動位相シフト回路23と、自動位相シフト回
路23の出力を受光部2の出力に加算する加算回路24
とを有して戒ることを特徴とするものである。
題を解決するために、第1図に示すように、発光部1か
らの光を反射物体にて反射させて受光部2に入射させる
第1の光路と、発光部1がらの光を受光部2に直接入射
させる第2の光路と、発光部1からの光を受光部2に入
射させない第3の光路とを切り換える光路切換用のミラ
ー31と、発光部1の発光位相と受光部2の受光位相と
の位相差を求める位相比較部4と、第1の光路選択時と
第2の光路選択時における位相比較部4の出力差に応し
て距離信号を発生する距離演算部5と、第3の光路選択
時における受光出力を打ち消すための位相シフト出力を
発生する自動位相シフト回路23と、自動位相シフト回
路23の出力を受光部2の出力に加算する加算回路24
とを有して戒ることを特徴とするものである。
なお、第3図に示すように、発光部1の発光位相に対し
て所定の位相差を有する第2の位相シフト出力を発生す
る第2の位相シフト回路25と、第2の位相シフト回路
25の出力を前記自動位相シフト回路23の出力に加算
する第2の加算回路26とを設ければ、より好ましい。
て所定の位相差を有する第2の位相シフト出力を発生す
る第2の位相シフト回路25と、第2の位相シフト回路
25の出力を前記自動位相シフト回路23の出力に加算
する第2の加算回路26とを設ければ、より好ましい。
[作用]
本発明にあっては、このように、発光部1からの光を受
光部2に入射させない第3の光路を選択可能とし、この
第3の光路選択時における受光出力を打ち消すための位
相シフト出力を他の光路選択時における受光部2の出力
に加算するようにしたので、誘導ノイズによる誤動作を
防止することができるものである。
光部2に入射させない第3の光路を選択可能とし、この
第3の光路選択時における受光出力を打ち消すための位
相シフト出力を他の光路選択時における受光部2の出力
に加算するようにしたので、誘導ノイズによる誤動作を
防止することができるものである。
また、第3図に示すように、発光部1の発光位相に対し
て所定の位相差を有する第2の位相シフト出力を自動位
相シフト回路23の出力に加算することにより、受光信
号のレベルが低い場合に、距離信号は第2の位相シフト
出力に応じた所定値に漸近することになり、測定結果か
不安定になることを防止できる。
て所定の位相差を有する第2の位相シフト出力を自動位
相シフト回路23の出力に加算することにより、受光信
号のレベルが低い場合に、距離信号は第2の位相シフト
出力に応じた所定値に漸近することになり、測定結果か
不安定になることを防止できる。
[実施例]
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
発光部1は発光ダイオードや半導体レーザーのような発
光素子よりなり、発光回路11により供給される駆動信
号に応じて光信号を発生する。発振器12は、発光部1
から出力される光信号の変調周波数f。を発振し、発光
回路11に供給すると共に、混合器22には局部発振周
波数(f、−fc)を供給する。局部発振周波数(f、
−fc)は変調周波数r。
光素子よりなり、発光回路11により供給される駆動信
号に応じて光信号を発生する。発振器12は、発光部1
から出力される光信号の変調周波数f。を発振し、発光
回路11に供給すると共に、混合器22には局部発振周
波数(f、−fc)を供給する。局部発振周波数(f、
−fc)は変調周波数r。
とは僅かに周波数の異なる信号であり、fc<f、であ
る。受光部2はシリコンフォトダイオードのような受光
素子よりなり、受光された光信号の強度に応じた光電流
を発生する。受光回路21は電流電圧変換回路を含み、
受光部2にて得られた光電流を電圧信号に変換する。受
光回路21の出力は、加算回路24を経て混合器22に
て局部発振周波数(fo−fc)と周波数混合され、低
周波のビート信号に変換されて、位相比較部4に入力さ
れる。
る。受光部2はシリコンフォトダイオードのような受光
素子よりなり、受光された光信号の強度に応じた光電流
を発生する。受光回路21は電流電圧変換回路を含み、
受光部2にて得られた光電流を電圧信号に変換する。受
光回路21の出力は、加算回路24を経て混合器22に
て局部発振周波数(fo−fc)と周波数混合され、低
周波のビート信号に変換されて、位相比較部4に入力さ
れる。
位相比較部4は発振器12から出力される周波数fcの
信号と、混合器22から得られた低周波のビート信号と
の位相差を比較する。自動位相シフト回路23では、発
振器12と混合器22の出力に基づいて誘導ノイズ消去
用の位相シフト出力を発生し、加算回路24に供給する
。
信号と、混合器22から得られた低周波のビート信号と
の位相差を比較する。自動位相シフト回路23では、発
