JPH03291385A - 無電解錫―鉛合金めっき方法 - Google Patents
無電解錫―鉛合金めっき方法Info
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- JPH03291385A JPH03291385A JP9299390A JP9299390A JPH03291385A JP H03291385 A JPH03291385 A JP H03291385A JP 9299390 A JP9299390 A JP 9299390A JP 9299390 A JP9299390 A JP 9299390A JP H03291385 A JPH03291385 A JP H03291385A
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- acid
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3465—Application of solder
- H05K3/3473—Plating of solder
Landscapes
- Chemically Coating (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は銅又は銅合金に無電解錫−鉛合金めっきを施す
際に用いられる無電解錫−鉛合金めっき方法に関するも
のである。
際に用いられる無電解錫−鉛合金めっき方法に関するも
のである。
(従来の技術とその問題点)
錫−鉛合金めっきは、銅または銅合金の保護と半田付は
性の向上のためにプリント配線板などに広く利用されて
いる。
性の向上のためにプリント配線板などに広く利用されて
いる。
錫−鉛合金めっきを施すには、電気めっき法、溶融めっ
き法、無電解めっき法が採られるが、電気めっき法と溶
融めっき法とでは形状の複雑な被めっき体に均一な錫−
鉛合金めっきを施すことができず、部分的な不めっきが
見られることさえあった。
き法、無電解めっき法が採られるが、電気めっき法と溶
融めっき法とでは形状の複雑な被めっき体に均一な錫−
鉛合金めっきを施すことができず、部分的な不めっきが
見られることさえあった。
一方、無電解錫−鉛合金めっき法は化学反応を利用する
ものであるから、曲折や遮蔽部を有する前記部品、プリ
ント基板回路などにおける電気的非短絡部分、ケースや
曲管の細部にまで均一な錫−鉛合金めっきを施すことが
できる。
ものであるから、曲折や遮蔽部を有する前記部品、プリ
ント基板回路などにおける電気的非短絡部分、ケースや
曲管の細部にまで均一な錫−鉛合金めっきを施すことが
できる。
従来、無電解錫−鉛合金めっきで一般に用いられている
浴は、塩酸、硫酸、燐酸等を用いた鉱酸浴、フッ化物浴
、有機酸浴である。しかし、これらの浴では、めっき皮
膜のピンホールによって錫−鉛合金めっき特有の耐食性
が無電解めっきでは著しく劣るという欠点を解決できな
いでいる。また、フッ化物浴と有機酸浴とでは、浴が高
価で特別な廃水処理も必要なため実用的とは言い難い。
浴は、塩酸、硫酸、燐酸等を用いた鉱酸浴、フッ化物浴
、有機酸浴である。しかし、これらの浴では、めっき皮
膜のピンホールによって錫−鉛合金めっき特有の耐食性
が無電解めっきでは著しく劣るという欠点を解決できな
いでいる。また、フッ化物浴と有機酸浴とでは、浴が高
価で特別な廃水処理も必要なため実用的とは言い難い。
(発明の目的)
そこで本発明は上記問題点を解消すべくなされたもので
あり、その目的とするところは、浴が安価で銅または銅
合金素材へのアタックが緩やかであり、密着性が良好で
、ピンホールのない錫−鉛合金めっき皮膜が得られる無
電解錫−鉛合金めっき方法を提供するものである。
あり、その目的とするところは、浴が安価で銅または銅
合金素材へのアタックが緩やかであり、密着性が良好で
、ピンホールのない錫−鉛合金めっき皮膜が得られる無
電解錫−鉛合金めっき方法を提供するものである。
(問題点を解決するための手段)
上記目的による本発明に係る無電解錫−鉛合金めっき方
法によれば、塩酸、硫酸、燐酸から選ばれた鉱酸と、こ
れら鉱酸若しくは炭素数1〜3の脂肪族モノカルボン酸
の2価の錫塩および鉛塩と、還元剤としての次亜燐酸ナ
トリウムと、錯化剤としてのチオ尿素と、改質剤として
の界面活性剤を基本組成として含有する浴を用いて、無
電解錫−鉛合金めっき方法を少なくとも二段階で実施す
ることを特徴とする。
法によれば、塩酸、硫酸、燐酸から選ばれた鉱酸と、こ
れら鉱酸若しくは炭素数1〜3の脂肪族モノカルボン酸
の2価の錫塩および鉛塩と、還元剤としての次亜燐酸ナ
トリウムと、錯化剤としてのチオ尿素と、改質剤として
の界面活性剤を基本組成として含有する浴を用いて、無
電解錫−鉛合金めっき方法を少なくとも二段階で実施す
ることを特徴とする。
より具体的には本発明の方法は前記鉛塩の濃度を初めに
高く後で低く設定し、又チオ尿素の濃度を初めに低く後
で高く設定することを特徴とする無電解錫−鉛合金めっ
き方法である。
高く後で低く設定し、又チオ尿素の濃度を初めに低く後
で高く設定することを特徴とする無電解錫−鉛合金めっ
き方法である。
本発明では上記鉱酸の添加量は5〜60g/β、好まし
くは10〜50g/β、鉱酸もしくは炭素数1〜3の脂
肪族カルボン酸の2価の錫塩、鉛塩の添加量は3〜30
g/I2、好ましくは5〜20 g/I2が好適範囲で
ある。炭素数1〜3の脂肪族カルボン酸にはギ酸、酢酸
、プロピオン酸、グリコール酸、乳酸等が例示される。
くは10〜50g/β、鉱酸もしくは炭素数1〜3の脂
肪族カルボン酸の2価の錫塩、鉛塩の添加量は3〜30
g/I2、好ましくは5〜20 g/I2が好適範囲で
ある。炭素数1〜3の脂肪族カルボン酸にはギ酸、酢酸
、プロピオン酸、グリコール酸、乳酸等が例示される。
また還元剤としての次亜燐酸ナトリウムの添加量は5〜
150 g/lテ、好ましくは10〜100g/β、錯
化剤としてのチオ尿素の添加量は5〜350g/I2好
ましくは10〜300g/βが好適範囲である。
150 g/lテ、好ましくは10〜100g/β、錯
化剤としてのチオ尿素の添加量は5〜350g/I2好
ましくは10〜300g/βが好適範囲である。
上記浴+こおいて、ピンホールのない無電解錫−鉛合金
めっきを施し得る方法を提供すべく研究した結果、改質
剤として芳香族スルホン酸もしくはその塩からなるアニ
オン系界面活性剤の1種類以上を添加することで、めっ
き外観、密着性が均一化し、ピンホールの解消にも著し
い効果が認められた。芳香族スルホン酸には、ベンゼン
スルホン酸、フェノールスルホン酸、アルキルベンゼン
スルホン酸、ナフタレンスルホン酸等、及びそれらの塩
が例示され、その添加量は特に限定されないが酸部分で
0.05〜5g/I2が好ましい。
めっきを施し得る方法を提供すべく研究した結果、改質
剤として芳香族スルホン酸もしくはその塩からなるアニ
オン系界面活性剤の1種類以上を添加することで、めっ
き外観、密着性が均一化し、ピンホールの解消にも著し
い効果が認められた。芳香族スルホン酸には、ベンゼン
スルホン酸、フェノールスルホン酸、アルキルベンゼン
スルホン酸、ナフタレンスルホン酸等、及びそれらの塩
が例示され、その添加量は特に限定されないが酸部分で
0.05〜5g/I2が好ましい。
本発明によると上記浴に於て、二段階でめっきを行なう
ことにより、密着性が良好で、ピンホールもない、厚い
錫−鉛合金めっきが得られる。
ことにより、密着性が良好で、ピンホールもない、厚い
錫−鉛合金めっきが得られる。
このように無電解錫−鉛合金めっきを二段階で行うには
、第二段階の無電解錫−鉛合金めっき浴の鉛塩濃度は、
第一段階のめつき浴での濃度の115〜1/20倍であ
ることが好ましい。第二段階での鉛塩濃度が第一段階で
のめつき浴のそれに対して115倍より大であると、め
っき浴の寿命が短くなり、また、l/20倍より小であ
ると二段階めっきによるめっき皮膜の合金組成が変化し
易く浴管理が困難となるため好ましくない。
、第二段階の無電解錫−鉛合金めっき浴の鉛塩濃度は、
第一段階のめつき浴での濃度の115〜1/20倍であ
ることが好ましい。第二段階での鉛塩濃度が第一段階で
のめつき浴のそれに対して115倍より大であると、め
っき浴の寿命が短くなり、また、l/20倍より小であ
ると二段階めっきによるめっき皮膜の合金組成が変化し
易く浴管理が困難となるため好ましくない。
次に、チオ尿素は、第二段階の無電解錫−鉛合金めつき
浴での濃度が、第一段階でのめつき浴での濃度の1.1
〜5倍であることが好ましい、第二段階でのチオ尿素濃
度が第一段階でのめつき浴のそれに対して1.1倍より
小であると、めっき皮膜のピンホールの防止効果が充分
に得られず、また、5倍より大であると、第一段階で発
生しているピンホールからの銅アタックが加速されるこ
とにより、めっき時間の設定が困難となるため好ましく
ない。
浴での濃度が、第一段階でのめつき浴での濃度の1.1
〜5倍であることが好ましい、第二段階でのチオ尿素濃
度が第一段階でのめつき浴のそれに対して1.1倍より
小であると、めっき皮膜のピンホールの防止効果が充分
に得られず、また、5倍より大であると、第一段階で発
