JPH03291544A - 赤外線応力分布測定装置 - Google Patents
赤外線応力分布測定装置Info
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- JPH03291544A JPH03291544A JP9306590A JP9306590A JPH03291544A JP H03291544 A JPH03291544 A JP H03291544A JP 9306590 A JP9306590 A JP 9306590A JP 9306590 A JP9306590 A JP 9306590A JP H03291544 A JPH03291544 A JP H03291544A
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- stress
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 41
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、測定対象物に分布する応力を測定する赤外
線応力分布測定装置に関する。
線応力分布測定装置に関する。
(従来の技術)
従来、測定対象物の応力分布を測定するにはストレーン
ゲージ法、応力塗料法等があるが、前者は点計測法であ
るため完全な応力分布像がわからず後者は検知できる応
力に限界がある。
ゲージ法、応力塗料法等があるが、前者は点計測法であ
るため完全な応力分布像がわからず後者は検知できる応
力に限界がある。
そこで赤外線応力分布測定法が測定対象物に非接触で応
力分布像を観測できる手法として着目されている。
力分布像を観測できる手法として着目されている。
この赤外線応力分布測定装置の方式は3種類ある。いず
れも測定対象物に同期的に変化する荷重を与える。
れも測定対象物に同期的に変化する荷重を与える。
第1の方式は水平と垂直走査が独立した赤外線カメラを
用い、先ず最大荷重と最小荷重の水平走査を行い、その
温度差データをフレームメモリに記憶する。 次に垂直
走査を少しずらして再度水平走査を行う、これを順次行
うと1枚の応力分布像が得られる。
用い、先ず最大荷重と最小荷重の水平走査を行い、その
温度差データをフレームメモリに記憶する。 次に垂直
走査を少しずらして再度水平走査を行う、これを順次行
うと1枚の応力分布像が得られる。
第2の方式は、第1の方式と同じく水平と垂直が独立し
た赤外線カメラを用い、水平と垂直に並ぶ各画素につい
て加える荷重の強さの信号と赤外線カメラで捕らえた赤
外線放射強度の信号の相関により応力を検出する。これ
を水平、垂直の画素毎に走査してフレームメモリに記憶
し応力分布像を得る方式である。
た赤外線カメラを用い、水平と垂直に並ぶ各画素につい
て加える荷重の強さの信号と赤外線カメラで捕らえた赤
外線放射強度の信号の相関により応力を検出する。これ
を水平、垂直の画素毎に走査してフレームメモリに記憶
し応力分布像を得る方式である。
第3の方式は、最大荷重が加えられたときの観測データ
全画素と最小荷重が加えられたときの観測データ全画素
とをそれぞれ記憶させる2つのフレームメモリとデータ
を減算する減算器を備えたものである。
全画素と最小荷重が加えられたときの観測データ全画素
とをそれぞれ記憶させる2つのフレームメモリとデータ
を減算する減算器を備えたものである。
(発明が解決しようとする課題)
以上説明した方式によって応力分布像が得られる。しか
し荷重状態の変化で僅かではあるが対象物が移動する。
し荷重状態の変化で僅かではあるが対象物が移動する。
故にその移動変位については補正ができないので正確な
応力分布像が得られないという課題があった。
応力分布像が得られないという課題があった。
(課題を解決するための手段)
このような課題を解決するためにこの発明は、2つの荷
重状態の温度分布データ全画素をそれぞれ記憶させる2
つのフレームメモリと画像変位量の位置補正手段と、前
記フレームメモリのデータを減算する減算器を備えたも
のである。
重状態の温度分布データ全画素をそれぞれ記憶させる2
つのフレームメモリと画像変位量の位置補正手段と、前
記フレームメモリのデータを減算する減算器を備えたも
のである。
(作用〉
2つの荷重状態の測定データを独立に記憶し、画像変位
量の位置補正手段により対象物の位置を補正して、それ
らを減算することによって移動変位の影響のない応力分
布像を求める。
量の位置補正手段により対象物の位置を補正して、それ
らを減算することによって移動変位の影響のない応力分
布像を求める。
(実施例)
図面はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
図面において、赤外線カメラ3で検出した温度画像デー
タはA/D変換器4でディジタルに変換され積分器5.
7で積分してフレームメモリ6.8に記憶される。
タはA/D変換器4でディジタルに変換され積分器5.
7で積分してフレームメモリ6.8に記憶される。
フレームメモリ6.8の出力は減算器1oで減算された
後、画像処理器11を経由しモニタTV12に供給され
ている。
後、画像処理器11を経由しモニタTV12に供給され
ている。
測定対象物2は応力装置1に取り付けられており、そこ
から同期的に変化する荷重が与えられるようになってい
る。
から同期的に変化する荷重が与えられるようになってい
る。
測定対象物2に最大荷重または最小荷重が与えられたこ
とを表す信号(aまたはb)は応力装置1から積分器5
.7をとおしてフレームメモリ6.8にそれぞれ供給さ
れるようになっている。
とを表す信号(aまたはb)は応力装置1から積分器5
.7をとおしてフレームメモリ6.8にそれぞれ供給さ
れるようになっている。
この実施例においてフレームメモリ6は最大荷重を表す
信号aが供給されたときにA/D変換器4から供給され
ている温度画像データを積分器5で積分したのち記憶す
るようになっており、フレームメモリ8は最小荷重を表
す信号すが供給されたときにA/D変換器4がら供給さ
れている温度画像゛データを積分器7で積分したのち記
憶するようになっている0画像変位量の位置補正手段9
はフレームメモリ8に記憶された温度画像データを最小
荷重によって測定対象物2の位置が変位した画像を補正
する。
信号aが供給されたときにA/D変換器4から供給され
ている温度画像データを積分器5で積分したのち記憶す
るようになっており、フレームメモリ8は最小荷重を表
す信号すが供給されたときにA/D変換器4がら供給さ
れている温度画像゛データを積分器7で積分したのち記
憶するようになっている0画像変位量の位置補正手段9
はフレームメモリ8に記憶された温度画像データを最小
荷重によって測定対象物2の位置が変位した画像を補正
する。
このように構成された装置の動作は次の通りである。
先ず応力装置1によって測定対象物2に最大荷重が加え
られると、その応力に対応した温度分布状態の赤外線が
測定対象物2がら発生し、それが赤外線カメラ3によっ
て検出され、A/D変換器4によってディジタル信号に
変換され、積分器5をとおしてフレームメモリ6に供給
され温度画像データとして記憶される。
られると、その応力に対応した温度分布状態の赤外線が
測定対象物2がら発生し、それが赤外線カメラ3によっ
て検出され、A/D変換器4によってディジタル信号に
変換され、積分器5をとおしてフレームメモリ6に供給
され温度画像データとして記憶される。
前述したようにこのとき、フレームメモリ6には応力装
置lから最大荷重を表す信号aが積分器5をとおして供
給されている。
置lから最大荷重を表す信号aが積分器5をとおして供
給されている。
次に応力装置1から測定対象物2に最小荷重が与えられ
ると、測定対象物2はその荷重に対応した温度分布状態
の赤外線を発生し、この赤外線による温度画像データは
、前述したと同様にして今度はもう一方のフレームメモ
リ8に記憶される。
ると、測定対象物2はその荷重に対応した温度分布状態
の赤外線を発生し、この赤外線による温度画像データは
、前述したと同様にして今度はもう一方のフレームメモ
リ8に記憶される。
フレームメモリ6.8の出力は減算器10に供給されて
おりそこで減算される。
おりそこで減算される。
フレームメモリ6.8に記憶されるときは積分器5.7
で供給される画像を積分しながら記憶する。
で供給される画像を積分しながら記憶する。
測定対象物2に応力の変化があるときの温度変化は次式
で表せる。
で表せる。
ΔT=−KTΔδ
ΔT:測定対象物の温度変化
に:定数(材料により異なる)
T:材料の絶対温度
Δδ:応力の変化量
ここで温度変化Δ丁は非常に小さく、また応力変化量Δ
δに比例する。
δに比例する。
減算して差分をとる理由はここにある。またΔTは非常
に小さいため、積分をすることによって応力分布像がよ
り明確になる。
に小さいため、積分をすることによって応力分布像がよ
り明確になる。
減算器10で減算した画像は画像処理器11に供給され
、そこで画像表示のための処理が行われモニタTV12
に供給され表示される。
、そこで画像表示のための処理が行われモニタTV12
に供給され表示される。
ところが応力を測定する場合、測定対象物2は応力装置
1から加える荷重状態により位置が移動し、変位する場
合がある0例えば、測定対象物2はそれに加わる振動を
吸収する目的でゴム等弾性体を介して固定された状態で
応力装置1より荷重を加える場合がある。この場合ゴム
等弾性体は変形し易いものであるから測定対象物2は荷
重を変化させると容易に位置を移動してしまう。すなわ
ち、2つの異なった荷重状態での応力分布像は測定対象
物2の位置がずれた状態で測定されることになる。
1から加える荷重状態により位置が移動し、変位する場
合がある0例えば、測定対象物2はそれに加わる振動を
吸収する目的でゴム等弾性体を介して固定された状態で
応力装置1より荷重を加える場合がある。この場合ゴム
等弾性体は変形し易いものであるから測定対象物2は荷
重を変化させると容易に位置を移動してしまう。すなわ
ち、2つの異なった荷重状態での応力分布像は測定対象
物2の位置がずれた状態で測定されることになる。