振器12と混合器22の出力に基づいて誘導ノイズ消去
用の位相シフト出力を発生し、加算回路24に供給する
。
本発明にあっては、発光部1の前方に光路切換器3とし
て、光路切換ミラー31を配している。
て、光路切換ミラー31を配している。
この光路切換ミラー31はタイミング回路6の制御下に
て回動制御される。光路切換ミラー31が発光部1から
の光と略平行な矢印aに示す方向に設定されると、発光
部■からの光は反射物体へ投光される0反射物体からの
反射光は、ハーフミラ−32を通過して受光部2に入射
する。また、光路切換ミラー31が発光部1がらの光に
対して約45度の角度をなす矢印しに示す方向に設定さ
れると、発光部1からの光は光路切換ミラー31にて反
射され、ハーフミラ−32にて再度反射されて、受光部
2に入射する。このように、本実施例の光学式変位セン
サーでは、発光部lからの光をそのまま反射物体へ投光
して、その反射光を受光部2に受光させる第1の光路と
、発光部1からの光を外部へは出さずに全てを参照光と
して反射して受光部2へ直接受光させる第2の光路を選
択することができる。これによって、時系列的に測距光
と参照光を同一の受光部2に受光させることができるわ
けである。タイミング回B6の出力fKは、距離演算部
5にも入力されており、距離演算部5は位相比較部4の
出力が測距光によるものか、参照光によるものかを区別
することができ、測距光受光時と参照光受光時の位相比
較部4の出力の差分に応じて距離信号を出力する。この
ように構成することによって、従来、2系統必要であっ
た受光部と受光回路を1系統化することができ、絶対位
相変動特性のばらつきによる測距誤差を回避することか
できる。
て回動制御される。光路切換ミラー31が発光部1から
の光と略平行な矢印aに示す方向に設定されると、発光
部■からの光は反射物体へ投光される0反射物体からの
反射光は、ハーフミラ−32を通過して受光部2に入射
する。また、光路切換ミラー31が発光部1がらの光に
対して約45度の角度をなす矢印しに示す方向に設定さ
れると、発光部1からの光は光路切換ミラー31にて反
射され、ハーフミラ−32にて再度反射されて、受光部
2に入射する。このように、本実施例の光学式変位セン
サーでは、発光部lからの光をそのまま反射物体へ投光
して、その反射光を受光部2に受光させる第1の光路と
、発光部1からの光を外部へは出さずに全てを参照光と
して反射して受光部2へ直接受光させる第2の光路を選
択することができる。これによって、時系列的に測距光
と参照光を同一の受光部2に受光させることができるわ
けである。タイミング回B6の出力fKは、距離演算部
5にも入力されており、距離演算部5は位相比較部4の
出力が測距光によるものか、参照光によるものかを区別
することができ、測距光受光時と参照光受光時の位相比
較部4の出力の差分に応じて距離信号を出力する。この
ように構成することによって、従来、2系統必要であっ
た受光部と受光回路を1系統化することができ、絶対位
相変動特性のばらつきによる測距誤差を回避することか
できる。
次に、時系列的に入射される測距光と参照光の信号処理
について説明する。光路切換ミラー31をコントロール
するタイミング回路6の出力fKは、ある一定の周期で
“High”レベルとなり、このときに、第2の光路を
選択するように光路切換ミラー31を切り換えて、受光
部2に参照光を取り込むように動作する。一方、位相比
較部4は温き器22から得られる受光信号と発振器12
からの低周波信号fCの位相差を絶えず比較出力してい
る。
について説明する。光路切換ミラー31をコントロール
するタイミング回路6の出力fKは、ある一定の周期で
“High”レベルとなり、このときに、第2の光路を
選択するように光路切換ミラー31を切り換えて、受光
部2に参照光を取り込むように動作する。一方、位相比
較部4は温き器22から得られる受光信号と発振器12
からの低周波信号fCの位相差を絶えず比較出力してい
る。
光路切換ミラー31が第1の光路を選択しているとき、
つまり測距光が入射しているときの電圧をVc、第2の
光路を選択しているとき、つまり参照光が入射している
ときの電圧をVrとすると、これらの出力は距離演算部
5に時系列的に入力される。距離演算部5は、タイミン
グ回路6からの信号f、に同期して位相比較部4の出力
をサンプリングすることにより、電圧Veと電圧Vrを
取り込み、その差分として距離信号V 1 = V c
−V rを出力する。この距離信号Vlは、個々の回
路素子や回路ブロックの絶対的位相変動を絶えず測定し
、記憶しながら測距値補正を行っていることになるので
、位相変動が生じている場合においても、距離信号Vl
は安定した出力となる。なお、参照光受光時の位相比較
部4の出力電圧Vrは、タイミング回路6からの出力f