生しているピンホールからの銅アタックが加速されるこ
とにより、めっき時間の設定が困難となるため好ましく
ない。
本工程で被めっき体を浸漬する条件としては、第一段階
、第二段階ともに、2価の錫塩および鉛塩を浴中に均一
に保持できる温度70〜80℃が好ましく、70℃以下
では、沈殿が析出する場合があるため、めっき皮膜の合
金組成比を安定させることが困難となり好ましくない、
また、浸漬時間は、第一段階は2〜20分間、第二段階
は10〜200秒間が好ましく、この条件を外れた工程
では、本発明の目的とするところの効果は十分に得られ
ない。
、第二段階ともに、2価の錫塩および鉛塩を浴中に均一
に保持できる温度70〜80℃が好ましく、70℃以下
では、沈殿が析出する場合があるため、めっき皮膜の合
金組成比を安定させることが困難となり好ましくない、
また、浸漬時間は、第一段階は2〜20分間、第二段階
は10〜200秒間が好ましく、この条件を外れた工程
では、本発明の目的とするところの効果は十分に得られ
ない。
また、本めっき浴に、改質剤として芳香族スルホン酸も
しくはその塩からなるアニオン系界面活性剤の1種類以
上を0.05〜5g/β添加することで、二段階のめっ
き工程によるピンホールの解消に促進効果が見られるた
め、本発明の目的とするところに上記界面活性剤の添加
は必須条件である。
しくはその塩からなるアニオン系界面活性剤の1種類以
上を0.05〜5g/β添加することで、二段階のめっ
き工程によるピンホールの解消に促進効果が見られるた
め、本発明の目的とするところに上記界面活性剤の添加
は必須条件である。
無電解錫−鉛合金めっきの反応機構は、錫ならびに鉛に
は自己触媒性がないため、■被めっき体との化学的置換
反応、■還元剤による還元反応、■めっき皮膜との化学
的置換反応からなっているとされている。被めっき体を
無電解錫−鉛合金めっき浴に浸漬直後に発生する■被め
っき体との化学的置換反応ならび、次いで発生する■還
元剤による還元反応において、素材である銅または銅合
金表面の電位差の発生によって、瞬時に行われる前記■
反応により、めっきは多孔質となり易く前記■反応は反
応速度が遅いため、見かけ上の反応は停止してしまう。
は自己触媒性がないため、■被めっき体との化学的置換
反応、■還元剤による還元反応、■めっき皮膜との化学
的置換反応からなっているとされている。被めっき体を
無電解錫−鉛合金めっき浴に浸漬直後に発生する■被め
っき体との化学的置換反応ならび、次いで発生する■還
元剤による還元反応において、素材である銅または銅合
金表面の電位差の発生によって、瞬時に行われる前記■
反応により、めっきは多孔質となり易く前記■反応は反
応速度が遅いため、見かけ上の反応は停止してしまう。
よって、第一段階の浸漬時間を延長しても、多孔質皮膜
の成長と破壊が繰り返されて、その間に気孔部からの被
めっき体の侵食があるため密着性の悪いめっきとなって
しまう、よって、前記■、■の反応がほぼ停止する2〜
20分間で被めっき体を一度引き上げ、第二段階の鉛塩
を低減、チオ尿素を増加せしめた浴に浸漬することで、
瞬時に、前記■、■の反応を主とした反応が見られるた
め多孔質のめっきは、緻密化されて、より密着性も良好
となる。
の成長と破壊が繰り返されて、その間に気孔部からの被
めっき体の侵食があるため密着性の悪いめっきとなって
しまう、よって、前記■、■の反応がほぼ停止する2〜
20分間で被めっき体を一度引き上げ、第二段階の鉛塩
を低減、チオ尿素を増加せしめた浴に浸漬することで、
瞬時に、前記■、■の反応を主とした反応が見られるた
め多孔質のめっきは、緻密化されて、より密着性も良好
となる。
〈発明の実施例〉
以下に具体的な実施例を示す。
夫立■ユ
塩酸 18g/β
塩化第1錫 25 〃
塩化鉛 2o 〃
チオ尿素 50 〃
次亜燐酸ナトリウム 10 〃
改質剤(ドデシルベンゼン
スルホン酸ナトリウム)2〃
上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、これを
第一段階とし、塩化鉛カ月710倍、チオ尿素が2倍な
る浴を別途建浴、これを第二段階とする。被めっき体は
、硫酸銅めっき配線板を一般的な脱脂と活性化したもの
を用いた。めつき浴温は、それぞれ約75℃で、第一段
階で5分間、次いで第二段階で30秒間浸漬したところ
、得られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある2、7μm
の皮膜で、その合金組成は6:4であった。密着性、半
田付は性は良好で、走査型電子顕微鏡観察でも皮膜は平
