JPH0328480U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0328480U JPH0328480U JP8896489U JP8896489U JPH0328480U JP H0328480 U JPH0328480 U JP H0328480U JP 8896489 U JP8896489 U JP 8896489U JP 8896489 U JP8896489 U JP 8896489U JP H0328480 U JPH0328480 U JP H0328480U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- relay
- bias voltage
- voltage source
- under test
- Prior art date
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- Granted
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第1図はこの出願の第1考案の実施例を示す接
続図、第2図はこの出願の第2考案の実施例を示
す接続図、第3図は従来技術を説明するための接
続図である。 1……IC試験装置本体、2……ピンエレクト
ロニクスボード、3……被試験IC、4A……駆
動回路、4……信号取込回路、5……終端抵抗器
、6……リレー、7……第1バイアス電圧源、7
A……第2バイアス電圧源、Q1,Q2……終端
抵抗器に校正信号発生機能を付加するスイツチ素
子、14……校正信号源。
続図、第2図はこの出願の第2考案の実施例を示
す接続図、第3図は従来技術を説明するための接
続図である。 1……IC試験装置本体、2……ピンエレクト
ロニクスボード、3……被試験IC、4A……駆
動回路、4……信号取込回路、5……終端抵抗器
、6……リレー、7……第1バイアス電圧源、7
A……第2バイアス電圧源、Q1,Q2……終端
抵抗器に校正信号発生機能を付加するスイツチ素
子、14……校正信号源。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) A 被試験ICの入出力端子に信号を与え
る駆動回路と、 B 被試験ICの入出力端子から出力される論
理信号を取り込んで正規のレベルを持つ信号を取
り込む信号取込回路と、 C 駆動回路と信号取込回路の接続点に一端が
接続されたリレーと、 D このリレーの他端側に接続された終端抵抗
器と、 E この終端抵抗器の他端側に接続されたバイ
アス電圧源と、 F 上記終端抵抗器に流れる電流を制御し、終
端抵抗器に発生する電圧降下を利用して上記信号
取込回路に校正信号を与える一対のスイツチ素子
と、 によつて構成して成るIC試験装置。 (2) A 被試験ICの入出力端子に信号を与え
る駆動回路と、 B 被試験ICの入出力端子から出力される論
理信号を取り込んで正規のレベルを持つ信号を取
り込む信号取込回路と、 C 駆動回路と信号取込回路の接続点に一端が
接続されたリレーと、 D このリレーの他端側に接続された終端抵抗
器と、 E この終端抵抗器の他端側に設けられた第1
バイアス電圧源と、 F この第1バイアス電圧源の電圧を校正信号
の一方の論理値とし、校正信号の他方の論理値を
与える第2ハイアス電圧源と、 G 上記終端抵抗器の他端を上記第1バイアス
電圧源と第2バイアス電圧源とに交互に接続して
校正信号を発生させる切替回路と、 によつて構成して成るIC試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8896489U JP2532081Y2 (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | Ic試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8896489U JP2532081Y2 (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | Ic試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0328480U true JPH0328480U (ja) | 1991-03-20 |
| JP2532081Y2 JP2532081Y2 (ja) | 1997-04-09 |
Family
ID=31638559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8896489U Expired - Lifetime JP2532081Y2 (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | Ic試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2532081Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-07-28 JP JP8896489U patent/JP2532081Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2532081Y2 (ja) | 1997-04-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |