JPH0328792A - 自動時間間隔測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は、入力信号の２つのイベント間の時間間隔を自
動的に測定する自動時間間隔測定方法に関する。

［従来技術及び発明が解決しようとする課題］オシロス
コープは、入力信号のイベント間の時間間隔の測定にし
ばしば用いられる。例えば、正弦波信号の周期は、その
信号の正方向ゼロクロス点間の間隔を測定することによ
り求められ、その信号の周波数は、周期の逆数として求
められる。

このような測定は、オシロスコープのスクリーン上の入
力信号の表示を用いて行われていた。オペレー夕は、オ
シロスコープのスクリーン上に表示された信号の２つの
イベントの間隔をスクリーン上の水平軸目盛の単位で測
定していた。この水平目盛数と時間／目盛で表されるオ
シロスコープの掃引率との乗算によりオペレータは２つ
のイベント間の時間間隔を求めていた。このような測定
方法は、時間がかかる上に精度も低いという問題があっ
た。

時間間隔測定の精度を向上する為に、オシロスコープに
カウンタ／タイマーを内蔵したものもある。この場合、
オペレータは、２つのカーソルを測定したいイベント点
に夫々設定する。これらのカーソルにより水平掃引信号
の２つのトリガ点が決まり、第１カーソルの点からカウ
ンタ／タイマーは正確な発振器の出力パルスのカウント
を開始する。カウンタ／タイマーは、第２のカーソルの
点でカウントを停止し、その間の計数値に発振器の出力
パルスの周期を乗算することにより時間間隔が求められ
る。この方法では、測定時間及び精度は向上するが、カ
ウンタ／タイマーのハードウエアの為の追加費用が必要
となる上に、オペレータが２つのカーソルの位置を正確
に設定する必要もある。

カウンタ／タイマーを使用しない最近の技術は、■９８
８年６月３０日に出願された米国特許出願第２１３６４
５号（米国特許第４．　８　５　５　９　６　８号とし
て発行済み、特開平２　−　５　２　２’　８　２号に
対応）の明細書に開示されている。この技術では、第１
イベントでＡ掃引信号をトリガし、第２イベントでＢ掃
引信号をトリガするように、Ａ及びＢの２つの掃引信号
を利用している。最初、両方の掃引信号を第１のイベン
トでトリガし、設定した第１基準レベルにＡ掃引信号が
達した時に第１指示信号を発生し、その後第２のイベン
トでＢ掃引信号をトリガしてＢ掃引信号が第２基準レベ
ルに達した時に第２指示信号を発生し、第１及び第２指
示信号が等価時間軸上で同じ時点で発生するように第２
基準レベルを調整し、第１及び第２基型レベル間の電位
差から第１及び第２イベント間の時間差を計算すること
が出来る。最高の精度で時間間−３ 隔を測定する為には、両方の掃引信号は、ダグラス・ク
リフォード・ステイーブンス及びヘンリー・グレゴリー
・フォックスにより１９８６年８月２９日に出願された
米国特許出願第９０２３６３号の明細書に開示された校
正方法に従って掃引信号のオフセット及び非線形性を補
償するように校正しても良い。

従って、本発明の目的は、従来の技法に比較してより簡
単に時間間隔を自動的に測定し得るアナログ・オシロス
コープに好適な時間間隔測定方法を提供することである
。

［課題を解決する為の手段及び作用］ 本発明の時間間隔測定方法によれば、アナログ・オシロ
スコープの単一の掃引信号（傾斜信号）を利用する。先
ず、反復入力信号に応じて掃引信号を繰り返し発生する
。この掃引信号は可変遅延レベルと比較され、この比較
出力の状態変化の時点と上記入力信号の第１イベントの
時点が一致するまで上記可変遅延レベルを順次調整して
上記第１イベントを表す第１遅延レベルを探索する。次
−４ に、入力信号の第２イベントの時点と上記比較出力の状
態変化の時点が一致するまで上記可変遅延レベルを調整
して上記第２イベントを表す第２遅延レベルを探索する
。このようにして求めた第１及び第２遅延レベルの差を
計算し、第１及び第２イベント間の時間間隔を自動的に
測定する。