滑でピンホールは全く見られなかった。
第一段階とし、塩化鉛カ月710倍、チオ尿素が2倍な
る浴を別途建浴、これを第二段階とする。被めっき体は
、硫酸銅めっき配線板を一般的な脱脂と活性化したもの
を用いた。めつき浴温は、それぞれ約75℃で、第一段
階で5分間、次いで第二段階で30秒間浸漬したところ
、得られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある2、7μm
の皮膜で、その合金組成は6:4であった。密着性、半
田付は性は良好で、走査型電子顕微鏡観察でも皮膜は平
滑でピンホールは全く見られなかった。
K監1
塩酸
塩化第1錫
酢酸鉛
チオ尿素
次亜燐酸ナトリウム
改質剤(nドデシル
ベンゼンスルホン酸)0.05//
上記組成の無電解錫−鉛合金めつき浴を建浴し、これを
第一段階とじ鉛塩濃度がl/15倍、チオ尿素濃度が3
倍となる浴を別途建浴、これを第二段階とする。めっき
浴温は、それぞれ約80℃20g/β 15 〃 7 〃 o O〃 00// で、第一段階で5分間、次いで第二段階で30秒間、前
記配線板を浸漬したところ、得られた錫−鉛合金めっき
は、光沢のある1、9μmの皮膜で、その合金組成は9
:1であった。密着性、半田付は性は良好で、走査型電
子顕微鏡観察でも皮膜は平滑でピンホールは全く見られ
なかった。
第一段階とじ鉛塩濃度がl/15倍、チオ尿素濃度が3
倍となる浴を別途建浴、これを第二段階とする。めっき
浴温は、それぞれ約80℃20g/β 15 〃 7 〃 o O〃 00// で、第一段階で5分間、次いで第二段階で30秒間、前
記配線板を浸漬したところ、得られた錫−鉛合金めっき
は、光沢のある1、9μmの皮膜で、その合金組成は9
:1であった。密着性、半田付は性は良好で、走査型電
子顕微鏡観察でも皮膜は平滑でピンホールは全く見られ
なかった。
K立■1
燐酸 50 g/I2
塩化第1錫 5 〃
酢酸鉛 15 〃
チオ尿素 30 11
次亜燐酸ナトリウム 30 l
改質剤(ナフタレンスルホン酸)5〃
上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、これを
第一段階とし鉛塩濃度が1/5倍、チオ尿素濃度が5倍
となる浴を別途建浴、これを第二段階とする。めっき浴
温は、それぞれ約80℃で、第一段階で10分間、次い
で第二段階で60秒間、前記配線板を浸漬したところ、
得られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある2、0μmの
皮膜で、その合金組成は6:4であった。密着性、半田
付は性は良好で、走査型電子顕微鏡観察でも皮膜は平滑
でピンホールは全く見られなかった。
第一段階とし鉛塩濃度が1/5倍、チオ尿素濃度が5倍
となる浴を別途建浴、これを第二段階とする。めっき浴
温は、それぞれ約80℃で、第一段階で10分間、次い
で第二段階で60秒間、前記配線板を浸漬したところ、
得られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある2、0μmの
皮膜で、その合金組成は6:4であった。密着性、半田
付は性は良好で、走査型電子顕微鏡観察でも皮膜は平滑
でピンホールは全く見られなかった。
宜111A
硫酸
硫酸第1錫
塩化鉛
チオ尿素
次亜燐酸ナトリウム
改質剤(ドデシルベン
ゼンスルホン酸トリエタ
ノールアミン) 1〃
上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、これを
第一段階とし鉛塩濃度が115倍、チオ尿素濃度が2倍
となる浴を別途建浴、これを第二段階とする。めっき浴
温は、それぞれ約80℃で、第一段階で20分間、次い
で第二段階で60秒間、前記配線板を浸漬したところ、
得られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある3、0μmの
皮膜10g/β 3 o 〃 20/1 50 〃 50 〃 で、その合金組成は9:lであった。密着性、半田付は
性は良好で、走査型電子顕微鏡観察でも皮膜は平滑でピ
ンホールは全く見られなかった。
第一段階とし鉛塩濃度が115倍、チオ尿素濃度が2倍
となる浴を別途建浴、これを第二段階とする。めっき浴
温は、それぞれ約80℃で、第一段階で20分間、次い
で第二段階で60秒間、前記配線板を浸漬したところ、
得られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある3、0μmの
