JPH03292705A - 強磁性膜及びこれを用いた磁気ヘッド - Google Patents
強磁性膜及びこれを用いた磁気ヘッドInfo
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- JPH03292705A JPH03292705A JP2405640A JP40564090A JPH03292705A JP H03292705 A JPH03292705 A JP H03292705A JP 2405640 A JP2405640 A JP 2405640A JP 40564090 A JP40564090 A JP 40564090A JP H03292705 A JPH03292705 A JP H03292705A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[0001]
本発明は磁気ディスク装置、VTRなどに用いられる磁
気ヘッド材料に係り、特に高飽和磁束密度、高透磁率、
高耐熱性、高耐食性、耐反応性を有する多層磁性膜及び
これを用いた磁気ヘッドに関する。 [0002]
気ヘッド材料に係り、特に高飽和磁束密度、高透磁率、
高耐熱性、高耐食性、耐反応性を有する多層磁性膜及び
これを用いた磁気ヘッドに関する。 [0002]
近年、磁気記録技術の発展は著しく、記録密度の向上が
進められている。記録密度を高くするためには高保磁力
の記録媒体を使用する必要があり、また高保磁力の記録
媒体を磁化するためには、高飽和磁束密度を有する磁極
材料が必要となる。このため、従来のフェライトなどに
代ってNi−Fe合金(パーマロイ)やCo系非晶質合
金薄膜が磁極材料として使われ始めている。さらに、磁
極材料は高飽和磁束密度であるほかに、記録再生効率の
向上の点から高透磁率を有することが必要とされる。ま
た、磁気ヘッドを形成する工程におけるガラス充填の加
熱工程に耐えて高透磁率を維持することの可能な耐熱性
も要求される。 [0003] このような磁極材料としては特開昭62−210607
号に示されているように、Fe、Co、Ni、Mnより
選ばれる金属にNb、Zr、Ti、Ta、HfCr、W
、Moと窒素を同時に添加した材料が報告されている。 また、この材料の作成方法は所定の組成を有する金属タ
ーゲットをアルゴンと窒素の混合ガスをスパッタリング
ガスとして用い、スパッタリングする方法である。この
報告によればスパッタリングガス中の窒素濃度を変調し
て窒化層と非窒化層を交互に積層することにより、飽和
磁束密度1.5T、保磁力1 0e以下の特性を持つ膜
が得られている。この膜の保磁力は600℃まで低く保
たれており、耐熱性は600℃であった。 [0004] また、電子情報通信学会MR89−12(1989,7
)にはFeにTi、Zr、HfとCを同時に添加するこ
とにより、Fe系の非晶質膜を形成し、ついでこれを熱
処理することにより、耐熱性の高い微結晶軟磁性材料が
得られることが示された。 [0005]
進められている。記録密度を高くするためには高保磁力
の記録媒体を使用する必要があり、また高保磁力の記録
媒体を磁化するためには、高飽和磁束密度を有する磁極
材料が必要となる。このため、従来のフェライトなどに
代ってNi−Fe合金(パーマロイ)やCo系非晶質合
金薄膜が磁極材料として使われ始めている。さらに、磁
極材料は高飽和磁束密度であるほかに、記録再生効率の
向上の点から高透磁率を有することが必要とされる。ま
た、磁気ヘッドを形成する工程におけるガラス充填の加
熱工程に耐えて高透磁率を維持することの可能な耐熱性
も要求される。 [0003] このような磁極材料としては特開昭62−210607
号に示されているように、Fe、Co、Ni、Mnより
選ばれる金属にNb、Zr、Ti、Ta、HfCr、W
、Moと窒素を同時に添加した材料が報告されている。 また、この材料の作成方法は所定の組成を有する金属タ
ーゲットをアルゴンと窒素の混合ガスをスパッタリング
ガスとして用い、スパッタリングする方法である。この
報告によればスパッタリングガス中の窒素濃度を変調し
て窒化層と非窒化層を交互に積層することにより、飽和
磁束密度1.5T、保磁力1 0e以下の特性を持つ膜
が得られている。この膜の保磁力は600℃まで低く保
たれており、耐熱性は600℃であった。 [0004] また、電子情報通信学会MR89−12(1989,7
)にはFeにTi、Zr、HfとCを同時に添加するこ
とにより、Fe系の非晶質膜を形成し、ついでこれを熱
処理することにより、耐熱性の高い微結晶軟磁性材料が
得られることが示された。 [0005]
本発明者らはFe−Nb、Fe−Ta、Fe−Hf系材
料を、アルゴンと窒素の混合ガス中でスパッタリングし
、上述した報告の追試実、験をおこなった。この結果、
保磁力は報告の通り400〜600℃の熱を加えても1
0e以下の低い値を示すことが確認された。また、Fe
−Hf−C系材料をアルゴンガス中でスパッタリングし
た後、500〜600℃で熱処理をおこなって、保磁力
1 0e以下の多層磁性膜が得られることも確認するこ
とができた。 [0006] しかし、本発明者らがこれら従来の材料をMn−Znフ
ェライト単結晶基板上に形成し、ガラス充填のための6
00℃の加熱工程を経てメタルインギャップ型ヘッドを
試作したところ、M n −Z nフェライト単結晶基
板と磁性膜が反応して界面に酸化物層が形成されている
ことが明らかになった。この時、磁気ヘッドの記録再生
特性を調べた結果、予想された通り、結晶基板と磁性膜
界面の非磁性層に基づく大きな疑似ギャップ信号が観測
された。このような疑似ギャップ信号が観測される場合
は正常な記録再生を行うことができない。またこのとき
、磁性膜と充填ガラスとの間の反応も観察され、磁性膜
が薄くなっていることがわかった。すなわち、従来の磁
性膜は磁性膜単体としては優れた軟磁気特性を示すが、
ガラスボンディング工程を伴う磁気ヘッドの作製を行う
際は、基板あるいは充填ガラスとの反応防止が問題とな
ることが確認された。 [0007] 一方、ダミー試料としてガラス基板上に形成した試料を
塩水噴霧試、験および恒温恒湿試5験にかけて耐食性の
評価を行ったところ、従来用いられていたセンダスト膜
やCo−Nb−Zr系の膜に比べて極めて腐食しやすく
、磁気ヘッドとして使用することが疑問視された。 [0008] したがって、本発明の目的は、上述の従来技術の欠点を
解消した新規な磁気へラド材料を提供することにある。 [0009]
料を、アルゴンと窒素の混合ガス中でスパッタリングし
、上述した報告の追試実、験をおこなった。この結果、
保磁力は報告の通り400〜600℃の熱を加えても1
0e以下の低い値を示すことが確認された。また、Fe
−Hf−C系材料をアルゴンガス中でスパッタリングし
た後、500〜600℃で熱処理をおこなって、保磁力
1 0e以下の多層磁性膜が得られることも確認するこ
とができた。 [0006] しかし、本発明者らがこれら従来の材料をMn−Znフ
ェライト単結晶基板上に形成し、ガラス充填のための6
00℃の加熱工程を経てメタルインギャップ型ヘッドを
試作したところ、M n −Z nフェライト単結晶基
板と磁性膜が反応して界面に酸化物層が形成されている
ことが明らかになった。この時、磁気ヘッドの記録再生
特性を調べた結果、予想された通り、結晶基板と磁性膜
界面の非磁性層に基づく大きな疑似ギャップ信号が観測
された。このような疑似ギャップ信号が観測される場合
は正常な記録再生を行うことができない。またこのとき
、磁性膜と充填ガラスとの間の反応も観察され、磁性膜
が薄くなっていることがわかった。すなわち、従来の磁
性膜は磁性膜単体としては優れた軟磁気特性を示すが、
ガラスボンディング工程を伴う磁気ヘッドの作製を行う
際は、基板あるいは充填ガラスとの反応防止が問題とな
ることが確認された。 [0007] 一方、ダミー試料としてガラス基板上に形成した試料を
塩水噴霧試、験および恒温恒湿試5験にかけて耐食性の
評価を行ったところ、従来用いられていたセンダスト膜
やCo−Nb−Zr系の膜に比べて極めて腐食しやすく
、磁気ヘッドとして使用することが疑問視された。 [0008] したがって、本発明の目的は、上述の従来技術の欠点を
解消した新規な磁気へラド材料を提供することにある。 [0009]
本発明者らは上述の問題点を解決するために、鋭意研究
を続けてきたが、強磁性金属中に酸化物を混入すること
により、高温まで飽和磁束密度と軟磁気特性が保たれる
ばかりか、フェライトなどの酸化物やガラスとの耐反応
性が高く、耐食性も高い磁気ヘッド材料を開発すること
ができた。ここで、酸化物としてはHf−0,Nb−0
,Ta −0,Ti −0,Zr −0,V−0,W−
0,Mo −0等の結合を有するIVa,VIa族元素
と酸素からなる物質である。また、この他に磁気特性を
改善するための添加物を加えても良い。特に、軟磁気特
性の改善にはB、C,N、Pの添加が有効でる。また耐
食性の向上のためにはNi、RhRu、Pd、Zr、N
b、Ta、Ag、Os、Ir、Pt、Au、Cr、M。 W、Tiの添加が有効である。 [0010] 本発明の多層磁性膜は金属相中に酸化物相が混入してい
る。酸化物の混入方法に制限は無く、磁性膜形成時に酸
化物が存在しなくても、熱処理等によってこれらが生成
すれば良い。また、あらかじめ磁性膜形成時に酸化物の
状態で混入させることもできる。例えば、金属層と酸化
物層の積層、あるいは、金属層とその金属と酸化物を構
成する元素の積層、金属と酸化物の構成元素の同時堆積
等いずれの方法も可能である。 [0011] 本発明の多層磁性膜を磁気記録装置の磁気ヘッドの磁気
コアに用いることにより記録再生特性の優れた磁気記録
装置を得ることができる。特に、本発明の多層磁性膜を
ガラスボンディング工程を有する方法で作成する磁気ヘ
ッド、例えばメタルインギャップ型ヘッドに適用するこ
とによりさらに大きな効果を得ることができる。 [0012]
を続けてきたが、強磁性金属中に酸化物を混入すること
により、高温まで飽和磁束密度と軟磁気特性が保たれる
ばかりか、フェライトなどの酸化物やガラスとの耐反応
性が高く、耐食性も高い磁気ヘッド材料を開発すること
ができた。ここで、酸化物としてはHf−0,Nb−0
,Ta −0,Ti −0,Zr −0,V−0,W−
0,Mo −0等の結合を有するIVa,VIa族元素
と酸素からなる物質である。また、この他に磁気特性を
改善するための添加物を加えても良い。特に、軟磁気特
性の改善にはB、C,N、Pの添加が有効でる。また耐
食性の向上のためにはNi、RhRu、Pd、Zr、N
b、Ta、Ag、Os、Ir、Pt、Au、Cr、M。 W、Tiの添加が有効である。 [0010] 本発明の多層磁性膜は金属相中に酸化物相が混入してい
る。酸化物の混入方法に制限は無く、磁性膜形成時に酸
化物が存在しなくても、熱処理等によってこれらが生成
すれば良い。また、あらかじめ磁性膜形成時に酸化物の
状態で混入させることもできる。例えば、金属層と酸化
物層の積層、あるいは、金属層とその金属と酸化物を構
成する元素の積層、金属と酸化物の構成元素の同時堆積
等いずれの方法も可能である。 [0011] 本発明の多層磁性膜を磁気記録装置の磁気ヘッドの磁気
コアに用いることにより記録再生特性の優れた磁気記録
装置を得ることができる。特に、本発明の多層磁性膜を
ガラスボンディング工程を有する方法で作成する磁気ヘ
ッド、例えばメタルインギャップ型ヘッドに適用するこ
とによりさらに大きな効果を得ることができる。 [0012]
上述のように、強磁性金属膜中に酸化物を混入すること
により、高温まで飽和磁束密度と軟磁気特性が保たれる
が、そのメカニズムは必ずしも十分間らかになっている
わけではない。ただし、本発明者らが検討した結果、こ
れらの酸化物を混入した多層磁性膜は600℃まで加熱
しても、はとんど結晶粒径の粗大化が生じておらず、酸
化物が多層磁性膜の構成元素の拡散を抑制し、加熱によ
り結晶粒が成長することを防いでいることが確認された
。このとき、600℃まで加熱した膜を高分解能E P
MA (Electron Probe Micro
Analysis)法によって分析した結果多層磁性膜
を構成する結晶粒の周囲に酸化物の相が観察され、この
相が存在することによって多層磁性膜を構成する結晶粒
の粒成長(粗大化)が抑制されていることが観察された
。結晶磁気異方性定数が零に近い材料を除いて、強磁性
材料の軟磁気特性は強磁性材料を構成する結晶粒の大き
さに関係し、結晶粒が増大する程軟磁気特性は劣化する
ことが知られている。従って、本発明の多層磁性膜も同
様に高温まで結晶粒が小さく保たれたために軟磁気特性
の劣化が生じなかったものと考えられる。しかし、同じ
膜をX線回折法によって調べても、酸化物は検出できず
、これらの物質は微量であるか、非晶質であるかのいず
れかであった。 [0013] また、本発明の多層磁性膜の飽和磁束密度は添加する酸
化物の量の増加に伴って減少する傾向を示したが、これ
は非磁性体の添加による磁性材料の単純希釈の効果によ
るものと推察される。 [0014]
により、高温まで飽和磁束密度と軟磁気特性が保たれる
が、そのメカニズムは必ずしも十分間らかになっている
わけではない。ただし、本発明者らが検討した結果、こ