本発明の自動時間間隔測定方法によれば、反復入力信号
の第１及び第２イベントを夫々発生する場合のトリガ回
路に於ける第１及び第２トリガ・レベルを同一に設定し
、反復入力信号の少なくともｌサイクルが掃引期間内に
含まれるように掃弓信号の掃引率を設定する。これによ
り、第ｌ及び第２イベントを表す第１及び第２遅延レベ
ルの差から自動的に反復入力信号の周期を計算すること
が出来る。この周期の逆数から周波数も求められる。

［実施例］ 第２図は、本発明を応用するのに好適なアナログ・オシ
ロスコープの構成を示すブロック図である。入力信号は
、夫々Ａトリガ信号及びＢトリガ信号を発生するＡ及び
Ｂ用のシュミット・トリガ回路１０及びｌ２に供給され
る。Ａ及びＢトリガ信シ｝は、人力信号が夫々Ａ及びＢ
トリガ・レベル制御用のＩ）ＡＣ（デジタル・アナログ
変換器）１４及び１６から発生する可変レベルを超えた
ときに発生される。μＰ（マイクロ・プロセッサ）ＩＢ
は、オシロスコープの前面パネル（図示せず）のオペレ
ータによる調整に応じてこれらＤ　Ａ．　Ｃ　１４及び
１６の出力レベルを所望のトリガ・レベルに制御する。

Ａ及びＢのトリガ信号は夫々Ａ及びＢのゲート回路２０
及び２２に供給される。これらＡ及びＢゲート回路２０
及び２２の出力ゲート信号によりＡ掃引同路２４及びＢ
掃引回路２６の夫々発生するＡ及び｝３掃引信号が制御
される。Ａ帰引信号は、Ａ及びＢのゲート回路２０及び
２２に夫々供給され、Ａ掃引信号が最終掃引電圧に達す
る各掃引サイクル毎にＡ及び１３ゲート回路２０及び２
２の出力をリセットする。Ａ及びＢのゲート同路２０及
び２２は、所定のホールド・オフ期間が終了するまでデ
イセープル状態のままに維持される。Ａゲート回路２０
は、Ａトリガイｇ号の次の立ち上がりエッジに応じてＡ
掃引信号の出力を再び開始する。他方、Ｂゲート回路２
２は、遅延比較器２８の出力が高状態になった後にＢト
リガ信号の最初の立ち上がりエッジに応じてＩ３掃引信
号の出力を開始する。

Ａ掃引信号は、遅延比較器２８にも供給され、Ａ掃引信
号がμＰ１８により制御される遅延Ｄ　ＡＣ３０の出力
レベルを超えた時、遅延比較器２８の出力は、Ａ掃引信
号が遅延ＤＡ．Ｃ３０の出力レベルを超えたときのみ高
状態となり、Ｂゲート同路をＢトリガ信号に応答し得る
イネーブル状態とする。遅延ＤＡＣ３０の出力レベルは
、Ａ掃引信号が時間に比例して立ち上がるので、既知の
遅延時間をＢ掃引信号に与える。遅延比較器２８の出力
は、Ｄ型フリップ・フロップであるタイム・ラッチ３２
のクロックＣ　Ｌ　Ｋ端子にも供給され、タイム・ラッ
チ３２は、この遅延時点に於けるＢトリガ信号の状態を
ラッチし、この情報はμＰ　ｌ　８に送られＢトリガ・
レベルを検出するのに川いら７ れる。最後に、ＲＳフリツプ・フロツプであるゲート・
ラッヂ３４は、Ｂゲート回路２２の出力によりセットさ
れ、Ｉ３ゲート回路の状態指示信号をμＰ１８に送り、
掃引期間内に少なくとも１サイクルの信号が含まれてい
るか否かを指示する。μ｝）１８は、Ａ掃引発生器２４
の掃引率を制御すると共に、タイム・ラツチ３２及びゲ
ート・ラツチ３４の両方をリセットする。

