JPH0327064B2 - - Google Patents
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- JPH0327064B2 JPH0327064B2 JP59237750A JP23775084A JPH0327064B2 JP H0327064 B2 JPH0327064 B2 JP H0327064B2 JP 59237750 A JP59237750 A JP 59237750A JP 23775084 A JP23775084 A JP 23775084A JP H0327064 B2 JPH0327064 B2 JP H0327064B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solenoid valve
- bag
- heat sink
- gas
- water surface
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
産業上の利用分野
この発明は、JIS K2301−1980「燃料ガスおよ
び天然ガスの分析試験方法」等に制定されている
流出法による精密ガス比重測定装置に関する。 従来の技術 流出法による簡便な精密ガス比重測定法として
は、ブンゼン−シリング法が多用されているが、
(a)流出時間測定誤差、(b)オリフイス小孔径に依存
する誤差、(c)水蒸気による誤差、(d)試料ガスの温
度による誤差のために測定精度は2%が限界とさ
れている。 これ等の(a)(b)(c)(d)に係る誤差の原因となる各要
因を取り除き、±0.5%の高い精度で水素からブタ
ンまでのガスの比重の測定ができる流出法による
精密ガス比重測定装置は、特公昭59−13694号公
報(特願昭51−72821)に開示されている。 この特公昭59−13694号公報に記載された従来
の流出法による精密ガス比重測定装置は第1図に
示すように、 (イ) 最初の電磁弁2または4を経て気体を導入で
きる膨調自在な流体不透過性の袋7と、 (ロ) この袋から他の電磁弁5を経て気体を排出で
きるJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部に水9を入れ、一方の脚部に前記袋7
を納めたほぼ同径のU字型外胴8と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部の水面から順
次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前記袋
7内への気体の導入排出に伴なう前記水面の上
昇、下降の際にこの水面に接するように配置し
た第1の制御電極13、第1および第2の測定
用電極11,12、並びに第2の制御電極10
と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
11,12を通過して下降するときに、その通
過時間間隔を測定するようにこれら測定用電極
11,12に結合したカウンター18と、 (ヘ) このカウンター18の測定値を演算表示する
ように、このカウンターに結合した演算表示装
置19,20と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前
記最切の電磁弁2または4を開くが、前記水面
が上昇して前記第2の制御電極10に達すると
きは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置21と、 を備えている。 この流出法による精密ガス比重測定装置によれ
ば、 (a′) 測定用電極11,12とカウンター18と
により電子的に時間を測定することによつて流
出時間測定誤差をさけることができ、 (b′) 測定電極からできるだけ隔てた位置に流出
時間測定用電極11,12を配置することによ
りオリフイス小孔径に依存する誤差をさけるこ
とができ、 (c′) 測定ガスと水との接触を流体不透過性の袋
7により断つことによつて水蒸気による誤差を
さけることができ、 (d′) 流体不透過性の袋7内の測定ガスを滞留時
間を長くするか、又は恒温装置3を使用するこ
とにより測定ガスの温度による誤差をさけるこ
とができ、 この結果、少くとも前記(a′)(b′)(c′)に係
る3つの誤差をさけることによつて±0.5%の高
い精度で水素からブタンまでのガスの比重を測定
することができた。 発明が解決しようとする問題点 前記従来の流出法による精密ガス比重測定装置
においては、環境温度の変化によつてオリフイス
プレート6の物理的特性が変化し、そのためにガ
スの流出時間が変動し、測定誤差の生ずるのを避
けることができなかつた。 従つてこの発明〔特許請求の範囲第1項に記載
された〕の技術的課題は、環境温度の変化による
オリフイスプレート6の物理的特性の変化を避け
ることである。 又前記従来の流出法による精密ガス比重測定装
置においては、試料ガス中のH2等の成分が袋7
を透過し、U字型外胴8の脚部22の上端部内に
たい積し、そのために水頭圧力が上昇することに
より、測定誤差の生ずるのを避けることができな
かつた。 従つてこの発明〔特許請求の範囲第2項に記載
された〕の技術的課題は、U字型外胴8内に試料
ガス中の特定の成分のたい積するのを避けること
である。 問題を解決するための手段 前記技術的課題を解決するために、この発明
〔特許請求の範囲第1項に記載された〕は第2図
及び第3図に示すように、 (イ) 最初の電磁弁2または4を経て気体を導入で
きる膨張自在な流体不透過性の袋7と、 (ロ) この袋から他の電磁弁5を経て気体を排出で
きるJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部22,23に水9を入れ、一方の脚部
22に前記袋7を納めたほぼ同径のU字型外胴
8と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部23の水面か
ら順次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前
記袋7内への気体の導入排出に伴なう前記水面
の上昇、下降の際にこの水面に接するように配
置した第1の制御電極13、第1および第2の
測定用電極11,12並びに第2の制御電極1
0と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
11,12を通過して下降するときに、その通
過時間間隔を測定するようにこれら測定用電極
11,12に結合したカウンター18と、 (ヘ) このカウンター18の測定値を演算表示する
ように、このカウンターに結合した演算表示装
置19,20と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前
記最切の電磁弁2または4を開くが、前記水面
が上昇して前記第2の制御電極10に達すると
きは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置21と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置に
おいて、 前記オリフイスを設けたオリフイスプレート6
を、ヒートシンク26に、前記オリフイスと前記
ヒートシンクの貫通穴27とを連通状態にして埋
め込み、 前記ヒートシンクを加熱する発熱体28を設
け、 前記ヒートシンクの温度を一定に保つように、
前記ヒートシンクの温度を検出して前記発熱体へ
の電流の供給を制御する制御手段29,30,3
1,32,33を設けたものである。 又前記技術的課題を解決するために、この発明
〔特許請求の範囲第2項に記載された〕は、第2
図及び第4図に示すように、 (イ) 最初の電磁弁2または4を経て気体を導入で
きる膨張自在な流体不透過性の袋7と、 (ロ) この袋から他の電磁弁5を経て気体を排出で
きるJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部22,23に水9を入れ、一方の脚部
22に前記袋7を納めたほぼ同径のU字型外胴
8と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部23の水面か
ら順次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前
記袋7内への気体の導入排出に伴なう前記水面
の上昇、下降の際にこの水面に接するように配
置した第1の制御電極13、第1および第2の
測定用電極11,12並びに第2の制御電極1
0と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
11,12を通過して下降するときに、その通
過時間間隔を測定するようにこれら測定用電極
11,12に結合したカウンター18と、 (ヘ) このカウンター18の測定値を演算表示する
ように、このカウンターに結合した演算表示装
置19,20と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前
記最切の電磁弁2または4を開くが、前記水面
が上昇して前記第2の制御電極10に達すると
きは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置21と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置に
おいて、 前記オリフイスを設けたオリフイスプレート6
を、ヒートシンク26に、前記オリフイスと前記
ヒートシンクの貫通穴27とを連通状態にして埋
め込み、 前記ヒートシンクを加熱する発熱体28を設
け、 前記ヒートシンクの温度を一定に保つように、
前記ヒートシンクの温度を検出して前記発熱体へ
の電流の供給を制御する制御手段29,30,3
1,32,33を設け、 前記一方の脚部22の上端部に、この脚部の内
部に連通する管34の一端部を取り付け、 この管34の開放した他端部と前記一端部との
間に電磁弁35を設け、 この電磁弁を、所定の時間間隔で開閉するよう
に、シーケンス装置21に結合したものである。 作 用 この発明は次の様に説明する。 第2図に示すように、基準ガスたとえば比重が
1000である空気を、ある圧力をもつてサンプルガ
ス入口1より電磁弁2を経て恒温装置3に導入す
る。このとき電磁弁2と電磁弁4とが開いてお
り、電磁弁5だけが閉じている。そして空気は恒
温装置3で一定温度にされ、電磁弁4を通り、膨
張自在な流体不透過性の袋7に入り、この袋7が
ふくらむ。なお恒温装置3を使用しない場合は、
電磁弁2は不要となり、空気はある圧力をもつて
サンプルガス入口1より電磁弁4を通り袋7に入
り、袋7がふくらむ。そのため水9を入れた同径
のU字型外胴8の右側の脚部23の水面が上昇す
る。水面が上昇し、制御電極10に達すると、増
幅器15を介しシーケンス装置21の働きで、電
磁弁2,4も閉じられ、数秒そのままの状態に保
持され、内圧の変動を一時とめ、その後電磁弁5
だけが開く。そうすると、空気はU字型外胴8の
右側の脚部23の水面の位置エネルギーによつて
電磁弁5を通り、ヒートシンク26の貫通穴27