れらの酸化物を混入した多層磁性膜は600℃まで加熱
しても、はとんど結晶粒径の粗大化が生じておらず、酸
化物が多層磁性膜の構成元素の拡散を抑制し、加熱によ
り結晶粒が成長することを防いでいることが確認された
。このとき、600℃まで加熱した膜を高分解能E P
MA (Electron Probe Micro
Analysis)法によって分析した結果多層磁性膜
を構成する結晶粒の周囲に酸化物の相が観察され、この
相が存在することによって多層磁性膜を構成する結晶粒
の粒成長(粗大化)が抑制されていることが観察された
。結晶磁気異方性定数が零に近い材料を除いて、強磁性
材料の軟磁気特性は強磁性材料を構成する結晶粒の大き
さに関係し、結晶粒が増大する程軟磁気特性は劣化する
ことが知られている。従って、本発明の多層磁性膜も同
様に高温まで結晶粒が小さく保たれたために軟磁気特性
の劣化が生じなかったものと考えられる。しかし、同じ
膜をX線回折法によって調べても、酸化物は検出できず
、これらの物質は微量であるか、非晶質であるかのいず
れかであった。 [0013] また、本発明の多層磁性膜の飽和磁束密度は添加する酸
化物の量の増加に伴って減少する傾向を示したが、これ
は非磁性体の添加による磁性材料の単純希釈の効果によ
るものと推察される。 [0014]
以下に本発明の実施例を挙げ、図表を参照しながらさら
に具体的に説明する。 [実施例1] Fe、Coを主成分とする多層磁性膜の形成はイオンビ
ーム・スパッタリング装置を用いて結晶化ガラス基板上
に行った。本実施例で使用したイオンビーム・スパッタ
リング装置にはイオンガンが2台設備されており、片方
でターゲットのスパッタリングを行い、スパッタ粒子を
基板に被着させることができる。また、他方で基板のク
リーニング等を行うことができる。この装置のターゲッ
トホルダーは回転式であり、最大4種類のターゲットを
装填でき、このうち任意のターゲットを選択してスパッ
タリングすることができる。従って、これらのターゲッ
ト材料から構成される任意の積層膜を形成することがで
きる。このような装置は公知である(ジャーナル オブ
アプライド フィジックス(journal of
APPLIED PHYSIC3) Vol、611
5 June 1987 No、 12)。この装置で
Fe、Coを主成分とする強磁性金属と酸化物のターゲ
ットを交互にスパッタリングし、積層膜を作製しな。ス
パッタリングは以下の条件で行った。 [0015] スパッタリングガス・ ・Ar 装置内Arガス圧力・ 2.5×1O−2Pa蒸着用
イオンガン加速電圧・・800層蒸着用イオンガンイオ
ン電流・ 120mAターゲット基板間距離・ 1
30mm基板温度・ 50〜100℃ 上記条件で作製した積層膜の断面図を図1に示す。本実
施例では基板1として結晶化ガラス基板を用い、層厚9
nmの強磁性金属層2と層厚1nmの酸化物層3とから
なる積層膜を作製した。積層膜全体の膜厚は1μmとし
たので、強磁性金属層2は100層、酸化物層3は99
層になった。 [0016] 得られた積層膜は100℃から700℃の範囲でArガ
ス中で1時間の熱処理をし、各々の膜の軟磁気特性評価
、X線回折による結晶学的評価、分析による酸化物層の
確認を行った。 [0017] 表1にこの結果を示す。 [0018]
に具体的に説明する。 [実施例1] Fe、Coを主成分とする多層磁性膜の形成はイオンビ
ーム・スパッタリング装置を用いて結晶化ガラス基板上
に行った。本実施例で使用したイオンビーム・スパッタ
リング装置にはイオンガンが2台設備されており、片方
でターゲットのスパッタリングを行い、スパッタ粒子を
基板に被着させることができる。また、他方で基板のク
リーニング等を行うことができる。この装置のターゲッ
トホルダーは回転式であり、最大4種類のターゲットを
装填でき、このうち任意のターゲットを選択してスパッ
タリングすることができる。従って、これらのターゲッ
ト材料から構成される任意の積層膜を形成することがで
きる。このような装置は公知である(ジャーナル オブ
アプライド フィジックス(journal of
APPLIED PHYSIC3) Vol、611
5 June 1987 No、 12)。この装置で
Fe、Coを主成分とする強磁性金属と酸化物のターゲ
ットを交互にスパッタリングし、積層膜を作製しな。ス
パッタリングは以下の条件で行った。 [0015] スパッタリングガス・ ・Ar 装置内Arガス圧力・ 2.5×1O−2Pa蒸着用
イオンガン加速電圧・・800層蒸着用イオンガンイオ
ン電流・ 120mAターゲット基板間距離・ 1
30mm基板温度・ 50〜100℃ 上記条件で作製した積層膜の断面図を図1に示す。本実
施例では基板1として結晶化ガラス基板を用い、層厚9
nmの強磁性金属層2と層厚1nmの酸化物層3とから
なる積層膜を作製した。積層膜全体の膜厚は1μmとし
たので、強磁性金属層2は100層、酸化物層3は99
層になった。 [0016] 得られた積層膜は100℃から700℃の範囲でArガ
ス中で1時間の熱処理をし、各々の膜の軟磁気特性評価
、X線回折による結晶学的評価、分析による酸化物層の
確認を行った。 [0017] 表1にこの結果を示す。 [0018]
【表1】
(表1)
[0019]
表中、強磁性金属膜および酸化物は膜形成時のターゲッ
トの組成を示す。理想的な膜形成過程では、ターゲット
の組成が形成される膜の組成にほぼ等しいと考えて良い
。ただし条件によっては軽元素が基板表面ではじき飛ば
され、膜中の組成がターゲットの組成より少なくなるこ
ともある。保磁力、腐食試、験は500℃で1時間の熱
処理を行ったのちに測定した値である。なお、保磁力は
B−Hカーブトレーサーを用いて測定した。耐熱性は熱
処理した試料の保磁力が1.50e以上になる温度で示
した。また、腐食試、験は0.5%NaC1水溶液を間
けつ的に噴霧しながら35℃に保持する塩水噴霧試、験
によって行った結果であり、腐食が5%進行した時間で
ある。ここで膜の磁化が5%減ったことを、腐食が5%
進行したことと規定する。 [00201 この結果、Fe、Coを主成分とする強磁性金属膜をI
Va,VIa族元素の酸化物を介して積層させることに
よって600℃の高温でも保磁力1.50e以下の優れ
た軟磁気特性を持つ多層磁性膜を得ることができた。こ
のときの腐食試験結果はいずれの試料も50日以上の耐
食性を示すことが確認された。なお、同様にFe、Co
を主成分とする強磁性金属膜に軟磁気特性を向上させる
B、 CN等の元素を添加させた多層膜を作製した場合
も検討したが、保磁力の5から15%の減少が観測され