μ１）　１．　８は、遅延ＤＡＣ３０に遅延データを送
り遅延時間を制御する。μ■）１８は、ゲート・ラッチ
３４及びタイム・ラツチ３２の状態に応じて、Ａ掃引信
号の開始後から入力信号の第１イベントまでの期間に相
当する時間となるように遅延データを変化させる。この
第１イベントが所望の時間間隔の開始時点となる。その
後、μＰ１８は、Ａ掃引信号の開始時点と第１イベント
から更に遅延した第２イベントの時点との時間差に略対
応する新しい遅延データを発生して、所望の測定時間の
終了時点となる第２イベントを探索する。遅延ＤＡＣ３
０に供給するこれら２つのイベントの遅延８ データ値の差が時間値に変換されて人力信号の周期が求
められる。更に、この周期の逆数を計算して入力信号の
周波数が求められる。これら計算された周期及び周波数
の値は、表示器３６に表示される。

第３図は、別の実施例の一部分の構成を示すブロック図
である。μＰｌ８は、２つのｌ）　Ａ　Ｃを川いており
、遅延ＤＡＣ３０には第１イベントの遅延データ値を供
給し、デルタＤＡＣ３８には第２イベン１・のデータ値
を供給する。μ■）１８により制御されるＭＵＸ　（マ
ルチプレクサ）４０は、比較器２８の入力としてＤＡＣ
３０及び３８の何れか一方を適宜選択する。表示器３６
には、２つのイベントの時点を指示するカーソルを表示
したり、又は入力信号上に２つのイベントの時点に対応
ずる輝点を表示する等によりオペレータが測定時間間隔
を確認出来るようにしても良い。

第４図は、第２図のオシロスコープに本発明の自動時間
間隔測定方法を応用した場合の各部の動作を示すタイ改
ング波形図である。先ず、入力信号は正弦波であり、標
準的な自動セットアップ技法によりＡ及びＢのＤＡＣ１
　４及び１６の出力レベルは、ゼロレベルに初期設定さ
れているものとする。尚、自動セットアップ技法に関し
ては、例えば、米国特許第４７４３８４４号の「自己調
整オシロスコープ（Ｓｅｌｆ−Ａｄｊｕｓｔｉｎｇ　Ｏ
ｓｃｉｌｌｏｓｃｏｐｅ）　Ｊ（対応日本出願：特願昭
６２−３２１１７４号）の明細書に記載されており、こ
の自動セットアップ機能により、オシロスコープは、入
力信号に対して自動的に利得、掃引率及びオフセットを
調整して所望の表示をすることが出来る。この場合、正
弦波の入力信号の少なくともｌサイクルが表示される。

Ａ及びＢのトリガ回路ｌＯ及び１２からのトリガ信号は
、ヒステリシスを無視すれば、入力正弦波信号のゼロク
ロス毎に状態を反転する。

Ａトリガ信号の前縁に応じてＡゲート回路２０はＡゲー
ト信号を発生し、このＡゲート信号に応じてＡ掃引信号
が発生する。Ａ掃引信号が最終掃弓レベルに達すると、
Ａゲート信号がゼロレベルに戻り、Ａ掃引信号も停止す
る。Ａゲート信号の期間中に入力信号の１サイクル分が
含まれていなければ、第４図において実線で示したよう
に、Ｂゲート回路２２をイネーブルする比較器２８の出
力は、Ｂトリガ信号の立ち上がりエッジと次の立ち上が
りエッジの間で発生するので、Ｂゲート回路２２からは
何ら信号は出力されない。この場合、ゲート・ラッチ３
４はリセット状態なので、ゲート・ラッチのＱ出力状態
は『０」のままである。

μＰ１８は、第４図で破線で示したように、掃弓率を低
減し、掃引信号（ゲート信号）の期間に少なくとも入力
信号の１サイクルが含まれるように調整する。この場合
には、比較器２８の出力の高状態の期間は、破線で示す
ように、次のＢトリガ信号の前縁以降まで続くので、Ｂ
ゲート回路２２は破線で示すＢゲート信号を発生し、こ
れによりゲート・ラッチ３４はセットされ、μＰ１８は
、入力信号少なくともｌサイクルが表示されていること
を検出する。

その後、遅延ＤＡＣ３　０の出力レベルは、そのＬＳＢ
の最小変化によりタイム・ラッチ３２の出１ｉ 力状態が変化するまで調整される。この調整を行った時
点の遅延ＤＡＣ３０の値は、ＩＡ掃引当たり入力信号が
１サイクルだけしかない場合であれば、測定される時間
間隔の最初の時点である第１イベントの時点を示してい
る。Ａ掃引期間当たり２サイクル以上の入力信号が存在
する場合には、上述の方法で求めた時点とＡ掃引信号の
開始時点との間で再びＤＡＣ３０の出力を調整すること
により第１イベントの時点が探索される。このような処
理をＡ掃引信号の開始時点後の第１イベントの時点が求
まるまで必要なだけ繰り返し実行する。

必要ならば、掃引率が変更され入力信号の少なくとも２
サイクル分を掃引期間が含むように掃引率を設定し、こ
の新しい掃引率に基づいてＤＡＣの第１イベントも変更
される。ＤＡＣ３０の値を調整することにより、第ｌイ
ベントからｌ周期後の時点の探索が実行され、その時の
ＤＡＣ３０の値に対応する第２イベントの時点が求めら
れる。ＤＡＣ３０の２つの値は夫々第１及び第２イベン
トに対応しており、これらの差を計算することによ１２
− リ入ノＪ信号の周期（第１及び第２イベントの間の時間
差）が計算される。

第１図は、第２図のオシロスコープに応用した本発明の
自動時間間隔測定方法の処理の一実施例を示す流れ図で
ある。最初のステップでは、入力信号の少なくとも１サ
イクルを表示する為の最高速の掃引率にオシロスコープ
を設定する。遅延ＤＡＣ３０の値は、Ａ掃引信号の開始
時点以後で且つＡ掃引信号の中央より前のどこかの時点
に設定される。これにより、その時点からＡ掃引の停止
までのどこかでＢトリガ信号が発生すればＢゲート信号
が発生することになる。μＰ１８によりゲート・ラッチ
３４がリセットされ、Ａ掃引信号が出来るだけ高速で開
始され、μＰ１８は少なくとも１掃引後にゲート・ラッ
チ３４の状態をチェックしてＢゲート信号が発生したか
否かを検出する。

Ｂゲート信号が発生していれば、Ａ掃引期間中に少なく
とも入力信号の１サイクルが含まれていることになる。

Ｂゲート信号が発生していなければ、Ｂゲート信号の発
生が検出されるまでＡ掃引信号の掃引率を順次低滅しな
がら上述の処理を繰り返し実行する。

次に、比較器２８の遅延出力が掃引期間中の最後のＢト
リガ・イベントと一致するように遅延ＤＡＣ３０の値が
探索される。これは、遅延１）　Ａ　Ｃ３０に対して順
次近似型２進探索法を用いて、Ｂゲート信号が発生ずる
か又はしないかのＤ　Ａ．　Ｃ　３０の値の境界値を求
めることにより実行される。

■３ゲート信号が発生したか否かはゲート・ラッチ３４
の状態から検出されるが、この場合には、掃引率は変え
ずにＤＡＣ３０の値を変化させる。このようにして探索
されたＤＡＣ３０の値は、変数ＬＡＳＴ　ＥＶＥＮＴと
して記憶される。