その結果、この状態では減算器10で減算した画像は、
位置の変位によって温度変化が起こり応力分布像に影響
をおよぼす、特に変位による温度変化が強く起こるのは
測定対象物2の境界部分である。
位置の変位によって温度変化が起こり応力分布像に影響
をおよぼす、特に変位による温度変化が強く起こるのは
測定対象物2の境界部分である。
何故なら測定対象物2と背景の温度差は応力変化によっ
て生ずる温度差よりも遥かに大きいことは容易に察しが
つく。すなわち位置−変位が起こった場合、背景と測定
対象物2の温度差が境界付近に著しく現れることになる
。また変位があることは2つの異なった荷重状態で温度
差を測定する箇所が互いにずれていることになり、測定
精度が悪化することにもなる。
て生ずる温度差よりも遥かに大きいことは容易に察しが
つく。すなわち位置−変位が起こった場合、背景と測定
対象物2の温度差が境界付近に著しく現れることになる
。また変位があることは2つの異なった荷重状態で温度
差を測定する箇所が互いにずれていることになり、測定
精度が悪化することにもなる。
この変位に相当する分の位置を画像の変位量の位置補正
手段9で補正することができる6画像変位量の位置補正
手段9の補正量は予め画像の変位量から指定しておく必
要がある0位置の補正はフレームメモリ8に記憶する画
像の積分が終了してから行う0画像変位量の位置補正手
段9によってフレームメモリ6の測定対象物2の座標位
置に一致するようにフレームメモリ8の測定対象物2の
座標位置をずらすことで実現できる。従って、画像変位
量の位置補正手段9はフレームメモリ8のみに作用すれ
ば充分である。
手段9で補正することができる6画像変位量の位置補正
手段9の補正量は予め画像の変位量から指定しておく必
要がある0位置の補正はフレームメモリ8に記憶する画
像の積分が終了してから行う0画像変位量の位置補正手
段9によってフレームメモリ6の測定対象物2の座標位
置に一致するようにフレームメモリ8の測定対象物2の
座標位置をずらすことで実現できる。従って、画像変位
量の位置補正手段9はフレームメモリ8のみに作用すれ
ば充分である。
画像変位量の位置補正手段9の補正量は次の手順で指定
する。
する。
先ずフレームメモリ6の画像をモニタTV12に表示し
、測定対象物2の輪郭と測定対象物2の2つの特徴点A
1およびA2を指定する0次にフレームメモリ8の画像
をモニタTV12に表示して、2つの特徴点にそれぞれ
対応する点B1およびB2を指定する。
、測定対象物2の輪郭と測定対象物2の2つの特徴点A
1およびA2を指定する0次にフレームメモリ8の画像
をモニタTV12に表示して、2つの特徴点にそれぞれ
対応する点B1およびB2を指定する。
画像変位量の位置補正手段9はそれぞれの特徴点の座標
の差により変位の方向と回転が算出できる。これによっ
てフレームメモリ8の画像の測定対象物2の輪郭内部に
ついてのみフレームメモリ8のデータを移動させる。測
定対象物2の輪郭の外部には不要な応力分布画像を表示
させないように、フレームメモリ6のデータの同−座標
のデータをコピーする。
の差により変位の方向と回転が算出できる。これによっ
てフレームメモリ8の画像の測定対象物2の輪郭内部に
ついてのみフレームメモリ8のデータを移動させる。測
定対象物2の輪郭の外部には不要な応力分布画像を表示
させないように、フレームメモリ6のデータの同−座標
のデータをコピーする。
このようにフレームメモリ6と移動変位について補正し
たフレームメモリ8の画像を減算器10で減算した差分
画像は荷重によって移動変位に影響されない真の応力分
布像が測定できる。
たフレームメモリ8の画像を減算器10で減算した差分
画像は荷重によって移動変位に影響されない真の応力分
布像が測定できる。
以上の説明ではフレームメモリ6への記憶は最大荷重の
とき、またフレームメモリ8への記憶は最小荷重のとき
であるが、これらは逆にしてフレームメモリ6への記憶
を最小荷重で、フレームメモリ8への記憶を最大荷重で
あってもよい。
とき、またフレームメモリ8への記憶は最小荷重のとき
であるが、これらは逆にしてフレームメモリ6への記憶
を最小荷重で、フレームメモリ8への記憶を最大荷重で
あってもよい。
また画像変位量の位置補正手段9はフレームメモリ8に
記憶される最小荷重に対する温度画像データもしくは最
大荷重に対する温度画像データの一方いずれかを補正す
ることで達成できる。
記憶される最小荷重に対する温度画像データもしくは最
大荷重に対する温度画像データの一方いずれかを補正す
ることで達成できる。
(発明の効果)
以上説明したようにこの発明は、2つの荷重状態から応
力分布像が得られるが、更に荷重状態の変化で生ずる対
象物の移動変位について補正ができるので正確な応力分
布像が得られる。
力分布像が得られるが、更に荷重状態の変化で生ずる対
象物の移動変位について補正ができるので正確な応力分
布像が得られる。
図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
1・・・・・・・・・応力装置、2・・・・・・・・・
測定対象物3・・・・・・・・・赤外線カメラ、4・・
・・・・・・・A/D変換器5.7・・・・・・・・・
