JPH033009A - 数値制御基板加工方法及びその装置 - Google Patents

数値制御基板加工方法及びその装置

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JPH033009A
JPH033009A JP13613389A JP13613389A JPH033009A JP H033009 A JPH033009 A JP H033009A JP 13613389 A JP13613389 A JP 13613389A JP 13613389 A JP13613389 A JP 13613389A JP H033009 A JPH033009 A JP H033009A
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Masahiro Kawamura
川村 正弘
Masao Nishigai
西貝 正夫
Shusuke Tateishi
秀典 立石
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、基板板厚が基板面上の位置によって変化する
基板であっても、基板面上の所望の位置で、常に基板上
面(又は下面)から一定の割合の深さで加工を行う数値
制御基板加工方法及びその装置に関するものである。
〔従来の技術〕
基板、例えばプリント基板においては、その補強用とし
て、第2図に示すように、基板21の板厚方向の中央部
にガラス繊維をクロス状に膿んだガラス繊維層22を位
置させ、その両側にエポキシ層23.23を介在させ、
その上下面に銅箔層24 、24を被着形成したものが
ある。
そして、このような基板21に取り付けられるICチッ
プによっては、その放熱のため、ICチップ取付用の座
ぐり加工後、座ぐり加工部の内周面全面に銅めっきを行
っている。このとき、エポキシ層23よりガラス繊維層
22の方が前記めっきの乗りがよいため、ガラス繊維層
22の中央部分までの座ぐり加工(図中A部参照)の要
求がある。
従来、数値制御基板加工装置を用い、このような基板2
1を、その上面から一定深さで座ぐり加工する方法は知
られている。これは、基板21上面の位置を常時検出し
、その検出値から所望の寸法だけ下がった位置まで工具
(図示せず)を下降させるものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしこのような従来方法では、次のような問題点があ
った。すなわち前記基板21の製造において、その内層
部分(層22.23.23部分)上下面に銅箔層24.
24を加熱加工して被着形成すると、基板板厚が基板2
1面上の位置によって変化する場合がある(通常は、基
板21の内方側が厚く、周辺側が薄くなる。この場合で
も、ガラス繊維層22は板厚方向中央に位置するのが通
常である)。従来方法では、このような基板21の常に
中央部に位置するガラス繊維層22までの座ぐり加工を
行う場合、基板板厚の厚いほうを基準にすると、基板板
厚の薄いほうが中央部のガラス繊維層22を越えて、そ
の下方のエポキシ層23まで達してしまい(図中B部参
照)、加工不良となった。逆に、基板板厚の薄いほうを
基準にすると、基板板厚の厚いほうはガラス繊維層22
まで達せず、その上方のw4箔層24とエポキシN23
の加工のみとなり、加工不良となった。
このように上記従来技術では、基板板厚の変化に伴い座
ぐり深さを変化させる点については、配慮されておらず
、基板21の中央層まて座ぐり加工するという場合、基
準とする板厚より厚かったり、薄かったりした加工位置
では、それぞれ座ぐり深さが浅かったり、深すぎたりす
るといった問題があった。
本発明の目的は、基板板厚変化に影響されず、常に板厚
方向の所望部分までの加工が可能な数値制御基板加工方
法及びその装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、各加工位置において実際の加工の前に基板
板厚を求め、その板厚を基準として、予め設定された所
望の比率(上述例では基板上面よりガラス繊維層までの
基板板厚に対する比率)を乗算して得た値を加工深さと
して加工(上述例では座ぐり加工)を行うことにより達
成される。
〔作用〕
上述例において、基板21のガラス繊維層22は、板厚
の変化があっても通常、板厚方向中央に位置されること
は既に述べた通りである。本発明では、このガラス繊維
層22まで座ぐり加工する場合、各加工位置において板
厚を求め、この板厚に対するガラス繊維層22までの寸
法の比率で座ぐり深さを決定する。このため、板厚方向
中央に配置されたガラス繊維層22まで座ぐり加工を行
う場合、50%の座ぐり深さを指示すれば板厚の変化に
は関係なく、板厚方向中央部のガラス繊維層までの座ぐ
り加工が行え、基板板厚変化で加工不良が発生すること
はない。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図
は、本発明による数値制御基板加工方法及びその装置の
一実施例を説明するための構成図である。この第1図に
おいて、1はベツド、2ハX 、 Y チー 7’ル、
3はクロスレールで、ベツド1、クロスレール3をベー
スとし、X、Yテーブル2の前後移動(図示面に対して
垂直方向の移動)によりX軸移動を行う。
また4はサドル、5はZ軸モータ、6はY軸モータ、7
はスピンドル、8は工具で、スピンドル7を取り付けた
サドル4をY軸モータ6により左右移動(図中左右方向
に移動)させることによりY軸移動を行い、スピンドル
7とサドル4をZ軸モータ5により上下移動(図中上下
方向に移動)させることにより工具8のZ軸移動を行う
以上のようなX、Y軸移動により位置決め、切削送りを
行い、2軸移動により座ぐり深さまでの切削送りを行う
さらに、9はZ軸方向の位置を検出する位置検出器、l
Oは位置検出器9の検出子の直線移動をバルス数に変換
するパルス変換器、11は数値制御装置、21は第2図
と同様の基板である。ここで数値制御装置11は、数値
制御基板加工装置の数値制御装置としての一般的な制御
手段として機能すると共に、次の手段としても兼用され
る。すなわち、前記位置検出器9により検出された前記
X、 Yテーブル2の上面位置及びX、 Yテーブル2
上に載置された基板21の上面位置から前記基板21の
板厚を算出し、その算出値に対し、予め設定された所望
の比率、ここでは50χを乗算して加工深さを求める演
算手段及びこれにより求められた加工深さに工具8を下
降させる工具制御手段をも兼用している。
すなわち本発明は、予め位置検出器9によりX。
Yテーブル2の上面位置を測定し、その値をパルス変換
器10を通して数値制御装置11内に記憶する。
続いて、基板13をX、Yテーブル2上にセットし、加
工が行われるが、各加工位置において、位置検出器9は
基板21の上面位置を測定する。
数値制御装置11は、各加工位置において、位置検出器
9で測定された基板21の上面位置データと、既に記憶
されているX、 Yテーブル2の上面位置データ(一定
値)とにより基板板厚を算出し、かつその算出値に対し
て予め設定された所望の比率、ここでは50%を乗算す
る。さらに数値制御装置11・は、前記50χ乗算値を
加工深さとして工具8をZ軸道りしつつ、X、Yテーブ
ル2でX、 Y軸道りして座ぐり加工するものである。
上述実施例では、本発明を座ぐり加工に適用した場合に
ついて説明したが、盲孔穴明加工についても適用できる
ことは勿論である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、基板板厚に対する所望加工層位置の比
率で加工深さ、例えば座ぐり深さが決められるので、板
厚方向中央層など、所望位置を狙って加工する場合、板
厚の変化によって加工不良が発生することを防止できる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法及び装置の一実施例を説明するため
の構成図、第2図は従来技術の問題点を説明するための
基板断面図である。 1・・・ベツド、2・・・X、Yテーブル、3・・・ク
ロスレール、4・・・サドル、5・・・2Mモータ、6
・・・Y軸モータ、7・・・スピンドル、8・・・工具
、9・・・位置検出器、10・・・パルス変換器、11
・・・数値制御装置、21・・・基板、22・・・ガラ
ス繊維層、23・・・エポキシ層、24・・・銅箔層。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.数値制御基板加工装置を用いて基板加工を行う数値
    制御基板加工方法において、前記加工装置のX,Yテー
    ブルの上面位置を測定すると共に、各加工位置について
    前記X,Yテーブル上に載置された基板の上面位置を測
    定し、各加工位置について前記基板の板厚を算出し、そ
    の算出値に対し、予め設定された所望の比率を乗算して
    得た値を加工深さとして加工することを特徴とする数値
    制御基板加工方法。
  2. 2.X,Yテーブルの上面位置及びX,Yテーブル上に
    載置された基板の上面位置を各々測定する位置検出手段
    と、この位置検出手段により検出された前記各上面位置
    から前記基板の板厚を算出し、その算出値に対し、予め
    設定された所望の比率を乗算して加工深さを求める演算
    手段と、この演算手段で求められた加工深さに工具を下
    降させる工具制御手段とを具備することを特徴とする数
    値制御基板加工装置。
JP13613389A 1989-05-31 1989-05-31 数値制御基板加工方法及びその装置 Expired - Lifetime JP2806479B2 (ja)

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JPH033009A true JPH033009A (ja) 1991-01-09
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4962981A (en) * 1988-08-30 1990-10-16 Tokyo Electric Company, Ltd. Optical scanner
JP2016122825A (ja) * 2014-02-21 2016-07-07 ビアメカニクス株式会社 バックドリル加工方法及びバックドリル加工装置
US9655251B2 (en) 2014-02-21 2017-05-16 Via Mechanics, Ltd. Backdrilling method, and backdrilling apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016122825A (ja) * 2014-02-21 2016-07-07 ビアメカニクス株式会社 バックドリル加工方法及びバックドリル加工装置
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