オシロスコープの掃引速度がその装置の最高値に設定さ
れていれば、入力信号の何サイクルがＤＡ　Ｃ　値ＳＴ
ＡＲＴ　ＳＷＥＥＰ及びｌ．ＡｓＴ　ＥＶＥＮＴノ間の
期間内に含まれるかは判らない。従って、Ｄ　Ａ　Ｃ　
｛ｌ！ｆＳＴＡＲＴＳ　ＷＥ　Ｅ　＋）及びＬＡＳ１’
　ＥＶＥＮＴ（７）　２　つノ時点ノ間テ第１イベント
を探索する必要がある。この期間内のイベンｌ・を探索
するには、変数ＴＲＩＡＬ　ＥＶＥＮＴを変数Ｌ　Ａ　
Ｓ　ＴＥＶＥＮＴの値に設定し、特定の制限範囲内で別
のイベントの探索が実行される。この範囲内に含まれる
入力信号のサイクル数は、奇数か偶数か判らないので、
どちらの場合でも構わないように制限範囲を允分に広く
しなければならない。適当な制限範囲として、次のよう
に設定しても良い。

ＬＯＷ　ＬＩＭＩＴ・（ＬＡＳＴ　ＥＶＥＮＴ　−　Ｓ
ＴＡＲＴ　ＳＷＥＥＩ））／４＋　ＳＴＡＲＴ　ＳＷＥ
ＥＰ　−ｅ Ｈｒ　　ＬＩＭＩＴ　　＝　　（ＬＡＳＴ　　ＥＶＥＮ
Ｔ　　−　　ＳＴＡＲＴ　　ＳＷＥＥＰ）　　木　３／
４＋ＳＴＡＲＴＳＷＥＥＰ十ｅ ここで、ＳＴＡＲＴ　ＳＷＥＥＩ）、ＬＡＳＴ　ＥＶＥ
ＮＴ及びｅは、　Ｉ）ＡＣ値であり、変数ｅは、時間間
隔の計算上の最悪誤差を表し、この誤差は、掃引信号の
オフセットや非線形性及び遅延ＤＡＣ３０の誤差等に起
因するものである。」一述のように、遅延ＤＡＣ３０の
位を可変ずることによりこれらの制限範囲内で探索処理
が実行され、Ｂトリガ信号のエッジが見つかると、変数
丁ＲＩＡＬ　ＥＶＥＮＴをその新しいイベントの値に設
定する。新しいイベントが見つからなくなるまでこのよ
うな探索が繰り返し実行され、−ヒ記１５ 制限範囲の式の中でＴＲＩＡＩ、ＥＶＥＮＴの値がＬＡ
ＳＴ−ＥＶＥＮＴの値に置換される。この時点では、Ｆ
ＩＲＳＴ　ＥＶＥＮＴの値は、ＴＲＩＡＬ−ＥＶＥＮ’
ｌ’（７１）値に等シくナル。

通常、掃引率が１、２、５のステップで順に変化するの
で、掃引期間内に人力信号の２サイクル分以上が含まれ
る場合も起こる。例えば、人ノｒ｛１号の周期を２３ｍ
ｓと仮定すると、掃引率２　ｒｎ　ｓ／目盛で１０目盛
分の掃引期間（即ち、２０ｍｓ）では、８トリガ・イベ
ントは、発生しないが、掃引率５　ｒｎ．　ｓ　／　Ｉ
＋盛で１０目盛分の掃引期間（即ち、５０ｍＳ）では、
入力信号の２サイクル分が掃弓期間内に含まれることに
なる。従って、このような場合を考慮して、μ■〕１８
は、掃引率が１０のｎ乗の５倍になっているか否かを判
断ずる。この掃引率（例えば５ｍｓ／目盛）の場合には
、掃づ期間内に最大２サイクルしか含まれないので、第
１周期の終了時点は、式［　（ＬＡＳＴ　ＥＶＥＮＴ　
−　ＳＴＡＲＴＳＷＥＥＰ）／２　＋　ＳＴＡＲＴ　Ｓ
ＷＥＦ．Ｐ　＋　ｅ　］で表される制限範囲内に生じる
。タイム・ラツチ３２により、Ｂ　ｌ−リガ信吟が低か
ら高に状態変化する８トリガ・イ１６ ベントの発生時点の遅延Ｉ）　Ａ．　Ｃ値が指示される
。

