JPH0326769B2 - - Google Patents
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- JPH0326769B2 JPH0326769B2 JP10254883A JP10254883A JPH0326769B2 JP H0326769 B2 JPH0326769 B2 JP H0326769B2 JP 10254883 A JP10254883 A JP 10254883A JP 10254883 A JP10254883 A JP 10254883A JP H0326769 B2 JPH0326769 B2 JP H0326769B2
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
- G01C3/085—Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば自動焦点調節装置付きカメラ
の測距装置として用いられる測距装置に関し、詳
しくは、所定間隔を置いて配置され、測距方向の
像をそれぞれ受光するものであつて複数の受光素
子からなる2個の受光手段を有し、該受光手段の
出力の相関関係から測距対象までの距離を求める
測距装置の改良に関する。
〔従来技術〕
上述のような従来の測距装置として、第1図乃
至第3図に示したようなものは知られている。
第1図は一対の受光素子列上に測距方向の像を
投影する装置部分の構成概要平面図、第2図は一
対の受光素子列の受光素子出力の配列パターンが
最も一致する位相を検出するブロツク回路図、第
3図は受光素子出力の二値化回路図である。
第1図において、測距方向Iの像は、それぞれ
レンズ1,2によつて、一定距離dを隔てて並べ
て設けた一対の受光素子列3,4上に投影され
る。こゝで一定距離dは、測距対象Tが無限遠に
ある場合に、その測距対象Tの像が投影される受
光素子列3,4中の受光素子間の距離である。そ
して、レンズ1,2から距離lにある測距対象T
の像を投影された受光素子と前述の無限遠にある
像を投影される受光素子との距離xが求まると、
l=d×f/xにより距離lが求められる。fは
レンズ1,2が無限遠の像を受光素子列3,4上
に結像する焦点距離である。しかして、距離x
は、第2図の検出回路によつて求められる。
第2図において、3,4は第1図におけると同
様の受光素子列であり、5,6は受光素子列3,
4の出力を所定の論理レベルで二値化する二値化
回路列、7,8はシフトレジスタ、9は一致検出
回路列、10はカウンタ、11は判断制御回路で
ある。受光素子列3,4の各受光素子のアナログ
出力は、それぞれ二値化回路列5,6の各二値化
回路によつて、適宜なスレツシユホールドレベル
で“0”または“1”にデジタル化され、シフト
レジスタ7,8に書き込まれる。そして、シフト
レジスタ7,8の各ビツトの出力は、受光素子列
3,4の無限遠にある像を投影される受光素子同
志およびそれから配列順に対応する受光素子同志
の出力を比較する組合せで、一致検出回路列9に
入力されている。一致検出回路列9の各回路は、
シフトレジスタ7,8からの二つの入力が同じも
のであつたら“1”を出力し、異なれば“0”を
出力する。カウンタ10は、この一致検出回路列
9の出力の“1”をカウントして、その数を判断
制御回路11に出力する。判断制御回路11は、
この数を記憶した後、シフトレジスタ7または8
を1ビツトシフトさせて、再びシフト後のカウン
タ10の出力数を記憶する。さらに判断制御回路
11は、このようなシフトレジスタ7,8のシフ
トとカウンタ10の出力数の記憶とを所定回数繰
返した後、記憶されているカウンタ10の出力数
の中の最大のものを求める。この最大の出力数の
得られた状態が受光素子列3,4の受光素子出力
の配列パターンが最も一致した状態で、この最大
の出力数が得られるまでのシフト回数が第1図で
述べた距離xに相当する。すなわち、このシフト
回数で測距対象Tまでの距離lを求める場合は、
一対の受光素子列3,4間の一定の距離dの代り
に、その距離dを受光素子列3,4の受光素子の
配列ピツチで割つた値を用いればよい。しかし、
自動焦点調節装置の測距装置の場合は、距離lを
一々求める必要はなく、焦点調節レンズを上記シ
フト回数に対応して光軸方向に移動するものとす
れば、焦点調節レンズの光軸方向位置によつて距
離lが求まつたことになる。なお、第2図の上述
の説明からも分るように、二値化回路列5,6の
デジタル出力が書き込まれるレジスタは、両方が
シフトレジスタである必要は無く、少くとも一方
がシフトレジスタであればよい。また、二値化回
路列5,6の各二値化回路には第3図に示したよ
うな回路が用いられる。
第3図において、12は第1図、第2図の受光
素子列3,4の構成受光素子であるフオトダイオ
ード、13,14はスイツチングトランジスタ、
15はコンデンサ、16はインバータ、VDはフ
オトダイオード12の駆動電圧、GおよびCはそ
れぞれスイツチングトランジスタ13,14の作
動信号である。この二値化回路は、スイツチング
トランジスタ13,14がオフしており、フオト
ダイオード12に駆動電圧が印加されて像投影が
行われている状態から、作動信号Cによつて一旦
スイツチングトランジスタ14をオンさせてコン
デンサ15の放電を行つた後、さらに作動信号C
によつてスイツチングトランジスタ14をオフさ
せ、次いで作動信号Gによつてスイツチングトラ
ンジスタ13をオンさせることによりコンデンサ
15の充電を行い、それから一定時間経過後にさ
らに作動信号Gによつてスイツチングトランジス
タ13をオフして、その間に、フオトダイオード
12の受光強度に略比例する電流によつて行われ
たコンデンサ15の充電電圧がインバータ16の
スレツシユホールド電圧以上になつていればイン
バータ16の出力が“1”から“0”に反転し、
充電電圧がスレツシユホールド電圧に達していな
ければインバータ16の出力が“1”のまゝであ
ることによつて、フオトダイオード12の出力を
二値化する。この場合、スイツチングトランジス
タ13をオンしてからオフするまでの時間が長過
ぎると、総べてのコンデンサ15がスレツシユホ
ールド電圧以上に充電されて予うし、反対に短か
過ぎると、総べてのコンデンサ15の充電電圧が
スレツシユホールド電圧に達しないようになつ
て、受光素子列3,4の二値化出力の配列パター
ンは総べての位相において一致することになるか
ら、距離xの情報を得ることができなくなる。し
たがつて、スイツチングトランジスタ13をオン
してからオフするまでの時間は、受光素子列3,
4の受光素子全体の受光量を考慮して設定する必
要があるが、この種の制御は一般に複雑であると
云う欠点がある。
また、上述のような従来の測距装置において
は、受光素子列3または4の一方もしくは両方の
出力に、相対的に差のあるノイズが重畳される
と、そのために誤つた測距情報が得られたり、全
く測距情報を得ることができなくなつたりするこ
とが起ると云う欠点もある。第4図はそのような
場合の例を示している。
第4図のAは、受光素子列3,4の出力にノイ
ズが重畳されないか、あるいは重畳されても相対
的に差のないノイズが重畳された場合の出力配列
パターンを近似的に曲線波形で示したものであ
り、Bは、受光素子列3の出力に相対的に斜線影
を施したように台形にノイズが重畳された場合、
Cは同じく三角形にノイズが重畳された場合を示
している。図の縦軸は、構成受光素子の出力すな
わち、第3図のコンデンサ15の充電電流の強さ
または充電電圧、一点鎖線は、スレツシユホール
ドレベルである。Aの場合は、受光素子列3,4
に一致位相を求められる略同じ受光素子出力の変
換配列パターンが得られるが、B,Cの場合は、
一致位相が求められないか、あるいは誤つた一致
位相が求められるようになる。
以上のような欠点を解消するために、本発明者
らは先に、第4図に見るような受光素子列の出力
配列パターンの代りに、受光素子の出力をその受
光素子列中の出力が最大な受光素子の出力を基準
にして所定の出力差を段階とするランク数に変換
し、変換したランク数配列パターンの一致位相を
求めるようにした測距装置を発明した。その発明
は先に特願昭58−80416号によつて出願されてい
る。それによれば、一対の受光素子列の出力配列
パターンが一方に第4図のB,Cに見るようなノ
イズを重畳したものであつたとしても、変換配列
パターンではノイズが除かれるため、ノイズの影
響を受けないで一致位相の検出がなされると云う
効果が得られる。しかし、この測距装置において
も、受光素子列における各受光素子の出力差が所
定の出力差以下のときは、ランク数が一様に最高
ランク数になつて、一致する位相が検出されない
と云う問題が生ずる。
〔発明の目的〕
本発明は、受光素子列の各受光素子の出力差が
小さい場合にも受光素子間に差のあるランク数配
列パターンに変換されて、正確な一致位相の検出
が行われる測距装置を提供するものである。
〔発明の構成〕
本発明は、複数の受光素子からなる2組の受光
素子列を所定間隔を置いて配置した受光手段と、
前記複数の受光素子のそれぞれに対応して設けら
れ前記受光素子の受光光量が所定値に達したか否
かを比較し所定値に達することにより信号を出力
する複数の比較手段と、該比較手段の出力の少な
くとも一つが前記所定値に達したことを検出する
ことによりピーク信号を検出するピーク検出手段
と、該ピーク検出手段の出力に基づいて所定の時
間間隔で複数のクロツクパルスを発生するパルス
発生手段と、複数のカウンタ手段と、前記パルス
発生手段の出力クロツクパルスに同期して、前記
複数の比較手段の出力を判別しその判別結果を前
記複数のカウンタ手段に計数させる複数のゲート
手段とを有し、前記複数のカウンタ手段のそれぞ
れにて計数された計数値を量子化情報として出力
することによつて、前記受光素子列の一つについ
て出力された量子化情報と前記受光素子列の他の
一つについて出力された量子化情報とを比較しそ
の一致を検出することにより測距対象までの距離
を測定する測距装置において、最初に出力される
クロツクパルスに同期して前記比較手段からの総
ての信号が出力された場合には、前記比較手段及
び前記カウンタ手段をリセツトするリセツト信号
を出力するリセツト手段を設け、前記リセツト信
号に基づいて前記所定の時間間隔で発生するクロ
ツクパルスの時間間隔を1/n(n>1)にし、
再度距離検出を行うことを特徴とする測距装置、
にある。
〔実施例〕
以下、本発明を第5図乃至第7図に示した実施
例に基づいて説明する。
第5図は本発明測距装置の変換回路の一例を示
す回路図、第6図は受光素子列の出力配列パター
ンと変換出力の配列パターンの関係を示すグラ
フ、第7図は検出回路の主要動作フローチヤート
である。
第5図において、121〜123はフオトダイ
オード、131〜133及び141〜143はス
イツチングトランジスタ、151〜153はコン
デンサ、161〜163はインバータ、VDはフ
オトダイオードの駆動電圧、GおよびCはスイツ
チングトランジスタの作動信号であり、これらに
よる構成は、作動信号Cがオアゲート17を介し
てスイツチングトランジスタ141〜143を作