と、オリフイスプレート6のオリフイスとを経て
外へ噴出される。このときU字型外胴8の右側の
脚部23の水面が下へさがるのであるが、さがる
とき測定用電極11と測定用電極12とを順次水
面が通過し、その時間間隔を増幅器16,17を
通しカウンター18(たとえばタケダ理研製TR
−5764ユニバーサルカウンター)により測定す
る。測定された値(流出時間)は演算装置19に
記憶され表示装置20に表示される。さらに水面
が制御電極13を通り過ぎると増幅器14を介し
シーケンス装置21の働きで電磁弁5だけが閉じ
られて、電磁弁2と電磁弁4とが開き、前記した
と同様に空気が恒温装置3を通り袋7に入り、以
下同様に行なわれる。これらの操作が繰り返され
空気に対する一定の表示が得られると、次に試料
ガスについて同様な測定操作が繰り返される。 そこで空気の流出時間と試料ガスの流出時間と
から次の式に基づいて演算装置19により試料ガ
スの比重が計算され、表示装置20に試料ガスの
比重が示される。 S=T2/S/T2/a S:試料ガスの比重 Ts:試料ガスの流出時間 Ta:空気の流出時間 そしてこの測定操作の間に、第3図に示すよう
にヒートシンク26の適宜位置(ほぼ中央が好適
である)に埋め込んだサーミスタ式温度計発信器
29と、増幅器30と、比較器31と、電源32
と、スイツチ33とから成る制御手段によつて、
ヒートシンク26の温度がサーミスタ式温度計発
信機29によつて電流に変換され、この電流が増
幅器30を経て比較器31に送られ基準値と比較
されて電源32のスイツチ33を開閉して、スイ
ツチ33に一端を接続した発熱体28(他端は接
地されているか又は電源に接続されている)への
電流の供給を制御し、ヒートシンク26およびオ
リフイスプレート6の温度を一定に保つ。 さらに第4図に示すように、シーケンス装置2
1によつて電磁弁35が所定の時間間隔で開閉す
ることによつて、袋7を透過してU字型外胴8の
脚部22の上端部内にたい積したH2等のガス成
分を、管34の開放した他端部から大気中に放出
することにより、水頭の上昇を避けることができ
る。 発明の効果 この発明は、次のような特有の効果を有する。 オリフイスプレート6の温度を一定、たとえば
40℃に保つた場合の空気の流出時間Taの変動の
1例を示せば次のとおりである。
び天然ガスの分析試験方法」等に制定されている
流出法による精密ガス比重測定装置に関する。 従来の技術 流出法による簡便な精密ガス比重測定法として
は、ブンゼン−シリング法が多用されているが、
(a)流出時間測定誤差、(b)オリフイス小孔径に依存
する誤差、(c)水蒸気による誤差、(d)試料ガスの温
度による誤差のために測定精度は2%が限界とさ
れている。 これ等の(a)(b)(c)(d)に係る誤差の原因となる各要
因を取り除き、±0.5%の高い精度で水素からブタ
ンまでのガスの比重の測定ができる流出法による
精密ガス比重測定装置は、特公昭59−13694号公
報(特願昭51−72821)に開示されている。 この特公昭59−13694号公報に記載された従来
の流出法による精密ガス比重測定装置は第1図に
示すように、 (イ) 最初の電磁弁2または4を経て気体を導入で
きる膨調自在な流体不透過性の袋7と、 (ロ) この袋から他の電磁弁5を経て気体を排出で
きるJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部に水9を入れ、一方の脚部に前記袋7
を納めたほぼ同径のU字型外胴8と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部の水面から順
次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前記袋
7内への気体の導入排出に伴なう前記水面の上
昇、下降の際にこの水面に接するように配置し
た第1の制御電極13、第1および第2の測定
用電極11,12、並びに第2の制御電極10
と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
11,12を通過して下降するときに、その通
過時間間隔を測定するようにこれら測定用電極
11,12に結合したカウンター18と、 (ヘ) このカウンター18の測定値を演算表示する
ように、このカウンターに結合した演算表示装
置19,20と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前
記最切の電磁弁2または4を開くが、前記水面
が上昇して前記第2の制御電極10に達すると
きは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置21と、 を備えている。 この流出法による精密ガス比重測定装置によれ
ば、 (a′) 測定用電極11,12とカウンター18と
により電子的に時間を測定することによつて流
出時間測定誤差をさけることができ、 (b′) 測定電極からできるだけ隔てた位置に流出
時間測定用電極11,12を配置することによ
りオリフイス小孔径に依存する誤差をさけるこ
とができ、 (c′) 測定ガスと水との接触を流体不透過性の袋
7により断つことによつて水蒸気による誤差を
さけることができ、 (d′) 流体不透過性の袋7内の測定ガスを滞留時
間を長くするか、又は恒温装置3を使用するこ
とにより測定ガスの温度による誤差をさけるこ
とができ、 この結果、少くとも前記(a′)(b′)(c′)に係
る3つの誤差をさけることによつて±0.5%の高
い精度で水素からブタンまでのガスの比重を測定
することができた。 発明が解決しようとする問題点 前記従来の流出法による精密ガス比重測定装置
