JPS61116640A - 測定値のドリフト現象を除去する流出法による精密ガス比重測定装置 - Google Patents
測定値のドリフト現象を除去する流出法による精密ガス比重測定装置Info
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- JPS61116640A JPS61116640A JP23774984A JP23774984A JPS61116640A JP S61116640 A JPS61116640 A JP S61116640A JP 23774984 A JP23774984 A JP 23774984A JP 23774984 A JP23774984 A JP 23774984A JP S61116640 A JPS61116640 A JP S61116640A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、JISK2301−1980 「燃料ガス
および天然ガスの分析試験方向等に制定されている流出
法による精密ガス比重測定装置に関する。
および天然ガスの分析試験方向等に制定されている流出
法による精密ガス比重測定装置に関する。
従来の技術
流出法による簡便なガス比重測定法としては、ブンゼン
−シリング法が多用されているが、←)流出時間測定誤
差、(b)オリフィス小孔径に依存する誤差、(C)水
蒸気による誤差、(d)試料ガスの温度による誤差のた
めに測定精度は2%が限界とされている。
−シリング法が多用されているが、←)流出時間測定誤
差、(b)オリフィス小孔径に依存する誤差、(C)水
蒸気による誤差、(d)試料ガスの温度による誤差のた
めに測定精度は2%が限界とされている。
これ等の(a) (b) (cl (dlに係る誤差の
原因となる各要因を取り除き、±0.5%の高い精度で
水素からブタンまでのガスの比重の測定ができる流出法
による精密ガス比重測定装置は、特公昭59−1369
4号公報(特願昭51−72821 )に開示されてい
る。
原因となる各要因を取り除き、±0.5%の高い精度で
水素からブタンまでのガスの比重の測定ができる流出法
による精密ガス比重測定装置は、特公昭59−1369
4号公報(特願昭51−72821 )に開示されてい
る。
この特公昭59−13694号公報に記載された従来の
流出法による精密ガス比重測定装置は第1図に示すよう
に、 (イ)最初の電磁弁2または4を経て気体を導入できる
膨張自在な流体不透過性の袋7と、斡) この袋から他
の電磁弁5を経て気体を排出できるJIS径より大径の
オリアイスと、eJ 両脚部に水9を入れ、一方の脚
部に前記袋γを納めたほぼ同径のU字型外胴8と、μ)
前記両脚部のうちの他方の脚部の水面から順次遠ざか
る高さ位置く配置されると共に前記袋T内への気体の導
入排出に伴なう前記水面の上昇、下降の際にこの水面に
接するように配置した第1の制御電@13、第1および
第2の測定用電極11,12、並びに第2の制御電極1
0と、 (力 前記水面が前記第1および第2の測定用電極11
.12を通過して下降するときに、その通過時間間隔を
測定するようにこれら測定用電極11.12に結合した
カウンター18と、 (へ)このカウンター18の測定値を演算表示するよう
に、このカウンターに結合した演算表示装置19.20
と、 (ト)前記水面が前記第1の制御電極13を通過して下
降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前記最初の電磁
弁2または4を開(が、前記水面が上昇して前記第2の
制御電極10に達するときは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開くように、
これら制御電極および電磁弁に結合したシーケンス装置
21と、 を備えている。
流出法による精密ガス比重測定装置は第1図に示すよう
に、 (イ)最初の電磁弁2または4を経て気体を導入できる
膨張自在な流体不透過性の袋7と、斡) この袋から他
の電磁弁5を経て気体を排出できるJIS径より大径の
オリアイスと、eJ 両脚部に水9を入れ、一方の脚
部に前記袋γを納めたほぼ同径のU字型外胴8と、μ)
前記両脚部のうちの他方の脚部の水面から順次遠ざか
る高さ位置く配置されると共に前記袋T内への気体の導
入排出に伴なう前記水面の上昇、下降の際にこの水面に
接するように配置した第1の制御電@13、第1および
第2の測定用電極11,12、並びに第2の制御電極1