動させる点を除いて、第3図の回路の構成と同じ
である。なお、図には、受光素子列中の3個の受
光素子に対応する回路部分だけを示しているが、
受光素子数に対応した数だけ並列していることは
言うまでもない。そして、Rは作動信号Cがスイ
ツチングトランジスタ141〜143をオンする
と同じタイミングで“0”パルスを1個だけ発生
させるリセツト信号、φは一定または異なる時間
間隔で“0”を次々に発生させるクロツク信号で
ある。
この変換回路は、変換動作の開始に先立つて、
作動信号Cによりスイツチングトランジスタ14
1〜143がオンされてコンデンサ151〜15
3の放電が行われ、それと同時にリセツト信号R
の“0”パルスが、直接シリアルインパラレルア
ウトシフトレジスタ18のR端子に、また、イン
バータ19とノアゲート20を介してフリツプフ
ロツプ21,22とバイナリカウンタ23および
2ビツトバイナリカウンタ24〜26のR端子に
それぞれ入力されて、それらのQ出力の総べてを
“0”にリセツトする。この状態では、シリアル
インパラレルアウトシフトレジスタ18のQ0〜
Q2出力“0”とバイナリカウンタ23のQ0〜Q2
出力“0”とをそれぞれ入力しているオアゲート
27〜29の出力は“0”、しがつてナンドゲー
ト34の出力は“1”、そしてシリアルインパラ
レルアウトシフトレジスタ18のQ0〜Q3出力
“0”とバイナリカウンタ23のQ1〜Q4出力
“0”とをそれぞれ入力しているオアゲート30
〜33の出力も“0”、したがつて、ナンドゲー
ト35の出力も“1”である。また、2ビツトバ
イナリカウンタ24〜26の総べてのQ出力
“0、0”を入力しているアンドゲート36の出
力は“0”であり、さらに、インバータ161〜
163の出力は“1”、それらを入力しているナ
ンドゲート37の出力は“0”、したがつて、フ
リツプフロツプ21の端子に入力するインバー
タ38の出力は“1”で、バイナリカウンタ23
のC端子へのインバータ39とナンドゲート40
を介するクロツク信号φの入力はリセツトされて
いるフリツプフロツプ21のQ出力の“0”によ
つてナンドゲート40により阻止されている。イ
ンバータ161〜163の出力を入力するノアゲ
ート41〜43も、ナンドゲート34の出力
“1”によつて閉ざされて、出力は“0”である。
この状態から、さらにオアゲート17を介する
作動信号Cによつてスイツチングトランジスタ1
41〜143がオフされ、次いで作動信号Gによ
りスイツチングトランジスタ131〜133がオ
ンされて、測距方向の像を投影されているフオト
ダイオード121〜123の出力の充電電流がコ
ンデンサ151〜153に流入するようになる
と、受光素子出力の変換が開始される。
すなわち、コンデンサ151〜153の充電が
行われて、インバータ161〜163の出力の何
れか一つでも“0”に反転すると、ナンドゲート
37の出力が“1”に反転し、したがつてインバ
ータ38の出力が“0”に反転してフリツプフロ
ツプ21をQ出力が“1”にセツトし、クロツク
信号φがインバータ39とナンドゲート40を介
してバイナリカウンタ23のC端子に入力される
ようになる。それによつてバイナリカウンタ23
は、クロツク信号φの“0”パルスを第1表のバ
イナリカウンタ出力表に示すようにカウントし
て、
[Industrial Application Field] The present invention relates to a distance measuring device used, for example, as a distance measuring device for a camera equipped with an automatic focusing device, and more specifically, the present invention relates to a distance measuring device that is arranged at a predetermined interval and receives images in the distance measuring direction. The present invention relates to an improvement in a distance measuring device which has two light receiving means each consisting of a plurality of light receiving elements and which determines the distance to a distance measuring object from the correlation of the outputs of the light receiving means. [Prior Art] As the conventional distance measuring device as described above, those shown in FIGS. 1 to 3 are known. Figure 1 is a schematic plan view of the configuration of the device that projects an image in the ranging direction onto a pair of photodetector arrays, and Figure 2 detects the phase where the arrangement patterns of the photodetector outputs of the pair of photodetector arrays most match. FIG. 3 is a block circuit diagram for digitizing the output of the light receiving element. In FIG. 1, images in the distance measurement direction I are projected by lenses 1 and 2, respectively, onto a pair of light-receiving element arrays 3 and 4 arranged side by side with a certain distance d between them. Here, the constant distance d is the distance between the light-receiving elements in the light-receiving element rows 3 and 4 onto which the image of the distance-measuring object T is projected when the distance-measuring object T is at an infinite distance. Then, a distance measurement target T located at a distance l from lenses 1 and 2
When the distance x between the light-receiving element on which the image of
The distance l is determined by l=d×f/x. f is the focal length at which the lenses 1 and 2 form an infinite image on the light receiving element rows 3 and 4. However, distance x
is determined by the detection circuit shown in FIG. In FIG. 2, 3 and 4 are light-receiving element rows similar to those in FIG. 1, and 5 and 6 are light-receiving element rows 3,
4 is a binarization circuit array that binarizes the output at a predetermined logic level; 7 and 8 are shift registers; 9 is a coincidence detection circuit array; 10 is a counter; and 11 is a judgment control circuit. The analog output of each light-receiving element in the light-receiving element rows 3 and 4 is digitally converted to "0" or "1" at an appropriate threshold level by the respective binarization circuits in the binarization circuit rows 5 and 6. and written into shift registers 7 and 8. The output of each bit of the shift registers 7 and 8 is a combination of comparing the outputs of the light-receiving elements of the light-receiving element rows 3 and 4 onto which images at infinity are projected and the outputs of the corresponding light-receiving elements in the order of arrangement. It is input to the match detection circuit array 9. Each circuit in the match detection circuit array 9 is as follows:
If the two inputs from shift registers 7 and 8 are the same, "1" is output, and if they are different, "0" is output. The counter 10 counts the output "1" from the match detection circuit array 9 and outputs the number to the judgment control circuit 11. The judgment control circuit 11 is
After memorizing this number, shift register 7 or 8
