JPH0330098B2 - - Google Patents

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JPH0330098B2
JPH0330098B2 JP59141048A JP14104884A JPH0330098B2 JP H0330098 B2 JPH0330098 B2 JP H0330098B2 JP 59141048 A JP59141048 A JP 59141048A JP 14104884 A JP14104884 A JP 14104884A JP H0330098 B2 JPH0330098 B2 JP H0330098B2
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temperature
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/02Means for indicating or recording specially adapted for thermometers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 この発明は、例えば体温計として使用される電
子温度計に関し、特に温度上昇率検出手段に特徴
を有する電子温度計に関する。
(ロ) 従来の技術 一般に、電子体温計は、サーミスタ等の感温素
子を含む温度測定部で、サンプルタイミング毎に
温度を測定し、測定温度の最高値を更新記憶し、
表示するようにしている。この電子体温計は、測
定開始後、いきなり体温が表示されるのではな
く、測定温度がある初期温度から指数関数的に上
昇してゆき、やがてある温度値に収束し、その時
点で、略正確な体温を知ることができる。この収
束時点を判断する1つの方法として、温度上昇率
を検出し、この温度上昇率が所定値以下に達した
時点を収束時点とするものがある。
この種の電子温度計において、温度上昇率が所
定値以下になつたことを検出するのに、従来は、
複数回のサンプルタイミングの測定温度をメモリ
に記憶しておき、今回の測定温度と数回前のサン
プルタイミングの測定温度との差を演算回路で計
算し、この算値より判断していた。
(ハ) 発明が解決しようとする問題点 しかし、上記従来技術では、上昇率検出のため
に数回分の測定温度を記憶する回路と、任意デー
タの差を計算する演算回路とを必要とし、回路規
模が大となりCPUを使用しないで、LSI化しよう
とする場合には、チツプサイズが大となり、コス
トアツプを招くという問題があつた。
この発明は、比較的小規模の回路で、温度上昇
率検出のための回路を実現し、低コストの電子温
度計を提供することを目的としている。
(ニ) 問題点を解決するための手段 この発明の電子温度計は、上記問題点を解決す
るために、第1図に示すように、サンプルタイミ
ング毎に温度を測定する温度測定部1と、測定さ
れた現温度を記憶する測定温度記憶手段2と、測
定温度の最高値を表示温度として更新記憶する表
示温度記憶手段3と、表示温度を表示する表示器
4と、現温度と表示温度の大小関係を比較する比
較回路5と、この比較回路5の大小関係出力をサ
ンプルタイミング毎に、1ビツトの2値データと
して、ビツト順次に記憶するシフトレジスタ6
と、このシフトレジスタ6に記憶される2値デー
タの個数を計数し、この個数から温度上昇率が所
定値になつたことを検出するカウンタ7とから構
成されている。
(ホ) 作用 この電子温度計において、温度測定部1で、サ
ンプルタイミング時に温度が測定されると、今回
の測定温度が測定温度記憶手段2に記憶される。
そして今回測定温度と表示温度記憶手段3に記憶
される表示温度が比較回路5で比較され、今回測
定温度が表示温度よりも、大きい場合には、その
測定温度が、新たな表示温度として、表示温度記
憶手段3に記憶され、表示器4に表示される。ま
た今回測定温度が表示温度よりも、大きい場合
は、シフトレジスタ6に、その大きいことを示す
