JPH0330808B2 - - Google Patents
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- JPH0330808B2 JPH0330808B2 JP56016753A JP1675381A JPH0330808B2 JP H0330808 B2 JPH0330808 B2 JP H0330808B2 JP 56016753 A JP56016753 A JP 56016753A JP 1675381 A JP1675381 A JP 1675381A JP H0330808 B2 JPH0330808 B2 JP H0330808B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- peak
- spectrum
- file
- peak table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
-
- G—PHYSICS
- G16—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
- G16C—COMPUTATIONAL CHEMISTRY; CHEMOINFORMATICS; COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
- G16C20/00—Chemoinformatics, i.e. ICT specially adapted for the handling of physicochemical or structural data of chemical particles, elements, compounds or mixtures
- G16C20/20—Identification of molecular entities, parts thereof or of chemical compositions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分析装置、詳細には未知物質の性質お
よび特徴を決定する装置に関する。
よび特徴を決定する装置に関する。
現在までスペクトル分析技術者は未知物質のス
ペクトルをマニアル操作で研究し、この分野にお
ける個人的知識および経験に基いてその物質の特
徴を識別することができた。次に試験結果を既知
物質のスペクトル表とマニユアル操作で比較し
て、見知物質がどの既知物質にもつともよく似て
いるかを決定した。これは時間を要する方法であ
り、スペクトル分析の分野での豊富な経験を必要
とした。
ペクトルをマニアル操作で研究し、この分野にお
ける個人的知識および経験に基いてその物質の特
徴を識別することができた。次に試験結果を既知
物質のスペクトル表とマニユアル操作で比較し
て、見知物質がどの既知物質にもつともよく似て
いるかを決定した。これは時間を要する方法であ
り、スペクトル分析の分野での豊富な経験を必要
とした。
その後スペクトルサーチに機械的ソータおよび
パンチカードを使用する試みが行われた。パンチ
カードに含まれるデータセツトの１部の基礎であ
るサトラの標準スペクトルを使用しても既知化合
物を恒常的に分離することさえできなかつた。こ
の欠陥には多くの理由があり、たとえばサンプリ
ング条件が異なり、計器の較正が異なり、オペレ
ータはインプツトデータにデータのオリジナルエ
ンコーダによつて使用するものと同じバンドを使
用することができなかつた。
パンチカードを使用する試みが行われた。パンチ
カードに含まれるデータセツトの１部の基礎であ
るサトラの標準スペクトルを使用しても既知化合
物を恒常的に分離することさえできなかつた。こ
の欠陥には多くの理由があり、たとえばサンプリ
ング条件が異なり、計器の較正が異なり、オペレ
ータはインプツトデータにデータのオリジナルエ
ンコーダによつて使用するものと同じバンドを使
用することができなかつた。
スペクトル分析技術者の負荷を軽くするためコ
ンピユータを使用することが研究された。このよ
うなシステムはHugh B.Woodruffおよび
Morton E.MunkによるResearch／
Development、1977年８月の“Computer−
Assisted Infraredl Spectral Interpretation”と
題する論文に記載される。この論文には169種の
化学的クラスのそれぞれに対するピーク位置、強
度および形のパターンをメモリーにデイジタルの
形で記憶させたシステムが記載される。スペクト
ル分析技術者は未知の被検化合物のスペクトルを
観察し、ピーク最大およびピークの特徴すなわち
広い、平均的、鋭い、強い、中間または弱いを示
すコードナンバをコンピユータにインプツトす
る。コンピユータはメモリーの169クラスのそれ
ぞれとこの入力を比較し、試験された各クラスに
対して５つの可能な信頼度の１つをアウトプツト
する。この論文には次にスペクトル分析技術者が
分析を完了するためには他のソースからの情報が
一般に必要であることが指摘される。
ンピユータを使用することが研究された。このよ
うなシステムはHugh B.Woodruffおよび
Morton E.MunkによるResearch／
Development、1977年８月の“Computer−
Assisted Infraredl Spectral Interpretation”と
題する論文に記載される。この論文には169種の
化学的クラスのそれぞれに対するピーク位置、強
度および形のパターンをメモリーにデイジタルの
形で記憶させたシステムが記載される。スペクト
ル分析技術者は未知の被検化合物のスペクトルを
観察し、ピーク最大およびピークの特徴すなわち
広い、平均的、鋭い、強い、中間または弱いを示
すコードナンバをコンピユータにインプツトす
る。コンピユータはメモリーの169クラスのそれ
ぞれとこの入力を比較し、試験された各クラスに
対して５つの可能な信頼度の１つをアウトプツト
する。この論文には次にスペクトル分析技術者が
分析を完了するためには他のソースからの情報が
一般に必要であることが指摘される。
上記現状を考慮して本発明の目的は現在まで使
用されているシステムを後述のように改善した、
未知物質の性質を決定する方法および装置を得る
ことである。
用されているシステムを後述のように改善した、
未知物質の性質を決定する方法および装置を得る
ことである。
本発明によれば、
未知物質のスペクトルのピーク表をコンピユー
タへインプツトする装置、 該ピーク表をピリセレクトした第１標準フオー
マツトに調整し、その際が該ピーク表から約95％
透過の程度のプリセレクトしたいき値よりも大き
い透過率を有するすべてのピークを消去する装
置、 前記のようにして標準化した未知物質のピーク
表を、前記コンピユータのメモリに記憶させた化
学構造単位の第１ライブラリと比較する装置、 未知物質に最も近い可能な化学構造単位のリス
トを作成する装置、 前記ピーク表をプリセレクトした第２標準フオ
ーマツトに再調整し、その際該ピーク表から約85
％透過の程度のプリセレクトした第２のいき値よ
りも大きい透過率を有するすべてのピークを消去
する装置、 該再調整したピーク表および可能な化学構造単
位の前記リストに相当するデータを含む未知物質
のフアイルを作製する装置、 該未知物質のフアイルをコンピユータのメモリ
に記憶させた、それぞれ第２標準フオーマツト中
のそれぞれのピーク表およびそのそれぞれの化学
構造単位に相当するデータを含むフアイルを有す
る既知物質のフアイルを含む第２ライブラリと比
較する装置、および 前記未知物質に対して最も近い既知物質のリス
トをアウトプツトする装置 から構成されていることを特徴とする、未知物質
の性質を決定する装置が提供される。
タへインプツトする装置、 該ピーク表をピリセレクトした第１標準フオー
マツトに調整し、その際が該ピーク表から約95％
透過の程度のプリセレクトしたいき値よりも大き
い透過率を有するすべてのピークを消去する装
置、 前記のようにして標準化した未知物質のピーク
表を、前記コンピユータのメモリに記憶させた化
学構造単位の第１ライブラリと比較する装置、 未知物質に最も近い可能な化学構造単位のリス
トを作成する装置、 前記ピーク表をプリセレクトした第２標準フオ
ーマツトに再調整し、その際該ピーク表から約85
％透過の程度のプリセレクトした第２のいき値よ
りも大きい透過率を有するすべてのピークを消去
する装置、 該再調整したピーク表および可能な化学構造単
位の前記リストに相当するデータを含む未知物質
のフアイルを作製する装置、 該未知物質のフアイルをコンピユータのメモリ
に記憶させた、それぞれ第２標準フオーマツト中
のそれぞれのピーク表およびそのそれぞれの化学
構造単位に相当するデータを含むフアイルを有す
る既知物質のフアイルを含む第２ライブラリと比
較する装置、および 前記未知物質に対して最も近い既知物質のリス
トをアウトプツトする装置 から構成されていることを特徴とする、未知物質
の性質を決定する装置が提供される。
前記第１および第２ライブラリーは、次のよう
にして作成される。既知物質のスペクトルのピー
ク表をコンピユータに入力する。次いで、このピ
ーク表を、該ピーク表から約95％よりも大きい透
過率を有するすべてのピークを消去し、各化合物
をその有機官能価によつて分類し、かつ既知物質
に相応する化学的構造単位のリストを作成するこ
とにより、第１標準フオーマツトに調整する。次
いで、該ピーク表を、該ピーク表から約85％より
も大きい透過率を有するすべてのピークを消去
し、かつ該ピークを１波数シーケンスで記憶させ
ることにより第２標準フオーマツトに再調整す
る。
にして作成される。既知物質のスペクトルのピー
ク表をコンピユータに入力する。次いで、このピ
ーク表を、該ピーク表から約95％よりも大きい透
過率を有するすべてのピークを消去し、各化合物
をその有機官能価によつて分類し、かつ既知物質
に相応する化学的構造単位のリストを作成するこ
とにより、第１標準フオーマツトに調整する。次
いで、該ピーク表を、該ピーク表から約85％より
も大きい透過率を有するすべてのピークを消去
し、かつ該ピークを１波数シーケンスで記憶させ
ることにより第２標準フオーマツトに再調整す
る。
第１フオーマツトのいき値を約95％透過に制限
するのは、２つの理由による、すなわち (1) ノイズ、または水蒸気もしくはCO2に基づく
雰囲気未補正に関係するピークを考察から排除
するため、および (2) それにより、極めて良好な基周波数である比
較的弱いバンド、2200cm-1帯域内のCN帯域を
使用するためである。
するのは、２つの理由による、すなわち (1) ノイズ、または水蒸気もしくはCO2に基づく
雰囲気未補正に関係するピークを考察から排除
するため、および (2) それにより、極めて良好な基周波数である比
較的弱いバンド、2200cm-1帯域内のCN帯域を
使用するためである。
第２フオーマツトのいき値を約85％に制限する
理由は、ピーク表に記憶されるピークの数を制限