is shifted by 1 bit, and the output number of the counter 10 after the shift is stored again. Furthermore, after repeating the shifting of the shift registers 7 and 8 and the storage of the output number of the counter 10 a predetermined number of times, the judgment control circuit 11 determines the maximum value among the stored output numbers of the counter 10. . The state in which the maximum number of outputs is obtained is the state in which the arrangement patterns of the light receiving element outputs of the light receiving element rows 3 and 4 are the most consistent, and the number of shifts until this maximum number of outputs is obtained is as shown in Figure 1. Corresponds to distance x. In other words, when calculating the distance l to the distance measurement target T using this number of shifts,
Instead of the constant distance d between the pair of light receiving element rows 3 and 4, a value obtained by dividing the distance d by the arrangement pitch of the light receiving elements of the light receiving element rows 3 and 4 may be used. but,
In the case of a distance measuring device of an automatic focusing device, it is not necessary to calculate the distance l one by one.If the focusing lens is moved in the optical axis direction corresponding to the number of shifts mentioned above, the optical axis direction of the focusing lens is This means that the distance l has been found based on the position. Note that, as can be seen from the above explanation in FIG. 2, the registers to which the digital outputs of the binarization circuit arrays 5 and 6 are written need not both be shift registers, but at least one of them must be a shift register. Good to have. Further, a circuit as shown in FIG. 3 is used for each of the binarization circuits in the binarization circuit arrays 5 and 6. In FIG. 3, 12 is a photodiode which is a light-receiving element constituting the light-receiving element rows 3 and 4 in FIGS. 1 and 2; 13 and 14 are switching transistors;
15 is a capacitor, 16 is an inverter, V D is a drive voltage for photodiode 12, and G and C are operating signals for switching transistors 13 and 14, respectively. In this binarization circuit, switching transistors 13 and 14 are turned off and a driving voltage is applied to photodiode 12 to perform image projection, and then switching transistor 14 is temporarily turned off by actuation signal C. After turning on the capacitor 15 and discharging the capacitor 15, the operation signal C is further turned on.
The capacitor 15 is charged by turning off the switching transistor 14 with the activation signal G, then turning on the switching transistor 13 with the activation signal G, and after a certain period of time has passed, the switching transistor 13 is further turned on with the activation signal G. is turned off, and during that time, if the charging voltage of the capacitor 15, which is carried out by a current approximately proportional to the intensity of light received by the photodiode 12, exceeds the threshold voltage of the inverter 16, the output of the inverter 16 becomes " Reversed from “1” to “0”,
If the charging voltage has not reached the threshold voltage, the output of the inverter 16 remains "1", thereby converting the output of the photodiode 12 into a binary value. In this case, if the time from turning on to turning off the switching transistor 13 is too long, all the capacitors 15 will be charged above the threshold voltage; on the other hand, if the time is too short, all the capacitors will be charged Since the charging voltages of all capacitors 15 do not reach the threshold voltage, and the array patterns of the binary outputs of the light receiving element arrays 3 and 4 match in all phases, the distance x information will no longer be available. Therefore, the time from when the switching transistor 13 is turned on to when it is turned off is the same as that of the light receiving element array 3,
It is necessary to set the amount of light received by the entire light receiving element No. 4 in consideration, but this type of control has the disadvantage that it is generally complicated. Furthermore, in the conventional distance measuring device as described above, if relatively different noise is superimposed on the output of one or both of the light receiving element rows 3 or 4, erroneous ranging information may be obtained. There is also the disadvantage that distance measurement information may not be obtained at all. FIG. 4 shows an example of such a case. A in Fig. 4 is a curved waveform that approximates the output array pattern when no noise is superimposed on the outputs of the light-receiving element arrays 3 and 4, or when noise is superimposed with relatively no difference even if superimposed. B shows the case where noise is superimposed on the trapezoid as shown by the relative hatching on the output of the light-receiving element array 3.