Ｂトリガ・イベントが検出されると、この検出された新
しいイベントの値ＥＶＥＮＴをＦ＋ＲＳ’ｌ’　ＥＶＥ
ＮＴの舶：に代入する。その他の総ての場合には、掃引
期間内に入力信号の１ザイクル分しか含まれていないノ
テ、ＦＩＲＳＴ−ＥＶＥＮＴ　＝　１．ＡｓＴ　ＥＶＥ
ＮＴニ設定される。

この段階では、ｌ”ＩＲＳＴ　ＥＶＥＮＩ″のイ直及び
Ｓ’ｌ’ＡＩｌＴ　ＳＷＩ（ＥＰの値を用いて、入力信
号の周期が近似的に求められるので、適当な時間単位の
値に変換して表示することも出来る。しかし、掃引信号
の開始時点は、その他のイベントの時点よりは精度が劣
る傾向がある。即ち、その他のイベントの特点は帰り信
号の開始時点より正確に求めることが出来るのである。

ＦＩＲＳＴ　ＩＥＶＥＮＴ　＝　ＬＡＳＴＥＶＥＮＴの
関係があれば、掃引期間内には入力信号の１サイクルの
みしか存在しないので、掃引率を変更して第２のイベン
トをその掃引期間内に生じさせる必要がある。

その後、ＦＩＲＳＴ−ＥＶＥＮＴの値は、次の式に従っ
て新しい掃引率に列する新しい遅延１）　Ａ　Ｃ値に変
換される。

ＦＩＲＳＴ　　ＥＶＥＮＴ　　＝ （ＦＩＲＳＴ　ＥＶＥＮＴ　−　ＳＴＡＲＴ　ＳＷＥＥ
Ｐ）＊ＴＤＩ／ＴＤ２十ＳＴＡＲＴＳＷＥＥＰ この式は、変更される前後の２つの掃引率に対してＤＡ
Ｃの目盛当たりのコードとＳＴＡＲＴ　ＳＷＥＥＰの値
が等しいと仮定している。掃引率に夫々対応して更に精
度の高い値を用いて変換を行うには、米国特許出願第９
０２３６３号の明細書に記載された装置を使用しても良
い。更に精度を高くする為に、ＦＩＲＳＴ　ＥＶＥＮＴ
：！：ｅの制限範囲内で新たなＦＩＲＳＴ　ＥＶＥＮＴ
の値を探索しても良い。次のイベントは、式［２本（Ｆ
ＩＲＳＴ　　ＥＶＥＮＴ　　−　　ＳＴＡＲＴ　　ＳＷ
ＥＥＰ）　　＋　　ＳＴＡＲＴ　　ＳＷＥＥＰ　＋ｅ］
の制限範囲内で発生する。これらの制限範囲内に於ける
探索処理により、次のＢトリガ・イベントＳＥＣＯＮＤ
　ＥＶＥＮＴ（７）遅延ＤＡＣ値が求められる。掃引期
間内に入力信号の２サイクル以上が存在する場合には、
変数値変換は必要無く、次のイベントの制限範囲が計算
され、上述の手順に従ってＳＥＣＯＮＤ　ＥＶＥＮＴの
値が求められる。

ＳＥＣＯＮＤ　ＥＶＥＮＴトＦＩＲＳＴ　ＥＶＥＮＴト
（７）差は、ＤＡＣ（７）コード単位で表された入力信
号の周期に相当し、この値の逆数が入力信号の周波数を
表している。

更に高粕度の結果を得る為に、単位時間当たりのＤＡＣ
コードで表されたこれらの値は、時間単位又は周波数単
位の値に変換される。このようにして得られた測定結果
は、２つの遅延値の差に基づいているので、掃引の開始
時点の誤差や非線形性に起因する誤差が相殺されて精度
が高くなる。更に、各掃引率毎に単位時間当たりの遅延
ＤＡＣのコード値の特性を考慮することにより正確な結
果を得ることも出来る。

周期及び周波数の一方又は両方の値がμＰ］８により表
示器３６に表示される。ＦＩＲＳＴ　ＥＶＥＮＴの値は
遅延ＤＡＣ３０に供給され、ＳＥＣＯＮＤ　ＥＶＥＮＴ
の値は、デルタＤＡＣ３　８に供給され、これらの出力
値を用いて表示画面上にカーソルを表示し、入力信号の
被測定部分を指示するようにしても良い。

または、表示された入力信号の第ｌ及び第２のイベント
間の部分を輝度変調して明るく表示しても良い。また、
各サイクルの開始時点を輝度変調す一１９ ることにより、測定される実際の周期部分を指示し、オ
ペレータが測定動作を確認出来るようにしても良い。

以上本発明の好適実施例について説明したが、本発明は
ここに説明した実施例のみに限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱することなく必要に応じて種々の変
形及び変更を実施し得ることは当業者には明らかである
。

［発明の効果］ 本発明の自動時間間隔測定方法は、単一の掃弓信号と遅
延トリガ機能等の既存のマイクロ・プロセッサ制御のア
ナログ・オシロスコープのハードウエアを利用するだけ
で簡単に実現出来る。特に、単一の掃引信号しか必要と
しないので、実現が極めて容易であり、単一の掃引信号
を可変遅延レベルと比較することにより得た第１及び第
２遅延レベルの差から所望の時間間隔が測定出来るので
、掃引信号のオフセットや非線形性に起因する誤差は相
殺され、極めて正確に測定出来る。また、第１及び第２
トリガ・レベルを同一にして入力信号一２０一 の１サイクル間の時間間隔を測定するように掃弓率を設
定することにより入力信号の周期を簡単に測定出来る。

【図面の簡単な説明】 第１図は、本発明の一実施例の手順を示す流れ図、第２
図は、本発明を利用するのに好適なアナログ・オシロス
コープの構戒を示すブロック図、第３図は、第２図の一
部分の他の実施例を示すブロック図、第４図は、第２図
のオシロスコープの各部の動作の一例を示すタイミング
波形図である。 １０及び１２：　トリガ回路 ｌ８：マイクロ・プロセッサ ２０及び２２：ゲート回路 ２４：掃引発生器 ２８：遅延比較器 ３０：遅延ＤＡＣ ３２：タイム・ラッチ ３４：ゲート・ラッチ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）反復入力信号に応じて掃引信号を繰り返し発生し
   、 上記掃引信号と可変遅延レベルとの比較出力の状態変化
   の時点と、上記入力信号の第１イベントの時点とが一致
   するまで上記可変遅延レベルを順次調整して上記第１イ
   ベントの時点を表す第１遅延レベルを探索し、 上記入力信号の第２イベントの時点と上記比較出力の状
   態変化の時点とが一致するまで上記可変遅延レベルを調
   整して上記第２イベントの時点を表す第２遅延レベルを
   探索し、 上記第１及び第２遅延レベルの差から上記第１及び第２
   イベント間の時間間隔を自動的に測定する自動時間間隔
   測定方法。
2. （２）上記第１及び第２イベントを夫々発生する場合の
   第１及び第２トリガ・レベルを同一に設定し、 上記反復入力信号の１サイクルが上記掃引信号の期間内
   に含まれるように上記掃引信号の掃引率を設定し、 上記第１及び第２遅延レベルの差から上記反復入力信号
   の周期を自動的に求めることを特徴とする請求項１記載
   の自動時間間隔測定方法。