たほかはほぼ同様な耐食性を示した。本発明者らは特開
昭63−65604号において、B、N、C,P(7)
5〜20at%の添加で保磁力の減少の効果が得られる
ことを示しており、同様の効果が得られているものと推
察される。また、これらの強磁性金属にさらにNi、R
h、Ru、Pd、ZrNb、Ta、Ag、Os、Ir、
Pt、Au、Cr、Mo、W、Ti、Bi。 V、Co、Cuから選ばれる1種以上の元素を添加する
ことで耐食性のさらなる向上が期待できる。これらの添
加元素の効果については、本発明者らが特開昭63−2
36304号で開示している。
トの組成を示す。理想的な膜形成過程では、ターゲット
の組成が形成される膜の組成にほぼ等しいと考えて良い
。ただし条件によっては軽元素が基板表面ではじき飛ば
され、膜中の組成がターゲットの組成より少なくなるこ
ともある。保磁力、腐食試、験は500℃で1時間の熱
処理を行ったのちに測定した値である。なお、保磁力は
B−Hカーブトレーサーを用いて測定した。耐熱性は熱
処理した試料の保磁力が1.50e以上になる温度で示
した。また、腐食試、験は0.5%NaC1水溶液を間
けつ的に噴霧しながら35℃に保持する塩水噴霧試、験
によって行った結果であり、腐食が5%進行した時間で
ある。ここで膜の磁化が5%減ったことを、腐食が5%
進行したことと規定する。 [00201 この結果、Fe、Coを主成分とする強磁性金属膜をI
Va,VIa族元素の酸化物を介して積層させることに
よって600℃の高温でも保磁力1.50e以下の優れ
た軟磁気特性を持つ多層磁性膜を得ることができた。こ
のときの腐食試験結果はいずれの試料も50日以上の耐
食性を示すことが確認された。なお、同様にFe、Co
を主成分とする強磁性金属膜に軟磁気特性を向上させる
B、 CN等の元素を添加させた多層膜を作製した場合
も検討したが、保磁力の5から15%の減少が観測され
たほかはほぼ同様な耐食性を示した。本発明者らは特開
昭63−65604号において、B、N、C,P(7)
5〜20at%の添加で保磁力の減少の効果が得られる
ことを示しており、同様の効果が得られているものと推
察される。また、これらの強磁性金属にさらにNi、R
h、Ru、Pd、ZrNb、Ta、Ag、Os、Ir、
Pt、Au、Cr、Mo、W、Ti、Bi。 V、Co、Cuから選ばれる1種以上の元素を添加する
ことで耐食性のさらなる向上が期待できる。これらの添
加元素の効果については、本発明者らが特開昭63−2
36304号で開示している。
【002月
比較実験として、酸化物の代わりにIVa,VIa族元
素の硼化物、炭化物、窒化物を用いて多層膜を形成した
。しかしこれらの膜は、耐食性が極めて低いことが判明
した。すなわち、硼化物、炭化物、窒化物が挿入された
場合はこれらの物質がさらにエネルギーの低い酸化物に
変化しやすいため、空気中で塩水に長時間曝されると、
酸化し、腐食するものと推察される。また、Fe、Co
だけで1μmの膜を形成し、熱処理を行った場合は40
0℃で結晶粒の粗大化が生じてしまい、保磁力は5 0
e以上に増加した。従って、Ti、Zr、Hf、V、N
bTa、Cr等の酸化物材料を強磁性金属膜中に挿入す
ることにより、耐熱性および耐食性が向上することが明
らかである。 [0022] 600℃で熱処理を行った積層膜の断面構造を電子顕微
鏡によって観察した結果、600℃の熱処理後も積層構
造は保たれており、高融点材料の酸化物が強磁性金属膜
の結晶粒の成長を抑制していることがわかる。なお、本
発明者らは同時にこれらの強磁性金属膜を酸化物の替わ
りに、Ni、Cr等の異なる金属膜を介して積層し、6
00℃で熱処理を行った後、断面構造を電子顕微鏡によ
って観察した結果、強磁性金属膜と中間層の金属膜は完
全に拡散しあって、積層構造を認めることはできなかっ
たばかりか結晶粒は粗大化し膜の表面から基板界面まで
1個の単結晶になっているものもあった。 [0023] 本願発明の中間膜の厚さに特に制限は無いが、前述した
ように膜中に非磁性体である中間膜の割合が増えると、
単純希釈の効果により飽和磁束密度が低下する点で好ま
しくない。この観点からは中間膜はできるだけ薄い方が
良い。しかし、特開昭59−9905号で開示されてい
るように、結晶質の強磁性金属膜と異種の中間層を積層
すると、強磁性金属膜の結晶構造を微細化でき好適な磁
気特性が得られる。このような中間層の効果を期待する
ためには、中間層の厚さを1nm以上とすることが必要
である。1nm以上の厚さの中間層と強磁性金属層をス
パッタリングで積層すると、強磁性金属層の結晶構造は
微細化され、さらに、これを加熱しても中間層の酸化物
が強磁性金属層の結晶粒界に侵入して結晶の粗大化を妨
げると考えられる。 [0024] 本発明の磁性膜をX線回折法によって検討した結果、6
00℃で熱処理した膜の結晶構造はFeを主成分とした
場合、体心立方構造であり、COを主成分とした場合、
六方細密充填構造であった。いずれもFeやCoは他の
結晶構造を持なない単相であった。従って、FeやCo
は他の結晶構造を持つ非強磁性物質(例えばγ−Fe、
FeC2Fe203)を作らず、600℃以上の熱処理
を経ても1.7T以上の高い飽和磁束密度を得ることが
できた。 [0025] [実施例2] 強磁性金属に酸素を添加したターゲットと、IVa,V
Ia族元素の金属のターゲットを用い、実施例1と同様
に積層膜を形成した。強磁性金属に酸素を添加したター
ゲットはFeにFe2O3を混合し、またCOにCoO
を混合して作成した。 得られた結果を表2に示す。 [0026] 【表2】 (表2) [0027] 表中、多層磁性膜および金属は膜形成時のターゲットの
組成を示す。また、保磁力、結晶粒径は600℃で1時
間の熱処理を行ったのちに測定した値である。 なお、耐食性は実施例1の場合と同様に塩水噴霧状、験
によって求めた。 [0028] この結果、酸素を添加したFe、Coを主成分とする強
磁性金属膜をIVa,VIa族元素の金属を介して積層
させることによって600℃の高温でも保磁力1.10
e以下の優れた軟磁気特性を持つ多層磁性膜を得ること
ができた。 [0029] このときの結晶粒径は200A以下に保たれていること
が確認された。熱処理前の結晶粒径は150A以下であ
ったので熱処理によって結晶粒径はほとんど変わらない
ことが明らかになった。但し、熱処理による保磁力の変
化を調べたところ、300℃から450℃の範囲では保
磁力が一旦増加した後、さらに温度を上昇すると再び減
少する様子が見られ、強磁性金属膜を酸化物を介して積
層した場合とは異なる結果であった。 [00301 熱処理による飽和磁束密度の変化は実施例1と同様であ