Similarly, C shows the case where noise is superimposed on the triangle. The vertical axis of the figure is the output of the constituent light receiving elements, that is, the strength of the charging current or the charging voltage of the capacitor 15 in FIG. 3, and the dashed line is the threshold level. In the case of A, the light receiving element rows 3 and 4
A conversion array pattern of approximately the same light receiving element output can be obtained for which matching phase can be obtained, but in the case of B and C,
Either no coincident phase is determined, or an incorrect coincident phase is determined. In order to eliminate the above-mentioned drawbacks, the present inventors first decided to change the output of the light-receiving elements to the output of the light-receiving element array instead of the output arrangement pattern of the light-receiving element array as shown in FIG. We have invented a distance measuring device that converts the output of the maximum light-receiving element as a reference into a rank number with a predetermined output difference as a step, and determines the matching phase of the converted rank number array pattern. The invention was previously filed in Japanese Patent Application No. 80416/1983. According to this, even if the output array pattern of a pair of light-receiving element arrays has noise superimposed on one side as shown in B and C in Figure 4, the noise is removed by the conversion array pattern, so the noise is reduced. This provides the advantage that matching phases can be detected without being affected. However, even in this distance measuring device, when the output difference between each light receiving element in the light receiving element array is less than a predetermined output difference, the rank number uniformly becomes the highest rank number and a matching phase is not detected. A problem arises. [Object of the Invention] The present invention provides a measurement system that converts even when the output difference between each light receiving element in a light receiving element row is small, into a rank number array pattern with a difference between the light receiving elements, and detects an accurate coincident phase. The present invention provides a range device. [Structure of the Invention] The present invention includes a light receiving means in which two sets of light receiving element rows each including a plurality of light receiving elements are arranged at a predetermined interval;
a plurality of comparison means provided corresponding to each of the plurality of light-receiving elements, which compares whether or not the amount of light received by the light-receiving element reaches a predetermined value, and outputs a signal when the amount of light received by the light-receiving element reaches a predetermined value; and the comparison means peak detecting means for detecting a peak signal by detecting that at least one of the outputs of the peak signal has reached the predetermined value; and a pulse generator for generating a plurality of clock pulses at predetermined time intervals based on the output of the peak detecting means. means, a plurality of counter means, and a plurality of gate means for determining the outputs of the plurality of comparison means in synchronization with the output clock pulses of the pulse generation means and causing the plurality of counter means to count the determination results. By outputting the count values counted by each of the plurality of counter means as quantization information, the quantization information output for one of the light receiving element arrays and the other light receiving element arrays are combined. In a distance measuring device that measures the distance to a target by comparing the quantized information outputted for one and detecting a match, the total output from the comparing means is synchronized with the first output clock pulse. A reset means is provided for outputting a reset signal for resetting the comparison means and the counter means when the same signal is output, and the time interval of the clock pulses generated at the predetermined time interval is adjusted based on the reset signal. 1/n (n>1),
A distance measuring device characterized by performing distance detection again;
It is in. [Example] The present invention will be described below based on the example shown in FIGS. 5 to 7. Fig. 5 is a circuit diagram showing an example of the conversion circuit of the distance measuring device of the present invention, Fig. 6 is a graph showing the relationship between the output arrangement pattern of the light receiving element array and the arrangement pattern of the conversion output, and Fig. 7 is the main part of the detection circuit. This is an operation flowchart. In FIG. 5, 121 to 123 are photodiodes, 131 to 133 and 141 to 143 are switching transistors, 151 to 153 are capacitors, 161 to 163 are inverters, V D is the drive voltage of the photodiodes, and G and C are switches. The configuration thereof is the same as that of the circuit shown in FIG. 3, except that the activation signal C operates the switching transistors 141 to 143 via the OR gate 17. Note that although the figure only shows the circuit portions corresponding to the three light receiving elements in the light receiving element array,
Needless to say, the number of light-receiving elements is parallel to each other. R is a reset signal that generates only one "0" pulse at the same timing when the operating signal C turns on the switching transistors 141 to 143, and φ is a clock that generates "0" one after another at fixed or different time intervals. It's a signal. This conversion circuit, prior to starting the conversion operation,
The switching transistor 14 is activated by the activation signal C.
1 to 143 are turned on and capacitors 151 to 15
3 discharge is performed, and at the same time, the reset signal R
The "0" pulse is directly applied to the R terminal of the serial-in-parallel out shift register 18, and via the inverter 19 and the NOR gate 20 to the R terminals of the flip-flops 21, 22, the binary counter 23, and the 2-bit binary counters 24-26. each input and resets all of their Q outputs to "0". In this state, Q 0 ~
Q 2 output “0” and binary counter 23 Q 0 ~ Q 2
The outputs of the OR gates 27 to 29 which respectively input the output "0" are "0", the output of the NAND gate 34 is "1", and the Q0 to Q3 outputs of the serial-in-parallel out shift register 18 are " 0 ". 0” and the Q 1 to Q 4 outputs “0” of the binary counter 23 are respectively input to the OR gate 30.
The output of .about.33 is also "0", therefore the output of NAND gate 35 is also "1". Furthermore, the output of the AND gate 36 inputting all the Q outputs "0, 0" of the 2-bit binary counters 24 to 26 is "0", and the output of the AND gate 36 is "0".
The output of the inverter 38 which is input to the terminal of the flip-flop 21 is "1", and the output of the NAND gate 37 inputting them is "1".
Inverter 39 and NAND gate 40 to C terminal of
The input of the clock signal φ via the NAND gate 40 is blocked by the "0" of the Q output of the flip-flop 21, which has been reset. The NOR gates 41-43 which input the outputs of the inverters 161-163 are also closed by the output "1" of the NAND gate 34, and the output is "0". From this state, the switching transistor 1 is further activated by the activation signal C via the OR gate 17.