0と、 (力 前記水面が前記第1および第2の測定用電極11
.12を通過して下降するときに、その通過時間間隔を
測定するようにこれら測定用電極11.12に結合した
カウンター18と、 (へ)このカウンター18の測定値を演算表示するよう
に、このカウンターに結合した演算表示装置19.20
と、 (ト)前記水面が前記第1の制御電極13を通過して下
降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前記最初の電磁
弁2または4を開(が、前記水面が上昇して前記第2の
制御電極10に達するときは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開くように、
これら制御電極および電磁弁に結合したシーケンス装置
21と、 を備えている。
この流出法による精密ガス比重測定装置によれば、
(a/)測定用電極11.12とカウンター18とによ
り電子的に時間を測定することによって流出時間測定誤
差をさげることができ、(bつ制御電極からできるだけ
隔てた位置に流出時間測定用電極11.12を配置する
ことによりオリフィス小孔径に依存する誤差をさけるこ
とができ、 (C′)測定ガスと水との接触を流体不透過性の袋Tに
より断つことによって水蒸気による誤差をさけることが
でき、 (dつ流体不透過性の袋γ内の測定ガスの滞留時間を長
(するか、又は恒温装置3を使用することにより測定ガ
スの温度による誤差をさけることができ、 この結果、少くとも前記(a’ ) (b’ ) (c
’ )に係る6つの誤差をさけることによって±0.5
チの高い精度で水素からブタンまでのガスの比重を測定
することができた。
り電子的に時間を測定することによって流出時間測定誤
差をさげることができ、(bつ制御電極からできるだけ
隔てた位置に流出時間測定用電極11.12を配置する
ことによりオリフィス小孔径に依存する誤差をさけるこ
とができ、 (C′)測定ガスと水との接触を流体不透過性の袋Tに
より断つことによって水蒸気による誤差をさけることが
でき、 (dつ流体不透過性の袋γ内の測定ガスの滞留時間を長
(するか、又は恒温装置3を使用することにより測定ガ
スの温度による誤差をさけることができ、 この結果、少くとも前記(a’ ) (b’ ) (c
’ )に係る6つの誤差をさけることによって±0.5
チの高い精度で水素からブタンまでのガスの比重を測定
することができた。
発明が解決しようとする問題点
前記従来の流出法による精密ガス比重測定装置において
は、測定ガス中に水蒸気が発生することを防止するため
に、測定ガスと水との接触を断つ流体不透過性の袋たと
えばビ且−ル袋7を使用して水蒸気による誤差をさける
ことができた。しかし長時間(たとえば24時間)にわ
たってガスの比重を測定し続ける場合には、U字型外胴
8に入れた水が大気中へ蒸発し、水の容積が減少し、そ
のために測定値のドリフト現象が生ずる。
は、測定ガス中に水蒸気が発生することを防止するため
に、測定ガスと水との接触を断つ流体不透過性の袋たと
えばビ且−ル袋7を使用して水蒸気による誤差をさける
ことができた。しかし長時間(たとえば24時間)にわ
たってガスの比重を測定し続ける場合には、U字型外胴
8に入れた水が大気中へ蒸発し、水の容積が減少し、そ
のために測定値のドリフト現象が生ずる。
従ってこの発明の技術的課題は、このような測定値のド
リフト現象を除去することである。
リフト現象を除去することである。
問題点を解決するための手段
前記技術的課題を解決するために、この発明は第2図、
第6図に示すように、 (イ)最初の電磁弁2または4を経て気体を導入できる
膨張自在な流体不透過性の袋7と、(ロ) この袋から
他の電磁弁5を経て気体を排出できるJIS径より大径
のオリフィスと、(I刃 両脚部22,23に水9を
入れ、一方の脚部22に前記袋7を°納めたほぼ同径の
U字型外胴8と、 に)前記両脚部のうちの他方の脚部23の水面から順次
遠ざかる高さ位置に配置されると共に前記袋T内への気
体の導入排出に伴なう前記水面の上昇、下降の際にこの
水面に接するように配置した第1の制御電極13、第1
および第2の測定用電極11.12並びに第2の制御電
極10と、 (力 前記水面が前記第1および第2の測定用電極11
,12を通過して下降するときに、その通過時間間隔を
測定するようにこれら測定用電極11.12に結合した
カウンター18と、 ト)このカウンター18の測定値を演算表示するように
、このカウンターに結合した演算表示装置19.20と
、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前記最初の
電磁弁2または4を開くが、前記水面が上昇して前記第
2の制御電極10に達するときは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開(ように、
これら制御電極および電磁弁に結合したシーケンス装置
21と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置において
、 前記他方の脚部23の開放した上端部を、膨張自在な密
封手段24.25または25′により気密に密封し、 前記第1および第2の制御電極13.10並びに前記第
1および第2の測定用電極12.11を、前記上端部内
に、気密状態を保つように配置したものである。
第6図に示すように、 (イ)最初の電磁弁2または4を経て気体を導入できる
膨張自在な流体不透過性の袋7と、(ロ) この袋から
他の電磁弁5を経て気体を排出できるJIS径より大径
のオリフィスと、(I刃 両脚部22,23に水9を
入れ、一方の脚部22に前記袋7を°納めたほぼ同径の
U字型外胴8と、 に)前記両脚部のうちの他方の脚部23の水面から順次
遠ざかる高さ位置に配置されると共に前記袋T内への気
体の導入排出に伴なう前記水面の上昇、下降の際にこの
水面に接するように配置した第1の制御電極13、第1
および第2の測定用電極11.12並びに第2の制御電
極10と、 (力 前記水面が前記第1および第2の測定用電極11
,12を通過して下降するときに、その通過時間間隔を
測定するようにこれら測定用電極11.12に結合した
カウンター18と、 ト)このカウンター18の測定値を演算表示するように
、このカウンターに結合した演算表示装置19.20と
、 (ト) 前記水面が前記第1の制御電極13を通過し
て下降するときは、前記他の電磁弁5を閉じ前記最初の
電磁弁2または4を開くが、前記水面が上昇して前記第
2の制御電極10に達するときは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開(ように、
これら制御電極および電磁弁に結合したシーケンス装置
21と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置において
、 前記他方の脚部23の開放した上端部を、膨張自在な密
封手段24.25または25′により気密に密封し、 前記第1および第2の制御電極13.10並びに前記第
1および第2の測定用電極12.11を、前記上端部内
に、気密状態を保つように配置したものである。
さらにこの発明は、前記膨張自在な密封手段を、前記開
放した上端部を気密に密封する密封部材24と、前記上
端部の内部と連通ずるように前記密封部材に気密に取り
付けた膨張自在な流体不透過性の別の袋25とにより構
成し、前記第1および第2の制御電極13.10並びに
前記第1および第2の測定用電極12.11を、前記密
封部材24を気密に貫通させたものである。
放した上端部を気密に密封する密封部材24と、前記上
端部の内部と連通ずるように前記密封部材に気密に取り
付けた膨張自在な流体不透過性の別の袋25とにより構
成し、前記第1および第2の制御電極13.10並びに
前記第1および第2の測定用電極12.11を、前記密
封部材24を気密に貫通させたものである。
さらに又この発明は、前記膨張自在な密封手段を、前記
開放した上端部のまわりに開口端を気密に取り付けた膨
張自在な流体不透過性のさらに別の袋25′により構成
し、前記第1およ、び第2の制御電極13.10並びに
前記第1および第2の測定用電極12.11を、前記他
方の脚部23の側壁を気密に貫通させたものである。
開放した上端部のまわりに開口端を気密に取り付けた膨
張自在な流体不透過性のさらに別の袋25′により構成
し、前記第1およ、び第2の制御電極13.10並びに
前記第1および第2の測定用電極12.11を、前記他
方の脚部23の側壁を気密に貫通させたものである。
作用
この発明は次の様に作用する。
第2図に示すように、基準ガスたとえば比重がi、oo
oである空気を、ある圧力をもってサンプルガス入口1
より電磁弁2を経て恒温装置3に導入する。このとき電
磁弁2と電磁弁4とが開いており、電磁弁5だけが閉じ
ている。そして空気は恒温装置3で一定温度にされ、電
磁弁4を通り、膨張自在な流体不透過性の袋7に入り、
この袋7がふ(らむ。なお恒温洩装置3を使用しない場
合は、電磁弁2は不要となり、空気はある圧力をもって
サンプルガス入口1より電磁弁4を通り袋7に入り、袋
7がふ(らむ。そのため水9を入れた同径のU字型外胴
8の右側の脚部23の水面が上昇する。水面が上昇し、
制御電極1oに達すると、増幅器15を介しシーケンス
装置21の働きで、電磁弁2,4も閉じられ、数秒その
ままの状態に保持され、内圧の変動を一時とめ、その後
電磁弁5だけが開く。そうすると、空気はU字型外胴8
の右側の脚部23の水面の位置エネルギーによって電磁
ff5を通り、オリフィスプレート6のオリフィスより
外へ噴出される。このときU字型外胴8の右側の脚部2
3の水面が下へさがるのであるが、さがるとき測定用電
極11と測定用電極12とを順次水面が通過し、その時
間間隔を増幅器16.17を通しカウンター18(たと
えばタケダ理研製TR〜5764ユニバーサルカウンタ
ー)により測定する。測定された値(流出時間)は演算
装置19に記憶され表示装置20に表示される。
oである空気を、ある圧力をもってサンプルガス入口1
より電磁弁2を経て恒温装置3に導入する。このとき電
磁弁2と電磁弁4とが開いており、電磁弁5だけが閉じ
ている。そして空気は恒温装置3で一定温度にされ、電
磁弁4を通り、膨張自在な流体不透過性の袋7に入り、
この袋7がふ(らむ。なお恒温洩装置3を使用しない場
合は、電磁弁2は不要となり、空気はある圧力をもって
サンプルガス入口1より電磁弁4を通り袋7に入り、袋
7がふ(らむ。そのため水9を入れた同径のU字型外胴
8の右側の脚部23の水面が上昇する。水面が上昇し、
制御電極1oに達すると、増幅器15を介しシーケンス
装置21の働きで、電磁弁2,4も閉じられ、数秒その
ままの状態に保持され、内圧の変動を一時とめ、その後
電磁弁5だけが開く。そうすると、空気はU字型外胴8
の右側の脚部23の水面の位置エネルギーによって電磁
ff5を通り、オリフィスプレート6のオリフィスより
外へ噴出される。このときU字型外胴8の右側の脚部2
3の水面が下へさがるのであるが、さがるとき測定用電
極11と測定用電極12とを順次水面が通過し、その時
間間隔を増幅器16.17を通しカウンター18(たと
えばタケダ理研製TR〜5764ユニバーサルカウンタ
ー)により測定する。測定された値(流出時間)は演算
装置19に記憶され表示装置20に表示される。
さらに水面が制御電極13を通り過ぎると、増幅器14
を介しシーケンス装置21の働きで電磁弁5だけが閉じ
られて、電磁9P2と電磁弁4とが開き、前記したと同
様に空気が恒温装置3を通り袋7に入り、以下同様に行
なわれる。これらの操作が繰り返され空気に対する一定
の表示が得られると、次に試料ガスについて同様な測定
操作が繰り返される。
を介しシーケンス装置21の働きで電磁弁5だけが閉じ
られて、電磁9P2と電磁弁4とが開き、前記したと同
様に空気が恒温装置3を通り袋7に入り、以下同様に行
なわれる。これらの操作が繰り返され空気に対する一定
の表示が得られると、次に試料ガスについて同様な測定
操作が繰り返される。
そこで空気の流出時間と試料ガスの流出時間とから次の
式に基づいて演算装置19により試料ガスの比重が計算
され、表示装置20に試料ガスの比重が示される。
式に基づいて演算装置19により試料ガスの比重が計算
され、表示装置20に試料ガスの比重が示される。
K
S:試料ガスの比重
TS:試料ガスの流出時間
Ta:空気の流出時間
ところで長時間、たとえば24時間にわたって前記測定
操作が繰り返されるときには、U字型外胴8の脚部23
の上端部は大気から気密に密封されているので、この上
端部内の水9の蒸発による蒸気は、膨張自在な密封手段
内へ入り、すなわち膨張自在な流体不透過性の袋25ま
たは25′内へ入吠気中へ蒸発することな(、水滴とな
ってふたたびU字型外胴8内へもどされ、U字型外胴8
内の水の容積は減少することがない。又U字型外胴8の
脚部23の水面が上昇するときは、水面上の空気は袋2
5または25′内へ逃げることにより、水面の上昇が妨
げられることはない。
操作が繰り返されるときには、U字型外胴8の脚部23
の上端部は大気から気密に密封されているので、この上
端部内の水9の蒸発による蒸気は、膨張自在な密封手段
内へ入り、すなわち膨張自在な流体不透過性の袋25ま
たは25′内へ入吠気中へ蒸発することな(、水滴とな
ってふたたびU字型外胴8内へもどされ、U字型外胴8
内の水の容積は減少することがない。又U字型外胴8の
脚部23の水面が上昇するときは、水面上の空気は袋2
5または25′内へ逃げることにより、水面の上昇が妨
げられることはない。
発明の効果
この発明は、次のような特有の効果を有する。
−例として試料ガスがCH,である場合の試料ガスの流
出時間Tsの測定時刻による変動およびそれに起因する
比重の測定値の変動は次のとおりである。
出時間Tsの測定時刻による変動およびそれに起因する
比重の測定値の変動は次のとおりである。
特公昭59−13694号公報に記載された従来技術の
場合 この発明の場合 前記衣から明らかなとおり、約6時間の間においても、
従来技術の場合は、測定値のドリフトは、0.555か
ら肌546と変動するのに対し、この発明の場合は、測
定値のドリフトは、0.555から0.554とほとん
ど変動しないことは明らかである。
場合 この発明の場合 前記衣から明らかなとおり、約6時間の間においても、
従来技術の場合は、測定値のドリフトは、0.555か
ら肌546と変動するのに対し、この発明の場合は、測
定値のドリフトは、0.555から0.554とほとん
ど変動しないことは明らかである。
実施例
第2図および第6図に示すこの発明の実施例においては
、膨張自在な流体不透過性の袋7.25゜25′は、ビ
ニール袋が好適であるが、適当な合成樹脂製の膨張自在
な流体不透過性の袋を使用できる。
、膨張自在な流体不透過性の袋7.25゜25′は、ビ
ニール袋が好適であるが、適当な合成樹脂製の膨張自在
な流体不透過性の袋を使用できる。
またオリフィスプレート6と袋7とを連結する管路は、
恒温装置3と袋7とを連結する管路と別体でもよい。
恒温装置3と袋7とを連結する管路と別体でもよい。
オリフィスプレート6のオリフィスの径は、1.00朋
φまたは0.7龍φが使用された。
φまたは0.7龍φが使用された。
第2図に示す密封部材24を、ゴム栓で作るのが好適で
あるが、任意適宜の合成ゴム、合成樹脂で作ることがで
きる。このゴム栓の寸法をU字型外胴24の脚部23の
開放した上端部の寸法より太き(して、ゴム栓をこの上
端部に押し込み、又ゴム栓に設けた穴を制御電極10.
13および測定用電極11.12より小さくして、これ
等の電極を穴に押し込むことにより、充分に気密な密封
状態が得られる。しかし、必要があれば適当なシーラン
トを使用してもよい。袋25の開放端部を、ゴム栓の穴
に接着すれば、充分に気密な密封状態が得られる。
あるが、任意適宜の合成ゴム、合成樹脂で作ることがで
きる。このゴム栓の寸法をU字型外胴24の脚部23の
開放した上端部の寸法より太き(して、ゴム栓をこの上
端部に押し込み、又ゴム栓に設けた穴を制御電極10.
13および測定用電極11.12より小さくして、これ
等の電極を穴に押し込むことにより、充分に気密な密封
状態が得られる。しかし、必要があれば適当なシーラン
トを使用してもよい。袋25の開放端部を、ゴム栓の穴
に接着すれば、充分に気密な密封状態が得られる。
第6図に示す袋25′の開口端を、脚部23の開放した
上端部のまわりに接着すれば充分に気密を保つことがで
きるが、さらに外周に適当なシーラントを設げてもよい
。制御電極10.13および測定用電極11.12の貫
通する脚部23の側壁の箇所には適当なシーラントを設
ければ充分に気密な密封状態が得られる。
上端部のまわりに接着すれば充分に気密を保つことがで
きるが、さらに外周に適当なシーラントを設げてもよい
。制御電極10.13および測定用電極11.12の貫
通する脚部23の側壁の箇所には適当なシーラントを設
ければ充分に気密な密封状態が得られる。
この発明を実施する際には、さらに次の(i l (i
il (iii)(1v)に係る改良を加えて実施する
こともできる。
il (iii)(1v)に係る改良を加えて実施する
こともできる。
(ト)環境温度の変化によってオリフィスプレート6の
物理的特性が変化することにより生ずる誤差を防止する
こと 第6図に示すように、オリフィスプレート6の温度を一
定にするため、オリフィスプレート6をアル、ミニラム
等の熱伝導率の良好な物質から成るヒートシンク26に
埋め込む。ヒートシンク26の貫通穴27の直径は、た
とえば2゜朋にする。ヒートシンク26のまわりに、ニ
クロム線のような発熱体28を設ける。ヒートシンク2
6の適宜位置(はぼ中央が好適である)にサーミスタ式
温度計発信器29をそう人し、ヒートン/り26の温度
を電流に変換し、この電流を増幅器30を経て比較器3
1に送り、基準値と比較して電源32のスイッチ33を
開閉して、スイッチ33に一端を接続した発熱体28(
他端は接地されているか又は電源に接続されている)へ
の電流の供給を制御する。このようにして、ヒートシン
ク26およびオリフィスプレート6の温度を一定に、た
とえば40’Cに保つ。
物理的特性が変化することにより生ずる誤差を防止する
こと 第6図に示すように、オリフィスプレート6の温度を一
定にするため、オリフィスプレート6をアル、ミニラム
等の熱伝導率の良好な物質から成るヒートシンク26に
埋め込む。ヒートシンク26の貫通穴27の直径は、た
とえば2゜朋にする。ヒートシンク26のまわりに、ニ
クロム線のような発熱体28を設ける。ヒートシンク2
6の適宜位置(はぼ中央が好適である)にサーミスタ式
温度計発信器29をそう人し、ヒートン/り26の温度
を電流に変換し、この電流を増幅器30を経て比較器3
1に送り、基準値と比較して電源32のスイッチ33を
開閉して、スイッチ33に一端を接続した発熱体28(
他端は接地されているか又は電源に接続されている)へ
の電流の供給を制御する。このようにして、ヒートシン
ク26およびオリフィスプレート6の温度を一定に、た
とえば40’Cに保つ。
又サーミスタ式温度計発信器29と、増幅器30と、比
較器31と、スイッチ33との代りに、サーモスタット
スイッチを使用して発熱体28への電流の供給を制御す
るようにしてもよい。
較器31と、スイッチ33との代りに、サーモスタット
スイッチを使用して発熱体28への電流の供給を制御す
るようにしてもよい。
第6図において発熱体28は、ヒートシンク26のまわ
りに巻いであるが、この場合は金属発熱体、とくにニク
ロム線が好適である。しかし非金属発熱体、たとえば炭
化けい素化合物から成る発熱体の場合には、直接に、又
は耐熱性絶縁物で包み、ヒートシンク26に設けた穴内
にそう人するようにしてもよ(・。
りに巻いであるが、この場合は金属発熱体、とくにニク
ロム線が好適である。しかし非金属発熱体、たとえば炭
化けい素化合物から成る発熱体の場合には、直接に、又
は耐熱性絶縁物で包み、ヒートシンク26に設けた穴内
にそう人するようにしてもよ(・。
オリフィスプレート6の環境温度の変化による空気の流
出時間Taの変動の1例を示せば次のとおりである。
出時間Taの変動の1例を示せば次のとおりである。
オリフィスプレート6の温度を一定、たとえば40°C
に保った場合の空気の流出時間Taの変動の1例を示せ
ば次のとおりである。
に保った場合の空気の流出時間Taの変動の1例を示せ
ば次のとおりである。
すなわちこの場合空気の流出時間Taの変動はほとんど
ないと言える。
ないと言える。
(11] 試料ガス中にH2等の成分が含まれており
、このようなガスは微量ではあるが、袋7を透過し、又
はU字型外胴8内の水に溶解したガスが水温の上昇によ
り、U字型外胴8内にたい積し、そのために水頭圧力が
上昇することにより生ずる誤差を防止すること、 第4図に示すようにU字型外胴8の脚部22の上端部に
管34を取り付け、この管の途中に設けた電磁弁35を
シーケンス装置21によって所定の時間間隔で作動して
、管34の開放端から、袋7を透過したガスを放出する
。
、このようなガスは微量ではあるが、袋7を透過し、又
はU字型外胴8内の水に溶解したガスが水温の上昇によ
り、U字型外胴8内にたい積し、そのために水頭圧力が
上昇することにより生ずる誤差を防止すること、 第4図に示すようにU字型外胴8の脚部22の上端部に
管34を取り付け、この管の途中に設けた電磁弁35を
シーケンス装置21によって所定の時間間隔で作動して
、管34の開放端から、袋7を透過したガスを放出する
。
気泡すなわちたい積したガス成分5cr−の場合の空気
の流出時間’raの変動の1例を示せば次のとおりであ
る ガス成分のたい積による誤差を除去できることは明らか
である。
の流出時間’raの変動の1例を示せば次のとおりであ
る ガス成分のたい積による誤差を除去できることは明らか
である。
(iii) 試料ガスが低圧力のときも測定可能にす
ること 第5図に示すように、ガス導入管36を経て供給される
試料ガスの圧力は圧力スイッチ37で検出される。ガス
の圧力が大気圧と比較して低い圧力、たとえば大気圧よ
り10mmH2O低い場合には、圧力スイッチ37から
の信号は、ANDr−ト38に送られない。したがって
シーケンス装置21か喫窟号がANDケゞ−ト38に送
られても、ANDr−ト38からの出力信号は生じない
。しかしガスの圧力が前記圧力より高いときは、圧力ス
イッチ35からの信号はANDデート38に送られ、シ
ーケンス装置21からの信号がANDデート38に送ら
れるときに、AND ′r−)38からの出力信号によ
ってブースターポンプ39を作動して試料ガスの圧力を
測定可能な圧力に高めてサンプルガス入口1へ供給する
。 1
(1v) 袋7からのガスの漏れをチェックすること
試料ガスが袋7に入れられ、U字型外胴8の脚部23の
水面が上昇し、最上方の制御電極10に接触するときに
、シーケンス装置21によって電磁ff4.5を閉じる
。通常の測定操作の場合は、内圧の変動をとめるため、
数秒そのままの状態を保持し、その後電磁弁5が開かれ
る。しかし、ガスの漏れのチェックの場合は、数秒経過
後も電磁弁5は閉じられたままになっており、以後さら
に所定期間電磁弁4,5が閉じられ、袋7から漏れたガ
スを放出するため電磁弁35が開かれた状態になるよう
にシーケンス装置21をセットして置く。所定期間中に
、水面が最上方の制御電極10かも離れるときは、シー
ケンス装置21から信号が発生しないために、袋T内の
圧力が低下している、すなわちガスの漏れがあることを
チェックできる。各測定ルーチンの開始のときに、この
ようにして袋7のガスの漏れをチェックする。
ること 第5図に示すように、ガス導入管36を経て供給される
試料ガスの圧力は圧力スイッチ37で検出される。ガス
の圧力が大気圧と比較して低い圧力、たとえば大気圧よ
り10mmH2O低い場合には、圧力スイッチ37から
の信号は、ANDr−ト38に送られない。したがって
シーケンス装置21か喫窟号がANDケゞ−ト38に送
られても、ANDr−ト38からの出力信号は生じない
。しかしガスの圧力が前記圧力より高いときは、圧力ス
イッチ35からの信号はANDデート38に送られ、シ
ーケンス装置21からの信号がANDデート38に送ら
れるときに、AND ′r−)38からの出力信号によ
ってブースターポンプ39を作動して試料ガスの圧力を
測定可能な圧力に高めてサンプルガス入口1へ供給する
。 1
(1v) 袋7からのガスの漏れをチェックすること
試料ガスが袋7に入れられ、U字型外胴8の脚部23の
水面が上昇し、最上方の制御電極10に接触するときに
、シーケンス装置21によって電磁ff4.5を閉じる
。通常の測定操作の場合は、内圧の変動をとめるため、
数秒そのままの状態を保持し、その後電磁弁5が開かれ
る。しかし、ガスの漏れのチェックの場合は、数秒経過
後も電磁弁5は閉じられたままになっており、以後さら
に所定期間電磁弁4,5が閉じられ、袋7から漏れたガ
スを放出するため電磁弁35が開かれた状態になるよう
にシーケンス装置21をセットして置く。所定期間中に
、水面が最上方の制御電極10かも離れるときは、シー
ケンス装置21から信号が発生しないために、袋T内の
圧力が低下している、すなわちガスの漏れがあることを
チェックできる。各測定ルーチンの開始のときに、この
ようにして袋7のガスの漏れをチェックする。
第1図は特公昭59−13694号公報に記載された従
来の流出法による精密ガス比重測定装置のブロック線図
、第2図はこの発明の流出法による精密ガス比重測定装
置のブロック線図、第3図ないし第5図はこの発明の流
出法による精密ガス比重測定装置の一部をさらに改良し
た場合をそれぞれ示す説明図、第6図は第2図に示す密
封手段の変型の説明図である。 2.4.5・・・・・最初の(第1または第2)および
他の(第3)の電磁弁、3・・・・・恒温装置、6・・
・・・・オリフィスプレート、7・・・・・流体不透過
性の袋、8・・−・・・U字型外胴、9・・・・・・水
、13.10・・・・・第1および第2の制御電極、1
2.11 ・・中温1および第2の測定用電極、18・
・・・・カウンター、19.20・・・・・演算表示装
置、21・・・・・シーケンス装置、22.23・・・
・・脚部、24・・・・密封部材、25.25’・・・
・流体不透過性の袋図:Wt′)浄t(内容に変更なし
〕 第1図 手 続 補 正 書 (方式) 昭和59年12月17日
来の流出法による精密ガス比重測定装置のブロック線図
、第2図はこの発明の流出法による精密ガス比重測定装
置のブロック線図、第3図ないし第5図はこの発明の流
出法による精密ガス比重測定装置の一部をさらに改良し
た場合をそれぞれ示す説明図、第6図は第2図に示す密
封手段の変型の説明図である。 2.4.5・・・・・最初の(第1または第2)および
他の(第3)の電磁弁、3・・・・・恒温装置、6・・
・・・・オリフィスプレート、7・・・・・流体不透過
性の袋、8・・−・・・U字型外胴、9・・・・・・水
、13.10・・・・・第1および第2の制御電極、1