り、大幅な変化は認められなかった。特に、600℃以
上の飽和磁束密度の減少はなかった。 [0031] 700℃で熱処理を行った積層膜の断面構造を電子顕微
鏡によって観察した結果、700℃の熱処理後も積層構
造は保たれており、積層構造が強磁性金属膜の結晶粒の
成長を抑制していることがわかる。さらに、本発明者ら
はこれらの強磁性金属積層膜を高分解能EPMA法によ
って分析した結果、中間層として挿入した金属層の場所
には多層磁性膜に添加した酸素も集まってきており、酸
化物が形成されていると考えられる。また、挿入した金
属は一部が拡散して、多層磁性膜を構成する結晶粒を包
むように存在していることが確認された。ここには添加
した炭素もしくは硼素も存在しており、炭化物や硼化物
も同時に存在すると考えられる。 スパッタリングで形
成した膜と、これを600℃で熱処理した後の膜をXP
S (Xray Photoelectron 5pe
ctroscopいによって分析した。この結果、熱処
理前の膜で観察された中間層構成金属元素を示すピーク
が熱処理後には小さくなり、変わりに中間層構成元素の
酸化物の存在を示すピークが観察された。すなわち、熱
処理後の多層磁性膜中で酸素と中間層の金属とが結合状
態(すなわち酸化物)にあることが確認された。従って
、酸化物を強磁性金属膜を構成する結晶粒の周囲に存在
せしめることにより、耐熱性を向上させることができる
ことが明らかである。 なお、得られた磁性膜を実施例
1と同様に耐食性の試、験を行なった結果、どの試料も
50日以上の耐食性を示し、磁性膜中に酸化物が存在す
ると、腐食が防止されることが明らかになった。 [0032] 実施例2においても、実施例1と同様に保磁力減少、耐
食性向上等のため他の元素を添加することができる。ま
た、中間層と強磁性金属層の関係についても実施例1と
同様に考えることができる。 [0033] [実施例3] 表3に示す強磁性金属をターゲットに用い、スパッタリ
ングガスをアルゴンと酸素の混合ガスとして多層磁性膜
を作成した。 [0034]
素の硼化物、炭化物、窒化物を用いて多層膜を形成した
。しかしこれらの膜は、耐食性が極めて低いことが判明
した。すなわち、硼化物、炭化物、窒化物が挿入された
場合はこれらの物質がさらにエネルギーの低い酸化物に
変化しやすいため、空気中で塩水に長時間曝されると、
酸化し、腐食するものと推察される。また、Fe、Co
だけで1μmの膜を形成し、熱処理を行った場合は40
0℃で結晶粒の粗大化が生じてしまい、保磁力は5 0
e以上に増加した。従って、Ti、Zr、Hf、V、N
bTa、Cr等の酸化物材料を強磁性金属膜中に挿入す
ることにより、耐熱性および耐食性が向上することが明
らかである。 [0022] 600℃で熱処理を行った積層膜の断面構造を電子顕微
鏡によって観察した結果、600℃の熱処理後も積層構
造は保たれており、高融点材料の酸化物が強磁性金属膜
の結晶粒の成長を抑制していることがわかる。なお、本
発明者らは同時にこれらの強磁性金属膜を酸化物の替わ
りに、Ni、Cr等の異なる金属膜を介して積層し、6
00℃で熱処理を行った後、断面構造を電子顕微鏡によ
って観察した結果、強磁性金属膜と中間層の金属膜は完
全に拡散しあって、積層構造を認めることはできなかっ
たばかりか結晶粒は粗大化し膜の表面から基板界面まで
1個の単結晶になっているものもあった。 [0023] 本願発明の中間膜の厚さに特に制限は無いが、前述した
ように膜中に非磁性体である中間膜の割合が増えると、
単純希釈の効果により飽和磁束密度が低下する点で好ま
しくない。この観点からは中間膜はできるだけ薄い方が
良い。しかし、特開昭59−9905号で開示されてい
るように、結晶質の強磁性金属膜と異種の中間層を積層
すると、強磁性金属膜の結晶構造を微細化でき好適な磁
気特性が得られる。このような中間層の効果を期待する
ためには、中間層の厚さを1nm以上とすることが必要
である。1nm以上の厚さの中間層と強磁性金属層をス
パッタリングで積層すると、強磁性金属層の結晶構造は
微細化され、さらに、これを加熱しても中間層の酸化物
が強磁性金属層の結晶粒界に侵入して結晶の粗大化を妨
げると考えられる。 [0024] 本発明の磁性膜をX線回折法によって検討した結果、6
00℃で熱処理した膜の結晶構造はFeを主成分とした
場合、体心立方構造であり、COを主成分とした場合、
六方細密充填構造であった。いずれもFeやCoは他の
結晶構造を持なない単相であった。従って、FeやCo
は他の結晶構造を持つ非強磁性物質(例えばγ−Fe、
FeC2Fe203)を作らず、600℃以上の熱処理
を経ても1.7T以上の高い飽和磁束密度を得ることが
できた。 [0025] [実施例2] 強磁性金属に酸素を添加したターゲットと、IVa,V
Ia族元素の金属のターゲットを用い、実施例1と同様
に積層膜を形成した。強磁性金属に酸素を添加したター
ゲットはFeにFe2O3を混合し、またCOにCoO
を混合して作成した。 得られた結果を表2に示す。 [0026] 【表2】 (表2) [0027] 表中、多層磁性膜および金属は膜形成時のターゲットの
組成を示す。また、保磁力、結晶粒径は600℃で1時
間の熱処理を行ったのちに測定した値である。 なお、耐食性は実施例1の場合と同様に塩水噴霧状、験
によって求めた。 [0028] この結果、酸素を添加したFe、Coを主成分とする強
磁性金属膜をIVa,VIa族元素の金属を介して積層
させることによって600℃の高温でも保磁力1.10
e以下の優れた軟磁気特性を持つ多層磁性膜を得ること
ができた。 [0029] このときの結晶粒径は200A以下に保たれていること
が確認された。熱処理前の結晶粒径は150A以下であ
ったので熱処理によって結晶粒径はほとんど変わらない
ことが明らかになった。但し、熱処理による保磁力の変
化を調べたところ、300℃から450℃の範囲では保
磁力が一旦増加した後、さらに温度を上昇すると再び減
少する様子が見られ、強磁性金属膜を酸化物を介して積
層した場合とは異なる結果であった。 [00301 熱処理による飽和磁束密度の変化は実施例1と同様であ
り、大幅な変化は認められなかった。特に、600℃以
上の飽和磁束密度の減少はなかった。 [0031] 700℃で熱処理を行った積層膜の断面構造を電子顕微
鏡によって観察した結果、700℃の熱処理後も積層構
造は保たれており、積層構造が強磁性金属膜の結晶粒の
成長を抑制していることがわかる。さらに、本発明者ら
はこれらの強磁性金属積層膜を高分解能EPMA法によ
って分析した結果、中間層として挿入した金属層の場所
には多層磁性膜に添加した酸素も集まってきており、酸