皮膜10g/β 3 o 〃 20/1 50 〃 50 〃 で、その合金組成は9:lであった。密着性、半田付は
性は良好で、走査型電子顕微鏡観察でも皮膜は平滑でピ
ンホールは全く見られなかった。
く比較例〉
皮較廻ユ
塩酸 18g/ρ
塩化第1錫 20 〃
塩化鉛 11//
チオ尿素 11o 〃
次亜燐酸ナトリウム 20 〃
EDTA 30 /1ゼラチン
1 〃 上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、めっき
浴温80”Cで、5分間、前記配線板を浸漬したところ
、得られた錫−鉛合金めっきは、光沢ムラの2.8μm
の皮膜で、その合金組成は9:1であった。めっき密着
性は悪く、走査型電子顕微鏡観察では皮膜は凹凸で、ピ
ンホールが確認された。
1 〃 上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、めっき
浴温80”Cで、5分間、前記配線板を浸漬したところ
、得られた錫−鉛合金めっきは、光沢ムラの2.8μm
の皮膜で、その合金組成は9:1であった。めっき密着
性は悪く、走査型電子顕微鏡観察では皮膜は凹凸で、ピ
ンホールが確認された。
ル嘉目引l
ホウ弗酸
ホウ弗化錫
ホウ弗化鉛
チオ尿素
次亜燐酸ナトリウム
非イオン系界面活性剤
(ポリオキシエチレン
ノニルフェニルエーテル)
上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、めっき
浴温70℃で5分間、前記配線板を浸漬したところ、得
られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある1、9μmの皮
膜で、その合金組成は6:4であった。めっき密着性は
悪く、走査型電子顕微鏡観察では、皮膜は凹凸でピンホ
ールが確認された。
浴温70℃で5分間、前記配線板を浸漬したところ、得
られた錫−鉛合金めっきは、光沢のある1、9μmの皮
膜で、その合金組成は6:4であった。めっき密着性は
悪く、走査型電子顕微鏡観察では、皮膜は凹凸でピンホ
ールが確認された。
比1肌旦
トルエンスルホン酸
トルエンスルホン酸銀
トルエンスルホン酸鉛
チオ尿素
18g/β
21 〃
9 〃
10 〃
20 〃
0.5〃
50 g/42
15 〃
15 〃
75 〃
(IT )
次亜燐酸ナトリウム 8o //クエン酸
15 〃カチオン系界面活性剤
3 〃 (塩化ラウリルピリジニウム) 上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、めっき
浴温80℃で5分間、前記配線板を浸漬したところ、得
られた錫−鉛合金めっきは光沢ムラのある0、8μmの
皮膜でその合金組成は6:4であった。密着性、半田付
は性は良好だが走査型電子顕微鏡観察では皮膜はめつき
ムラおよび、ピンホールが多く確認された。
15 〃カチオン系界面活性剤
3 〃 (塩化ラウリルピリジニウム) 上記組成の無電解錫−鉛合金めっき浴を建浴し、めっき
浴温80℃で5分間、前記配線板を浸漬したところ、得
られた錫−鉛合金めっきは光沢ムラのある0、8μmの
皮膜でその合金組成は6:4であった。密着性、半田付
は性は良好だが走査型電子顕微鏡観察では皮膜はめつき
ムラおよび、ピンホールが多く確認された。
(発明の効果)
以上のように本発明に係る無電解錫−鉛合金めっき方法
によれば、次のような特有の作用効果を奏する。
によれば、次のような特有の作用効果を奏する。
0本工程において、銅又は銅合金へのアタックは1μm
以下であるから最終水洗を十分に行えば、配線回路への
悪影響を回避できる。
以下であるから最終水洗を十分に行えば、配線回路への
悪影響を回避できる。
■浴作成が容易で、めっき速度が大きいため、作業性に
優れている。
優れている。
■密着性、半田付は性に優れ、均一で平滑なピンホール
のない無電解錫−鉛合金めっき皮膜を得ることができる
。
のない無電解錫−鉛合金めっき皮膜を得ることができる
。
■第一段階の2価の錫濃度を変化することで、6:4か
ら9=1の合金組成の無電解錫−鉛合金めっき皮膜を得
ることができる。
ら9=1の合金組成の無電解錫−鉛合金めっき皮膜を得
ることができる。
079価物や有機酸を含まないため、浴が安価で、廃水
処理も容易である。
処理も容易である。
以上、本発明について好適な実施例を挙げて種々説明し
たが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、
発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得る