においては、環境温度の変化によつてオリフイス
プレート6の物理的特性が変化し、そのためにガ
スの流出時間が変動し、測定誤差の生ずるのを避
けることができなかつた。 従つてこの発明〔特許請求の範囲第1項に記載
された〕の技術的課題は、環境温度の変化による
オリフイスプレート6の物理的特性の変化を避け
ることである。 又前記従来の流出法による精密ガス比重測定装
置においては、試料ガス中のH2等の成分が袋7
を透過し、U字型外胴8の脚部22の上端部内に
たい積し、そのために水頭圧力が上昇することに
より、測定誤差の生ずるのを避けることができな
かつた。 従つてこの発明〔特許請求の範囲第2項に記載
された〕の技術的課題は、U字型外胴8内に試料
ガス中の特定の成分のたい積するのを避けること
である。 問題を解決するための手段 前記技術的課題を解決するために、この発明
〔特許請求の範囲第1項に記載された〕は第2図
及び第3図に示すように、 (イ) 最初の電磁弁2または4を経て気体を導入で
きる膨張自在な流体不透過性の袋7と、 (ロ) この袋から他の電磁弁5を経て気体を排出で
きるJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部22,23に水9を入れ、一方の脚部
22に前記袋7を納めたほぼ同径のU字型外胴
8と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部23の水面か
ら順次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前
記袋7内への気体の導入排出に伴なう前記水面
の上昇、下降の際にこの水面に接するように配
置した第1の制御電極13、第1および第2の
測定用電極11,12並びに第2の制御電極1
0と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
11,12を通過して下降するときに、その通
過時間間隔を測定するようにこれら測定用電極
11,12に結合したカウンター18と、 (ヘ) このカウンター18の測定値を演算表示する
ように、このカウンターに結合した演算表示装
置19,20と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前
記最切の電磁弁2または4を開くが、前記水面
が上昇して前記第2の制御電極10に達すると
きは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置21と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置に
おいて、 前記オリフイスを設けたオリフイスプレート6
を、ヒートシンク26に、前記オリフイスと前記
ヒートシンクの貫通穴27とを連通状態にして埋
め込み、 前記ヒートシンクを加熱する発熱体28を設
け、 前記ヒートシンクの温度を一定に保つように、
前記ヒートシンクの温度を検出して前記発熱体へ
の電流の供給を制御する制御手段29,30,3
1,32,33を設けたものである。 又前記技術的課題を解決するために、この発明
〔特許請求の範囲第2項に記載された〕は、第2
図及び第4図に示すように、 (イ) 最初の電磁弁2または4を経て気体を導入で
きる膨張自在な流体不透過性の袋7と、 (ロ) この袋から他の電磁弁5を経て気体を排出で
きるJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部22,23に水9を入れ、一方の脚部
22に前記袋7を納めたほぼ同径のU字型外胴
8と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部23の水面か
ら順次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前
記袋7内への気体の導入排出に伴なう前記水面
の上昇、下降の際にこの水面に接するように配
置した第1の制御電極13、第1および第2の
測定用電極11,12並びに第2の制御電極1
0と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
11,12を通過して下降するときに、その通
過時間間隔を測定するようにこれら測定用電極
11,12に結合したカウンター18と、 (ヘ) このカウンター18の測定値を演算表示する
ように、このカウンターに結合した演算表示装
置19,20と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前
記最切の電磁弁2または4を開くが、前記水面
が上昇して前記第2の制御電極10に達すると
きは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置21と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置に
おいて、 前記オリフイスを設けたオリフイスプレート6
を、ヒートシンク26に、前記オリフイスと前記
ヒートシンクの貫通穴27とを連通状態にして埋
め込み、 前記ヒートシンクを加熱する発熱体28を設
け、 前記ヒートシンクの温度を一定に保つように、
前記ヒートシンクの温度を検出して前記発熱体へ
の電流の供給を制御する制御手段29,30,3
1,32,33を設け、 前記一方の脚部22の上端部に、この脚部の内
部に連通する管34の一端部を取り付け、 この管34の開放した他端部と前記一端部との
間に電磁弁35を設け、 この電磁弁を、所定の時間間隔で開閉するよう
に、シーケンス装置21に結合したものである。 作 用 この発明は次の様に説明する。 第2図に示すように、基準ガスたとえば比重が
1000である空気を、ある圧力をもつてサンプルガ
ス入口1より電磁弁2を経て恒温装置3に導入す
る。このとき電磁弁2と電磁弁4とが開いてお
り、電磁弁5だけが閉じている。そして空気は恒
温装置3で一定温度にされ、電磁弁4を通り、膨
張自在な流体不透過性の袋7に入り、この袋7が
ふくらむ。なお恒温装置3を使用しない場合は、
電磁弁2は不要となり、空気はある圧力をもつて
サンプルガス入口1より電磁弁4を通り袋7に入
り、袋7がふくらむ。そのため水9を入れた同径
のU字型外胴8の右側の脚部23の水面が上昇す
る。水面が上昇し、制御電極10に達すると、増
幅器15を介しシーケンス装置21の働きで、電
磁弁2,4も閉じられ、数秒そのままの状態に保
持され、内圧の変動を一時とめ、その後電磁弁5
だけが開く。そうすると、空気はU字型外胴8の
右側の脚部23の水面の位置エネルギーによつて
電磁弁5を通り、ヒートシンク26の貫通穴27
と、オリフイスプレート6のオリフイスとを経て
外へ噴出される。このときU字型外胴8の右側の
脚部23の水面が下へさがるのであるが、さがる
とき測定用電極11と測定用電極12とを順次水
面が通過し、その時間間隔を増幅器16,17を
通しカウンター18(たとえばタケダ理研製TR
−5764ユニバーサルカウンター)により測定す
る。測定された値(流出時間)は演算装置19に
記憶され表示装置20に表示される。さらに水面
が制御電極13を通り過ぎると増幅器14を介し
シーケンス装置21の働きで電磁弁5だけが閉じ
られて、電磁弁2と電磁弁4とが開き、前記した
と同様に空気が恒温装置3を通り袋7に入り、以
下同様に行なわれる。これらの操作が繰り返され
空気に対する一定の表示が得られると、次に試料
ガスについて同様な測定操作が繰り返される。 そこで空気の流出時間と試料ガスの流出時間と
から次の式に基づいて演算装置19により試料ガ
スの比重が計算され、表示装置20に試料ガスの
比重が示される。 S=T2/S/T2/a S:試料ガスの比重 Ts:試料ガスの流出時間 Ta:空気の流出時間 そしてこの測定操作の間に、第3図に示すよう
にヒートシンク26の適宜位置(ほぼ中央が好適
である)に埋め込んだサーミスタ式温度計発信器
29と、増幅器30と、比較器31と、電源32
と、スイツチ33とから成る制御手段によつて、
ヒートシンク26の温度がサーミスタ式温度計発
信機29によつて電流に変換され、この電流が増
幅器30を経て比較器31に送られ基準値と比較
されて電源32のスイツチ33を開閉して、スイ
ツチ33に一端を接続した発熱体28(他端は接
地されているか又は電源に接続されている)への
電流の供給を制御し、ヒートシンク26およびオ
リフイスプレート6の温度を一定に保つ。 さらに第4図に示すように、シーケンス装置2
1によつて電磁弁35が所定の時間間隔で開閉す
ることによつて、袋7を透過してU字型外胴8の
脚部22の上端部内にたい積したH2等のガス成
分を、管34の開放した他端部から大気中に放出
することにより、水頭の上昇を避けることができ
る。 発明の効果 この発明は、次のような特有の効果を有する。 オリフイスプレート6の温度を一定、たとえば
40℃に保つた場合の空気の流出時間Taの変動の
1例を示せば次のとおりである。
【表】
すなわちこの場合環境温度たとえば室温の変化
による空気の流出時間Taの変動はほとんどない
と言える。 これに反し、オリフイスプレート6が環境温度
によつて変化する場合の空気の流出時間Taの変
動の1例を示せば次のとおりである。
による空気の流出時間Taの変動はほとんどない
と言える。 これに反し、オリフイスプレート6が環境温度
によつて変化する場合の空気の流出時間Taの変
動の1例を示せば次のとおりである。
【表】
したがつて、空気の流出時間Taは室温によつ
て非常に変化するとは明らかである。 又気泡すなわちたい積したガス成分5c.c.の場合
の空気の流出時間Taの変動の1例を示せば次の
とおりである。
て非常に変化するとは明らかである。 又気泡すなわちたい積したガス成分5c.c.の場合
の空気の流出時間Taの変動の1例を示せば次の
とおりである。
【表】
ガス成分のたい積による誤差を除去できること
は明らかである。 実施例 第2図に示すこの発明の実施例においては、膨
張自在な流体不透過性の袋7は、ビニール袋が好
適であるが、適当な合成樹脂性の膨張自在な流体
不透過性の袋を使用できる。 またオリフイスプレート6と袋7とを連結する
管路は、恒温装置3と袋7とを連結する管路と別
体でもよい。 オリフイスプレート6のオリフイスの径は、
1.00mmφまたは0.7mmφを使用した。 又サーミスタ式温度計発信器29と、増幅器3
0と、比較器31と、スイツチ33との代りに、
サーモスタツトスイツチを使用して発熱体28へ
の電流の供給を制御するようにしてもよい。 第2図及び第3図において発熱体28は、ヒー
トシンク26のまわりに巻いてあるが、この場合
は金属発熱体、とくにニクロム線が好適である。
しかし非金属発熱体、たとえば炭化けい素化合物
から成る発熱体の場合には、直接に、又は耐熱性
絶縁物で包み、ヒートシンク26に設けた穴内に
そう入するようにしてもよい。 この発明を実施する際には、さらに次の(i)(ii)(iii)
に係る改良を加えて実施することもできる。 (i) 試料ガスが圧力のときも測定可能にすること 第5図に示すように、ガス導入管36を経て
供給される試料ガスの圧力は圧力スイツチ37
で検出される。ガスの圧力が大気圧と比較して