化物が形成されていると考えられる。また、挿入した金
属は一部が拡散して、多層磁性膜を構成する結晶粒を包
むように存在していることが確認された。ここには添加
した炭素もしくは硼素も存在しており、炭化物や硼化物
も同時に存在すると考えられる。 スパッタリングで形
成した膜と、これを600℃で熱処理した後の膜をXP
S (Xray Photoelectron 5pe
ctroscopいによって分析した。この結果、熱処
理前の膜で観察された中間層構成金属元素を示すピーク
が熱処理後には小さくなり、変わりに中間層構成元素の
酸化物の存在を示すピークが観察された。すなわち、熱
処理後の多層磁性膜中で酸素と中間層の金属とが結合状
態(すなわち酸化物)にあることが確認された。従って
、酸化物を強磁性金属膜を構成する結晶粒の周囲に存在
せしめることにより、耐熱性を向上させることができる
ことが明らかである。 なお、得られた磁性膜を実施例
1と同様に耐食性の試、験を行なった結果、どの試料も
50日以上の耐食性を示し、磁性膜中に酸化物が存在す
ると、腐食が防止されることが明らかになった。 [0032] 実施例2においても、実施例1と同様に保磁力減少、耐
食性向上等のため他の元素を添加することができる。ま
た、中間層と強磁性金属層の関係についても実施例1と
同様に考えることができる。 [0033] [実施例3] 表3に示す強磁性金属をターゲットに用い、スパッタリ
ングガスをアルゴンと酸素の混合ガスとして多層磁性膜
を作成した。 [0034]
【表3】
(表39
[0035]
表中、多層磁性膜は膜形成時のターゲットの組成を示す
。また、酸素濃度はスパッタリングガス中の酸素濃度を
示す。保磁力、耐食性は600℃で1時間の熱処理を行
ったのちに測定した値である。なお、耐食性は実施例1
の場合と同様に測定した。この結果、IVa,VTa族
元素を添加したFe、Coを主成分とする強磁性金属膜
を酸素雰囲気中でスパッタリングすることにより、60
0℃の高温でも保磁力1 0e以下の優れた軟磁気特性
を持つ多層磁性膜を得ることができた。このときの結晶
粒径は200A以下に保たれていることが確認された。 熱処理前の結晶粒径は150八以下であったので熱処理
によって結晶粒径はほとんど変わらないことが明らかに
なった。 [0036] さらに、600℃で熱処理を行なった膜の耐食性はいず
れも50日以上の値を示し、酸素を含まない磁性膜の耐
食性が10から30日であることに比べて、明らかに耐
父性の向上を図ることが出来た。 [0037] 熱処理後の磁性膜中に含まれた酸素量をEPMA法で計
測したところ、5.2から8.4at%の酸素が膜中に
存在することが確認された。さらに詳細に酸素含有量の
影響を調べるため、スパッタリングガス中の酸素濃度を
変えてFe86Nb1oB4膜をスパッタリングした結
果、酸素含有量と保磁力、耐食性の関係は第2図のよう
になった。すなわち、保磁力を低く保つためには、膜中
の酸素濃度が15at%以下、さらに好ましくは10a
t%以下が条件であり、耐食性は酸素の添加に伴い向上
することがわかった。また、保磁力が2 0e以下、か
つ耐食性が50日以上という望ましい結果を得るには、
膜中の酸素濃度が0.1at%以上、15at%以下が
条件であることがわかった。 [0038] 600℃で熱処理を行った磁性膜の断面構造を電子顕微
鏡によって観察した結果、600℃の熱処理後も結晶粒
は200A以下に保たれており、酸化物の形成が強磁性
金属膜の結晶粒の成長を抑制していることがわかる。さ
らに、本発明者らはこれらの強磁性金属膜を高分解能E
PMA法によって分析した結果、磁性膜の結晶粒界にI
Va,VIa族元素の酸化物が存在することが確認され
た。従って、実施例2と同様に酸化物のような高融点材
料が強磁性金属膜を構成する結晶粒の周囲に存在するこ
とにより、耐熱性および耐食性を向上させることができ
ることが明らかである。 [0039] なお、実施例3においても実施例1.2と同様に添加元
素を選択することができる。 [0040] [実施例4] 実施例1から3で得られた多層磁性膜を用いて図3に示
すように、メタルインギャップ型ヘッドの磁極を作製し
、高密度磁気記録装置のヘッドとして評価した。 図3Aに全体斜視図を、図3Bにギャップ近傍の拡大図
を示す。M n −Z nフェライト基板4に、膜厚5
μmの多層磁性膜5が被着された磁気コアが突き合わさ
れてギャップ8を形成する。ギャップ長は0.3μmで
ある。磁気コアにはコイル7が設けられている。ヘッド
形成時のガラスボンディング温度は520℃である。使
用した媒体は保磁力が1500 0eであった。この結
果、本発明のFe系多層磁性膜をヘッドの磁極に用いた
ヘッドの記録特性は従来のセンダストヘッドに比べて4
.6dB向上し、再生出力は約3 dB高かった。ま
た、100kBPI以上の記録密度を得ることができた
。これは本発明の多層磁性膜の飽和磁束密度が他の材料
に比べて高いことによるものである。 [0041] さらに、ヘッドの擬似ギャップ効果による擬似信号出力
を測定した結果、従来のFe、CoにNb、Zr、Ti
、Ta、Hf、Cr、W、Moと窒素もしくは炭素を同
時に添加した磁性膜をヘッドの磁極に用いた場合、3か
ら5dBの擬似信号出力が検出されていたものが、本発
明の磁性膜を用いたところ、擬似信号出力は2dB以下
に減少することが確認された。得られたヘッドのガラス
接着部をはがして、磁性膜側からフェライトに向かって
、オージェ電子分光法による深さ分析を行なったところ
、従来のヘッドでは磁性膜とフェライトの界面に50か
ら180Aの酸化物層が存在することが確認された。一
方、本発明のヘッドでは磁性膜とフェライトの界面の酸
化物層は高々20Aであり、磁性膜中に酸化物相が存在
する場合は、界面の酸化物層の厚さが薄くなり、疑似信
号出力が減少することが明らかになった。 [0042] また、従来の磁性膜を磁極に用いた場合はガラスボンデ
ィング時に磁性膜と充填ガラスの反応が生じ、磁性膜の
一部が軟磁気特性の劣る膜に変化して、ヘッドの記録再
生特性を劣化させた。また、ひどい場合には保磁力の高
い膜が形成され媒体に記録した信号をかつてに消去する
こともあった。しかし、本発明では、光学顕微鏡による
磁性膜と充填ガラス界面の観察によっても、反応層の形
成は認められず、高い記録再生特性を示した。 [0043] 以上の実施例ではイオンビームスパッタリング法によっ
て磁性膜の形成を行ったが、本発明者らはRFスパッタ
リング法でも同様の検討を行っており、基板温度を15
0℃前後まで上昇させるだけでほぼ同様の磁気特性およ
び耐熱性をもつ磁性膜かえられることを確認した。従っ