41 to 143 are turned off, and then the switching transistors 131 to 133 are turned on by the operating signal G, and the charging current of the output of the photodiodes 121 to 123, which are projecting images in the distance measurement direction, flows into the capacitors 151 to 153. When this happens, conversion of the light receiving element output begins. That is, when capacitors 151 to 153 are charged and any one of the outputs of inverters 161 to 163 is inverted to "0", the output of NAND gate 37 is inverted to "1", and therefore the output of inverter 38 is inverted to "1". The output is inverted to "0", the Q output of the flip-flop 21 is set to "1", and the clock signal φ is inputted to the C terminal of the binary counter 23 via the inverter 39 and the NAND gate 40. Thereby the binary counter 23
counts the “0” pulses of the clock signal φ as shown in the binary counter output table in Table 1,
【表】【table】
【表】
Q0〜Q2出力が総べて“1”になつたときにナン
ドゲート34の出力を“0”に反転し、さらに
Q1〜Q4出力が総べて“1”になつたときにナン
ドゲート35の出力を“0”に反転する。それま
での間はフリツプフロツプ22のQ出力は“0”
であり、その間ナンドゲート34の出力は3回
“0”になる。したがつて、その3回のナンドゲ
ート34の出力が“0”になつたときに、インバ
ータ161〜163の出力が“1”から“0”に
反転していると、その都度ノアゲート41〜43
は2ビツトバイナリカウンタ24〜26に“1”
の立上りパルスを出力する。それによつて2ビツ
トバイナリカウンタ24〜26は最大数3までの
立上りパルス数をカウントする。もしも、インバ
ータ161〜163のいずれかの出力が“0”に
反転してからバイナリカウンタ23にクロツク信
号φの7パルスが入力されるまでの間に、総べて
のインバータ161〜163の出力が“0”に反
転していたとすると、2ビツトバイナリカウンタ
24〜26のカウント数は総べて3、すなわち、
Q出力が“1、1”となる。その場合には、受光
素子出力の変換出力パターンがフラツトになつ
て、一致位相が検出されないか、(後述する第6
図Bの変換出力パターンが得られた場合)あるい
は誤つた一致位相が検出されるようになる。それ
に対して、残りのどれかのインバータ161〜1
63の出力がクロツク信号φの7パルスまでの間
に“0”に反転せず、8パルスから15パルスまで
の間に“0”に反転したときは、それに対する2
ビツトバイナリカウンタ24〜26は2すなわち
“1、0”を出力し、まだ反転せずに、16パルス
から23パルスまでに反転したときは、それに対す
る2ビツトバイナリカウンタ24〜26は1すな
わち“0、1”を出力し、それでもなお反転しな
いいずれかのインバータ161〜163に対する
2ビツトバイナリカウンタ24〜26の出力は
“0、0”のまゝであり、バイナリカウンタ23
が30パルスをカウントしてQ1〜Q4出力が総べて
“1”となり、ナンドゲート35の出力が“0”
に反転してフリツプフロツプ22のQ出力を
“1”にセツトすることによつて、ノアゲート4
1〜43は閉鎖され、2ビツトバイナリカウンタ
24〜26のカウント数は固定される。このよう
に、2ビツトバイナリカウンタ24〜26の出力
が全部は3すなわち“1、1”にならなかつた場
合は、変換出力パターンに凹凸があるから、受光
素子列間の一致位相は有効に求められることにな
る。これは、第6図Cの変換出力パターンが得ら
れた場合、したがつて後述する第7図のフローチ
ヤートの「変換値が全部最高値か?」の判別が
「No」になつた場合で、この場合には、第7図の
フローチヤートに示したように、先に述べた第1
図乃至第3図の従来の測距装置におけると同様
に、一致位相検出が行われ、その結果得られた距
離情報の出力と表示が行われる。
また、前述のように、一致位相が有効に検出さ
れない、総べての2ビツトバイナリカウンタ24
〜26のカウントが“1、1”になつた場合は、
それによつて下記のように再度距離検出が行われ
ることになる。すなわち、アンドゲート36の出
力が“1”に反転し、その出力がスイツチングト
ランジスタ141〜143をオンしてコンデンサ
151〜153を放電させると共に、ノアゲート
20を介してフリツプフロツプ21,22とバイ
ナリカウンタ23および2ビツトバイナリカウン
タ24〜26をリセツトし、さらにシリアルイン
パラレルアウトシフトレジスタ18のQ0出力を
“1”に反転する。2ビツトバイナリカウンタ2
4〜26がリセツトされると、アンドゲート36
の出力は再び“0”に戻り、それによつてスイツ
チングトランジスタ1141〜143はオフさ
れ、コンデンサ151〜153には再び充電が行
われる。そして再びインバータ161〜163の
いずれかの出力が“0”に反転すると、フリツプ
フロツプ21はQ出力が“1”にセツトされて、
バイナリカウンタ23は再び改めてクロツク信号
φの“0”パルスのカウントを始める。しかし、
今回は、シリアルインパラレルアウトシフトレジ
スタ18のQ0出力が“1”になつているので、
それを入力しているオアゲート29,33の出力
は最初から“1”であり、したがつて、バイナリ
カウンタ23のQ0,Q1出力が共に“1”になつ
たときにナンドゲート34の出力が“0”に反転
し、また、Q1〜Q3C出力が総べて“1”になつた
ときにナンドゲート35の出力が“0”に反転し
て2ビツトバイナリカウンタ24〜26のカウン
ト数を固定する。すなわち、ノアゲート41〜4
3が開かれるのはバイナリカウンタ23が3パル
スと7パルスと11パルスをカウントしたときであ
り、2ビツトバイナリカウンタ24〜25のカウ
ント数が固定されるのは14パルスをカウントした
ときであるから、前回が8パルスの時間間隔で受
光素子出力を3乃至0にランク付け変換したのに
対し、今回は4パルスの時間間隔で受光素子出力
を同じく3乃至0にランク付け変換することにな
る。したがつて今回は、前回よりも受光素子間の
出力差が少なくても、2以下にランク付けされる
ものが出易くなる。
これでもなお、2ビツトバイナリカウンタ24
〜26の出力が総べて3すなわち“1、1”にな
つた場合は、再びアンドゲート36の出力が
“1”となつて、シリアルインパラレルアウトレ
ジスタ18のQ1出力も“1”にすると共に、コ
ンデンサ151〜153を一旦放電し、フリツプ
フロツプ21,22とバイナリカウンタ23およ
び2ビツトバイナリカウンタ24〜26をリセツ
トして、受光素子出力の変換をやり直しする。そ
して今度は、シリアルインパラレルアウトシフト
レジスタ18のQ0,Q1出力が“1”になつてい
るから、バイナリカウンタ23のQ0出力が“1”
になつたときにノアゲート41〜43が開かれ、
バイナリカウンタ23のQ1,Q2出力が共に“1”
になつたときに2ビツトバイナリカウンタ24〜
26のカウント数が固定される。すなわち、ノア
ゲート41〜43の開かれるのはバイナリカウン
タ23が1パルスと3パルスと5パルスをカウン
トしたときであり、2ビツトバイナリカウンタ2
4〜25のカウント数が固定されるのはバイナリ
カウンタ23が6パルスをカウントしたときであ
る。したがつて今度は2パルスの時間間隔で受光
素子出力を3乃至0にランク付け変換するから、
一層受光素子出力の2以下にランク付けされるも
のが出易くなり、実際上変換出力パターンが総べ
ての3フラツトになると云うことが防止される。
以上のようにして変換された変換出力の配列パ
ターンの受光素子の出力配列パターンの関係は第
6図に示したようになり、第6図のAは受光素子
の出力配列パターンの例を示し、Bは受光素子の
出力が例えばクロツク信号φの8パルス間隔でラ
ンク付けされたときの変換出力の配列パターン