Kの周期毎に順次更新されているので、位相変動に対し
てタイミング回路6の出力fKの周期は十分に小さく設
定する必要があることは言うまでもない。
つまり測距光が入射しているときの電圧をVc、第2の
光路を選択しているとき、つまり参照光が入射している
ときの電圧をVrとすると、これらの出力は距離演算部
5に時系列的に入力される。距離演算部5は、タイミン
グ回路6からの信号f、に同期して位相比較部4の出力
をサンプリングすることにより、電圧Veと電圧Vrを
取り込み、その差分として距離信号V 1 = V c
−V rを出力する。この距離信号Vlは、個々の回
路素子や回路ブロックの絶対的位相変動を絶えず測定し
、記憶しながら測距値補正を行っていることになるので
、位相変動が生じている場合においても、距離信号Vl
は安定した出力となる。なお、参照光受光時の位相比較
部4の出力電圧Vrは、タイミング回路6からの出力f
Kの周期毎に順次更新されているので、位相変動に対し
てタイミング回路6の出力fKの周期は十分に小さく設
定する必要があることは言うまでもない。
第2図は、光路切換用のミラー31が矢印Cに示す方向
である場合の各部の信号波形を示している。このとき、
発光部1からの光は測距光としても参照光としても受光
部2には入射されない。図において、受光出力は誘導ノ
イズ波形の位相とレベルを示しているが、この位相と逆
相で同一レベルとなる信号を、発振器12からの変調周
波数f。
である場合の各部の信号波形を示している。このとき、
発光部1からの光は測距光としても参照光としても受光
部2には入射されない。図において、受光出力は誘導ノ
イズ波形の位相とレベルを示しているが、この位相と逆
相で同一レベルとなる信号を、発振器12からの変調周
波数f。
に同期して自動位相シフト回路23により作成する。こ
の自動位相シフト回路23の出力と、誘導ノイズとを加
算回路24によって加算することにより、誘導ノイズは
打ち消される。この自動位相シフト回路23における一
連の動作はタイミング回路6によって制御され、光路切
換用のミラー31か矢印Cに示す方向である場合におい
て、その位相シフト量とレベルとが記憶される。そして
、通常は、光路切換用のミラー31が矢印aに示す方向
であるときに測距を行い、周囲環境の変化や回路の経時
変化等によって誘導ノイズが変動する頃を見極めて、光
路切換用のミラー31を矢印Cに示す方向に切り替えて
、その位相シフト量とレベルの更新を行う。このように
、基準値チf。を用いて誘導ノイズを打ち消せば、被検
知物体か無い場合(受光信号が極小の場合)における位
相情報は常にランダムとなり、ある特定の位相(つまり
誘導ノイズの位相)に漸近する問題は解決される。
の自動位相シフト回路23の出力と、誘導ノイズとを加
算回路24によって加算することにより、誘導ノイズは
打ち消される。この自動位相シフト回路23における一
連の動作はタイミング回路6によって制御され、光路切
換用のミラー31か矢印Cに示す方向である場合におい
て、その位相シフト量とレベルとが記憶される。そして
、通常は、光路切換用のミラー31が矢印aに示す方向
であるときに測距を行い、周囲環境の変化や回路の経時
変化等によって誘導ノイズが変動する頃を見極めて、光
路切換用のミラー31を矢印Cに示す方向に切り替えて
、その位相シフト量とレベルの更新を行う。このように
、基準値チf。を用いて誘導ノイズを打ち消せば、被検
知物体か無い場合(受光信号が極小の場合)における位
相情報は常にランダムとなり、ある特定の位相(つまり
誘導ノイズの位相)に漸近する問題は解決される。
また、製造時における位相シフト回路の調整も不要とな
る。
る。
第3図は本発明の他の実施例のブロック図である。本実
施例にあっては、第2の位相シフト回路25と第2の加
算回路26が追加されている。第2の位相シフト回路2
5は、受光信号のレベルが低下した場合に、との程度の
レベルからどの位相に引き込まれるかを決定するための
第2の位相シフト出力を発生する。そして、第2の加算
回路26は、自動位相シフト回路23の出力のと、第2
の位相シフト回路25の出力■とを加算する。この加算
回路26の出力は、加算回路24により受光回路21の
出力と加算されて、加算出力■となる。
施例にあっては、第2の位相シフト回路25と第2の加
算回路26が追加されている。第2の位相シフト回路2
5は、受光信号のレベルが低下した場合に、との程度の
レベルからどの位相に引き込まれるかを決定するための
第2の位相シフト出力を発生する。そして、第2の加算
回路26は、自動位相シフト回路23の出力のと、第2
の位相シフト回路25の出力■とを加算する。この加算
回路26の出力は、加算回路24により受光回路21の
出力と加算されて、加算出力■となる。
本実施例において、光路切換用のミラー31が矢印Cに
