JPH033175B2 - - Google Patents
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- JPH033175B2 JPH033175B2 JP56214351A JP21435181A JPH033175B2 JP H033175 B2 JPH033175 B2 JP H033175B2 JP 56214351 A JP56214351 A JP 56214351A JP 21435181 A JP21435181 A JP 21435181A JP H033175 B2 JPH033175 B2 JP H033175B2
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- Japan
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- optical
- light
- optical fiber
- break point
- reflected
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、近端破断点の検出も可能な光フアイ
バ破断点検出装置に関するものである。
バ破断点検出装置に関するものである。
光フアイバの破断点検出には、光フアイバにパ
ルス光を入射し、破断点からの反射パルス光を検
出して、パルス光の入射から反射パルス光の検出
までの時間により、破断点の位置を算出するのが
一般的である。このような光フアイバの破断点を
検出する装置は、従来第１図に示す構成を有する
ものであつた。同図に於いて、１は信号処理部、
２はパルス発生器、３はレーザ装置、４は光カプ
ラ、５は光コネクタ、６は被測定光フアイバ、７
は破断点、８はアバランシエフオトダイオード等
からなる光検知器、９は増幅器である。
ルス光を入射し、破断点からの反射パルス光を検
出して、パルス光の入射から反射パルス光の検出
までの時間により、破断点の位置を算出するのが
一般的である。このような光フアイバの破断点を
検出する装置は、従来第１図に示す構成を有する
ものであつた。同図に於いて、１は信号処理部、
２はパルス発生器、３はレーザ装置、４は光カプ
ラ、５は光コネクタ、６は被測定光フアイバ、７
は破断点、８はアバランシエフオトダイオード等
からなる光検知器、９は増幅器である。
信号処理部１からのタイミング信号によりパル
ス発生器２はパルス信号をレーザ装置３に加え、
レーザパルス光を発生させる。このレーザパルス
光は、光カプラ４、光コネクタ５を介して被測定
光フアイバ６に入射される。破断点７でレーザパ
ルス光が反射され、光カプラ４により光検知器８
にその反射パルス光が加えられる。
ス発生器２はパルス信号をレーザ装置３に加え、
レーザパルス光を発生させる。このレーザパルス
光は、光カプラ４、光コネクタ５を介して被測定
光フアイバ６に入射される。破断点７でレーザパ
ルス光が反射され、光カプラ４により光検知器８
にその反射パルス光が加えられる。
光検知器８の出力は増幅器９により増幅されて
信号処理部１に加えられる。信号処理部１では、
レーザパルス光の発生から反射パルス光の検出ま
での時間により、破断点７までの距離Ｌを算出す
る。このレーザパルス光は所定の期間毎に繰返し
発生するものであり、信号処理部１はアベレージ
ング処理を行なうことにより、高精度で距離を算
出することができる。
信号処理部１に加えられる。信号処理部１では、
レーザパルス光の発生から反射パルス光の検出ま
での時間により、破断点７までの距離Ｌを算出す
る。このレーザパルス光は所定の期間毎に繰返し
発生するものであり、信号処理部１はアベレージ
ング処理を行なうことにより、高精度で距離を算
出することができる。
破断点が100〜200ｍ以内の場合の反射パルス光
と５Kmの場合の反射パルス光との比は0.87×103
になるので、５Kmのような遠端の破断点を検出し
得るように、増幅器９の利得を大きくしておくの
が一般的である。従つて近端の破断点を検出する
場合、バツクスキヤツタリングの影響も加わつ
て、増幅器９は飽和状態となる。即ち近端破断点
からの反射パルス光の成分は、バツクスキヤツタ
リングの成分に埋れて識別できないものとなる。
と５Kmの場合の反射パルス光との比は0.87×103
になるので、５Kmのような遠端の破断点を検出し
得るように、増幅器９の利得を大きくしておくの
が一般的である。従つて近端の破断点を検出する
場合、バツクスキヤツタリングの影響も加わつ
て、増幅器９は飽和状態となる。即ち近端破断点
からの反射パルス光の成分は、バツクスキヤツタ
リングの成分に埋れて識別できないものとなる。
このようなことから、従来は近端破断点の検出
が不可能であつたから、近端破断点については、
光フアイバの他端から測定を行なうことにより、
遠端破断点として検出するものであつた。
が不可能であつたから、近端破断点については、
光フアイバの他端から測定を行なうことにより、
遠端破断点として検出するものであつた。
本発明は、近端破断点についても容易に検出し
得るようにすることを目的とするものである。以
下実施例について詳細に説明する。
得るようにすることを目的とするものである。以
下実施例について詳細に説明する。
第２図は本発明の実施例のブロツク線図であ
り、１１は信号処理部、１２はパルス発生器、１
３はレーザ装置、１４は光カプラ、１５は光コネ
クタ、１６は被測定光フアイバ、１７は破断点、
１８は光検知器、１９は増幅器、２０は電気光学
素子等から構成され、印加電圧に応じて光の通過
損失が変化する光スイツチ、２１は関数発生器、
２２は遅延回路である。
り、１１は信号処理部、１２はパルス発生器、１
３はレーザ装置、１４は光カプラ、１５は光コネ
クタ、１６は被測定光フアイバ、１７は破断点、
１８は光検知器、１９は増幅器、２０は電気光学
素子等から構成され、印加電圧に応じて光の通過
損失が変化する光スイツチ、２１は関数発生器、
２２は遅延回路である。
レーザ装置１３からのレーザパルス光が光カプ
ラ１４、光コネクタ１５を介して被測定光フアイ
バ１６に入射され、破断点１７による反射パルス
光及びバツクスキヤツタリングによる反射光は、
光カプラ１４により分離されて光スイツチ２０に
加えられる。この光スイツチ２０に関数発生器２
１からの信号が遅延回路２２で遅延されて加えら
れて、光検知器１８に加える光量を制御する。即
ち光スイツチ２０は、近端部からの反射光に対し
て時間的に変化する光アツテネータとして作用す
る。
ラ１４、光コネクタ１５を介して被測定光フアイ
バ１６に入射され、破断点１７による反射パルス
光及びバツクスキヤツタリングによる反射光は、
光カプラ１４により分離されて光スイツチ２０に
加えられる。この光スイツチ２０に関数発生器２
１からの信号が遅延回路２２で遅延されて加えら
れて、光検知器１８に加える光量を制御する。即
ち光スイツチ２０は、近端部からの反射光に対し
て時間的に変化する光アツテネータとして作用す
る。
第３図は動作説明図であり、同図ａに示すパル
スが信号処理部１１からのタイミング信号により
パルス発生器１２からレーザ装置１３に加えられ
ると、レーザ装置１３からｂに示すレーザパルス
光が発生される。このレーザパルス光により、光
コネクタ１５からの反射光、被測定光フアイバ１
６のレーリ散乱による散乱光（バツクスキヤツ
タ）及び破断点１７からの反射パルス光が光カプ
ラ１４により光スイツチ２０に入射される。
スが信号処理部１１からのタイミング信号により
パルス発生器１２からレーザ装置１３に加えられ
ると、レーザ装置１３からｂに示すレーザパルス
光が発生される。このレーザパルス光により、光
コネクタ１５からの反射光、被測定光フアイバ１
６のレーリ散乱による散乱光（バツクスキヤツ
タ）及び破断点１７からの反射パルス光が光カプ
ラ１４により光スイツチ２０に入射される。
第３図ｃは前述の各反射光の一例を示すもの
で、遠端破断点の反射パルス光はRF′で示すもの
となるが、近端破断点の反射パルス光はRFで示
すものとなる。このような反射光を直接光検知器
１８で検出して増幅器１９で増幅すると、増幅器
１９の飽和により増幅出力は第３図ｄに示すもの
となる。即ち近端破断点の反射パルス光RFの検
出信号がなくなつてしまうことになる。
で、遠端破断点の反射パルス光はRF′で示すもの
となるが、近端破断点の反射パルス光はRFで示
すものとなる。このような反射光を直接光検知器
１８で検出して増幅器１９で増幅すると、増幅器
１９の飽和により増幅出力は第３図ｄに示すもの
となる。即ち近端破断点の反射パルス光RFの検
出信号がなくなつてしまうことになる。
そこで光スイツチ２０を制御し、増幅器１９に
於ける飽和を防止し、近端破断点の反射パルス光
RFの検出信号も正しく増幅し得るようにするも
ので、光スイツチ２０に加える制御信号を第３図
ｅに示すようにする。
於ける飽和を防止し、近端破断点の反射パルス光
RFの検出信号も正しく増幅し得るようにするも
ので、光スイツチ２０に加える制御信号を第３図
ｅに示すようにする。
時間t1は光コネクタ１５からの反射光による影
響を除く為に遅延回路２２により与える遅延時間
であり、 t1＝LF・Ｎ／Ｃ＋Tw ……(1) で与えられる。但し、Ｃ＝光速（＝３×108ｍ）、
Ｎ＝光フアイバの群屈折率（≒1.459）、LF＝ガイ
ド光フアイバの全長、Tw＝レーザパルス光のパ
ルス幅である。なおガイド光フアイバは、被測定
光フアイバ１６以外の部分の光フアイバを示す。
響を除く為に遅延回路２２により与える遅延時間
であり、 t1＝LF・Ｎ／Ｃ＋Tw ……(1) で与えられる。但し、Ｃ＝光速（＝３×108ｍ）、
Ｎ＝光フアイバの群屈折率（≒1.459）、LF＝ガイ
ド光フアイバの全長、Tw＝レーザパルス光のパ
ルス幅である。なおガイド光フアイバは、被測定
光フアイバ１６以外の部分の光フアイバを示す。
又制御信号の立上りは、関数発生器２１により
形成されるもので、 の波形とするものである。但し、α＝光フアイバ
の累積損失、VHはスイツチ電圧である。
形成されるもので、 の波形とするものである。但し、α＝光フアイバ
の累積損失、VHはスイツチ電圧である。
光スイツチ２０は電圧を印加することにより光
のスイツチングが可能なもので、種々の電気光学
素子を用いることができる。第４図は光スイツチ
２０に加える電圧と通過損失との特性の一例を示
すものであり、電圧が零のときは損失が最大で光
信号に対してはオフ状態となり、電圧を上昇する
に従つて通過損失は低下し、スイツチ電圧VHに
よりほぼ損失は零となるものである。従つて第３
図ｅに示す制御信号を光スイツチ２０に加えるこ
とにより、指数関数的に通過損失を少なくし、近
端のバツクスキヤツタリング光に損失を与えて光
検知器１８に入射させることができる。
のスイツチングが可能なもので、種々の電気光学
素子を用いることができる。第４図は光スイツチ
２０に加える電圧と通過損失との特性の一例を示
すものであり、電圧が零のときは損失が最大で光
信号に対してはオフ状態となり、電圧を上昇する
に従つて通過損失は低下し、スイツチ電圧VHに
よりほぼ損失は零となるものである。従つて第３
図ｅに示す制御信号を光スイツチ２０に加えるこ
とにより、指数関数的に通過損失を少なくし、近
端のバツクスキヤツタリング光に損失を与えて光
検知器１８に入射させることができる。
時間t2は、例えば3μSとすると、被測定光フア
イバ１６の300ｍまでの間の反射光に対して損失
変化を与えることになり、200ｍまでの間の反射
光に対して損失変化を与える場合は2μSに選定す
れば良いことになる。
イバ１６の300ｍまでの間の反射光に対して損失
変化を与えることになり、200ｍまでの間の反射
光に対して損失変化を与える場合は2μSに選定す
れば良いことになる。
従つて光スイツチ２０から光検知器１８には、
第３図ｆに示す反射光が加えられることになるか
ら、増幅器１９は反射パルス光RFの検出信号を
飽和することなく増幅することができるものとな
る。光スイツチ２０の立上り特性が制御されるこ
とにより、被測定光フアイバ１６の近端損失が変
化したようになるが、信号処理部１１で補正処理
を行なうことができ、それによつて第３図ｇに示
す信号となり、近端破断点の反射パルス光の検出
信号を容易に識別できるので、信号処理部１の演
算機能により200ｍ以内の近端破断点も容易に検
出することができるものとなる。なお破断点１７
は完全な破断のみでなく、クラツクが生じている
場合も含むものである。
第３図ｆに示す反射光が加えられることになるか
ら、増幅器１９は反射パルス光RFの検出信号を
飽和することなく増幅することができるものとな
る。光スイツチ２０の立上り特性が制御されるこ
とにより、被測定光フアイバ１６の近端損失が変
化したようになるが、信号処理部１１で補正処理
を行なうことができ、それによつて第３図ｇに示
す信号となり、近端破断点の反射パルス光の検出
信号を容易に識別できるので、信号処理部１の演
算機能により200ｍ以内の近端破断点も容易に検
出することができるものとなる。なお破断点１７
は完全な破断のみでなく、クラツクが生じている
場合も含むものである。
以上説明したように、本発明は、被測定光フア
イバ１６に入射させるパルス光の発生と同期して
関数発生器２１から制御信号を発生させ、その制
御信号を遅延回路２２により所定時間遅延させて
光スイツチ２０に加え、この制御信号により光ス
イツチ２０の通過損失を指数関数的に減少させ、
この光スイツチ２０を介して被測定光フアイバの
反射パルス光を光検知器１８に加えて、破断点を
検出するものであり、近端破断点からの反射パル
ス光は、光の通過損失が大きい状態の光スイツチ
２０を通過して光検知器１８に入射されることに
なる。
イバ１６に入射させるパルス光の発生と同期して
関数発生器２１から制御信号を発生させ、その制
御信号を遅延回路２２により所定時間遅延させて
光スイツチ２０に加え、この制御信号により光ス
イツチ２０の通過損失を指数関数的に減少させ、
この光スイツチ２０を介して被測定光フアイバの
反射パルス光を光検知器１８に加えて、破断点を
検出するものであり、近端破断点からの反射パル
ス光は、光の通過損失が大きい状態の光スイツチ
２０を通過して光検知器１８に入射されることに
なる。
それにより、光コネクタ１５からのレベルの大
きい反射光やバツクスキヤツタリング光が、光ス
イツチ２０により減衰されるから、光検知器１８
の出力信号を増幅する増幅器１９の飽和を防止で
きることになり、近端破断点の反射パルス光を検
出した検出信号を確実に増幅出力することが可能
となる。従つて、近端破断点の検出が容易となる
利点がある。なお、遠端破断点の検出は、従来例
と同様に、反射パルス光の検出信号により検出す
ることができる。
きい反射光やバツクスキヤツタリング光が、光ス
イツチ２０により減衰されるから、光検知器１８
の出力信号を増幅する増幅器１９の飽和を防止で
きることになり、近端破断点の反射パルス光を検
出した検出信号を確実に増幅出力することが可能
となる。従つて、近端破断点の検出が容易となる
利点がある。なお、遠端破断点の検出は、従来例
と同様に、反射パルス光の検出信号により検出す
ることができる。
第１図は従来の光フアイバ破断点検出装置のブ
ロツク線図、第２図は本発明の実施例のブロツク
線図、第３図は動作説明図、第４図は光スイツチ
の特性説明図である。 １１は信号処理部、１２はパルス発生器、１３
はレーザ装置、１４は光カプラ、１５は光コネク
タ、１６は被測定光フアイバ、１７は破断点、１
８は光検知器、１９は増幅器、２０は光スイツ
チ、２１は関数発生器、２２は遅延回路である。
ロツク線図、第２図は本発明の実施例のブロツク
線図、第３図は動作説明図、第４図は光スイツチ
の特性説明図である。 １１は信号処理部、１２はパルス発生器、１３
はレーザ装置、１４は光カプラ、１５は光コネク
タ、１６は被測定光フアイバ、１７は破断点、１
８は光検知器、１９は増幅器、２０は光スイツ
チ、２１は関数発生器、２２は遅延回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定光フアイバにパルス光を入射し、破断
点からの反射パルス光を検出して、光フアイバの
破断点を検出する装置に於いて、 制御信号に応じて光の通過損失が制御される光
スイツチと、 該光スイツチを介して前記反射パルス光を加え
る光検知器と、 該光検知器の出力を増幅する増幅器と、 前記光スイツチに加えて光の通過損失をほぼ指
数関数的に減少させる為のほぼ指数関数的に変化
する前記制御信号を発生する関数発生器と、 該関数発生器から前記パルス光の発生に同期し
て発生される前記制御信号を所定時間遅延させる
遅延回路と を備えたことを特徴とする光フアイバ破断点検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21435181A JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21435181A JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58113832A JPS58113832A (ja) | 1983-07-06 |
| JPH033175B2 true JPH033175B2 (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=16654326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21435181A Granted JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58113832A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2711104B2 (ja) * | 1988-03-03 | 1998-02-10 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験器 |
| JP2763586B2 (ja) * | 1989-05-18 | 1998-06-11 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光ファイバ障害点探索方法および装置 |
| US4989971A (en) * | 1989-07-14 | 1991-02-05 | Tektronix, Inc. | Automatic mask trigger for an optical time domain reflectometer |
| US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
| WO2013097256A1 (zh) * | 2011-12-31 | 2013-07-04 | 华为技术有限公司 | 光时域反射仪及其获取测试信号的方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5654511B2 (ja) * | 1973-06-28 | 1981-12-25 | ||
| JPS5149052A (ja) * | 1974-10-24 | 1976-04-27 | Nippon Electric Co | Hikarifuaibadansenkensasochi |
-
1981
- 1981-12-28 JP JP21435181A patent/JPS58113832A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58113832A (ja) | 1983-07-06 |
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