低い圧力、たとえば大気圧より10mmH2O低い
場合には圧力スイツチ37からの信号は、
ANDゲート38に送られない。したがつてシ
ーケンス装置21からの信号がANDゲート3
8に送られても、ANDゲート38からの出力
信号は生じない。しかしガスの圧力が前記圧力
より高いときは、圧力スイツチ35からの信号
はANDゲート38に送られ、シーケンス装置
21からの信号がANDゲート38に送られる
ときに、ANDゲート38からの出力信号によ
つてブースタポンプ39を作動して試料ガスの
圧力を測定可能な圧力に高めてサンプルガス入
口1へ供給する。 (ii) 袋7からガス漏れをチエツクすること 試料ガスが袋7に入れられ、U字型外胴8の
脚部23の水面が上昇し、最上方の制御電極1
0に接触するときに、シーケンス装置21によ
つて電磁弁4,5を閉じる。通常の測定操作の
場合は、内圧の変動をとめるため、数秒そのま
まの状態を保持し、その後電磁弁5が開かれ
る。しかし、ガスの漏れのチエツクの場合は、
数秒経過後も電磁弁5は閉じられたままになつ
ており、以後さらに所定期間電磁弁4,5が閉
じられ、袋7から漏れたガスを放出するための
電磁弁35が開かれた状態になるようにシーケ
ンス装置21をセツトして置く。所定期間中
に、水面が最上方の制御電極10から離れると
きは、シーケンス装置21から信号が発生しな
いために、袋7内の圧力が低下している、すな
わちガスの漏れがあることをチエツクできる。
各測定ルーチンの開始のときに、このようにし
て袋7のガスの漏れをチエツクする。 (iii) 長時間にわたるガス比重測定の際生ずる測定
値のドリフト現象を除去すること。 第6図に示すように、他方の脚部23の開放し
た上端部を密封部材24によつて気密に密封し、
第1および第2の制御電極13,10並びに第1
および第2の測定用電極11,12を、密封部材
24を気密に貫通させ、膨張自在な流体不透過性
の別の袋25を、その内部が他方の脚部23の内
部と連通するように、密封部材24に気密に取り
付ける。 または第7図に示すように、膨張自在な流体不
透過性のさらに別の袋25′の開口端を、他方の
脚部23の開放した上端部のまわりに気密に取り
付け、第1および第2の制御電極13,10並び
に第1および第2の測定用電極12,11を、他
方の脚部23の側壁を気密に貫通させる。 この場合試料ガスCH4の流出時間Tsの測定時
刻による変動およびそれに起因する比重の測定値
の変動は次のとおりである。
は明らかである。 実施例 第2図に示すこの発明の実施例においては、膨
張自在な流体不透過性の袋7は、ビニール袋が好
適であるが、適当な合成樹脂性の膨張自在な流体
不透過性の袋を使用できる。 またオリフイスプレート6と袋7とを連結する
管路は、恒温装置3と袋7とを連結する管路と別
体でもよい。 オリフイスプレート6のオリフイスの径は、
1.00mmφまたは0.7mmφを使用した。 又サーミスタ式温度計発信器29と、増幅器3
0と、比較器31と、スイツチ33との代りに、
サーモスタツトスイツチを使用して発熱体28へ
の電流の供給を制御するようにしてもよい。 第2図及び第3図において発熱体28は、ヒー
トシンク26のまわりに巻いてあるが、この場合
は金属発熱体、とくにニクロム線が好適である。
しかし非金属発熱体、たとえば炭化けい素化合物
から成る発熱体の場合には、直接に、又は耐熱性
絶縁物で包み、ヒートシンク26に設けた穴内に
そう入するようにしてもよい。 この発明を実施する際には、さらに次の(i)(ii)(iii)
に係る改良を加えて実施することもできる。 (i) 試料ガスが圧力のときも測定可能にすること 第5図に示すように、ガス導入管36を経て
供給される試料ガスの圧力は圧力スイツチ37
で検出される。ガスの圧力が大気圧と比較して
低い圧力、たとえば大気圧より10mmH2O低い
場合には圧力スイツチ37からの信号は、
ANDゲート38に送られない。したがつてシ
ーケンス装置21からの信号がANDゲート3
8に送られても、ANDゲート38からの出力
信号は生じない。しかしガスの圧力が前記圧力
より高いときは、圧力スイツチ35からの信号
はANDゲート38に送られ、シーケンス装置
21からの信号がANDゲート38に送られる
ときに、ANDゲート38からの出力信号によ
つてブースタポンプ39を作動して試料ガスの
圧力を測定可能な圧力に高めてサンプルガス入
口1へ供給する。 (ii) 袋7からガス漏れをチエツクすること 試料ガスが袋7に入れられ、U字型外胴8の
脚部23の水面が上昇し、最上方の制御電極1
0に接触するときに、シーケンス装置21によ
つて電磁弁4,5を閉じる。通常の測定操作の
場合は、内圧の変動をとめるため、数秒そのま
まの状態を保持し、その後電磁弁5が開かれ
る。しかし、ガスの漏れのチエツクの場合は、
数秒経過後も電磁弁5は閉じられたままになつ
ており、以後さらに所定期間電磁弁4,5が閉
じられ、袋7から漏れたガスを放出するための
電磁弁35が開かれた状態になるようにシーケ
ンス装置21をセツトして置く。所定期間中
に、水面が最上方の制御電極10から離れると
きは、シーケンス装置21から信号が発生しな
いために、袋7内の圧力が低下している、すな
わちガスの漏れがあることをチエツクできる。
各測定ルーチンの開始のときに、このようにし
て袋7のガスの漏れをチエツクする。 (iii) 長時間にわたるガス比重測定の際生ずる測定
値のドリフト現象を除去すること。 第6図に示すように、他方の脚部23の開放し
た上端部を密封部材24によつて気密に密封し、
第1および第2の制御電極13,10並びに第1
および第2の測定用電極11,12を、密封部材