し、そうして必要記憶量を減らすことにある。
理由は、ピーク表に記憶されるピークの数を制限
し、そうして必要記憶量を減らすことにある。
本発明の１つの実施態様によれば未知物質のス
ペクトルのピーク表をインプツトする装置は分光
分析計からこのピーク表をインプツトする装置を
有し、本発明のもう１つの実施態様によればピー
ク表をインプツトする装置はキーボードモジユー
ルを使用して表をマニユアル操作でインプツトす
る装置を有する。さらに本発明のもう１つの実施
態様によればピーク表をインプツトする装置はデ
イジタル化モジユールを使用し、本発明の他の実
施態様では少し先行する時点に作成したピーク表
を含むマイクロフロツピデイスクからピーク表を
インプツトする装置が使用される。
ペクトルのピーク表をインプツトする装置は分光
分析計からこのピーク表をインプツトする装置を
有し、本発明のもう１つの実施態様によればピー
ク表をインプツトする装置はキーボードモジユー
ルを使用して表をマニユアル操作でインプツトす
る装置を有する。さらに本発明のもう１つの実施
態様によればピーク表をインプツトする装置はデ
イジタル化モジユールを使用し、本発明の他の実
施態様では少し先行する時点に作成したピーク表
を含むマイクロフロツピデイスクからピーク表を
インプツトする装置が使用される。
本発明の１つの実施態様によればピーク表を第
１のプリセレクト標準フオーマツトへ調節する装
置は、ピーク表を傾斜基線に対して修正する装
置、オペレータがインプツトした較正データを使
用してピーク表を修正する装置、プリセレクトし
たピークに対して正規化することによつてピーク
表を修正する装置およびピーク表からプリセレク
トしたいき値より大きい透過値を有するすべての
ピークを消去する装置を含む。このプリセレクト
いき値はとくに約95％透過の程度の値である。
１のプリセレクト標準フオーマツトへ調節する装
置は、ピーク表を傾斜基線に対して修正する装
置、オペレータがインプツトした較正データを使
用してピーク表を修正する装置、プリセレクトし
たピークに対して正規化することによつてピーク
表を修正する装置およびピーク表からプリセレク
トしたいき値より大きい透過値を有するすべての
ピークを消去する装置を含む。このプリセレクト
いき値はとくに約95％透過の程度の値である。
本発明のもう１つの実施態様によればピーク表
を第２のピリセレクトした標準フオーマツトに再
調整する装置は、ピーク表から第２のプリセレク
トしたいき値より大きい透過値を有するすべての
ピークを消去する装置を有し、その際このいき値
は約85％透過の程度の値である。本発明の他の実
施態様によればピーク表の波数帯域はプリセレク
ト帯域とくに約1624〜600cm-1の波数帯域に制限
される。
を第２のピリセレクトした標準フオーマツトに再
調整する装置は、ピーク表から第２のプリセレク
トしたいき値より大きい透過値を有するすべての
ピークを消去する装置を有し、その際このいき値
は約85％透過の程度の値である。本発明の他の実
施態様によればピーク表の波数帯域はプリセレク
ト帯域とくに約1624〜600cm-1の波数帯域に制限
される。
さらに本発明の有利な実施態様によれば未知物
質のフアイルを形成する装置は前記再調整したピ
ーク表および可能な化学構造単位のリストに相当
するデータのほかに、未知物質の物理的状態に相
当するデータおよびこの未知物質中のプリセレク
トした非一有機元素の存在または不在に相当する
データを含む。
質のフアイルを形成する装置は前記再調整したピ
ーク表および可能な化学構造単位のリストに相当
するデータのほかに、未知物質の物理的状態に相
当するデータおよびこの未知物質中のプリセレク
トした非一有機元素の存在または不在に相当する
データを含む。
本発明のさらにもう１つの実施態様によれば本
装置な未知物質のフアイルを既知物質のフアイル
を含む第２ライブラリと、可能な化学構造単位デ
ータを無視して比較する装置および未知物質に最
も近い既知物質の第２リストをアウトプツトする
装置を含む。さらに本発明の他の実施態様によれ
ば未知物質のフアイルを既知物質のフアイルを含
む第２ライブラリと比較し、未知物質のピークの
サブセツトに最も近いピークを有する既知物質の
第３リストをアウトプツトする装置が備えられ
る。さらに本発明のもう１つの実施態様によれば
未知物質のフアイルを既知物質のフアイルを含む
第２ライブラリと、ピーク表デーアのプリセレク
トしたバンドおよび可能な化学構造単位データを
無視して比較する装置ならびに未知物質に最も近
い既知物質の第４リストをアウトプツトする装置
が備えられる。
装置な未知物質のフアイルを既知物質のフアイル
を含む第２ライブラリと、可能な化学構造単位デ
ータを無視して比較する装置および未知物質に最
も近い既知物質の第２リストをアウトプツトする
装置を含む。さらに本発明の他の実施態様によれ
ば未知物質のフアイルを既知物質のフアイルを含
む第２ライブラリと比較し、未知物質のピークの
サブセツトに最も近いピークを有する既知物質の
第３リストをアウトプツトする装置が備えられ
る。さらに本発明のもう１つの実施態様によれば
未知物質のフアイルを既知物質のフアイルを含む
第２ライブラリと、ピーク表デーアのプリセレク
トしたバンドおよび可能な化学構造単位データを
無視して比較する装置ならびに未知物質に最も近
い既知物質の第４リストをアウトプツトする装置
が備えられる。
さらに本発明のもう１つの実施態様によれば、
未知物質がアウトプツトされた既知物質のリスト
中の各既知物質に一致する程度を指示する装置が
設けられる。
未知物質がアウトプツトされた既知物質のリスト
中の各既知物質に一致する程度を指示する装置が
設けられる。
また本発明によれば既知物質に相当するデータ
をコンピユータメモリに含まれるライブラリへ加
える装置が設けられる。
をコンピユータメモリに含まれるライブラリへ加
える装置が設けられる。
上記のように本発明の重要な特徴のかなり概括
的な説明により、後述の詳細な説明の理解が容易
になり、かつ本発明のこの分野への貢献が容易に
明らかになる。もちろん本発明の付加的特徴はも
つと詳細に後述される。当業者にはこの開示の基
礎となる概念が本発明の種々の目的を実施するた
めの他の装置を設計する基礎として容易に利用で
きることは明らかである。それゆえこの開示が本
発明の思想および範囲から離れないような装置お
よび方法を含むものであることは重要である。
的な説明により、後述の詳細な説明の理解が容易
になり、かつ本発明のこの分野への貢献が容易に
明らかになる。もちろん本発明の付加的特徴はも
つと詳細に後述される。当業者にはこの開示の基
礎となる概念が本発明の種々の目的を実施するた
めの他の装置を設計する基礎として容易に利用で
きることは明らかである。それゆえこの開示が本
発明の思想および範囲から離れないような装置お
よび方法を含むものであることは重要である。
次に本発明を図面により説明する。
当業者には本発明の概念が他のタイプの分析装
置に使用しうることは明らかなので、説明は赤外
線分光分析装置に関連して行われる。
置に使用しうることは明らかなので、説明は赤外
線分光分析装置に関連して行われる。
4000cm-1〜600cm-1の帯域の赤外線にさらされ
ると、有機分子の各官能基はこのスペクトルにわ
つて吸収バンドを生ずる。特定官能基に対して１
定波長の吸収バンドが固有的であり、すなわち干
渉等の結果ではなく、これらのバンドはその分子
の赤外線“指紋”である。
ると、有機分子の各官能基はこのスペクトルにわ
つて吸収バンドを生ずる。特定官能基に対して１
定波長の吸収バンドが固有的であり、すなわち干
渉等の結果ではなく、これらのバンドはその分子
の赤外線“指紋”である。
本発明の分析装置は分光分析計１０ならびにデ
ータ処理モジユール１２、ビジユアルデイスプレ
イ装置（VDU）１４、キーボードモジユール１
６、プリンタモジユール１８およびデイジタル化
モジユール１９からなるデータステーシヨン１１
を有する。分光分析計１０はたとえばパーキンエ
ルマー社製モデル281，283，580B，28XB，X98
およびX99Bのような任意の適当な形式のもので
よい。オペレータとデータステーシヨン１１の間
の通信はキーボード１６を介して行われる。この
キーボードは標準ターミナルフオーマツトに加え
て多数の特殊機能キーを備え、これによつてオペ
レータは応用プログラムの１つから後述のように
キーボード上の１つのキーを押すことによつて特
定のタスクを選択することができる。ビデオスク
リン１４はキーボード１６によりシステムへイン
プツトしたコマンドをデイスプレイし、収集した
データの状態および性質を示し、かつスペクトル
を観察するために使用される。スクリンはスペク
トルを走査の間に直接観察し、かつデータ処理の
各ステツプ後に得られるスペクトルを観察するた
め使用することができる。VDUはたとえば25行、
80字／行までのデイスプレイ容量を有する。第25
行はもつぱらユーザコマンドおよびエラーメツセ
ージのため保留される。
ータ処理モジユール１２、ビジユアルデイスプレ
イ装置（VDU）１４、キーボードモジユール１
６、プリンタモジユール１８およびデイジタル化
モジユール１９からなるデータステーシヨン１１
を有する。分光分析計１０はたとえばパーキンエ
ルマー社製モデル281，283，580B，28XB，X98
およびX99Bのような任意の適当な形式のもので
よい。オペレータとデータステーシヨン１１の間
の通信はキーボード１６を介して行われる。この
キーボードは標準ターミナルフオーマツトに加え
て多数の特殊機能キーを備え、これによつてオペ
レータは応用プログラムの１つから後述のように
キーボード上の１つのキーを押すことによつて特
定のタスクを選択することができる。ビデオスク
リン１４はキーボード１６によりシステムへイン
プツトしたコマンドをデイスプレイし、収集した
データの状態および性質を示し、かつスペクトル
を観察するために使用される。スクリンはスペク
トルを走査の間に直接観察し、かつデータ処理の
各ステツプ後に得られるスペクトルを観察するた
め使用することができる。VDUはたとえば25行、
80字／行までのデイスプレイ容量を有する。第25
行はもつぱらユーザコマンドおよびエラーメツセ
ージのため保留される。
データ処理モジユール１２は関連エレクトロニ
クス、64Kソリツドステートメモリ（12〜16K
ROM、48〜52K RAM）、グラフイツクプリント
回路板、第２図に２０，２２で示される２つのマ
イクロフロツピデイスク駆動装置および電源有す
るモトローラ6800形マイクロプロセツサを有す
る。
クス、64Kソリツドステートメモリ（12〜16K
ROM、48〜52K RAM）、グラフイツクプリント
回路板、第２図に２０，２２で示される２つのマ
イクロフロツピデイスク駆動装置および電源有す
るモトローラ6800形マイクロプロセツサを有す
る。
このマイクロプロセツサは2μsecのサイクルタ
イムを有する８−ビツト機械である。このプロセ
ツサはデイスク駆動装置を操作し、データを処理
し、赤外線分光分析計１０と通信するために必要
な機能を備える。一般にユーザコマンドによつて
要求されるようなオペレーテイングプログラムは
データ処理モジユール１２の左側の“０”デイス
ク２０に配置され、バルクデータフアイルは右側
の“１”デイスク２２に記憶され、またはこれか
ら呼出される。各マイクロフロツピイデイスクは
一般に80Kバイトデータのためのスペースを有
し、各面に約８〜10の全帯域スペクトルを記憶す
る。後述のように数千のピーク表がこのデイスク
の各面に記憶される。１つのデイスクに記憶され
たスペクトルデータフアイルはデータ処理モジユ
ール１２に組合せたシステムデータメモリ
（RAM）３６へ数秒内に呼出され、ここでスペ
クトル分析コマンドによつて処理され、VDUス
クリンにデイスプレイされ、所望によりプリンタ
１８に再プロツトされる。すなわち補助プリンタ
はピーク表、データ処理コマンドシーケンスまた
はその他の関連するアルフアニユーメリツク
VDUデイスプレイのようなアルフアニユーメリ
ツクデータの永久的記録をつくることができる。
データ処理モジユール１２内に配置されたグラフ
イツクプリント回路板（PCB）はシステムに図
形化能力を与え、分光分析計１０のデータステー
シヨン１１の間のコントロールインタフエースと
して役立つ。この回路板はVDUグラフイツクデ
イスプレイのためのリフレツシユーメモリチツプ
セツトを有し、後述のように所要のビデオ制御装
置、互換性周辺インタフエースならびにSCAN
パラメータ、スタート／ストツプコマンドおよび
PLOT 開始コマンドを伝送する装置制御駆動装
置を含む。
イムを有する８−ビツト機械である。このプロセ
ツサはデイスク駆動装置を操作し、データを処理
し、赤外線分光分析計１０と通信するために必要
な機能を備える。一般にユーザコマンドによつて
要求されるようなオペレーテイングプログラムは
データ処理モジユール１２の左側の“０”デイス
ク２０に配置され、バルクデータフアイルは右側
の“１”デイスク２２に記憶され、またはこれか
ら呼出される。各マイクロフロツピイデイスクは
一般に80Kバイトデータのためのスペースを有
し、各面に約８〜10の全帯域スペクトルを記憶す
る。後述のように数千のピーク表がこのデイスク
の各面に記憶される。１つのデイスクに記憶され
たスペクトルデータフアイルはデータ処理モジユ
ール１２に組合せたシステムデータメモリ
（RAM）３６へ数秒内に呼出され、ここでスペ
クトル分析コマンドによつて処理され、VDUス
クリンにデイスプレイされ、所望によりプリンタ
１８に再プロツトされる。すなわち補助プリンタ
はピーク表、データ処理コマンドシーケンスまた
はその他の関連するアルフアニユーメリツク
VDUデイスプレイのようなアルフアニユーメリ
ツクデータの永久的記録をつくることができる。
データ処理モジユール１２内に配置されたグラフ
イツクプリント回路板（PCB）はシステムに図
形化能力を与え、分光分析計１０のデータステー
シヨン１１の間のコントロールインタフエースと
して役立つ。この回路板はVDUグラフイツクデ
イスプレイのためのリフレツシユーメモリチツプ
セツトを有し、後述のように所要のビデオ制御装
置、互換性周辺インタフエースならびにSCAN
パラメータ、スタート／ストツプコマンドおよび
PLOT 開始コマンドを伝送する装置制御駆動装
置を含む。
デイジタル化モジユール１９はあらかじめ記録
したスペクトルをインプツトする装置を備える。
チヤートは磁気センサを備える金属板に配置さ
れ、カーソルはチヤート格子の座標をインプツト
するために使用される。十字ヘアを有する拡大ア
イピースはスペクトルを横切つて動かされ、各ピ
ークを順に配置してデイジタル化する。ユーザは
単に各ピーク上でボタンを押すだけで、周波数お
よび透過値は即時デイジタル化される。
したスペクトルをインプツトする装置を備える。
チヤートは磁気センサを備える金属板に配置さ
れ、カーソルはチヤート格子の座標をインプツト
するために使用される。十字ヘアを有する拡大ア
イピースはスペクトルを横切つて動かされ、各ピ
ークを順に配置してデイジタル化する。ユーザは
単に各ピーク上でボタンを押すだけで、周波数お
よび透過値は即時デイジタル化される。
可撓性ケーブルによりデータ処理モジユール１
２に接続するキーボードモジユール１６はユーザ
指令をシステムへインプツトする装置である。キ
ーボードのレイアウトは第３図に示される。２４
で示されるアルフアニユーメリツクエントリ群は
60のエントリキーを含み、これらのキーは標準
ASC11 フオーマツトで配置され、大／小文字
セツト、句読点マーク、特殊記号、数字、シフ
ト、コントロール、リピート、行送り、リター
ン、バツクスペース、エスケープおよびタブキー
を含む。２６で示すニユーメリツクエントリ群は
10数字、コンマおよび小数点を含む12キーを有す
る。２８で示す12の操作キーボードスイツチはデ
イスプレイおよびカーソル制御ならびに訂正目的
に使用される。３０で示す特殊機能スイツチは特
定の分光分析データ処理機能の選択に使用され
る。場合によりこれらの特殊コマンドキーはニユ
ーメリツクまたはアルフアニユーメリツクキー群
のいずれかといつしよに使用される。図示のよう
に特殊機能スイツチはサーチ応用プログラムに適
用される。他のプログラムを読込む場合、これら
のスイツチは他の特殊機能を開始することができ
る。
２に接続するキーボードモジユール１６はユーザ
指令をシステムへインプツトする装置である。キ
ーボードのレイアウトは第３図に示される。２４
で示されるアルフアニユーメリツクエントリ群は
60のエントリキーを含み、これらのキーは標準
ASC11 フオーマツトで配置され、大／小文字
セツト、句読点マーク、特殊記号、数字、シフ
ト、コントロール、リピート、行送り、リター
ン、バツクスペース、エスケープおよびタブキー
を含む。２６で示すニユーメリツクエントリ群は
10数字、コンマおよび小数点を含む12キーを有す
る。２８で示す12の操作キーボードスイツチはデ
イスプレイおよびカーソル制御ならびに訂正目的
に使用される。３０で示す特殊機能スイツチは特
定の分光分析データ処理機能の選択に使用され
る。場合によりこれらの特殊コマンドキーはニユ
ーメリツクまたはアルフアニユーメリツクキー群
のいずれかといつしよに使用される。図示のよう
に特殊機能スイツチはサーチ応用プログラムに適
用される。他のプログラムを読込む場合、これら
のスイツチは他の特殊機能を開始することができ
る。
データ処理モジユール１２は第４図に示すよう
にシステムメモリを含む。ソフトウエアのオペレ
ーテイングシステム部分は永久的にROM３２内
に常駐する。応用プログラムは特殊ユーテイリテ
イおよび応用プログラムならびにサブルーチンを
含み、マイクロフロツピデイスク２０の１面に記
憶され、データ処理モジユール１２のRAM３４
へ読込まれる。このプログラムはTASKと称さ
れ、使用する分光分析計１０の特殊形式に適する
ように開発される。図示の実施例でこの応用プロ
グラムは約70Kバイトである。１つの与えられた
時間に１つだけのユーザ選択コマンドが実行さ
れ、すなわち次のコマンドの入力は先行コマンド
の完了を待たなければならない。この同じルール
がOBEYコマンドの実行および他のユーザコマ
ンドに適用される。しかしOBEYコマンドのプ
リセレクトしたルーチンの呼出は逐次および自動
的に実行される。別個のマイクロフロツピデイス
クに含まれる１セツトのユーテイリテイプログラ
ムはユーザに診断テストを実行し、デイスクをコ
ピーし、デイスクを検査する等の能力を与える。
にシステムメモリを含む。ソフトウエアのオペレ
ーテイングシステム部分は永久的にROM３２内
に常駐する。応用プログラムは特殊ユーテイリテ
イおよび応用プログラムならびにサブルーチンを
含み、マイクロフロツピデイスク２０の１面に記
憶され、データ処理モジユール１２のRAM３４
へ読込まれる。このプログラムはTASKと称さ
れ、使用する分光分析計１０の特殊形式に適する
ように開発される。図示の実施例でこの応用プロ
グラムは約70Kバイトである。１つの与えられた
時間に１つだけのユーザ選択コマンドが実行さ
れ、すなわち次のコマンドの入力は先行コマンド
の完了を待たなければならない。この同じルール
がOBEYコマンドの実行および他のユーザコマ
ンドに適用される。しかしOBEYコマンドのプ
リセレクトしたルーチンの呼出は逐次および自動
的に実行される。別個のマイクロフロツピデイス
クに含まれる１セツトのユーテイリテイプログラ
ムはユーザに診断テストを実行し、デイスクをコ
ピーし、デイスクを検査する等の能力を与える。
データ処理モジユール１２は第４図に示すよう
にマイクロフロツピデイスク２２と通信するデー
タストレージスペースまたはRAM３６を含む。
全部で11460のデータポイント（縦座標値）をこ
のRAMの、それぞれ3820データポイントが均等
に分配された３つのゾーンＸ、Ｙ、Ｚに記憶する
ことができる。ゾーンのサイズは全部で11460の
範囲内で任意の値にリセツトすることができる。
にマイクロフロツピデイスク２２と通信するデー
タストレージスペースまたはRAM３６を含む。
全部で11460のデータポイント（縦座標値）をこ
のRAMの、それぞれ3820データポイントが均等
に分配された３つのゾーンＸ、Ｙ、Ｚに記憶する
ことができる。ゾーンのサイズは全部で11460の
範囲内で任意の値にリセツトすることができる。
次に種々の利用しうるデータ操作ルーチンに関
するユーザによつて開始されるコマンドの表を示
す： ABEX 与えられたフアクタを乗じて拡大し、
スペクトルを吸収に正規化する。スペクトルの透
過％を吸収％に変換し、与えられたフアクタを乗
じ、ポイントごとに透過％に再変換する。
するユーザによつて開始されるコマンドの表を示
す： ABEX 与えられたフアクタを乗じて拡大し、
スペクトルを吸収に正規化する。スペクトルの透
過％を吸収％に変換し、与えられたフアクタを乗
じ、ポイントごとに透過％に再変換する。
ABST 吸収スペクトルを透過スペクトルに
変換する。
変換する。
ACCUM 繰返しスキヤンしたスペクトルを加
算し、250スキヤンまでの縦座標変化を累算する。
算し、250スキヤンまでの縦座標変化を累算する。
ADD ２つのスペクトルを加算し、または１つ
のスペクトルに定数を加算する。
のスペクトルに定数を加算する。
AVRAGE 繰返しスキヤンしたスペクトルを
加算し、その結果を平均する。
加算し、その結果を平均する。
CHANGE スペクトルパラメータおよびデー
タの修正を可能にする。
タの修正を可能にする。
CLEAR VDUにデイスプレイした図形（スペ
クトル）を消去する。
クトル）を消去する。
CNTENT デイスクに記憶させたスペクトル
の名称を読取り、その結果をスクリンにデイスプ
レイする。
の名称を読取り、その結果をスクリンにデイスプ
レイする。
COPY １つのデータフアイルの全部または１
部を他のデータフアイルへ転送する。
部を他のデータフアイルへ転送する。
CURSOR 左もしくは右または両方の波数カ
ーソルを註釈とともにデイスプレイする。カーソ
ルは左／右矢印キーによつて動かすことができ
る。
ーソルを註釈とともにデイスプレイする。カーソ
ルは左／右矢印キーによつて動かすことができ
る。
DIFF 各スペクトルを吸収に変換した後、１
つのスペクトルを他のスペクトルから控除する。
つのスペクトルを他のスペクトルから控除する。
DIGT デイジタル化装置を介してデータをイ
ンプツトするモード。
ンプツトするモード。
DIR データデイスクをサーチし、内容の表を
デイスプレイする。
デイスプレイする。
DISK データデイスクからピーク表を呼出す
モード。
モード。
DIV スペクトルを定数で除する。
EDIT 修正モード（データ訂正のため）にす
る。
る。
FILE 修正したピーク表をエデイタからメモ
リへ転送する。
リへ転送する。
FLAT 傾斜基線の効果を減少するようにスペ
クトルデータを処理する。
クトルデータを処理する。
GRID スペクトルの上に波数格子パターンを
スペクトル帯域選択に応ずる分解能をもつてデイ
スプレイする。
スペクトル帯域選択に応ずる分解能をもつてデイ
スプレイする。
INST 分光分析計から直接データをインプツ
トするモード。
トするモード。
INTRP 可能な構造単位（PSU）のサーチの
みを開始する。
みを開始する。
LIST 利用しうるコマンドのリストをスクリ
ンにデイスプレイする。
ンにデイスプレイする。
MAN キーボードを介してデータをインプツ
トするモード。
トするモード。
MIXS およびMIXPそれぞれサーチおよびピ
ーク最大に相当し、混合物に対するライブラリサ
ーチを開始する。
ーク最大に相当し、混合物に対するライブラリサ
ーチを開始する。
MULT スペクトルに定数を乗ずる。
OBEY 分光分析ソフトウエアの１連のコマ
ンドの自動的実行を開始する。
ンドの自動的実行を開始する。
OPTION 現在値を有するオプシヨン表をデ
イスプレイする。
イスプレイする。
PEAK バルクデータをスペクタルピーク表お
よびそれぞれのピーク縦軸最大値まで減少する。
よびそれぞれのピーク縦軸最大値まで減少する。
PEAKM スペクトルライブラリバンドのサー
チのみを開始する。
チのみを開始する。
PLOT スペクトルをランダムアクセスメモリ
（RAM）から赤外線分析計レコーダへオペレー
タが指定しうる縦軸および横軸のスケールフアク
タのセツトをもつて再記録する。
（RAM）から赤外線分析計レコーダへオペレー
タが指定しうる縦軸および横軸のスケールフアク
タのセツトをもつて再記録する。
PRINT アルフアニユーメリツクデータのハ
ードコピーをVDUスクリンからプリンタアクセ
サリにつくることを可能にする。
ードコピーをVDUスクリンからプリンタアクセ
サリにつくることを可能にする。
QUIT 現在のオペレーシヨンを中止する。
REPT ピーク表デイスプレイに戻る。
RETRVE スペクトルをマイクロフロツピデ
イスクから名称により呼出す。
イスクから名称により呼出す。
SAVE スペクトルまたはピークのフアイルを
マイクロフロツピデイスク２２に記録（記憶）す
る。
マイクロフロツピデイスク２２に記録（記憶）す
る。
SCALE プロツテイングパラメータを確立す
る。
る。
SCAN スペクトルをスキヤンし、そのデータ
をRAM３６に蓄積する。
をRAM３６に蓄積する。
SEARCH ライブラリサーチルーチンを開始
する。
する。
SET オペレーテイングパラメータの調整を
可能にする。
可能にする。
STOP 分光分析ソフトウエアのオペレーシヨ
ンを終了する。
ンを終了する。
STORE 情報をスペクトルライブラリデイス
ク２２に書込む。
ク２２に書込む。
SUB １つのスペクトルまたは定数を他のスペ
クトルから控除する。
クトルから控除する。
SMOOTHスペクトルデータの急激な過渡の大
きさを減少し、スペクトルノイズの影響を小さく
する。
きさを減少し、スペクトルノイズの影響を小さく
する。
STATUS RAMメモリフアイル３６の内容を
指示し、再プロツトパラメータを示す。
指示し、再プロツトパラメータを示す。
TAAT 吸収スペクトルを透過％へまたはそ
の逆に変換する。
の逆に変換する。
TABS 透過を吸収へ変換する。
TEST 特定のシステムテストを実行する。
TYPE VDUスクリン１４上のスペクトルデー
タの選択した帯域をプリントする。
タの選択した帯域をプリントする。
VIEW データフアイルＸ、ＹまたはＺ中の１
つまたは多数のスペクトルをVDUスクリンにデ
イスプレイする。
つまたは多数のスペクトルをVDUスクリンにデ
イスプレイする。
ユーザ指令に続いて処理パラメータをVDUに
示されるようにインプツトし、続いて呼出した機
能を実行するためRETURNキーを押す。すべて
のパラメータインプツトは実行に先立つて変更可
能である。
示されるようにインプツトし、続いて呼出した機
能を実行するためRETURNキーを押す。すべて
のパラメータインプツトは実行に先立つて変更可
能である。
SCANコマンドはオペレータがデータを赤外線
分光分析計１０から第４図のデータ処理モジユー
ルのメモリ３６へ集める主要コマンドである。
Ｘ、Ｙ、およびＺと称する３つのデータフアイル
があり、それぞれ4000〜180cm-1の全帯域にわた
つてスキヤンしたスペクトルを蓄積するために十
分なスペースを有する（各フアイルＸ、Ｙ、Ｚに
3821データポイント）。分光分析計１０をスキヤ
ンしてメモリに集めたデータはVDUスクリン１
４にデイスプレイされ、ここでその結果をモニタ
することができる。データをＸ、ＹまたはＺフア
イルに集めた後、このデータは新しいデータを同
じフアイルに集め、または電源をデータステーシ
ヨン１１から除去するまでそこに留まる。オーバ
ライテイングによる新データの消滅または電源異
常によるデータフアイルの消去はSCANしたデー
タをマイクロフロツピデイスク２２に記録するこ
とによつて容易に避けられる。データストレージ
はSAVEコマンドを介して行われる。５スペース
のアルフアニユーメリツクコード名および50スペ
ースまでのアイデンテイフイケーシヨンを将来の
呼出を容易にするためデータとともに記録するこ
とがきる。RETRAVEコマンドはデータをマイ
クロフロツピデイスク２２からデータ処理モジユ
ールのメモリの特殊フアイルへ呼出すために使用
される。
分光分析計１０から第４図のデータ処理モジユー
ルのメモリ３６へ集める主要コマンドである。
Ｘ、Ｙ、およびＺと称する３つのデータフアイル
があり、それぞれ4000〜180cm-1の全帯域にわた
つてスキヤンしたスペクトルを蓄積するために十
分なスペースを有する（各フアイルＸ、Ｙ、Ｚに
3821データポイント）。分光分析計１０をスキヤ
ンしてメモリに集めたデータはVDUスクリン１
４にデイスプレイされ、ここでその結果をモニタ
することができる。データをＸ、ＹまたはＺフア
イルに集めた後、このデータは新しいデータを同
じフアイルに集め、または電源をデータステーシ
ヨン１１から除去するまでそこに留まる。オーバ
ライテイングによる新データの消滅または電源異
常によるデータフアイルの消去はSCANしたデー
タをマイクロフロツピデイスク２２に記録するこ
とによつて容易に避けられる。データストレージ
はSAVEコマンドを介して行われる。５スペース
のアルフアニユーメリツクコード名および50スペ
ースまでのアイデンテイフイケーシヨンを将来の
呼出を容易にするためデータとともに記録するこ
とがきる。RETRAVEコマンドはデータをマイ
クロフロツピデイスク２２からデータ処理モジユ
ールのメモリの特殊フアイルへ呼出すために使用
される。
ACCUMおよびAVRAGEコマンドの指示のも
とに集めたスペクトルデータの処理は少し異な
る。データはつねにメモリフアイルＸに集めら
れ、このフアイルはデータをＹおよびＺフアイル
へオーバライトするために必要なように拡大する
ことができる。累算または平均されるスキヤン数
は250に達する。相対Ｓ／Ｎ比は集めたスキヤン
数の平方根の函数として改善される。したがつて
ACCUMおよびAVRAGEは試料の透過値の小変
化の測定が問題となる場合非常に有用なコマンド
である。ACCUMコマンドは各スキヤンの間の透
過値の変化を集め、新データを累算データフアイ
ルへ加算する。平均コマンドはデータをスペクト
ルの最終計算のため、累算したスキヤンの全数に
よつて除算する以外は同様に実行される。
ACCUMまたはAVRAGEの指令のもとにデータ
を収集するためスキヤン範囲、データインターバ
ル（普通は１cm-1）および累算または平均するス
キヤン数を決定することが必要である。データ収
集が開始した後、システムはこのプロセスの持続
に関係なく動作する。それゆえ時間を要するデー
タ収集はオペレータの都合たとえば週末等に行う
ように計画することができる。
とに集めたスペクトルデータの処理は少し異な
る。データはつねにメモリフアイルＸに集めら
れ、このフアイルはデータをＹおよびＺフアイル
へオーバライトするために必要なように拡大する
ことができる。累算または平均されるスキヤン数
は250に達する。相対Ｓ／Ｎ比は集めたスキヤン
数の平方根の函数として改善される。したがつて
ACCUMおよびAVRAGEは試料の透過値の小変
化の測定が問題となる場合非常に有用なコマンド
である。ACCUMコマンドは各スキヤンの間の透
過値の変化を集め、新データを累算データフアイ
ルへ加算する。平均コマンドはデータをスペクト
ルの最終計算のため、累算したスキヤンの全数に
よつて除算する以外は同様に実行される。
ACCUMまたはAVRAGEの指令のもとにデータ
を収集するためスキヤン範囲、データインターバ
ル（普通は１cm-1）および累算または平均するス
キヤン数を決定することが必要である。データ収
集が開始した後、システムはこのプロセスの持続
に関係なく動作する。それゆえ時間を要するデー
タ収集はオペレータの都合たとえば週末等に行う
ように計画することができる。
コマンドの次の群はＸ、ＹおよびＺフアイルに
集めたデータを試験または観察する方法である。
VIEWコマンドはシステムの図形化能力を使用し
てスペクトルをオペレータ検査のためVDUスク
リン１４にデイスプレイする。オペレータはこの
デイスプレイに選択的にカーソルおよび（また
は）波数格子を加えることができる。２つのカー
ソルのいずれでも観察中のスペクトル上で所望の
位置へ動かすことができ、各カーソルの波数位置
はスクリンにデイスプレイされる。この特徴はオ
ペレータが特定のピーク最大を迅速に配置し、ま
たはデータの特定範囲を以後の操作のための決定
したいと望む場合とくに有用である。３つのデー
タフアイルＸ、ＹおよびＺの内容はVIEWALL
コマンドをインプツトすることによつてスクリン
の1/3の仕切り内に同時に観察することができる。
選択的に２つのデータフアイルたとえばＸおよび
Ｙの差および類似性をコマンドVIEW Ｘ／Ｙの
インプツトによつて観察することができる。Ｘお
よびＹフアイルの各点の相当する縦軸値の差はス
クリンの暗いバツクグラウンドに白色オーバレイ
としてVDUにデイスプレイされる。
集めたデータを試験または観察する方法である。
VIEWコマンドはシステムの図形化能力を使用し
てスペクトルをオペレータ検査のためVDUスク
リン１４にデイスプレイする。オペレータはこの
デイスプレイに選択的にカーソルおよび（また
は）波数格子を加えることができる。２つのカー
ソルのいずれでも観察中のスペクトル上で所望の
位置へ動かすことができ、各カーソルの波数位置
はスクリンにデイスプレイされる。この特徴はオ
ペレータが特定のピーク最大を迅速に配置し、ま
たはデータの特定範囲を以後の操作のための決定
したいと望む場合とくに有用である。３つのデー
タフアイルＸ、ＹおよびＺの内容はVIEWALL
コマンドをインプツトすることによつてスクリン
の1/3の仕切り内に同時に観察することができる。
選択的に２つのデータフアイルたとえばＸおよび
Ｙの差および類似性をコマンドVIEW Ｘ／Ｙの
インプツトによつて観察することができる。Ｘお
よびＹフアイルの各点の相当する縦軸値の差はス
クリンの暗いバツクグラウンドに白色オーバレイ
としてVDUにデイスプレイされる。
データステーシヨンのメモリフアイルに含まれ
るスペクトルのハードコピーはPILOTコマンド
をロードすることにより、第２図の記録システム
に記録することができる。広範囲の縦軸および横
軸拡大フアクタによりオペレータはほとんどすべ
ての所望スケールでスペクトルを記録することが
できる。
るスペクトルのハードコピーはPILOTコマンド
をロードすることにより、第２図の記録システム
に記録することができる。広範囲の縦軸および横
軸拡大フアクタによりオペレータはほとんどすべ
ての所望スケールでスペクトルを記録することが
できる。
PEAKコマンドによりスクリン上にアルフアニ
ユーメリツク文字のピーク表が得られる。ピーク
表はピーク位置およびピーク最大の縦軸値のリス
トである。ピーク表はデイスク２２に記録するこ
とができ、主要なスペクトル情報をマイクロフロ
ツピデイスクの小さいスペースに貯蔵する方法で
ある。デイスクは数100のピーク表を保持するこ
とができる。したがつてPEAKコマンドは大きい
スペクトルデータライブラリ中のサーチおよび呼
出動作に非常に重要である。ピーク表はPRINT
コマンドを実行することによつてハードコピーの
形で得られる。PRINTコマンドはVDUスクリン
上のアルフアニユーメリツク全内容を紙に転送す
る。それゆえPRINTコマンドによりデイスクメ
モリのデイレクトリ、スペクトルフアイルの内容
または他のアルフアニユーメリツクデイスプレイ
のハードコピーアウトプツトもスクリンから得ら
れる。
ユーメリツク文字のピーク表が得られる。ピーク
表はピーク位置およびピーク最大の縦軸値のリス
トである。ピーク表はデイスク２２に記録するこ
とができ、主要なスペクトル情報をマイクロフロ
ツピデイスクの小さいスペースに貯蔵する方法で
ある。デイスクは数100のピーク表を保持するこ
とができる。したがつてPEAKコマンドは大きい
スペクトルデータライブラリ中のサーチおよび呼
出動作に非常に重要である。ピーク表はPRINT
コマンドを実行することによつてハードコピーの
形で得られる。PRINTコマンドはVDUスクリン
上のアルフアニユーメリツク全内容を紙に転送す
る。それゆえPRINTコマンドによりデイスクメ
モリのデイレクトリ、スペクトルフアイルの内容
または他のアルフアニユーメリツクデイスプレイ
のハードコピーアウトプツトもスクリンから得ら
れる。
コマンド群FLAT、ABEX、DIFF、TAATお
よびSMOOTHはスペクトルフアイルのデータを
調整または修正する方法である。FLATは傾斜基
線の影響を除去するように設計される。たとえば
上向き傾斜基線は通常曇つたKBrペレツトのス
ペクトルに現れる。ABEXはスペクトルの縦軸
スケールを拡大するために設計されたコマンドで
ある。データステーシヨンがABEXコマンドを
実行すると、透過値で記録されたスペクトルのデ
イジタル化された縦軸値は吸収値に変換され、所
定のフアクタを乗じて、ポイントごとに透過値に
再変換される。この方法で実行された拡大により
相対的ピーク強度の歪みなしに増大した振幅のス
ペクトルが得られる。ABEXコマンドは薄いス
ペクトルまたはスペクトル間の小差を拡大するた
めに有用である。
よびSMOOTHはスペクトルフアイルのデータを
調整または修正する方法である。FLATは傾斜基
線の影響を除去するように設計される。たとえば
上向き傾斜基線は通常曇つたKBrペレツトのス
ペクトルに現れる。ABEXはスペクトルの縦軸
スケールを拡大するために設計されたコマンドで
ある。データステーシヨンがABEXコマンドを
実行すると、透過値で記録されたスペクトルのデ
イジタル化された縦軸値は吸収値に変換され、所
定のフアクタを乗じて、ポイントごとに透過値に
再変換される。この方法で実行された拡大により
相対的ピーク強度の歪みなしに増大した振幅のス
ペクトルが得られる。ABEXコマンドは薄いス
ペクトルまたはスペクトル間の小差を拡大するた
めに有用である。
DIFFコマンドは１つのスペクトルを他のスペ
クトルから最高の量的精度をもつて控除するため
に使用される。DIFFコマンド実行の間、データ
ステーシヨン１１は２つのスペクトルデータフア
イルの間で対応する波数における吸収値の減算を
行い、通知された合成スペクトルの吸収値を残
す。減算する２つのスペクトルが初めに透過スペ
クトルであれば、データステーシヨン１１は各ス
ペクトルのデイジタル化された縦軸値をポイント
ごとに吸収に変換し、次に減算を完了し、結果を
吸収値でフアイルする。
クトルから最高の量的精度をもつて控除するため
に使用される。DIFFコマンド実行の間、データ
ステーシヨン１１は２つのスペクトルデータフア
イルの間で対応する波数における吸収値の減算を
行い、通知された合成スペクトルの吸収値を残
す。減算する２つのスペクトルが初めに透過スペ
クトルであれば、データステーシヨン１１は各ス
ペクトルのデイジタル化された縦軸値をポイント
ごとに吸収に変換し、次に減算を完了し、結果を
吸収値でフアイルする。
吸収から透過へおよび透過から吸収へのスペク
トルの変換はTAATコマンドによつて実行され
る。縦軸データたとえば透過％から吸収％へのデ
ジタル変換は透過スペクトル％のアナログ変換よ
り正確な吸収スペクトルを得る方法である。上記
コマンド使用の頻繁に使用する順序はDIFF、
ABEX、TAAT、FLATである。この順序によ
りユーザは２つのスペクトル間の差を得、その結
果を吸収でフルスケールに拡大し、スペクトルを
透過へ変換し、傾斜基線の影響を除去することが
できる。
トルの変換はTAATコマンドによつて実行され
る。縦軸データたとえば透過％から吸収％へのデ
ジタル変換は透過スペクトル％のアナログ変換よ
り正確な吸収スペクトルを得る方法である。上記
コマンド使用の頻繁に使用する順序はDIFF、
ABEX、TAAT、FLATである。この順序によ
りユーザは２つのスペクトル間の差を得、その結
果を吸収でフルスケールに拡大し、スペクトルを
透過へ変換し、傾斜基線の影響を除去することが
できる。
この程度まで処理したスペクトルは比較的低い
Ｓ／Ｎ比を有するエリアを示すことがある。ノイ
ズはSMOOTHコマンドによつて減少することが
でき、このコマンドは動くポイントポリノミアル
をデータに適合たせ、急激な過渡たとえばノイズ
を円くする。SMOOTHコマンドは真のデータが
ノイズとともに除去されないことを保証するた
め、ある程度オペレータの判断を必要とする。
Ｓ／Ｎ比を有するエリアを示すことがある。ノイ
ズはSMOOTHコマンドによつて減少することが
でき、このコマンドは動くポイントポリノミアル
をデータに適合たせ、急激な過渡たとえばノイズ
を円くする。SMOOTHコマンドは真のデータが
ノイズとともに除去されないことを保証するた
め、ある程度オペレータの判断を必要とする。
赤外線データステーシヨンの特殊能力にはきわ
めて多数のコマンドを自動的に実行する機能があ
る。このような分光分析ミニプログラムは
OBEYフアイルと称され、これによつてユーザ
はデータステーシヨン１１に付加した赤外線分光
分析計に関する広範な作業をオペレーシヨンにま
つたく煩わされずに実施することができる。オペ
レータが実施したいすべての分光分析ソフトウエ
アコマンドはユーテイリテイデイスクのEDITソ
フトウエアでVDUスクリンに書出され、データ
収集のためのマイクロフロツピデイスクに記録さ
れる。次にオペレータがOBEYの特殊機能キー
を押し、OBEYフアイルを指定するために常用
しているアルフアニユーメリツクコードをタイプ
すると、データステーシヨン１１および赤外線分
光分析計１０はOBEYフアイルの指令の実行を
開始する。コメント行はコマンド行を星印付きで
開始することによつてOBEYフアイルに挿入す
ることができる。
めて多数のコマンドを自動的に実行する機能があ
る。このような分光分析ミニプログラムは
OBEYフアイルと称され、これによつてユーザ
はデータステーシヨン１１に付加した赤外線分光
分析計に関する広範な作業をオペレーシヨンにま
つたく煩わされずに実施することができる。オペ
レータが実施したいすべての分光分析ソフトウエ
アコマンドはユーテイリテイデイスクのEDITソ
フトウエアでVDUスクリンに書出され、データ
収集のためのマイクロフロツピデイスクに記録さ
れる。次にオペレータがOBEYの特殊機能キー
を押し、OBEYフアイルを指定するために常用
しているアルフアニユーメリツクコードをタイプ
すると、データステーシヨン１１および赤外線分
光分析計１０はOBEYフアイルの指令の実行を
開始する。コメント行はコマンド行を星印付きで
開始することによつてOBEYフアイルに挿入す
ることができる。
簡単なオベイフアイルは次のとおりである：
1.00＝*THIS IS AN EXAMPLE OF AN
OBEY FILE 2.00＝SCAN Ｘ 3.00＝VIEW Ｘ GRID 4.00＝ABEX Ｘ 5.00＝SMOOTH Ｘ、３、Ｙ 6.00＝VIEW Ｙ GRID 本発明の分析装置は分光分析技術者による赤外
線スペクトルの実際の解釈を容易にするサーチ応
用プログラムを備える。サーチは応用機能であ
り、赤外線スペクトルの解釈および識別の過程を
簡単化するように設計される。参照データのフア
イルからサーチは未知有機物質の性質（官能基）
を指示しうるのみならず、類似タイプの化合物の
名称を一致の信頼度を示す率といつしよに選択す
ることができる。相関がシステムの要求する基準
を満足するに不十分な化合物は選択から除外され
る。
OBEY FILE 2.00＝SCAN Ｘ 3.00＝VIEW Ｘ GRID 4.00＝ABEX Ｘ 5.00＝SMOOTH Ｘ、３、Ｙ 6.00＝VIEW Ｙ GRID 本発明の分析装置は分光分析技術者による赤外
線スペクトルの実際の解釈を容易にするサーチ応
用プログラムを備える。サーチは応用機能であ
り、赤外線スペクトルの解釈および識別の過程を
簡単化するように設計される。参照データのフア
イルからサーチは未知有機物質の性質（官能基）
を指示しうるのみならず、類似タイプの化合物の
名称を一致の信頼度を示す率といつしよに選択す
ることができる。相関がシステムの要求する基準
を満足するに不十分な化合物は選択から除外され
る。
サーチ応用機能は３つの主要部(1)データインプ
ツト、(2)可能な構造単位（PSU）サーチ、およ
び(3)スペクトルライブラリサーチからなる。これ
らの部分のほかにデータの訂正、ライブラリの作
製、デイスクのデータ貯蔵等のルーチンを考慮し
て多数の他のユーテイリテイ特徴がサーチ機能に
含まれる。SEARCH機能に対するコマンドは適
当な特殊機能キー３０を使用してインプツトさ
れ、補助情報はデータステーシヨンキーボード２
４を使用してインプツトされる。データは
SEARCHルーチンへ次の４つの方法によつてイ
ンプツトすることができる。すなわちスペクトル
分光分析計１０から直接インプツト、マニユアル
のエントリモード、スペクトルデイジタル化装置
の使用および事前に作製したピーク表をマイクロ
フロツピデイスク２２から呼出す方法である。
ツト、(2)可能な構造単位（PSU）サーチ、およ
び(3)スペクトルライブラリサーチからなる。これ
らの部分のほかにデータの訂正、ライブラリの作
製、デイスクのデータ貯蔵等のルーチンを考慮し
て多数の他のユーテイリテイ特徴がサーチ機能に
含まれる。SEARCH機能に対するコマンドは適
当な特殊機能キー３０を使用してインプツトさ
れ、補助情報はデータステーシヨンキーボード２
４を使用してインプツトされる。データは
SEARCHルーチンへ次の４つの方法によつてイ
ンプツトすることができる。すなわちスペクトル
分光分析計１０から直接インプツト、マニユアル
のエントリモード、スペクトルデイジタル化装置
の使用および事前に作製したピーク表をマイクロ
フロツピデイスク２２から呼出す方法である。
スペクトル分光分析計１０からデータをインプ
ツトする第１モードの場合、サーチソフトウエア
デイスク２０をロードし、キーボードモジユール
１６のINST機能キーを押す。オペレータは普通
のサーベイ条件下に4000〜600cm-1をスキヤンす
るように指示される。オペレータがスキヤンする
と、スペクトルはVDUスクリン１４にデイスプ
レイされる。バンドは適当に強くなければなら
ず、最大ピークで透過値約10〜25％の範囲内に入
ることに注意する。スペクトルデータの品質に基
いて付加的処理が実施される。１つまたは多数の
前記データ操作ルーチンがスペクトルデータを増
強するため使用される。スペクトルはまずノイズ
減少のため常用の13ポイントキユービツクポリノ
ミアルを使用してスムースにされる。バツクグラ
ウンドはとくに高い波数帯域の傾斜を考慮してフ
ラツトにし、次にABEXルーチンを実行する。
このルーチンで最強バンドは透過率が３％にのな
るまで吸収で拡大され、基線が100％にセツトさ
れる。この操作の完了後スペクトルはほとんどフ
ルスケールに拡がる。次にピーク表が装置モード
下にこの処理したスペクトルに対して自動的に作
製される。
ツトする第１モードの場合、サーチソフトウエア
デイスク２０をロードし、キーボードモジユール
１６のINST機能キーを押す。オペレータは普通
のサーベイ条件下に4000〜600cm-1をスキヤンす
るように指示される。オペレータがスキヤンする
と、スペクトルはVDUスクリン１４にデイスプ
レイされる。バンドは適当に強くなければなら
ず、最大ピークで透過値約10〜25％の範囲内に入
ることに注意する。スペクトルデータの品質に基
いて付加的処理が実施される。１つまたは多数の
前記データ操作ルーチンがスペクトルデータを増
強するため使用される。スペクトルはまずノイズ
減少のため常用の13ポイントキユービツクポリノ
ミアルを使用してスムースにされる。バツクグラ
ウンドはとくに高い波数帯域の傾斜を考慮してフ
ラツトにし、次にABEXルーチンを実行する。
このルーチンで最強バンドは透過率が３％にのな
るまで吸収で拡大され、基線が100％にセツトさ
れる。この操作の完了後スペクトルはほとんどフ
ルスケールに拡がる。次にピーク表が装置モード
下にこの処理したスペクトルに対して自動的に作
製される。
マニユアルエントリモードの場合、各ピークの
周波数および透過値からなるデータ表をEDIT環
境にインプツトする。オペレータがMANキーを
押すだけで、EDITが第４図のデイスク２２から
メモリ３６へロードされる。特定スペクトルの基
線データに関する参照情報をインプツトし、次に
スペクトル中の各ピークの周波数および透過％
（％Ｔ）の表をインプツトする。オペレータは
ENDをタイプすることによつて終結し、次のス
テツプに進む。
周波数および透過値からなるデータ表をEDIT環
境にインプツトする。オペレータがMANキーを
押すだけで、EDITが第４図のデイスク２２から
メモリ３６へロードされる。特定スペクトルの基
線データに関する参照情報をインプツトし、次に
スペクトル中の各ピークの周波数および透過％
（％Ｔ）の表をインプツトする。オペレータは
ENDをタイプすることによつて終結し、次のス
テツプに進む。
デイジタル化装置を使用する操作モードの場
合、デイジタル化装置１９を使用し、被検スペク
トルをフラツトなタブレツトに置き、カーソルを
ピークに相当する点から点へスペクトルに沿つて
動かす。個々のピークのXY座標のそれぞれは周
波数および透過値に変換され、スペクトルのピー
ク表が作成される。デイジタル化装置モードの場
合、オペレータは3800cm-1および2000cm-1（波長
2.5μおよび5μ）における基線％Ｔ値だけでなく、
3800cm-1、０％Ｔ；2000cm-1、100％Ｔ；および
650cm-1、０％Ｔ（相当する波長は2.5μ、5μおよび
15μ）の点に対する格子用の値もインプツトする
ように指示されなければならない。デイジタル化
装置の許容差の最大は0.005インチ（0.127mm）最
小は0.001インチ（0.0254mm）である。タブレツ
トのサイズはフルサイズのスペクトルを収容し、
したがつて有効面積が約15×30′（381×762mm）な
ければならない。この装置によりすでに存在する
ライブラリに含まれるスペクトルをデイジタル化
し、本装置のサーチライブラリへインプツトする
ことができる。
合、デイジタル化装置１９を使用し、被検スペク
トルをフラツトなタブレツトに置き、カーソルを
ピークに相当する点から点へスペクトルに沿つて
動かす。個々のピークのXY座標のそれぞれは周
波数および透過値に変換され、スペクトルのピー
ク表が作成される。デイジタル化装置モードの場
合、オペレータは3800cm-1および2000cm-1（波長
2.5μおよび5μ）における基線％Ｔ値だけでなく、
3800cm-1、０％Ｔ；2000cm-1、100％Ｔ；および
650cm-1、０％Ｔ（相当する波長は2.5μ、5μおよび
15μ）の点に対する格子用の値もインプツトする
ように指示されなければならない。デイジタル化
装置の許容差の最大は0.005インチ（0.127mm）最
小は0.001インチ（0.0254mm）である。タブレツ
トのサイズはフルサイズのスペクトルを収容し、
したがつて有効面積が約15×30′（381×762mm）な
ければならない。この装置によりすでに存在する
ライブラリに含まれるスペクトルをデイジタル化
し、本装置のサーチライブラリへインプツトする
ことができる。
データエントリの第４モードの場合、ユーザは
事前に作成したピーク表をマイクロフロツピデイ
スクから呼出す。それゆえ自動サンプラを使用
し、装置によりその中に含まれる１連のサンプル
をスキヤンし、そのそれぞれのピーク表を作成
し、これらのピーク表をデイスクに記憶すること
ができる。次に後の時点にSEARCHソフトウエ
アをロードし、各ピーク表をこのデイスクから呼
出し、SEARCHルーチンにしたがつて個々に処
理することができる。
事前に作成したピーク表をマイクロフロツピデイ
スクから呼出す。それゆえ自動サンプラを使用
し、装置によりその中に含まれる１連のサンプル
をスキヤンし、そのそれぞれのピーク表を作成
し、これらのピーク表をデイスクに記憶すること
ができる。次に後の時点にSEARCHソフトウエ
アをロードし、各ピーク表をこのデイスクから呼
出し、SEARCHルーチンにしたがつて個々に処
理することができる。
データエントリのモードと無関係に、スペクト
ルの良好な解釈のためにはサンプルを非常によく
調整することが必要である。ルーチンにインプツ
トしたスペクトルは特定の基本的要求を満足しな
ければならない。不十分なデータをルーチンにイ
ンプツトすると、結果は悪くなる。従つて、基準
として、炭素−水素伸縮振動帯域を除いて、基底
には達せず、但し系内の最強バンドに対して１％
程度の透過率を有する吸収バンドが必要とされ
る。スペクトルは当間隔波長であつてもよく、ま
たはデイジタル化装置からインプツトする場合に
は、波長を当間隔に取れば、２：１のスケール変
更したものでもよい。マニユアル操作によるイン
プツトは波長または波数である。マニアルまたは
デイジタル化モードのいずれの場合もオペレータ
はインプツトが波数または波長のいずれであるか
を指示するようにデイスプレイから指令されなけ
ればならない。4000〜600cm-1（または2.5〜1.5μ）
の間のすべてのピークをインプツトしなければな
らない。ピークの記述はもつとも近い波数にある
波数およびもつとも近い％にある透過％を含む。
最低透過率は１％よりも大でなければならない、
従つてサンプル調製プロセスに若干の制限があ
る。最強ピークの透過率が１％より小である場合
には、そのスペクトルは除去すべきである。３％
より小である場合には、オペレータに警告メツセ
ージが発せられる。また、最強ピークは20％Ｔよ
り小であるべきである。付加的情報はエントリモ
ードに関係なく3800cm-1および2000cm-1の基線値
を含む。
ルの良好な解釈のためにはサンプルを非常によく
調整することが必要である。ルーチンにインプツ
トしたスペクトルは特定の基本的要求を満足しな
ければならない。不十分なデータをルーチンにイ
ンプツトすると、結果は悪くなる。従つて、基準
として、炭素−水素伸縮振動帯域を除いて、基底
には達せず、但し系内の最強バンドに対して１％
程度の透過率を有する吸収バンドが必要とされ
る。スペクトルは当間隔波長であつてもよく、ま
たはデイジタル化装置からインプツトする場合に
は、波長を当間隔に取れば、２：１のスケール変
更したものでもよい。マニユアル操作によるイン
プツトは波長または波数である。マニアルまたは
デイジタル化モードのいずれの場合もオペレータ
はインプツトが波数または波長のいずれであるか
を指示するようにデイスプレイから指令されなけ
ればならない。4000〜600cm-1（または2.5〜1.5μ）
の間のすべてのピークをインプツトしなければな
らない。ピークの記述はもつとも近い波数にある
波数およびもつとも近い％にある透過％を含む。
最低透過率は１％よりも大でなければならない、
従つてサンプル調製プロセスに若干の制限があ
る。最強ピークの透過率が１％より小である場合
には、そのスペクトルは除去すべきである。３％
より小である場合には、オペレータに警告メツセ
ージが発せられる。また、最強ピークは20％Ｔよ
り小であるべきである。付加的情報はエントリモ
ードに関係なく3800cm-1および2000cm-1の基線値
を含む。
ピーク表の作成およびインプツトならびに後述
の他の関連データのインプツトに続いて、オペレ
ータはINTRPボタンを押して可能な構造単位
（PSU）のサーチルーチンが開始される。データ
処理モジユール１２によつて制御されるこのルー
チンはデータを標準フオーマツトに調整する１連
の自動的に実行されるサブルーチンを含む。まず
データは傾斜基線に対し修正される。このサブル
ーチンは前記FLATルーチンに少し似ている。
の他の関連データのインプツトに続いて、オペレ
ータはINTRPボタンを押して可能な構造単位
（PSU）のサーチルーチンが開始される。データ
処理モジユール１２によつて制御されるこのルー
チンはデータを標準フオーマツトに調整する１連
の自動的に実行されるサブルーチンを含む。まず
データは傾斜基線に対し修正される。このサブル
ーチンは前記FLATルーチンに少し似ている。
FLATルーチンを実行するため、オペレータは
3800cm-1または4000cm-1および2000cm-1における
特定スペクトルの基線透過％をインプツトしなけ
ればならない。吸収バンドがこれらの周波数に発
生する場合、これらの周波数は無視してこれらの
周波数にもつとも近い最適の基線値を使用しなけ
ればならない。これらの値は次にスペクトル帯域
にわたつて直線的基線の吸収で記述するために使
用され、ピーク表の％Ｔ値（吸収に変換された）
は各周波数における計算された基線吸収値をピー
ク吸収値から控除することによつて修正される。
3800cm-1または4000cm-1および2000cm-1における
特定スペクトルの基線透過％をインプツトしなけ
ればならない。吸収バンドがこれらの周波数に発
生する場合、これらの周波数は無視してこれらの
周波数にもつとも近い最適の基線値を使用しなけ
ればならない。これらの値は次にスペクトル帯域
にわたつて直線的基線の吸収で記述するために使
用され、ピーク表の％Ｔ値（吸収に変換された）
は各周波数における計算された基線吸収値をピー
ク吸収値から控除することによつて修正される。
次のサブルーチンは較正ルーチンであり、デー
タはオペレータがインプツトした較正データを使
用して修正される。オペレータはポリスチレンま
たはインデン較正データのいずれを使用するかを
指示しなければならず、システムは次のピークに
対して測定した周波数値をインプツトさせる： IUPAC値＊ インデン 3927 2305 1943 693 ポリスチレン 3027 1944 907 ＊IUPAC値は純正応用化学国際連合
（Internationl Union of Pure and Applied
Chemistry）において決められた値である。
タはオペレータがインプツトした較正データを使
用して修正される。オペレータはポリスチレンま
たはインデン較正データのいずれを使用するかを
指示しなければならず、システムは次のピークに
対して測定した周波数値をインプツトさせる： IUPAC値＊ インデン 3927 2305 1943 693 ポリスチレン 3027 1944 907 ＊IUPAC値は純正応用化学国際連合
（Internationl Union of Pure and Applied
Chemistry）において決められた値である。
インデンデータから、両者の格子領域における
入力データ処理の補正のためにデータ処理モジユ
ール１２によつてシフトおよび傾斜を計算するこ
とができる。ポリイレンデータからは、4000〜
2000cm-1帯域似おけるシフトのみが可能である。
ポリスチレンデータは4000〜2000cm-1帯域におけ
るシフトのみを可能にする。この較正データは原
始ピーク表の１部になり、これといつしよに記憶
される。2000〜600cm-1帯域における５cm-1より
大きい周波数エラーおよび（または）4000〜
2000- cn -1帯域における10cm-1より大きい周波数エ
ラーが検出された場合、オペレータはVDUで通
知され、このルーチンで続行するかどうかのオプ
シヨンが要求される。
入力データ処理の補正のためにデータ処理モジユ
ール１２によつてシフトおよび傾斜を計算するこ
とができる。ポリイレンデータからは、4000〜
2000cm-1帯域似おけるシフトのみが可能である。
ポリスチレンデータは4000〜2000cm-1帯域におけ
るシフトのみを可能にする。この較正データは原
始ピーク表の１部になり、これといつしよに記憶
される。2000〜600cm-1帯域における５cm-1より
大きい周波数エラーおよび（または）4000〜
2000- cn -1帯域における10cm-1より大きい周波数エ
ラーが検出された場合、オペレータはVDUで通
知され、このルーチンで続行するかどうかのオプ
シヨンが要求される。
第３のサブルーチンは正規化ルーチンであり、
データは選択したピークに対して正規化される。
このルーチンは、3000〜2830cm-1帯域外のスペク
トルの最強ピークすなわち最小％Ｔが配置され、
このピークの吸収に基いて、最強ピークに対して
計算した吸収が1.5にセツトされるようにスケー
ルフアクタを計算すること以外は前記ABEXル
ーチンとほぼ同様である。ピーク表のすべての他
のピーク吸収値は同じフアクタを乗じて透過に再
変換される。
データは選択したピークに対して正規化される。
このルーチンは、3000〜2830cm-1帯域外のスペク
トルの最強ピークすなわち最小％Ｔが配置され、
このピークの吸収に基いて、最強ピークに対して
計算した吸収が1.5にセツトされるようにスケー
ルフアクタを計算すること以外は前記ABEXル
ーチンとほぼ同様である。ピーク表のすべての他
のピーク吸収値は同じフアクタを乗じて透過に再
変換される。
次にデータは約95％透過のいき値より大きい透
過値を有するすべてのピークを除去することによ
つて調整される。これは小ピークの影響を除去す
るために役立つ。このルーチンはもつと有意のピ
ークに対する強度データを使用することに注意す
る。
過値を有するすべてのピークを除去することによ
つて調整される。これは小ピークの影響を除去す
るために役立つ。このルーチンはもつと有意のピ
ークに対する強度データを使用することに注意す
る。
次に未知物質の数理的に調整したデイジタル化
されたピーク表は主要官能基を決定するためバン
ドマツチング技術を使用して試験される。コンピ
ユータのメモリにはたとえばエステル、カルボニ
ル、芳香族アミド等約850程度の構造単位をデイ
ジタル化した形でメモリに含む第１ライブラリが
あり、未知スペクトルとマツチする構造単位は
VDUスクリンにデイスプレイされる。すべての
官能基が未知物質に対して試験されると、同定し
た官能基のリストが第１表に示すようにデイスプ
レイされる。
されたピーク表は主要官能基を決定するためバン
ドマツチング技術を使用して試験される。コンピ
ユータのメモリにはたとえばエステル、カルボニ
ル、芳香族アミド等約850程度の構造単位をデイ
ジタル化した形でメモリに含む第１ライブラリが
あり、未知スペクトルとマツチする構造単位は
VDUスクリンにデイスプレイされる。すべての
官能基が未知物質に対して試験されると、同定し
た官能基のリストが第１表に示すようにデイスプ
レイされる。
第１表
可能な構造単位：SHOO5
202 アルキル基−おそらくメチル置換基
204 アルキル基−一般的置換基（マニユアルで
検討） 212 アルキル基−おそらくヒドロキシルまたは
アミノ化合物 502 脂肪族アルコール−第１または第２級ヒド
ロキシル基（マニユアルで検討） 511 脂肪族アルコール−第１級もしくは第２級
またはおそらく環式ヒドロキシル 表中１連番号たとえば202、204、212等は列挙
した特殊構造単位を詳細に記載したインストラク
シヨンマニユアルのページに関する。この解釈は
約12〜15秒を要する。これらの解釈はかなり正確
であるけれど、単にバンドのオーバラツプによつ
て導入される赤外線スペクトルの複雑性のため、
つねに特定化合物にエラーの確率が存在すること
に注意する。
検討） 212 アルキル基−おそらくヒドロキシルまたは
アミノ化合物 502 脂肪族アルコール−第１または第２級ヒド
ロキシル基（マニユアルで検討） 511 脂肪族アルコール−第１級もしくは第２級
またはおそらく環式ヒドロキシル 表中１連番号たとえば202、204、212等は列挙
した特殊構造単位を詳細に記載したインストラク
シヨンマニユアルのページに関する。この解釈は
約12〜15秒を要する。これらの解釈はかなり正確
であるけれど、単にバンドのオーバラツプによつ
て導入される赤外線スペクトルの複雑性のため、
つねに特定化合物にエラーの確率が存在すること
に注意する。
PSUサーチルーチンに続いてオペレータはラ
イブラリサーチルーチンをインプツトし、未知物
質はライブラリ中のデータと比較される。このル
ーチンを実行するためオペレータはSEARCHボ
タンを押し、未知物質のインプツトデータはデー
タ処理モジユール１２で処理される。すなわちピ
ーク表はプリセレクトした第２標準フオーマツト
に再調整され、その際約85％透過程度のいき値よ
り小さいすべての透過ピークは消去される。次に
帯域が短縮される。すなわち帯域は約1624〜600
cm-1の波数に制限される。ライブラリデイスクは
参照スペクトルのフアイルを含む。各スペクトル
はデイジタル化したピーク表として、このピーク
表をマツチさせる相当する官能基データ（構造単
位）とともに記憶される。このようにバンドとバ
ンドのマツチのほかにこのシステムは可能な構造
単位（PSU）もマツチさせる。すなわち各スペ
クトルのフアイルは２進形式であり、かつプリセ
レクトした化学的官能基（各グループは前記可能
な構造単位を１つまたは多数含む。）の存在また
は不在を指示する数ビツト、未知物質の状態すな
わち固体、ガスまたは液体を指示する数ビツト、
プリセレクトした非一有機元素の存在または不在
を指示する数ビツト、および未知物質の処理した
ピーク表に相当する多数ビツトを含む。デイスク
の１面上の約1800セツトのスペクトルの未知およ
び既知ライブラリの間の比較をするため約27秒を
要する。しかしユーザが得たデイスクだけをサー
チすることができる。本発明の実施例によればサ
ーチは実際にほぼ平行に進行する４つのサーチで
ある。１つのサーチで各スペクトルの全フアイル
は未知物質との比較またはマツチに使用される。
第２のサーチでは各スペクトルのフアイルの化学
的官能基の存在または不在に関するビツトはサー
チから除外される。第３サーチはピーク表のバン
ドの特定サブセツトが考慮から除外される以外は
第１サーチと同様である。このサーチは実際には
未知物質を混合物として処理する。この場合混合
物中のバンドの存在が混合物中のいずれかの成分
に基くことを考慮しなければならない。それゆえ
ライブラリの参照スペクトルに現れない混合物中
のバンドの存在を記録せず、同様にライブラリの
スペクトルに生ずる混合物中のバンドの不在を記
録することが必要である。第４サーチは各スペク
トルのフアイルのプリセレクトした化学的官能基
の存在または不在に関するビツトがサーチから除
外される以外は第３サーチと同様である。たとえ
ば前記第１サーチの結果は第２表に示される。
イブラリサーチルーチンをインプツトし、未知物
質はライブラリ中のデータと比較される。このル
ーチンを実行するためオペレータはSEARCHボ
タンを押し、未知物質のインプツトデータはデー
タ処理モジユール１２で処理される。すなわちピ
ーク表はプリセレクトした第２標準フオーマツト
に再調整され、その際約85％透過程度のいき値よ
り小さいすべての透過ピークは消去される。次に
帯域が短縮される。すなわち帯域は約1624〜600
cm-1の波数に制限される。ライブラリデイスクは
参照スペクトルのフアイルを含む。各スペクトル
はデイジタル化したピーク表として、このピーク
表をマツチさせる相当する官能基データ（構造単
位）とともに記憶される。このようにバンドとバ
ンドのマツチのほかにこのシステムは可能な構造
単位（PSU）もマツチさせる。すなわち各スペ
クトルのフアイルは２進形式であり、かつプリセ
レクトした化学的官能基（各グループは前記可能
な構造単位を１つまたは多数含む。）の存在また
は不在を指示する数ビツト、未知物質の状態すな
わち固体、ガスまたは液体を指示する数ビツト、
プリセレクトした非一有機元素の存在または不在
を指示する数ビツト、および未知物質の処理した
ピーク表に相当する多数ビツトを含む。デイスク
の１面上の約1800セツトのスペクトルの未知およ
び既知ライブラリの間の比較をするため約27秒を
要する。しかしユーザが得たデイスクだけをサー
チすることができる。本発明の実施例によればサ
ーチは実際にほぼ平行に進行する４つのサーチで
ある。１つのサーチで各スペクトルの全フアイル
は未知物質との比較またはマツチに使用される。
第２のサーチでは各スペクトルのフアイルの化学
的官能基の存在または不在に関するビツトはサー
チから除外される。第３サーチはピーク表のバン
ドの特定サブセツトが考慮から除外される以外は
第１サーチと同様である。このサーチは実際には
未知物質を混合物として処理する。この場合混合
物中のバンドの存在が混合物中のいずれかの成分
に基くことを考慮しなければならない。それゆえ
ライブラリの参照スペクトルに現れない混合物中
のバンドの存在を記録せず、同様にライブラリの
スペクトルに生ずる混合物中のバンドの不在を記
録することが必要である。第４サーチは各スペク
トルのフアイルのプリセレクトした化学的官能基
の存在または不在に関するビツトがサーチから除
外される以外は第３サーチと同様である。たとえ
ば前記第１サーチの結果は第２表に示される。
第２表
ライブラリからきわめて近い15スペクトル
SHOO5 ９−６ プロピレン グリコール 水不含 ９−５ プロピレン グリコール ９−４ プロピレン グリコール CSPC623 ９−３ グリセロール 水不含 ９−２ １，２，３−プロパントリオール ９−２ ２−メチル ペンタノール CSPC329 ９−２ ２，４−ペンタンジオール ２−メチル
− ９−１ Ｎ−ブタノール 10％ ９−１ エチレングリコール ９−１ エチレングリコール 水不含 ９−１ パインオイル CSPC425 ９−１ エタノール ９−１ ソルビトール ９−１ ２−プロパン−１−オール、３，３−ジ
クロロ− ９−１ ブタノール、３−メチル− 第２表のライブラリサーチのナンバの解釈は次
のとおりである：第１ナンバはPSUマツチの品
質、第２ナンバはバンドマツチの品質に関する。
ナンバは０から９まであり、０はノーマツチ、９
は完全マツチである。このように実際の未知物質
がライブラリに含まれていなくても、PSUマツ
チは化合物の類似タイプを指示し、ライブラリサ
ーチはそれに含まれるもつとも近い15化合物をマ
ツチの程度の指示とともに示す。他の３つのサー
チのプリントアウトは第２表と同様である。
SHOO5 ９−６ プロピレン グリコール 水不含 ９−５ プロピレン グリコール ９−４ プロピレン グリコール CSPC623 ９−３ グリセロール 水不含 ９−２ １，２，３−プロパントリオール ９−２ ２−メチル ペンタノール CSPC329 ９−２ ２，４−ペンタンジオール ２−メチル
− ９−１ Ｎ−ブタノール 10％ ９−１ エチレングリコール ９−１ エチレングリコール 水不含 ９−１ パインオイル CSPC425 ９−１ エタノール ９−１ ソルビトール ９−１ ２−プロパン−１−オール、３，３−ジ
クロロ− ９−１ ブタノール、３−メチル− 第２表のライブラリサーチのナンバの解釈は次
のとおりである：第１ナンバはPSUマツチの品
質、第２ナンバはバンドマツチの品質に関する。
ナンバは０から９まであり、０はノーマツチ、９
は完全マツチである。このように実際の未知物質
がライブラリに含まれていなくても、PSUマツ
チは化合物の類似タイプを指示し、ライブラリサ
ーチはそれに含まれるもつとも近い15化合物をマ
ツチの程度の指示とともに示す。他の３つのサー
チのプリントアウトは第２表と同様である。
オペレータがデータ取得の同じプロセスを正確
に実施し、未知サンプルと関連して前記のように
自動的に処理し、次にSTOREボタンを押すして
ストレージルーチンを使用しながら既知スペクト
ルをライブラリデイスクに配置することにより、
ライブラリに加入し、またはオペレータ自身のラ
イブラリを作成しうることは明らかである。
に実施し、未知サンプルと関連して前記のように
自動的に処理し、次にSTOREボタンを押すして
ストレージルーチンを使用しながら既知スペクト
ルをライブラリデイスクに配置することにより、
ライブラリに加入し、またはオペレータ自身のラ
イブラリを作成しうることは明らかである。
第５図は応用プログラムのフローチヤートを示
す。
す。
本発明の特殊な実施例を説明の目的で記載した
けれど、この明細書を研究した後種々に変形しう
ることは本発明に関係する当業者には明らかであ
る。
けれど、この明細書を研究した後種々に変形しう
ることは本発明に関係する当業者には明らかであ
る。
第１図は本発明による分析装置の斜視図、第２
図はこの装置のブロツクダイヤグラム、第３図は
キーボードモジユールの平面図、第４図はシステ
ムメモリのブロツクダイヤグラム、第５図は応用
プログラムのフローチヤートである。 １０……分光分析計、１１……データステーシ
ヨン、１２……データ処理モジユール、１４……
デイスプレイ装置、１６……キーボードモジユー
ル、２０，２２……フロツピデイスク。
図はこの装置のブロツクダイヤグラム、第３図は
キーボードモジユールの平面図、第４図はシステ
ムメモリのブロツクダイヤグラム、第５図は応用
プログラムのフローチヤートである。 １０……分光分析計、１１……データステーシ
ヨン、１２……データ処理モジユール、１４……
デイスプレイ装置、１６……キーボードモジユー
ル、２０，２２……フロツピデイスク。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 未知物質のスペクトルのピーク表をコンピユ
ータへインプツトする装置、 該ピーク表をプリセレクトした第１標準フオー
マツトに調整し、その際が該ピーク表から約95％
透過の程度のプリセレクトしたいき値よりも大き
い透過率を有するすべてのピークを消去する装
置、 前記のようにして標準化した未知物質のピーク
表を、前記コンピユータのメモリに記憶させた化
学構造単位の第１ライブラリと比較する装置、 未知物質に最も近い可能な化学構造単位のリス
トを作成する装置、 前記ピーク表をプリセレクトした第２標準フオ
ーマツトに再調整し、その際該ピーク表から約85
％透過の程度のプリセレクトした第２のいき値よ
りも大きい透過率を有するすべてのピークを消去
する装置、 該再調整したピーク表および可能な化学構造単
位の前記リストに相当するデータを含む未知物質
のフアイルを作製する装置、 該未知物質のフアイルをコンピユータのメモリ
に記憶させた、それぞれ第２標準フオーマツト中
のそれぞれのピーク表およびそのそれぞれの化学
構造単位に相当するデータを含むフアイルを有す
る既知物質のフアイルを含む第２ライブラリと比
較する装置、および 前記未知物質に対して最も近い既知物質のリス
トをアウトプツトする装置 から構成されていることを特徴とする、未知物質
の性質を決定する装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/119,237 US4365303A (en) | 1980-02-07 | 1980-02-07 | Method and apparatus for determining the nature of an unknown chemical substance |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56150331A JPS56150331A (en) | 1981-11-20 |
| JPH0330808B2 true JPH0330808B2 (ja) | 1991-05-01 |
Family
ID=22383294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1675381A Granted JPS56150331A (en) | 1980-02-07 | 1981-02-06 | Method of and apparatus for determining nature of unknown substance |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4365303A (ja) |
| JP (1) | JPS56150331A (ja) |
| DE (1) | DE3104178A1 (ja) |
| GB (1) | GB2070235B (ja) |
Families Citing this family (50)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1980-02-07 US US06/119,237 patent/US4365303A/en not_active Expired - Lifetime
-
1981
- 1981-02-02 GB GB8103088A patent/GB2070235B/en not_active Expired
- 1981-02-06 DE DE19813104178 patent/DE3104178A1/de not_active Ceased
- 1981-02-06 JP JP1675381A patent/JPS56150331A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56150331A (en) | 1981-11-20 |
| US4365303A (en) | 1982-12-21 |
| DE3104178A1 (de) | 1981-11-26 |
| GB2070235A (en) | 1981-09-03 |
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