を、またCは4パルス間隔でランク付けされたと
きの変換出力の配列パターンを示している。
第5図の変換回路によれば、実際上殆んどの場
合において、第6図のCに示したような変換出力
の配列パターンが得られるから、この変換出力の
配列パターンを第2図のシフトレジスタ7,8に
相当するシフトレジスタに入力して、第2図の検
出回路におけると同様に、両受光素子列の変換出
力配列パターンが一致する位相差を求めれば、正
確な測距が行われることになる。この場合、シフ
トレジスタが2ビツトバイナリカウンタ24〜2
6等の出力を直接入力するものであるときは、シ
フトレジスタ及び一致検出回路列の数は第2図の
倍となり、カウンタは2個の一致検出回路列の出
力が共に“1”になつたとき“1”を出力するア
ンド回路列の出力をカウントすることになる。そ
の前に、判断制御回路は、第5図のフリツプフロ
ツプ22がセツトされたことにより、すなわち、
ナンドゲート35の出力が“1”から“0”に反
転したことによつて、2ビツトバイナリカウンタ
24〜26等の出力をシフトレジスタに入力す
る。それによつて上述の一致位相の検出が行われ
る。また、判断制御回路は、アンド回路36の
“1”への反転数が所定回数に達したときは、一
致位相を検出し得る変換出力パターンが得られな
いとして、測距不能表示を行う。
以上述べた第5図の変換回路を含む検出回路の
主要動作を第7図に示しており、第7図のδ=
1EVは、例えば第5図の説明におけるクロツク信
号φの8パルスの時間間隔を受光素子の受光強度
差の1EVに相当させた場合を示している。また、
n値化変換は、第5図の4ランク変換に限らず、
2以上の任意のnランク変化でよいことを示して
いる。すなわち、変換値が全部最高値の平坦な変
換パターンが得られて距離検出ができないとき
は、スライスレベルを1/8EVになるまでは順次
1/2に細かくしてn値化変換がやり直され、そ
して平坦でないパターンが得られたら一致位相検
出が行われて距離情報の出力と表示とが行われ
る。そして、スライスレベルδは、いくらでも細
かくできるが、実際上(1/8)EVより細かくする
ことは無意味となるので、(1/8)EVでも変換値
が全部最高値となつたときは測距不能としてい
る。
〔発明の効果〕
以上述べたところから明らかなように、本発明
によれば、受光素子の出力を受光素子列中の最高
出力受光素子の出力を基準にランク付け変換した
変換出力の配列パターンで一致位相の検出が行わ
れるから、受光素子の出力に受光素子列間の相対
的な差のあるノイズが重畳されていても、そのよ
うなノイズの影響が排除されると云う効果が得ら
れるばかりでなく、変換出力の配列パターンが一
致位相の検出ができる形で得られて、測距不能や
誤つた測距が行われることが大幅に減少すると云
う優れた効果が得られる。[Table] When all Q 0 to Q 2 outputs become “1”, the output of NAND gate 34 is inverted to “0”, and then
When the outputs of Q1 to Q4 all become "1", the output of the NAND gate 35 is inverted to "0". Until then, the Q output of flip-flop 22 is “0”
During this period, the output of the NAND gate 34 becomes "0" three times. Therefore, if the output of the inverters 161-163 is inverted from "1" to "0" when the output of the NAND gate 34 becomes "0" three times, the output of the NAND gate 41-43 becomes "0" each time.
is “1” in the 2-bit binary counters 24 to 26.
Outputs a rising pulse. The 2-bit binary counters 24-26 thereby count the number of rising pulses up to a maximum of three. If the outputs of all inverters 161-163 are inverted between the time the output of any one of the inverters 161-163 is inverted to "0" and the time 7 pulses of the clock signal φ are input to the binary counter 23, the outputs of all inverters 161-163 are If it is inverted to “0”, the total count number of the 2-bit binary counters 24 to 26 is 3, that is,
Q output becomes "1, 1". In that case, the converted output pattern of the light-receiving element output becomes flat and a matching phase is not detected (see the sixth section described below).
(If the converted output pattern shown in Figure B is obtained) or an erroneous coincident phase will be detected. On the other hand, any of the remaining inverters 161 to 1
If the output of the clock signal φ does not invert to "0" within the 7th pulse of the clock signal φ, but inverts to "0" between the 8th pulse and the 15th pulse, the output of the clock signal φ
The bit binary counters 24 to 26 output 2, that is, "1, 0", and when the pulse is inverted from the 16th pulse to the 23rd pulse without being inverted yet, the corresponding 2-bit binary counters 24 to 26 output 1, that is, "0". .
counts 30 pulses, all Q 1 to Q 4 outputs become “1”, and the output of NAND gate 35 becomes “0”
By inverting the Q output of the flip-flop 22 to "1", the NOR gate 4
1-43 are closed, and the count numbers of 2-bit binary counters 24-26 are fixed. In this way, if the outputs of the 2-bit binary counters 24 to 26 do not all become 3, that is, "1, 1", there are irregularities in the conversion output pattern, so it is difficult to effectively determine the coincident phase between the photodetector arrays. It will be done. This is the case when the conversion output pattern shown in Figure 6C is obtained, and therefore the determination of ``Are all the converted values the highest values?'' in the flowchart of Figure 7, which will be described later, becomes ``No''. , in this case, as shown in the flowchart of FIG.