て、本発明は膜形成法によらず有効である。 [0044]
。また、酸素濃度はスパッタリングガス中の酸素濃度を
示す。保磁力、耐食性は600℃で1時間の熱処理を行
ったのちに測定した値である。なお、耐食性は実施例1
の場合と同様に測定した。この結果、IVa,VTa族
元素を添加したFe、Coを主成分とする強磁性金属膜
を酸素雰囲気中でスパッタリングすることにより、60
0℃の高温でも保磁力1 0e以下の優れた軟磁気特性
を持つ多層磁性膜を得ることができた。このときの結晶
粒径は200A以下に保たれていることが確認された。 熱処理前の結晶粒径は150八以下であったので熱処理
によって結晶粒径はほとんど変わらないことが明らかに
なった。 [0036] さらに、600℃で熱処理を行なった膜の耐食性はいず
れも50日以上の値を示し、酸素を含まない磁性膜の耐
食性が10から30日であることに比べて、明らかに耐
父性の向上を図ることが出来た。 [0037] 熱処理後の磁性膜中に含まれた酸素量をEPMA法で計
測したところ、5.2から8.4at%の酸素が膜中に
存在することが確認された。さらに詳細に酸素含有量の
影響を調べるため、スパッタリングガス中の酸素濃度を
変えてFe86Nb1oB4膜をスパッタリングした結
果、酸素含有量と保磁力、耐食性の関係は第2図のよう
になった。すなわち、保磁力を低く保つためには、膜中
の酸素濃度が15at%以下、さらに好ましくは10a
t%以下が条件であり、耐食性は酸素の添加に伴い向上
することがわかった。また、保磁力が2 0e以下、か
つ耐食性が50日以上という望ましい結果を得るには、
膜中の酸素濃度が0.1at%以上、15at%以下が
条件であることがわかった。 [0038] 600℃で熱処理を行った磁性膜の断面構造を電子顕微
鏡によって観察した結果、600℃の熱処理後も結晶粒
は200A以下に保たれており、酸化物の形成が強磁性
金属膜の結晶粒の成長を抑制していることがわかる。さ
らに、本発明者らはこれらの強磁性金属膜を高分解能E
PMA法によって分析した結果、磁性膜の結晶粒界にI
Va,VIa族元素の酸化物が存在することが確認され
た。従って、実施例2と同様に酸化物のような高融点材
料が強磁性金属膜を構成する結晶粒の周囲に存在するこ
とにより、耐熱性および耐食性を向上させることができ
ることが明らかである。 [0039] なお、実施例3においても実施例1.2と同様に添加元
素を選択することができる。 [0040] [実施例4] 実施例1から3で得られた多層磁性膜を用いて図3に示
すように、メタルインギャップ型ヘッドの磁極を作製し
、高密度磁気記録装置のヘッドとして評価した。 図3Aに全体斜視図を、図3Bにギャップ近傍の拡大図
を示す。M n −Z nフェライト基板4に、膜厚5
μmの多層磁性膜5が被着された磁気コアが突き合わさ
れてギャップ8を形成する。ギャップ長は0.3μmで
ある。磁気コアにはコイル7が設けられている。ヘッド
形成時のガラスボンディング温度は520℃である。使
用した媒体は保磁力が1500 0eであった。この結
果、本発明のFe系多層磁性膜をヘッドの磁極に用いた
ヘッドの記録特性は従来のセンダストヘッドに比べて4
.6dB向上し、再生出力は約3 dB高かった。ま
た、100kBPI以上の記録密度を得ることができた
。これは本発明の多層磁性膜の飽和磁束密度が他の材料
に比べて高いことによるものである。 [0041] さらに、ヘッドの擬似ギャップ効果による擬似信号出力
を測定した結果、従来のFe、CoにNb、Zr、Ti
、Ta、Hf、Cr、W、Moと窒素もしくは炭素を同
時に添加した磁性膜をヘッドの磁極に用いた場合、3か
ら5dBの擬似信号出力が検出されていたものが、本発
明の磁性膜を用いたところ、擬似信号出力は2dB以下
に減少することが確認された。得られたヘッドのガラス
接着部をはがして、磁性膜側からフェライトに向かって
、オージェ電子分光法による深さ分析を行なったところ
、従来のヘッドでは磁性膜とフェライトの界面に50か
ら180Aの酸化物層が存在することが確認された。一
方、本発明のヘッドでは磁性膜とフェライトの界面の酸
化物層は高々20Aであり、磁性膜中に酸化物相が存在
する場合は、界面の酸化物層の厚さが薄くなり、疑似信
号出力が減少することが明らかになった。 [0042] また、従来の磁性膜を磁極に用いた場合はガラスボンデ
ィング時に磁性膜と充填ガラスの反応が生じ、磁性膜の
一部が軟磁気特性の劣る膜に変化して、ヘッドの記録再
生特性を劣化させた。また、ひどい場合には保磁力の高
い膜が形成され媒体に記録した信号をかつてに消去する
こともあった。しかし、本発明では、光学顕微鏡による
磁性膜と充填ガラス界面の観察によっても、反応層の形
成は認められず、高い記録再生特性を示した。 [0043] 以上の実施例ではイオンビームスパッタリング法によっ
て磁性膜の形成を行ったが、本発明者らはRFスパッタ
リング法でも同様の検討を行っており、基板温度を15
0℃前後まで上昇させるだけでほぼ同様の磁気特性およ
び耐熱性をもつ磁性膜かえられることを確認した。従っ
て、本発明は膜形成法によらず有効である。 [0044]
以上詳細に説明したごとく、本発明による耐熱高飽和磁
束密度膜はすくなくとも600℃の温度までその軟磁気
特性が良好であり、その飽和磁束密度の減少も存在しな
い。また、この軟磁性膜は耐食性が極めて優れておるば
かりか、磁性膜とフェライトとの界面に酸化物等の反応
層が形成されにくく、従って、この耐熱高飽和磁束密度
膜を磁気記録装置の磁気ヘッド、特にメタルインギャッ
プ型の磁気ヘッドに用いた場合、500℃以上の高温で
ガラスボンディングを行うことができるようになり、十
分な強度を持つガラス層を形成することができた。また
、疑似ギャップに基づく疑似信号出力も2dB以下と低
い値であった。
束密度膜はすくなくとも600℃の温度までその軟磁気
特性が良好であり、その飽和磁束密度の減少も存在しな
い。また、この軟磁性膜は耐食性が極めて優れておるば
かりか、磁性膜とフェライトとの界面に酸化物等の反応
層が形成されにくく、従って、この耐熱高飽和磁束密度
膜を磁気記録装置の磁気ヘッド、特にメタルインギャッ
プ型の磁気ヘッドに用いた場合、500℃以上の高温で
ガラスボンディングを行うことができるようになり、十
分な強度を持つガラス層を形成することができた。また
、疑似ギャップに基づく疑似信号出力も2dB以下と低
い値であった。
【図1】図1は本発明の強磁性金属膜の断面図
【図2】
図2は本発明の多層磁性膜の保持力と耐女性に及ぼす膜
中の酸素濃度の影響を示すグラフの図
図2は本発明の多層磁性膜の保持力と耐女性に及ぼす膜