示す方向である場合の各部の信号波形を第4図に示す。
示す方向である場合の各部の信号波形を第4図に示す。
このとき、発光部1からの光は測距光としても参照光と
しても受光部2には入射されない。図において、受光出
力は誘導ノイズ波形の位相とレベルを示しているが、こ
の位相と逆相で同一レベルとなる信号を、発振器12か
らの変調周波数f。に同期して自動位相シフト回路23
により作成する。この自動位相シフト回路23の出力■
と、誘導ノイズとを加算回路24.26によって加算す
ることにより、上述の実施例と同様に、誘導ノイズは打
ち消される。この状態で第2の位相シフト回路25の出
力■を加算回路24.26により受光回路系に注入する
と、加算回路24の出力■は、第2の位相シフト回路2
5の出力■と同一となり、受光信号のレベルが低下した
場合に、この出力■の位相に漸近することになる。つま
り、第2の位相シフト回路25を用いて、受光信号のレ
ベルが低下したときに漸近する受光レベルと位相を任意
に設定することができる。これにより、距離信号をレベ
ル判定するような回路構成を採用した場合でも、受光信
号のレベル低下時に位相ノイズ増加による誤動作を防止
することができる。
しても受光部2には入射されない。図において、受光出
力は誘導ノイズ波形の位相とレベルを示しているが、こ
の位相と逆相で同一レベルとなる信号を、発振器12か
らの変調周波数f。に同期して自動位相シフト回路23
により作成する。この自動位相シフト回路23の出力■
と、誘導ノイズとを加算回路24.26によって加算す
ることにより、上述の実施例と同様に、誘導ノイズは打
ち消される。この状態で第2の位相シフト回路25の出
力■を加算回路24.26により受光回路系に注入する
と、加算回路24の出力■は、第2の位相シフト回路2
5の出力■と同一となり、受光信号のレベルが低下した
場合に、この出力■の位相に漸近することになる。つま
り、第2の位相シフト回路25を用いて、受光信号のレ
ベルが低下したときに漸近する受光レベルと位相を任意
に設定することができる。これにより、距離信号をレベ
ル判定するような回路構成を採用した場合でも、受光信
号のレベル低下時に位相ノイズ増加による誤動作を防止
することができる。
第5図は同一距離からの位相信号の受光信号量が減少し
た場合の距離信号と判定レベルの関係を示している。第
5図(a)は従来例の動作を示しており、図中、Aは判
定レベル、Bは受光信号が支配的な範囲、Cは受光回路
系の位相ノイズが支配的な範囲である。この場合、受光
回路系の位相ノイズが支配的な範囲Cでは、距離信号が
判定レベルAを越えて、誤動作を起こす。第5図(b)
は本実施例の動作を示しており、図中 Aは判定レベル
、Bは受光信号が支配的な範囲、Dは位相シフト回路2
5の出力■が支配的な範囲である。この場合、位相シフ
ト回路25の出力■が支配的な範囲りては、距離信号を
判定レベルAよりも小さい状態て安定させることかでき
る。範囲Bと範囲りが切替わるときの受光信号量は、位
相シフト回路25の出力■の振幅で決定される。また、
範囲りでの距離信号が漸近して行く値は、位相シフト回
路25の出力■の位相で決定される。
た場合の距離信号と判定レベルの関係を示している。第
5図(a)は従来例の動作を示しており、図中、Aは判
定レベル、Bは受光信号が支配的な範囲、Cは受光回路
系の位相ノイズが支配的な範囲である。この場合、受光
回路系の位相ノイズが支配的な範囲Cでは、距離信号が
判定レベルAを越えて、誤動作を起こす。第5図(b)
は本実施例の動作を示しており、図中 Aは判定レベル
、Bは受光信号が支配的な範囲、Dは位相シフト回路2
5の出力■が支配的な範囲である。この場合、位相シフ
ト回路25の出力■が支配的な範囲りては、距離信号を
判定レベルAよりも小さい状態て安定させることかでき
る。範囲Bと範囲りが切替わるときの受光信号量は、位
相シフト回路25の出力■の振幅で決定される。また、
範囲りでの距離信号が漸近して行く値は、位相シフト回
路25の出力■の位相で決定される。
[発明の効果]
本発明にあっては、上述のように、光路切換用のミラー
により参照光と測距光を時系列的に同一の受光部に導く
ようにしたので、測距光の受光回路系と参照先の受光回
路系のばらつきを解消することかでき、安定な測距が可
能となり、測距精度も改善されるという効果がある。ま
た、受光部や受光回路が1系統化されるのて、大幅な部
品点数の削減と、低コスト化が可能になるという効果が
ある。さらに、発光部からの光を受光部に入射させない
場合における受光出力を打ち消すための位相シフト出力
を発生させ、これを他の光路選択時における受光部の出
力に加算することにより、誘導ノイズによる測定誤差を
防止することができるという効果かある。
により参照光と測距光を時系列的に同一の受光部に導く