24を気密に貫通させ、膨張自在な流体不透過性
の別の袋25を、その内部が他方の脚部23の内
部と連通するように、密封部材24に気密に取り
付ける。 または第7図に示すように、膨張自在な流体不
透過性のさらに別の袋25′の開口端を、他方の
脚部23の開放した上端部のまわりに気密に取り
付け、第1および第2の制御電極13,10並び
に第1および第2の測定用電極12,11を、他
方の脚部23の側壁を気密に貫通させる。 この場合試料ガスCH4の流出時間Tsの測定時
刻による変動およびそれに起因する比重の測定値
の変動は次のとおりである。
【表】
前記表から明らかなとおり、約3時間の間にお
いても測定値のドリフトは、0.555から0.554とほ
とんど変動しないことは明らかである。 これに反し特公昭59−13694号公報に記載され
た従来技術の場合は次のとおりである。
いても測定値のドリフトは、0.555から0.554とほ
とんど変動しないことは明らかである。 これに反し特公昭59−13694号公報に記載され
た従来技術の場合は次のとおりである。
【表】
第6図に示す密封部材24を、ゴム栓で作るの
が好適であるが、任意適応の合成ゴム、合成樹脂
で作ることができる。このゴム栓の寸法をU字型
外胴24の脚部23の開放した上端部の寸法より
大きくして、ゴム栓をこの上端部に押し込み、又
ゴム栓に設けた穴を制御電極10,13および測
定用電極11,12より小さくして、これ等の電
極を穴に押し込むことにより、充分に気密な密封
状態が得られる。しかし、必要があれば適当なシ
ーラントを使用してもよい。袋25の開放端部
を、ゴム栓の穴に接着すれば、充分に気密な密封
状態が得られる。 第7図に示す袋25′の開口端を、脚部33の
開放した上端部のまわりに接着すれば充分に気密
を保つことができるが、さらに外周に適当なシー
ラントを設けてもよい。制御電極10,13およ
び測定用電極11,12の貫通する脚部23の側
壁の箇所には適当なシーラントを設ければ充分に
気密な密封状態が得られる。
が好適であるが、任意適応の合成ゴム、合成樹脂
で作ることができる。このゴム栓の寸法をU字型
外胴24の脚部23の開放した上端部の寸法より
大きくして、ゴム栓をこの上端部に押し込み、又
ゴム栓に設けた穴を制御電極10,13および測
定用電極11,12より小さくして、これ等の電
極を穴に押し込むことにより、充分に気密な密封
状態が得られる。しかし、必要があれば適当なシ
ーラントを使用してもよい。袋25の開放端部
を、ゴム栓の穴に接着すれば、充分に気密な密封
状態が得られる。 第7図に示す袋25′の開口端を、脚部33の
開放した上端部のまわりに接着すれば充分に気密
を保つことができるが、さらに外周に適当なシー
ラントを設けてもよい。制御電極10,13およ
び測定用電極11,12の貫通する脚部23の側
壁の箇所には適当なシーラントを設ければ充分に
気密な密封状態が得られる。
第1図は特公昭59−13694号公報に記載された
従来の流出法による精密ガス比重測定装置のブロ
ツク線図、第2図はこの発明の流出法による精密
ガス比重測定装置のブロツク線図、第3図および
第4図はそれぞれ第2図の一部分の説明図、第5
図ないし第7図はこの発明の流出法による精密ガ
ス比重測定装置の一部をさらに改良した場合をそ
れぞれ示す説明図である。 2,4,5……最初の(第1または第2)およ
び他の(第3)の電磁弁、3……恒温装置、6…
…オリフイスプレート、7……流体不透過性の
袋、8……U字型外胴、9……水、13,10…
…第1および第2の制御電極、12,11……第
1および第2の測定用電極、18……カウンタ
ー、19,20……演算表示装置、21……シー
ケンス装置、22,23……脚部、26……ヒー
トシンク、27……貫通穴、28……発熱体、2
9……サーミスタ式温度計発信器、30……増幅
器、31……比較器、32……電源、33……ス
イツチ、34……管、35……電磁弁。
従来の流出法による精密ガス比重測定装置のブロ
ツク線図、第2図はこの発明の流出法による精密
ガス比重測定装置のブロツク線図、第3図および
第4図はそれぞれ第2図の一部分の説明図、第5
図ないし第7図はこの発明の流出法による精密ガ
ス比重測定装置の一部をさらに改良した場合をそ
れぞれ示す説明図である。 2,4,5……最初の(第1または第2)およ
び他の(第3)の電磁弁、3……恒温装置、6…
…オリフイスプレート、7……流体不透過性の
袋、8……U字型外胴、9……水、13,10…
…第1および第2の制御電極、12,11……第
1および第2の測定用電極、18……カウンタ
ー、19,20……演算表示装置、21……シー
ケンス装置、22,23……脚部、26……ヒー
トシンク、27……貫通穴、28……発熱体、2
9……サーミスタ式温度計発信器、30……増幅
器、31……比較器、32……電源、33……ス
イツチ、34……管、35……電磁弁。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 (イ) 最初の電磁弁を経て気体を導入できる膨
張自在な流体不透過性の袋と、 (ロ) この袋から他の電磁弁を経て気体を排出でき
るJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部に水を入れ、一方の脚部に前記袋を納
めたほぼ同径のU字型外胴と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部の水面から順
次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前記袋
内への気体の導入排出に伴なう前記水面の上