のはもちろんのことである。
たが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、
発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得る
のはもちろんのことである。
\じ
手続補正書
平成2年6月1日
Claims (5)
- 1.銅または銅合金を、塩酸、硫酸、燐酸から選ばれた
鉱酸と、これら鉱酸もしくは炭素数1〜3の脂肪族カル
ボン酸の2価の錫塩および鉛塩と、還元剤としての次亜
燐酸ナトリウムと、錯化剤としてのチオ尿素と、改質剤
としての界面活性剤とを基本組成として含有する錫−鉛
合金めっき浴で処理する無電解錫−鉛めっき法に於て、
前記鉛塩の濃度を初めに高く後で低く設定し、又チオ尿
素の濃度を初めに低く後で高く設定することを特徴とす
る無電解錫−鉛合金めっき方法。 - 2.改質剤としての界面活性剤が芳香族スルホン酸もし
くはその塩からなるアニオン系界面活性剤の一種類以上
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の無
電解錫−鉛合金めっき方法。 - 3.無電解錫−鉛合金めっき工程が少なくとも二段階で
、かつ段階を経るごとに鉛塩を低減、チオ尿素を増加せ
しめた浴でめっきを行うことを特徴とする特許請求の範
囲第1項または第2項記載の無電解錫−鉛合金めっき方
法。 - 4.第二段階の無電解錫−鉛合金めっき浴の鉛塩濃度が
、第一段階のめっき浴濃度の1/5〜1/20倍である
ことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の無電解錫
−鉛合金めっき方法。 - 5.第二段階の無電解錫−鉛合金めっき浴のチオ尿素濃
度が、第一段階のめっき浴濃度の1〜5倍であることを
特徴とする特許請求の範囲第3項または4項記載の無電
解錫−鉛合金めっき方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9299390A JPH03291385A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | 無電解錫―鉛合金めっき方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9299390A JPH03291385A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | 無電解錫―鉛合金めっき方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03291385A true JPH03291385A (ja) | 1991-12-20 |
Family
ID=14069895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9299390A Pending JPH03291385A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | 無電解錫―鉛合金めっき方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03291385A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997046732A1 (fr) * | 1996-06-05 | 1997-12-11 | Sumitomo Light Metal Industries, Ltd. | Procede de fabrication de tuyau de cuivre dont l'interieur est plaque a l'etain |
-
1990
- 1990-04-10 JP JP9299390A patent/JPH03291385A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997046732A1 (fr) * | 1996-06-05 | 1997-12-11 | Sumitomo Light Metal Industries, Ltd. | Procede de fabrication de tuyau de cuivre dont l'interieur est plaque a l'etain |
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