ようにしたので、測距光の受光回路系と参照先の受光回
路系のばらつきを解消することかでき、安定な測距が可
能となり、測距精度も改善されるという効果がある。ま
た、受光部や受光回路が1系統化されるのて、大幅な部
品点数の削減と、低コスト化が可能になるという効果が
ある。さらに、発光部からの光を受光部に入射させない
場合における受光出力を打ち消すための位相シフト出力
を発生させ、これを他の光路選択時における受光部の出
力に加算することにより、誘導ノイズによる測定誤差を
防止することができるという効果かある。
また、請求項2記載の発明のように、発光部の発光位相
に対して所定の位相差を有する第2の位相シフト出力を
自動位相シフト回路の出力に加算するように構成すれば
、受光光量が少ない場合でも異常な測定結果が得られる
ことを防止することができる。
に対して所定の位相差を有する第2の位相シフト出力を
自動位相シフト回路の出力に加算するように構成すれば
、受光光量が少ない場合でも異常な測定結果が得られる
ことを防止することができる。
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は同上
の動作波形図、第3図は本発明の他の実施例のブロック
図、第4図は同上の動作波形図、第5図は同上の動作説
明図、第6図は従来例のブロック図、第7図は同上の動
作波形図、第8図は他の従来例のブロック図である。 1は発光部、2は受光部、3は光路切換器、4は位相比
較部、5は距離演算部、23は自動位相シフト回路、2
4は加算回路、25は位相シフト回路、 26は加算回路、 1は光路切換用のミラー である。
の動作波形図、第3図は本発明の他の実施例のブロック
図、第4図は同上の動作波形図、第5図は同上の動作説
明図、第6図は従来例のブロック図、第7図は同上の動
作波形図、第8図は他の従来例のブロック図である。 1は発光部、2は受光部、3は光路切換器、4は位相比
較部、5は距離演算部、23は自動位相シフト回路、2
4は加算回路、25は位相シフト回路、 26は加算回路、 1は光路切換用のミラー である。
Claims (2)
- (1)発光部からの光を反射物体にて反射させて受光部
に入射させる第1の光路と、発光部からの光を受光部に
直接入射させる第2の光路と、発光部からの光を受光部
に入射させない第3の光路とを切り換える光路切換用の
ミラーと、発光部の発光位相と受光部の受光位相との位
相差を求める位相比較部と、第1の光路選択時と第2の
光路選択時における位相比較部の出力差に応じて距離信
号を発生する距離演算部と、第3の光路選択時における
受光出力を打ち消すための位相シフト出力を発生する自
動位相シフト回路と、自動位相シフト回路の出力を受光
部の出力に加算する加算回路とを有することを特徴とす
る光学式変位センサー。 - (2)発光部の発光位相に対して所定の位相差を有する
第2の位相シフト出力を発生する第2の位相シフト回路
と、第2の位相シフト回路の出力を前記自動位相シフト
回路の出力に加算する第2の加算回路とを有することを
特徴とする請求項1記載の光学式変位センサー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2064897A JP2721573B2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | 光学式変位センサー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2064897A JP2721573B2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | 光学式変位センサー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03264886A true JPH03264886A (ja) | 1991-11-26 |
| JP2721573B2 JP2721573B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=13271328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2064897A Expired - Fee Related JP2721573B2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | 光学式変位センサー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2721573B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09236662A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Ushikata Shokai:Kk | 光波距離計 |