昇、下降の際にこの水面に接するように配置し
た第1の制御電極、第1および第2の測定用電
極、並びに第2の制御電極と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
を通過して下降するときに、その通過時間間隔
を測定するようにこれら測定用電極に結合した
カウンターと、 (ヘ) このカウンターの測定値を演算表示するよう
に、このカウンターに結合した演算表示装置
と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極を通過して下
降するときは、前記他の電磁弁を閉じ前記最切
の電磁弁を開くが、前記水面が上昇して前記第
2の制御電極に達するときは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置に
おいて、 前記オリフイスを設けたオリフイスプレート
を、ヒートシンクに、前記オリフイスと前記ヒー
トシンクの貫通穴とを連通状態にして埋め込み、 前記ヒートシンクを加熱する発熱体を設け、 前記ヒートシンクの温度を一定に保つように、
前記ヒートシンクの温度を検出して前記発熱体へ
の電流の供給を制御する制御手段を設けた ことを特徴とする、流出法による精密ガス比重測
定装置。 2 (イ) 最初の電磁弁を経て気体を導入できる膨
張自在な流体不透過性の袋と、 (ロ) この袋から他の電磁弁を経て気体を排出でき
るJIS径より大径のオリフイスと、 (ハ) 両脚部に水を入れ、一方の脚部に前記袋を納
めたほぼ同径のU字型外胴と、 (ニ) 前記両脚部のうちの他方の脚部の水面から順
次遠ざかる高さ位置に配置されると共に前記袋
内への気体の導入排出に伴なう前記水面の上
昇、下降の際にこの水面に接するように配置し
た第1の制御電極、第1および第2の測定用電
極、並びに第2の制御電極と、 (ホ) 前記水面が前記第1および第2の測定用電極
を通過して下降するときに、その通過時間間隔
を測定するようにこれら測定用電極に結合した
カウンターと、 (ヘ) このカウンターの測定値を演算表示するよう
に、このカウンターに結合した演算表示装置
と、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極を通過して下
降するときは、前記他の電磁弁を閉じ前記最切
の電磁弁を開くが、前記水面が上昇して前記第
2の制御電極に達するときは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開
くように、これら制御電極および電磁弁に結合
したシーケンス装置と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置に
おいて、 前記オリフイスを設けたオリフイスプレート
を、ヒートシンクに、前記オリフイスと前記ヒー
トシンクの貫通穴とを連通状態にして埋め込み、 前記ヒートシンクを加熱する発熱体を設け、 前記ヒートシンクの温度を一定に保つように、
前記ヒートシンクの温度を検出して前記発熱体へ
の電流の供給を制御する制御手段を設け、 前記一方の脚部の上端部に、この脚部の内部に
連通する管の一端部を取り付け、 この管の開放した他端部と前記一端部との間に
電磁弁を設け、 この電磁弁を、所定の時間間隔で開閉するよう
に、シーケンス装置21に結合した、 ことを特徴とする、流出法による精密ガス比重測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23775084A JPS61116641A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | オリフイスプレ−トの物理的特性の変化およびガス成分のたい積による誤差を除去する流出法による精密ガス比重測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23775084A JPS61116641A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | オリフイスプレ−トの物理的特性の変化およびガス成分のたい積による誤差を除去する流出法による精密ガス比重測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61116641A JPS61116641A (ja) | 1986-06-04 |
| JPH0327064B2 true JPH0327064B2 (ja) | 1991-04-12 |
Family
ID=17019913
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23775084A Granted JPS61116641A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | オリフイスプレ−トの物理的特性の変化およびガス成分のたい積による誤差を除去する流出法による精密ガス比重測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61116641A (ja) |
-
1984
- 1984-11-12 JP JP23775084A patent/JPS61116641A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61116641A (ja) | 1986-06-04 |
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