データが、1ビツト分例えばデータ“1”として
記憶される。
以後、サンプルタイミング毎に、上記と同様に
して、温度測定がなされ、最高温度が表示器4に
更新表示され、シフトレジスタ6に、今回測定温
度が大きい場合は“1”、表示温度と等しいか、
小さい場合は“0”が、ビツト順次に記憶され
る。
シフトレジスタ6に記憶される“1”の多い程
(“0”が少ない程)、温度が上昇していることを
意味し、逆に“1”が少ない程(“0”が多い
程)、温度が収束時に近づいていることを意味し
ている。それゆえ、カウンタ7は、シフトレジス
タ6の、例えばデータ“0”の数を計数し、その
数が所定値以上になると、収束信号を出力する。
(ヘ) 実施例 以下、実施例によりこの発明をさらに詳細に説
明する。
第2図は、この発明の一実施例電子温度計の回
路構成を示すブロツク図である。
この実施例電子温度計は、温度測定部11、温
度測定部11からの測定温度データを計数記憶す
るカウンタ12、カウンタ12の温度値の最大値
を更新記憶するラツチ回路13、ラツチ回路13
に記憶される温度をデコーダ/ドライバ18を介
して受け、表示する表示器14、カウンタ12に
記憶される測定温度とラツチ回路13の表示温度
とを比較する比較回路15、この比較回路15よ
りの大小関係(測定温度>表示温度の場合“1”)
を示すデータを1ビツトずつ記憶するシフトレジ
スタ16及び、このシフトレジスタ16のデータ
“1”が所定値以内(“0”が所定値以上)になつ
たとき収束信号を出力するためのアツプ/ダウン
カウンタ部17とから構成されている。
温度測定部11の発振部19はサーミスタ(感
温抵抗)20、基準抵抗21、切替スイツチ2
2、及びコンデンサ23からなる時定数回路24
と発振器25とから構成されている。
発振器25の出力は、カウンタ26に加えら
れ、このカウンタ26のオーバフロー出力が遅延
回路27に加えられるとともに、ラツチ回路30
にも加えられている。また遅延回路27の出力
は、発振部19に加えられ、スイツチ22をサー
ミスタ20側に投入するようになつている。
クロツク発振器28より出力されるクロツク信
号は、カウンタ29で計数され、このカウンタ2
9の出力はラツチ回路30と比較回路31に加え
られるようになつている。上記クロツク発振器2
8、カウンタ29及びラツチ回路30はカウンタ
26がオーバフローするまでの時間を計測し、か
つその時間を一時的に保持する。
比較回路31はカウンタ29の計数値とラツチ
回路30の出力を比較し、その一致出力を遅延回
路32に加え、遅延回路32の出力はオア回路3
3を介してカウンタ26,29に加えられ、両カ
ウンタがクリアされる。また遅延回路32の出力
で、発振部19のスイツチ22が基準抵抗21側
に投入されるようになつている。
カウンタ26の出力はデコーダ34に加えら
れ、デコーダ34の出力は、ROM35をアドレ
ス指定するようになつている。ROM35はカウ
ンタ26の温度に対応する計数値に対応した温度
差データを記憶しており、このROM35から読
出される温度差データがシフトレジスタ36にプ
リセツトされるようになつている。またシフトレ
ジスタ36の出力はアンド回路37の入力の一端
に加えられ、発振器25のサーミスタ20接続時
の出力パルスfxをシフトレジスタ36のクロツク
パルスとして、またアンド回路37の入力の他端
に加えるようにしている。そして、シフトレジス
タ36の出力(左端)に“1”が得られる場合
に、発振器25よりのパルス信号fxがアンド回路
37の出力端に導出され、カウンタ12に入力さ
れるようになつている。
カウンタ12は、したがつて各サンプルタイミ
ング毎に、温度測定部11で測定する温度データ
を計数するようになつている。
カウンタ12の出力とラツチ回路13の出力
は、比較回路15で比較され、ラツチ回路13に
保持されるデータよりもカウンタ12の計数値の
方が大なる場合には、ラツチ回路13に、カウン
タ12の内容をラツチし、更新記憶するととも
に、比較回路15は、シフトレジスタ16に、
“1”信号を入力するとともに、“0”信号をUP
信号として、アツプ/ダウンカウント部17に加
えるようになつている。
シフトレジスタ16は、遅延回路32の出力が
入力される毎に、1ビツト、シフトされ、その最
左端より出力されるデータ“0”は、DOWN信
号としてアツプ/ダウンカウント部17に入力さ
れている。アツプ/ダウンカウント部17は、比
較回路15の“0”出力をUP信号として、シフ
トレジスタ16の“0”出力をDOWN信号とし
て、それぞれアツプ/ダウン計数し、その計数値
が所定値以上になると、収束信号を出力するよう
になつている。
次に、上記実施例電子体温計の動作について説
明する。
先ず、発振部19のスイツチ22が、基準抵抗
21側に投入されている場合を考えると、発振部
19は、基準抵抗21の抵抗値Rと、コンデンサ
23の静電容量Cで決まる時定数により周波数fo
で発振する。この周波数foのパルス信号が、発振
器25より出力され、カウンタ26に入力され
る。カウンタ26が、その周波数foのパルス信号
の計数を開始する。同時に、クロツク発振器28
からのクロツク信号の計数がカウンタ29で開始
される。カウンタ26の計数値が所定値Noに達
すると、そのオーバフロー出力により、カウンタ
29の計数値がラツチ回路30にラツチされる。
ところで、カウンタ26がオーバフローするま
での時間は、No/foであるから、ラツチ回路3
0にラツチされるカウンタ29の計数値は、クロ
ツク発振器28の周波数をfcとすると、 No/fo/1/fc=No/fo・fc となる。
またカウンタ26のオーバフロー出力は遅延回
路27により、微小時間遅れて、発振部19に加
えられ、スイツチ22をサーミスタ20側に投入
するとともに、オア回路33を経て、カウンタ2
6,29をクリアする。
発振部19の発振器25に、サーミスタ20が
接続され、今度はサーミスタ20の抵抗値Rxと
コンデンサの静電容量Cで決まる時定数により発
振し、周波数fxのパルス信号が発振器25より出
力され、カウンタ26に入力される。そして以
後、カウンタ26は、周波数fxのパルス信号を計
数する。一方、カウンタ29には、再度クロツク
発振器28より、周波数fcのクロツク信号が入力
され、計数される。そして、カウンタ29の計数
値が、ラツチ回路30に保持される計数値に等し
くなると、比較回路31が、両者の一致を検出
し、カウンタ26の計数を、その時点で停止す
る。この時のカウンタ26の計数値をNxとする
と、カウンタ26がNxまで計数する時間Nx/fx
内に、カウンタ29が計数する計数値fc/fx・
Nxはラツチ回路30に保持されている計数値
fc/fo・Noに等しい。それゆえ、 Nx/fx=No/fo が成り立つ。したがつて Nx=fx/fo・No=k1/k2・R/Rx・No ただし、k1・k2;定数 が成り立つ。
ところで、サーミスタ20の抵抗値Rxは、一
般的に Rx=RoexpB(1/T−1/To) 但し、 Ro:絶対温度Toの時の抵抗値 B:ボルツマン定数 T:絶対温度 で表すことができるから、上記Nxは Nx=NoR/Ro・expB(1/To−1/T) が成立ち、これをTについて書き直すと、 T=1/1/T−1/B・lnNxRo/NoR となる。この式においてNxが定まれば、他は全
て定数なので、Nxより温度Tを求めることがで
きる。
カウンタ26の計数値Nxで、デコーダ34の
出力値が決まり、この出力値によりROM35の
アドレス指定がなされ、ROM35には計数値
Nxの歩進に対応する温度差データが予め記憶さ
れているので、その温度差データがシフトレジス
タ36にプリセツトされ、このシフトレジスタ3
6の出力に信号“1”が存在する時に、アンド回
路37からは、発振器25よりの周波数fxのパル
ス信号が、カウンタ12に入力されることにな
る。したがつてカウンタ12には、その時点にお
ける温度に対応するデータがすなわち現在測定温
度が記憶されることになる。
カウンタ12の現在測定温度は、ラツチ回路1
3の表示温度と、比較回路15で比較され、現在
温度の方が大きい場合には、ラツチ回路13に、
カウンタ12の内容がラツチされ、新たな表示温
度となり、この表示温度が、デコーダ/ドライバ
18を経て、表示器14に加えられ、表示され
る。
なお比較回路15はカウンタ12に記憶される
現在温度の方が表示温度より大きい場合には、デ
コーダ“1”をシフトレジスタ16に記憶する。
逆に現在温度の方が小さいか等しい場合は、デー
タ“0”をシフトレジスタ16に記憶する。
以上のようにして、サンプルタイミング1回分
の温度測定が行われるが、遅延回路32の出力に
より、発振部19のスイツチ22が基準抵抗21
側に投入され、再び、上記したと同様の動作、す
なわち、第2のサンプルタイミングにおける測定
が開始される。そして同様にカウンタ12は今回
の、つまり第2回目の測定温度が記憶され、温度
上昇が続いていると、ラツチ回路13に、前回の
表示温度に代えて今回の測定温度が再ラツチさ
れ、新たな表示温度として、表示器14に表示さ
れる。また比較回路15はカウンタ12に記憶さ
れる測定温度の方が大なので、やはりデータ
“1”を出力し、シフトレジスタ16とアツプ/
ダウンカウント部17に、さらに“1”を入力す
る。このようにして、サンプルタイミング毎に、
カウンタ12に現在温度が記憶され、ラツチ回路
13には最高温度、すなわち表示温度が記憶さ
れ、温度上昇が続く限り、ラツチ回路13の内容
は更新され、比較回路15からは、データ“1”
が出力される。したがつてシフトレジスタ16の
内容はデータ“1”が続くことになる。“1”が
続く間は、アツプ/ダウンカウント部17は何ら
“0”を計数せず、出力信号(収束信号)を導出
しない。しかし測定温度が収束時に近づくと、あ
るサンプルタイミングでは、カウンタ12とラツ
チ回路13の内容に差がなく、したがつて比較回
路15は、シフトレジスタ16とアツプ/ダウン
カウント部17にデータ“0”を入力する。温度
の上昇率が低下すれば低下するほど、サンプルタ
イミング毎に比較回路15から出力される“0”
の数が増加することになる。そして、シフトレジ
スタ16で記憶されるデータ“0”の計数値が所
定値(例えば3)に達すると、アツプ/ダウンカ
ウント部17は収束信号をデコーダ/ドライバ1
8に出力する。この収束信号により、表示器14
が例えば点滅点灯されることにより、測定温度が
収束値に近づいたことを測定者は知ることができ
る。
なお、上記実施例において、シフトレジスタ1
6のビツト長をどの程度にするかは、測定温度デ
ータのサンプル周期と上昇率を定義する時間によ
り決定する。たとえばサンプル周期が1秒で、判
定する温度上昇率が0.02℃/5秒の場合、シフト
レジスタの長さは5秒÷1秒=5段(ビツト)と
なる。この5段のシフトレジスタの内容で、デー
タ“1”の数が2以下(“0”の数が3以上)の
とき、各5秒間に上昇した温度は0.02℃以下であ
ると判断し、これをもつて収束判断をすることが
できる。もつとも、この場合測定温度の分解能は
0.01℃であることになる。
第3図は、上記アツプ/ダウンカウント部17
を、さらに具体的に示した回路図である。
アツプ/ダウンカウント部17は、比較回路1
5の出力(シフトレジスタ16の入力)が“0”
でセツトされ、シフトレジスタ16の“1”出力
でリセツトされるフリツプフロツプ171と、こ
のフリツプフロツプ171のセツト出力をアツプ
信号、リセツト出力をダウン信号として受けるア
ツプ/ダウンカウンタ172、比較回路15の出
力とシフトレジスタ16の出力を入力に受ける排
他オア回路173及びこの排他オア回路173の
出力とクロツク信号を入力に受け、その出力を読
込みクロツク信号としてアツプ/ダウンカウンタ
172に入力するアンド回路174とから構成さ
れている。
今、シフトレジスタ16の段数を上記例のよう
に5段とし、アツプ/ダウンカウンタ172が3
の計数(“0”の数が3)で収束信号を出力する
ものとして、先ず、温度上昇の大きい場合を想定
すると、サンプルタイミング毎の測定温度が大な