| JP2007218807A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | レーザ監視装置 |
| JP2022008461A (ja) * | 2017-07-11 | 2022-01-13 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 投写型映像表示装置 |
-
1990
- 1990-03-15 JP JP2064897A patent/JP2721573B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09236662A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Ushikata Shokai:Kk | 光波距離計 |
| JP2007218807A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | レーザ監視装置 |
| JP2022008461A (ja) * | 2017-07-11 | 2022-01-13 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 投写型映像表示装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2721573B2 (ja) | 1998-03-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| AU719134B2 (en) | Device for calibrating distance-measuring apparatuses | |
| US5534992A (en) | Optical measuring apparatus | |
| US5764360A (en) | Electro-optical measuring device for absolute distances | |
| US20220146675A1 (en) | Locking a self-homodyne mixed beat frequency to an external frequency in a lidar system | |
| KR100473923B1 (ko) | 2개의 레이저 광원을 갖는 엘립소미터 | |
| JPS5838880A (ja) | 光波距離計 | |
| US5493395A (en) | Wavelength variation measuring apparatus | |
| JPH02184788A (ja) | 測距センサー | |
| JP2721575B2 (ja) | 光学式変位センサー | |
| US4952816A (en) | Focus detection system with zero crossing detection for use in optical measuring systems | |
| JPH03264886A (ja) | 光学式変位センサー | |
| US5694204A (en) | Device for optically measuring distance | |
| US5760903A (en) | Light measuring apparatus | |
| JP2000206244A (ja) | 測距装置 | |
| JP2721574B2 (ja) | 光学式変位センサー | |
| JP3256859B2 (ja) | 光波距離計 | |
| JP3874160B2 (ja) | 位置検出装置 | |
| JPH1123710A (ja) | 測距装置 | |
| JP2656835B2 (ja) | 光学式測距装置 | |
| JP4629823B2 (ja) | 光波測距儀 | |
| JP3241857B2 (ja) | 光学式距離計 | |
| JPH08146136A (ja) | 光波測距装置 | |
| JPH01219583A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH0763506A (ja) | 干渉測長器 | |
| JPH0357913A (ja) | 測距センサー |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081121 Year of fee payment: 11 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |