JPH0328373Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0328373Y2 JPH0328373Y2 JP1982098853U JP9885382U JPH0328373Y2 JP H0328373 Y2 JPH0328373 Y2 JP H0328373Y2 JP 1982098853 U JP1982098853 U JP 1982098853U JP 9885382 U JP9885382 U JP 9885382U JP H0328373 Y2 JPH0328373 Y2 JP H0328373Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw detection
- coil
- magnetic
- storage case
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は鋼管や棒線などの管棒状体をキユーリ
ー点を含む温度範囲で探傷する渦流探傷装置に関
する。
ー点を含む温度範囲で探傷する渦流探傷装置に関
する。
従来から管棒状体に対して熱間渦流探傷が実用
されているが、従来の探傷においては被検材の温
度がキユーリー点よりも高い温度範囲で実施され
ている。その理由は、キユーリー点近傍の温度範
囲では探傷信号に異常ノイズが発生したり、信号
レベルが低下するように現象が発生するからであ
る。
されているが、従来の探傷においては被検材の温
度がキユーリー点よりも高い温度範囲で実施され
ている。その理由は、キユーリー点近傍の温度範
囲では探傷信号に異常ノイズが発生したり、信号
レベルが低下するように現象が発生するからであ
る。
これらの状況を図により説明する。第１図ａは
被検材の温度と探傷信号のＳ／Ｎ比との関係を示
す図であり、第１図ｂは各温度（イ，ロ，ハ，
ニ，ホ）別の探傷信号の波形例を示す図である。
被検材が鋼の場合、キユーリー点は約720℃であ
り、被検材の温度が約700〜740℃の範囲では、第
１図ｂの730℃(ロ)での波形例のように、異常ノイ
ズが発生してＳ／Ｎ比が小さく、また被検材の温
度が約600〜700℃の範囲では、第１図ｂの650℃
(ハ)での波形例のように、信レベルが低下してＳ／
Ｎが小さくなる。このような現象は、キユーリー
点近傍で被検材の磁気的特性が急激に変化するこ
とに起因する。
被検材の温度と探傷信号のＳ／Ｎ比との関係を示
す図であり、第１図ｂは各温度（イ，ロ，ハ，
ニ，ホ）別の探傷信号の波形例を示す図である。
被検材が鋼の場合、キユーリー点は約720℃であ
り、被検材の温度が約700〜740℃の範囲では、第
１図ｂの730℃(ロ)での波形例のように、異常ノイ
ズが発生してＳ／Ｎ比が小さく、また被検材の温
度が約600〜700℃の範囲では、第１図ｂの650℃
(ハ)での波形例のように、信レベルが低下してＳ／
Ｎが小さくなる。このような現象は、キユーリー
点近傍で被検材の磁気的特性が急激に変化するこ
とに起因する。
通常渦流探傷において被検材の磁気的特性の変
動の影響をさける方法として、被検部近傍を磁気
飽和状態にして探傷する方法が従来から用いられ
ており、鋼管や棒線などの貫通コイル方式による
渦流探傷においては、検査用コイルと別に磁気飽
和コイルを設け、この磁気飽和コイルに直流電流
を流して被検部近傍を磁気飽和状態にして探傷す
る方法が向く用いられている。第２図に前記貫通
コイル方式の場合のコイル構成を示す。この方法
では一般的に同軸上に２個のソレノイド状の検査
用コイル１０，１０が配置され、その外側にソレ
ノイド状の磁気飽和コイル１１が検査用コイルと
同心的に配置され、被検材６はこれらのコイルの
内部を通過することによつて検査される。
動の影響をさける方法として、被検部近傍を磁気
飽和状態にして探傷する方法が従来から用いられ
ており、鋼管や棒線などの貫通コイル方式による
渦流探傷においては、検査用コイルと別に磁気飽
和コイルを設け、この磁気飽和コイルに直流電流
を流して被検部近傍を磁気飽和状態にして探傷す
る方法が向く用いられている。第２図に前記貫通
コイル方式の場合のコイル構成を示す。この方法
では一般的に同軸上に２個のソレノイド状の検査
用コイル１０，１０が配置され、その外側にソレ
ノイド状の磁気飽和コイル１１が検査用コイルと
同心的に配置され、被検材６はこれらのコイルの
内部を通過することによつて検査される。
この貫通コイル方式の場合は、磁気飽和コイル
と検査用コイルとが同心円筒構造であり、磁気飽
和コイルの内側に検査用コイルを着脱可能にセツ
トするようになつているので、被検材の寸法（外
径）が変つたときの検査用コイルの交換や保守点
検時の検査用コイルの着脱が簡単にできる構造に
なつている。
と検査用コイルとが同心円筒構造であり、磁気飽
和コイルの内側に検査用コイルを着脱可能にセツ
トするようになつているので、被検材の寸法（外
径）が変つたときの検査用コイルの交換や保守点
検時の検査用コイルの着脱が簡単にできる構造に
なつている。
しかし本考案の適用対象とするプローブ方式の
場合には、前記貫通コイル方式の場合のように磁
気飽和コイルの内側に検査用プローブをセツトし
ようとすれば、磁気飽和コイルの内側での検査用
プローブの支持構造が複雑となるとともに広い空
間を必要とすることになつて磁化効率が低下し、
また検査用プローブを被検材のまわりに回転させ
て探傷する型式とする場合は回転機構も含めて検
査用プローブの支持機構が一層複雑になるという
問題がある。
場合には、前記貫通コイル方式の場合のように磁
気飽和コイルの内側に検査用プローブをセツトし
ようとすれば、磁気飽和コイルの内側での検査用
プローブの支持構造が複雑となるとともに広い空
間を必要とすることになつて磁化効率が低下し、
また検査用プローブを被検材のまわりに回転させ
て探傷する型式とする場合は回転機構も含めて検
査用プローブの支持機構が一層複雑になるという
問題がある。
そこでプローブ方式の場合は検査用プローブと
磁気飽和コイルとを別個に配置することが考えら
れるが、この場合、被検部と磁気飽和コイル設置
部が離れているので被検部に対する磁科効率が低
下することになる。
磁気飽和コイルとを別個に配置することが考えら
れるが、この場合、被検部と磁気飽和コイル設置
部が離れているので被検部に対する磁科効率が低
下することになる。
本考案はプローブ方式におけるかかる欠点を解
消するためになされたものであり、その要旨は磁
気飽和コイル２を内蔵した収納ケース３の内部を
熱間の管棒状体を通過させ、磁気飽和コイル２で
管棒状体を磁気飽和させ、検査用プローブ１で探
傷する熱間過流探傷装置において、収納ケース３
の入側または出側のうちの一方の部材を磁性体と
して他方を非磁性体として構成し、検査用プロー
ブ１を収納ケース３の非磁性体側に近接して配置
したことを特徴とする熱間渦流探傷装置である。
消するためになされたものであり、その要旨は磁
気飽和コイル２を内蔵した収納ケース３の内部を
熱間の管棒状体を通過させ、磁気飽和コイル２で
管棒状体を磁気飽和させ、検査用プローブ１で探
傷する熱間過流探傷装置において、収納ケース３
の入側または出側のうちの一方の部材を磁性体と
して他方を非磁性体として構成し、検査用プロー
ブ１を収納ケース３の非磁性体側に近接して配置
したことを特徴とする熱間渦流探傷装置である。
以下本考案を図示の実施例により詳しく説明す
る。
る。
第３図は本考案の実施例を示す図で、検査用プ
ローブ１と磁気飽和コイル２とは被検材６の軸方
向に近接して配置されている。かかる配置によつ
て検査用プローブの上方は自由空間となり、検査
用プローブの交換や保守作業が容易となり、また
検査用プローブを回転させる場合でもその支持回
転機構が単純化される。
ローブ１と磁気飽和コイル２とは被検材６の軸方
向に近接して配置されている。かかる配置によつ
て検査用プローブの上方は自由空間となり、検査
用プローブの交換や保守作業が容易となり、また
検査用プローブを回転させる場合でもその支持回
転機構が単純化される。
ところで実際の検査においては被検材６の検査
用プローブ１直下の部分だけを磁気飽和状態にす
ればよいのであるが、磁気飽和コイル２はソレノ
イド状をしており、磁束はコイルの両側（図面の
左右側）に対称に分布するので、従来のように収
納ケース３の全部材を非磁性体で構成したもので
は、コイル２の図面左側すなわち被検部から離れ
た側の部分まで磁化させることになつて磁化効率
が悪くなる。そこで本考案では磁気飽和コイル２
の収納ケース３の検査用プローブに相対向しない
側の部材５を磁性体とし、他の部材４は従来通り
非磁性体で製作する。収納ケースの部材５を磁性
体とすることにより磁気飽和コイル２の検査用プ
ローブ１と相対向しない側の磁路を短かくして、
被検材６の実際に有用な部分の磁化効率を向上さ
せることができる。
用プローブ１直下の部分だけを磁気飽和状態にす
ればよいのであるが、磁気飽和コイル２はソレノ
イド状をしており、磁束はコイルの両側（図面の
左右側）に対称に分布するので、従来のように収
納ケース３の全部材を非磁性体で構成したもので
は、コイル２の図面左側すなわち被検部から離れ
た側の部分まで磁化させることになつて磁化効率
が悪くなる。そこで本考案では磁気飽和コイル２
の収納ケース３の検査用プローブに相対向しない
側の部材５を磁性体とし、他の部材４は従来通り
非磁性体で製作する。収納ケースの部材５を磁性
体とすることにより磁気飽和コイル２の検査用プ
ローブ１と相対向しない側の磁路を短かくして、
被検材６の実際に有用な部分の磁化効率を向上さ
せることができる。
第４図は第３図に示した構成の本考案装置を用
いて、第１図ａ，ｂに示した実験時のものと同じ
サンプルに対して探傷したときの各温度(イ)，(ロ)，
(ハ)，(ニ)，(ホ)別の探傷信号の波形例を示す図であ
る。この第４図からわかるように、本考案装置に
よればキユーリー点近傍（600〜750℃）において
も安定した探傷ができる。
いて、第１図ａ，ｂに示した実験時のものと同じ
サンプルに対して探傷したときの各温度(イ)，(ロ)，
(ハ)，(ニ)，(ホ)別の探傷信号の波形例を示す図であ
る。この第４図からわかるように、本考案装置に
よればキユーリー点近傍（600〜750℃）において
も安定した探傷ができる。
以上述べたごとく、本考案等によればプローブ
方式による熱間渦流探傷において磁気飽和コイル
の磁化効率を向上させることができ、鋼管や棒線
などの製造ラインにおける熱間渦流探傷において
の実用的効果は大きい。
方式による熱間渦流探傷において磁気飽和コイル
の磁化効率を向上させることができ、鋼管や棒線
などの製造ラインにおける熱間渦流探傷において
の実用的効果は大きい。
第１図ａ，ｂはキユーリー点近傍の温度範囲に
おける渦流探傷の不安定を説明するための図で、
第１図ａは被検材の温度と探傷信号のＳ／Ｎ比と
の関係を示す図、第１図ｂは各温度別の探傷信号
の波形例を示す図、第２図は従来の貫通コイル方
式による渦流探傷時のコイル構成を示す図、第３
図は本考案の実施例装置を示す図、第４図は本考
案装置の場合の探傷信号の波形例を示す図であ
る。 １……検査用プローブ、２……磁気飽和コイ
ル、３……収納ケース、４……非磁性体の部材、
５……磁性体の部材、６……被検材、１０……検
査用コイル、１１……磁気飽和コイル。
おける渦流探傷の不安定を説明するための図で、
第１図ａは被検材の温度と探傷信号のＳ／Ｎ比と
の関係を示す図、第１図ｂは各温度別の探傷信号
の波形例を示す図、第２図は従来の貫通コイル方
式による渦流探傷時のコイル構成を示す図、第３
図は本考案の実施例装置を示す図、第４図は本考
案装置の場合の探傷信号の波形例を示す図であ
る。 １……検査用プローブ、２……磁気飽和コイ
ル、３……収納ケース、４……非磁性体の部材、
５……磁性体の部材、６……被検材、１０……検
査用コイル、１１……磁気飽和コイル。
Claims (1)
- 磁気飽和コイル２を内蔵した収納ケース３の内
部を熱間の管棒状体を通過させ、磁気飽和コイル
２で管棒状体を磁気飽和させ、検査用プローブ１
で探傷する熱間渦流探傷装置において、収納ケー
ス３の入側または出側のうちの一方の部材を磁性
体とし他方を非磁性体として構成し、検査用プロ
ーブ１を収納ケース３の非磁性体側に近接して配
置したことを特徴とする熱間渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9885382U JPS594464U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 熱間渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9885382U JPS594464U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 熱間渦流探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS594464U JPS594464U (ja) | 1984-01-12 |
| JPH0328373Y2 true JPH0328373Y2 (ja) | 1991-06-18 |
Family
ID=30234518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9885382U Granted JPS594464U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 熱間渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS594464U (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5935806Y2 (ja) * | 1977-09-20 | 1984-10-03 | 原電子測器株式会社 | 渦流探傷装置 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP9885382U patent/JPS594464U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS594464U (ja) | 1984-01-12 |
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