中の酸素濃度の影響を示すグラフの図
【図3】図3、Aは本発明の磁気ヘッドの斜視図、Bは
本発明の磁気ヘッドのギャップ部近傍を示す平面図
本発明の磁気ヘッドのギャップ部近傍を示す平面図
1・・・基板1.2・・・強磁性金属層、3・・・酸化
物層
物層
【書類名】図面
【図1】
(図
)
【図2】
(図2
)
【図3】
(図3
)
(B)
Claims (23)
- 【請求項1】強磁性金属中に酸化物相が存在してなるこ
とを特徴とする強磁性膜゜ - 【請求項2】前記酸化物相がIVa,Va,VIa族元
素から選ばれる少なくとも1種以上の元素を含むことを
特徴とする請求項1記載の強磁性膜。 - 【請求項3】前記酸化物相を除いた強磁性金属が単相の
結晶である請求項1または2記載の強磁性膜。 - 【請求項4】前記強磁性金属がFeもしくはCoを主成
分とした結晶からなることを特徴とする請求項1乃至3
のうちいずれかに記載の記載の強磁性膜。 - 【請求項5】前記結晶の結晶粒径の平均値が200オン
グストローム以下である請求項4記載の強磁性膜。 - 【請求項6】前記酸化物相が前記結晶の結晶粒界部分に
存在することを特徴とする請求項5記載の強磁性膜。 - 【請求項7】酸素の前記強磁性金属に対する添加量が0
.1から15at%であることを特徴とする請求項1乃
至6のうちいずれかに記載の強磁性膜。 - 【請求項8】磁気特性または耐食性向上のために、さら
に1種以上の添加元素を添加した請求項1乃至7のうち
いずれかに記載の強磁性膜。 - 【請求項9】前記添加元素がB,N,C,Pからなる群
より選ばれる少なくとも1種の元素であることを特徴と
する請求項8記載の強磁性膜。 - 【請求項10】強磁性金属層と、IVa,Va,VIa
族元素から選ばれる少なくとも1種以上の酸化物を含む
中間層の積層から成る多層磁性膜。 - 【請求項11】前記強磁性金属層がFeまたはCoを主
成分とする請求項10記載の多層磁性膜。 - 【請求項12】前記強磁性金属層がさらにB,N,C,
Pからなる群より選ばれる少なくとも1種の元素を含む
請求項11記載の多層磁性膜。 - 【請求項13】前記中間層の膜厚が1nm以上である請
求項10乃至12のうちいずれかに記載の多層磁性膜。 - 【請求項14】酸素を添加した強磁性金属層と、IVa
,Va,VIa族元素から選ばれる少なくとも1種以上
の元素を含む中間層の積層から成る多層磁性膜。 - 【請求項15】前記強磁性金属層がFeまたはCoを主
成分とする請求項14記載の多層磁性膜。 - 【請求項16】前記強磁性金属層がさらにB,N,C,
Pからなる群より選ばれる少なくとも1種の元素を含む
請求項15記載の多層磁性膜。 - 【請求項17】前記中間層の膜厚が1nm以上である請
求項14乃至16のうちいずれかに記載の多層磁性膜。 - 【請求項18】Fe,Coから選ばれる少なくとも1つ
の元素と、IVa,Va,VIa族元素から選ばれる少
なくとも1種以上の元素と、0.1〜15at%の酸素
を酸化物状態で含む強磁性膜。 - 【請求項19】Fe,Coから選ばれる少なくとも1種
の元素を含むターゲットと、IVa,Va,VIa族元
素から選ばれる少なくとも1種以上の元素の酸化物を含
むターゲットを、交互にスパッタリングして多層磁性膜
を形成する強磁性膜の製造方法。 - 【請求項20】Fe,Coから選ばれる少なくとも1種
の元素と酸素を含むターゲットと、IVa,Va,VI
a族元素から選ばれる少なくとも1種以上の元素を含む
ターゲットを、交互にスパッタリングして多層磁性膜を
形成する強磁性膜の製造方法。 - 【請求項21】Fe,Coから選ばれる少なくとも1種
の元素と、IVa,Va,VIa族元素から選ばれる少
なくとも1種以上の元素を含むターゲットを、酸素を含
むスパッタリングガス中でスパッタリングする強磁性膜
の製造方法。 - 【請求項22】強磁性金属中に酸化物相が存在してなる
磁性膜を有する磁気回路と、該磁気回路に磁気的に結合
するコイルと、上記磁気回路の一部に設けられた磁気ギ
ャップを有する磁気ヘッド。 - 【請求項23】前記磁気回路は、基板に前記磁性膜が被
着されてなる1対の磁気コアを、ガラスによって接合し
てなる請求項22記載の磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2405640A JPH03292705A (ja) | 1990-01-08 | 1990-12-25 | 強磁性膜及びこれを用いた磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-670 | 1990-01-08 | ||
| JP67090 | 1990-01-08 | ||
| JP2405640A JPH03292705A (ja) | 1990-01-08 | 1990-12-25 | 強磁性膜及びこれを用いた磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03292705A true JPH03292705A (ja) | 1991-12-24 |
Family
ID=26333689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2405640A Pending JPH03292705A (ja) | 1990-01-08 | 1990-12-25 | 強磁性膜及びこれを用いた磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03292705A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997011499A1 (en) * | 1995-09-21 | 1997-03-27 | Tdk Corporation | Magnetic transducer |
-
1990
- 1990-12-25 JP JP2405640A patent/JPH03292705A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997011499A1 (en) * | 1995-09-21 | 1997-03-27 | Tdk Corporation | Magnetic transducer |
| US5923504A (en) * | 1995-09-21 | 1999-07-13 | Tdk Corporation | Magnetoresistance device |
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