2.11 ・・中温1および第2の測定用電極、18・
・・・・カウンター、19.20・・・・・演算表示装
置、21・・・・・シーケンス装置、22.23・・・
・・脚部、24・・・・密封部材、25.25’・・・
・流体不透過性の袋図:Wt′)浄t(内容に変更なし
〕 第1図 手 続 補 正 書 (方式) 昭和59年12月17日
Claims (3)
- (1)(イ)最初の電磁弁を経て気体を導入できる膨張
自在な流体不透過性の袋と、 (ロ)この袋から他の電磁弁を経て気体を排出できるJ
IS径より大径のオリフィスと、 (ハ)両脚部に水を入れ、一方の脚部に前記袋を納めた
ほぼ同径のU字型外胴と、 (ニ)前記両脚部のうちの他方の脚部の水面から順次遠
ざかる高さ位置に配置されると共に前記袋内への気体の
導入排出に伴なう前記水面の上昇、下降の際にこの水面
に接するように配置した第1の制御電極、第1および第
2の測定用電極、並びに第2の制御電極と、 (ホ)前記水面が前記第1および第2の測定用電極を通
過して下降するときに、その通過時間間隔を測定するよ
うにこれら測定用電極に結合したカウンターと、 (ヘ)このカウンターの測定値を演算表示するように、
このカウンターに結合した演算表示装置と、 (ト)前記水面が前記第1の制御電極を通過して下降す
るときは、前記他の電磁弁を閉じ前記最初の電磁弁を開
くが、前記水面が上昇して前記第2の制御電極に達する
ときは、 前記最初の電磁弁を閉じ前記他の電磁弁を開くように、
これら制御電極および電磁弁に結合したシーケンス装置
と を備えた、流出法による精密ガス比重測定装置において
、 前記他方の脚部の開放した上端部を、膨張自在な密封手
段により気密に密封し、 前記第1および第2の制御電極並びに前記第1および第
2の測定用電極を、前記上端部内に、気密状態を保つよ
うに配置した、 ことを特徴とする、流出法による精密ガス比重測定装置
。 - (2)前記膨張自在な密封手段を、前記開放した上端部
を気密に密封する密封部材と、前記上端部の内部と連通
するように前記密封部材に気密に取り付けた膨張自在な
流体不透過性の別の袋とにより構成し、前記第1および
第2の制御電極並びに前記第1および第2の測定用電極
を、前記密封部材を気密に貫通させたことを特徴とする
特許請求の範囲第(1)項記載の流出法による精密ガス
比重測定装置。 - (3)前記膨張自在な密封手段を、前記開放した上端部
のまわりに開口端を気密に取り付けた膨張自在な流体不
透過性のさらに別の袋により構成し、前記第1および第
2の制御電極並びに前記第1および第2の測定用電極を
、前記他方の脚部の側壁を気密に貫通させたことを特徴
とする特許請求の範囲第(1)項記載の流出法による精
密ガス比重測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23774984A JPS61116640A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 測定値のドリフト現象を除去する流出法による精密ガス比重測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23774984A JPS61116640A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 測定値のドリフト現象を除去する流出法による精密ガス比重測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61116640A true JPS61116640A (ja) | 1986-06-04 |
Family
ID=17019899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23774984A Pending JPS61116640A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 測定値のドリフト現象を除去する流出法による精密ガス比重測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61116640A (ja) |
-
1984
- 1984-11-12 JP JP23774984A patent/JPS61116640A/ja active Pending
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