積分器、6.8・・・・・・・・・フレームメモリ、9
・・・・・・・・・画像変位量の位置補正手段、10・
・・・・・・・・減箪器、11・・・・・・・・・画像
処理器、12・・・・・・・・・モニタTV。
測定対象物3・・・・・・・・・赤外線カメラ、4・・
・・・・・・・A/D変換器5.7・・・・・・・・・
積分器、6.8・・・・・・・・・フレームメモリ、9
・・・・・・・・・画像変位量の位置補正手段、10・
・・・・・・・・減箪器、11・・・・・・・・・画像
処理器、12・・・・・・・・・モニタTV。
Claims (1)
- 変化する荷重が加えられることにより測定対象物に生ず
る微小な温度変化により放射される赤外線量の同期変化
を検知することにより測定対象物の応力分布を測定する
赤外線応力分布測定装置において、測定対象物に2つの
異なった荷重状態すなわち最大荷重および最小荷重が加
えられたときに測定される温度分布像をそれぞれ別々に
積分して、記憶する第1及び第2のフレームメモリと、
第2のフレームメモリの画像変位量の位置補正手段と、
第1のフレームメモリの記憶データから第2のフレーム
メモリの記憶データを減算する減算器を設けたことを特
徴とする赤外線応力分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9306590A JPH03291544A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | 赤外線応力分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9306590A JPH03291544A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | 赤外線応力分布測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03291544A true JPH03291544A (ja) | 1991-12-20 |
Family
ID=14072114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9306590A Pending JPH03291544A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | 赤外線応力分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03291544A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007205875A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Osaka Univ | 赤外線熱弾性応力計測における位置補正法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60107537A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-13 | Komatsu Ltd | 赤外応力分布測定器の位置ずれ補正方法 |
| JPS61186828A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Jeol Ltd | 応力分布画像を得る方法 |
| JPS6410136A (en) * | 1987-07-03 | 1989-01-13 | Nippon Avionics Co Ltd | Instrument for measuring stress distribution by infrared ray |
-
1990
- 1990-04-10 JP JP9306590A patent/JPH03291544A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60107537A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-13 | Komatsu Ltd | 赤外応力分布測定器の位置ずれ補正方法 |
| JPS61186828A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Jeol Ltd | 応力分布画像を得る方法 |
| JPS6410136A (en) * | 1987-07-03 | 1989-01-13 | Nippon Avionics Co Ltd | Instrument for measuring stress distribution by infrared ray |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007205875A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Osaka Univ | 赤外線熱弾性応力計測における位置補正法 |
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