As in the conventional distance measuring apparatus shown in FIGS. 3 to 3, coincident phase detection is performed, and the distance information obtained as a result is output and displayed. Also, as mentioned above, all 2-bit binary counters 24 in which matching phases are not effectively detected.
~ If the count of 26 becomes “1, 1”,
As a result, distance detection will be performed again as described below. That is, the output of the AND gate 36 is inverted to "1", and the output turns on the switching transistors 141 to 143 to discharge the capacitors 151 to 153, and also connects the flip-flops 21 and 22 and the binary counter 23 via the NOR gate 20. Then, the 2-bit binary counters 24 to 26 are reset, and the Q0 output of the serial-in-parallel out shift register 18 is inverted to "1". 2-bit binary counter 2
When 4 to 26 are reset, AND gate 36
The output returns to "0" again, thereby turning off the switching transistors 1141-143 and charging the capacitors 151-153 again. Then, when the output of any one of the inverters 161 to 163 is inverted to "0" again, the Q output of the flip-flop 21 is set to "1".
The binary counter 23 starts counting the "0" pulses of the clock signal φ again. but,
This time, the Q 0 output of the serial-in-parallel out shift register 18 is “1”, so
The outputs of the OR gates 29 and 33 inputting it are "1" from the beginning, so when the Q 0 and Q 1 outputs of the binary counter 23 both become "1", the output of the NAND gate 34 becomes "1". When the output of the NAND gate 35 is inverted to "0" and all the outputs of Q1 to Q3C become "1", the output of the NAND gate 35 is inverted to "0" and the count number of the 2-bit binary counters 24 to 26 is to be fixed. That is, Noah Gate 41-4
3 is opened when the binary counter 23 counts 3 pulses, 7 pulses, and 11 pulses, and the count number of the 2-bit binary counters 24 to 25 is fixed when 14 pulses are counted. In contrast to the last time when the light receiving element output was ranked and converted from 3 to 0 at a time interval of 8 pulses, this time the light receiving element output is similarly ranked from 3 to 0 at a time interval of 4 pulses. Therefore, this time, even if the output difference between the light-receiving elements is smaller than last time, it is more likely that some light-receiving elements will be ranked 2 or lower. Even with this, the 2-bit binary counter 24
When all the outputs of ~26 become 3, that is, "1, 1", the output of the AND gate 36 becomes "1" again, and the Q1 output of the serial in parallel out register 18 also becomes "1". At the same time, the capacitors 151 to 153 are once discharged, the flip-flops 21 and 22, the binary counter 23 and the 2-bit binary counters 24 to 26 are reset, and the conversion of the light receiving element output is redone. And this time, since the Q 0 and Q 1 outputs of the serial-in-parallel out shift register 18 are “1”, the Q 0 output of the binary counter 23 is “1”.
Noah Gates 41-43 were opened when
Both Q 1 and Q 2 outputs of binary counter 23 are “1”
2-bit binary counter 24~
A count number of 26 is fixed. That is, the NOR gates 41 to 43 are opened when the binary counter 23 counts 1 pulse, 3 pulses, and 5 pulses, and the 2-bit binary counter 2
The count number of 4 to 25 is fixed when the binary counter 23 counts 6 pulses. Therefore, since the light receiving element output is ranked and converted from 3 to 0 at the time interval of 2 pulses,
It becomes easier for light receiving element outputs to be ranked 2 or lower, and it is possible to prevent the conversion output pattern from becoming 3 flat in all cases. The relationship between the array pattern of the converted outputs converted as described above and the output array pattern of the light receiving elements is as shown in FIG. 6, and A in FIG. 6 shows an example of the output array pattern of the light receiving elements. B shows the array pattern of conversion outputs when the outputs of the light-receiving elements are ranked, for example, at 8-pulse intervals of the clock signal φ, and C shows the array pattern of conversion outputs when they are ranked at 4-pulse intervals. There is. According to the conversion circuit shown in FIG. 5, the array pattern of conversion outputs shown in C in FIG. 6 can be obtained in practically most cases. Accurate distance measurement can be performed by inputting the phase difference into the shift registers corresponding to registers 7 and 8 and finding the phase difference where the converted output array patterns of both light-receiving element arrays match, as in the detection circuit shown in Fig. 2. It turns out. In this case, the shift register is a 2-bit binary counter 24-2.
When the output of 6 etc. is input directly, the number of shift registers and coincidence detection circuit arrays is doubled as shown in Fig. 2, and the counter outputs of two coincidence detection circuit arrays are both "1". Then, the output of the AND circuit string that outputs "1" is counted. Before that, the decision control circuit is activated by setting the flip-flop 22 of FIG.
Since the output of the NAND gate 35 is inverted from "1" to "0", the outputs of the 2-bit binary counters 24-26, etc. are input to the shift register. Thereby, the above-mentioned matching phase detection is performed. Further, when the number of inversions of the AND circuit 36 to "1" reaches a predetermined number of times, the determination control circuit determines that a converted output pattern from which a matching phase can be detected cannot be obtained, and displays a display indicating that distance measurement is not possible. The main operations of the detection circuit including the conversion circuit shown in FIG. 5 described above are shown in FIG. 7, and δ=
1EV indicates, for example, the case where the time interval of 8 pulses of the clock signal φ in the explanation of FIG. 5 corresponds to 1EV of the difference in intensity of light received by the light receiving element. Also,
The n-value conversion is not limited to the 4-rank conversion shown in FIG.
This indicates that any n-rank change of 2 or more is sufficient. In other words, if a flat conversion pattern with all the conversion values being the highest values is obtained and distance detection is not possible, the slice level is successively reduced to 1/2 until it becomes 1/8 EV and the n-value conversion is redone. If a non-flat pattern is obtained, matching phase detection is performed and distance information is output and displayed. The slice level δ can be made as fine as you like, but in reality it is meaningless to make it finer than (1/8) EV, so even if (1/8) EV is used, when all the converted values reach the maximum value, the measurement It is said that it is impossible to reach. [Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, the outputs of the light receiving elements are ranked and converted based on the output of the highest output light receiving element in the light receiving element array, and the converted output array pattern is used. Since matching phases are detected, even if noise with a relative difference between the photodetector arrays is superimposed on the output of the photodetector, the effect of eliminating the influence of such noise can be obtained. Instead, an excellent effect can be obtained in that the array pattern of the converted output is obtained in a form in which matching phases can be detected, and the occurrence of inability to measure distance or incorrect distance measurement is greatly reduced.