ので、比較回路15の出力は“1”であり、した
がつてフリツプフロツプ171はセツトされず、
アツプ/ダウンカウンタ172は何らカウントア
ツプされず、収束信号も導出されない。
温度上昇が若干純化し、測定温度と表示温度が
等しくなるサンプルタイミングがあると、その時
点における比較回路15の出力は“0”で、この
“0”がシフトレジスタ16に入力されるととも
に、フリツプフロツプ171をセツトし、またシ
フトレジスタ16の出力は“1”なので排他オア
回路173の出力が“1”となり、クロツク信号
がアンド回路174に入力されると、そのままア
ツプ/ダウンカウンタ172に入力され、アツ
プ/ダウンカウンタ172は、フリツプフロツプ
171のセツト出力により、アツプ計数を行う。
上昇率が非常に純化し、収束状態に近づくと、
比較回路15は、連続的に“0”を出力し、これ
により、アツプ/ダウンカウンタ172が3以上
を計数することになり、収束信号を出力する。
上昇率の純化が中間状態では、比較回路15の
出力が“1”となつたり、“0”となることが繰
り返され、シフトレジスタ16には、その“1”、
“0”が順次入力される。シフトレジスタ16か
ら“1”が出力され、比較回路15より“0”が
シフトレジスタ16に入力される場合には、フリ
ツプフロツプ171がセツトされるので、アツ
プ/ダウンカウンタ172はアツプカウントされ
る。比較回路15の出力が“1”で、シフトレジ
スタ16の出力が“0”の場合にはアツプ/ダウ
ンカウンタ17はダウンカウントされる。また、
比較回路15とシフトレジスタ16の出力がとも
に“1”の場合は、アツプ/ダウンカウンタ17
2には、計数動作がなされない。
結局シフトレジスタ16に、3以上の“0”が
記憶される程度に、温度上昇が純化すると、アツ
プ/ダウンカウンタ172から収束信号が出力さ
れることになる。
なお、上記実施例においてROM35には、温
度差データが記憶されているが、ROMに通常の
温度データが記憶されるものであつてもよい。
(ト) 発明の効果 この発明によれば、温度の上昇率を検出するの
に、比較回路と、シフトレジスタと、カウンタを
使用するのみなので、従来のように、例えば4桁
×4ビツト×5データ=80ビツトのメモリや減算
回路が必要であるに対し、わずか5ビツトのシフ
トレジスタとカウンタで構成できるので小規模回
路を実現することができ、LSI化する場合にも、
チツプサイズの上昇を抑えることができるので、
コスト低減された電子温度計を得ることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の構成を示すブロツク図、第
2図は、この発明の1実施例の電子温度計を示す
ブロツク図、第3図は同電子温度計の温度上昇率
を検出するためのアツプ/ダウンカウント部の一
例を具体的に示す回路図である。 1:温度測定部、2:測定温度記憶手段、3:
表示温度記憶手段、4:表示器、5:比較回路、
6:シフトレジスタ、7:カウンタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 サンプルタイミング毎に温度を測定する温度
    測定部と、測定された現温度を記憶する測定温度
    記憶手段と、測定温度の最高値を表示温度として
    更新記憶する表示温度記憶手段と、表示温度を表
    示する表示器と、現温度と表示温度の大小関係を
    比較する比較回路と、サンプルタイミング毎に、
    1ビツトの2値データとしてビツト順次に記憶す
    るシフトレジスタと、このシフトレジスタに記憶
    される2値データの個数を計数し、この個数から
    温度上昇率が所定値になつたことを検出するカウ
    ンタとを備えてなる電子温度計。
JP59141048A 1984-07-06 1984-07-06 電子温度計 Granted JPS6118831A (ja)

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