第1図は一対の受光素子列上に測距方向の像を
投影する装置部分の構成概要平面図、第2図は一
対の受光素子列の受光素子出力の配列パターンが
最も一致する位相を検出するブロツク回路図、第
3図は受光素子出力の二値化回路図、第4図は受
光素子列の出力にノイズが重畳された例を示す出
力グラフ、第5図は本発明測距装置の変換回路の
一例を示す回路図、第6図は受光素子列の出力配
列パターンと変換出力の配列パターンの関係を示
すグラフ、第7図は検出回路の主要動作フローチ
ヤートである。
1,2……レンズ、3,4……受光素子列、
5,6……二値化回路列、7,8……シフトレジ
スタ、9……一致検出回路列、10……カウン
タ、11……判断制御回路、12,121〜12
3……フオトダイオード、13,131〜13
3,14,141〜143……スイツチングトラ
ンジスタ、15,151〜153……コンデン
サ、16,161〜163……インバータ、1
7,27,33……オアゲート、18……シリア
ルインパラレルアウトシフトレジスタ、19,3
8,39……インバータ、20,41〜43……
ノアゲート、21,22……フリツプフロツプ、
23……バイナリカウンタ、24〜26……2ビ
ツトバイナリカウンタ、34,35,37,40
……ナンドゲート、36……アンドゲート、C,
G……作動信号、R……リセツト信号、φ……ク
ロツク信号、VD……駆動電圧。
Figure 1 is a schematic plan view of the configuration of the device that projects an image in the ranging direction onto a pair of photodetector arrays, and Figure 2 detects the phase where the arrangement patterns of the photodetector outputs of the pair of photodetector arrays most match. 3 is a block circuit diagram of the light receiving element output, FIG. 4 is an output graph showing an example in which noise is superimposed on the output of the light receiving element array, and FIG. 5 is a diagram of the distance measuring device of the present invention. FIG. 6 is a circuit diagram showing an example of the conversion circuit, FIG. 6 is a graph showing the relationship between the output arrangement pattern of the light receiving element array and the arrangement pattern of the conversion output, and FIG. 7 is a flowchart of the main operations of the detection circuit. 1, 2... Lens, 3, 4... Light receiving element array,
5, 6... Binarization circuit array, 7, 8... Shift register, 9... Coincidence detection circuit array, 10... Counter, 11... Judgment control circuit, 12, 121-12
3...Photodiode, 13,131-13
3,14,141-143...Switching transistor, 15,151-153...Capacitor, 16,161-163...Inverter, 1
7,27,33...OR gate, 18...Serial in parallel out shift register, 19,3
8, 39... Inverter, 20, 41-43...
Noah Gate, 21, 22...Flip Flop,
23...Binary counter, 24-26...2-bit binary counter, 34, 35, 37, 40
...Nand Gate, 36...And Gate, C,
G...operation signal, R...reset signal, φ...clock signal, VD ...drive voltage.
Claims (1)
所定間隔を置いて配置した受光手段と、前記複数
の受光素子のそれぞれに対応して設けられ前記受
光素子の受光光量が所定値に達したか否かを比較
し所定値に達することにより信号を出力する複数
の比較手段と、該比較手段の出力の少なくとも一
つが前記所定値に達したことを検出することによ
りピーク信号を検出するピーク検出手段と、該ピ
ーク検出手段の出力に基づいて所定の時間間隔で
複数のクロツクパルスを発生するパルス発生手段
と、複数のカウンタ手段と、前記パルス発生手段
の出力クロツクパルスに同期して、前記複数の比
較手段の出力を判別しその判別結果を前記複数の
カウンタ手段に計数させる複数のゲート手段とを
有し、前記複数のカウンタ手段のそれぞれにて計
数された計数値を量子化情報として出力すること
によつて、前記受光素子列の一つについて出力さ
れた量子化情報と前記受光素子列の他の一つにつ
いて出力された量子化情報とを比較しその一致を
検出することにより測距対象までの距離を測定す
る測距装置において、最初に出力されるクロツク
パルスに同期して前記比較手段からの総ての信号
が出力された場合には、前記比較手段及び前記カ
ウンタ手段をリセツトするリセツト信号を出力す
るリセツト手段を設け、前記リセツト信号に基づ
いて前記所定の時間間隔で発生するクロツクパル
スの時間間隔を1/n(n>1)にし、再度距離
検出を行うことを特徴とする測距装置。 2 最大受光強度を示す量子化レベルを示す出力
の数をカウントする手段と量子化レベルを変化さ
せる量子化レベル設定手段とを有し、異る量子化
レベルについて、前記カウント手段によるカウン
トを行うようにした特許請求の範囲第1項記載の
測距装置。[Scope of Claims] 1. A light receiving means in which two sets of light receiving element rows each consisting of a plurality of light receiving elements are arranged at a predetermined interval, and a light receiving means provided corresponding to each of the plurality of light receiving elements, and an amount of light received by the light receiving element. a plurality of comparing means for comparing whether or not has reached a predetermined value and outputting a signal when the predetermined value is reached; A peak detection means for detecting a signal, a pulse generation means for generating a plurality of clock pulses at predetermined time intervals based on the output of the peak detection means, a plurality of counter means, and a clock pulse synchronized with the output clock pulse of the pulse generation means. and a plurality of gate means for discriminating the outputs of the plurality of comparison means and causing the plurality of counter means to count the discrimination results, and quantizing the count value counted by each of the plurality of counter means. By outputting the information as information, comparing the quantization information output for one of the light receiving element arrays with the quantization information output for the other one of the light receiving element arrays and detecting a match. In a distance measuring device that measures the distance to a distance measurement target, when all the signals from the comparison means are output in synchronization with the first output clock pulse, the comparison means and the counter means are The apparatus is characterized in that a reset means is provided for outputting a reset signal, and based on the reset signal, the time interval of the clock pulses generated at the predetermined time interval is set to 1/n (n>1), and distance detection is performed again. distance measuring device. 2. It has a means for counting the number of outputs indicating a quantization level indicating the maximum received light intensity and a quantization level setting means for changing the quantization level, and the counting means is configured to perform counting for different quantization levels. A distance measuring device according to claim 1.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10254883A JPS59228107A (en) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | Distance measuring device |
| GB08411225A GB2142496B (en) | 1983-05-09 | 1984-05-02 | Range finder |
| DE19843417193 DE3417193A1 (en) | 1983-05-09 | 1984-05-09 | Rangefinder |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10254883A JPS59228107A (en) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | Distance measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59228107A JPS59228107A (en) | 1984-12-21 |
| JPH0326769B2 true JPH0326769B2 (en) | 1991-04-11 |
Family
ID=14330294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10254883A Granted JPS59228107A (en) | 1983-05-09 | 1983-06-10 | Distance measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59228107A (en) |
-
1983
- 1983-06-10 JP JP10254883A patent/JPS59228107A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59228107A (en) | 1984-12-21 |
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