JPH0332030B2 - - Google Patents

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JPH0332030B2
JPH0332030B2 JP59224556A JP22455684A JPH0332030B2 JP H0332030 B2 JPH0332030 B2 JP H0332030B2 JP 59224556 A JP59224556 A JP 59224556A JP 22455684 A JP22455684 A JP 22455684A JP H0332030 B2 JPH0332030 B2 JP H0332030B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
setting
resistor
photoelectric switch
hysteresis
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59224556A
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English (en)
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JPS61102575A (ja
Inventor
Hitoshi Myashita
Aritaka Yorifuji
Juji Takada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP59224556A priority Critical patent/JPS61102575A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は投光器によつて被検知物体に光ビーム
を照射し、その拡散反射光を受光器で受光して被
検知物体の有無を検知する反射型の光電スイツチ
に関するものである。
[背景技術] この種の反射型光電スイツチは、例えば第9図
aのように構成されている。同図において、受光
素子2の出力電流を受光回路3にて電圧信号に変
換し、その出力を対数増幅回路4を用いて対数変
換することにより、ダイナミツクレンジを拡大し
て感度のよい検出を可能にしており、この信号を
第1の比較回路5に入力し、第1のレベル設定部
8aから出力される検知距離設定電圧Vaと比較
している。信号処理回路9では発振回路14から
の同期信号により、ドライブ回路13で投光素子
11から光ビームPを発生させているタイミング
で比較回路5の出力をサンプリングして外光ノイ
ズを除去しており、この信号処理回路9の出力を
リレーなどよりなる出力回路15と動作表示部1
6とに加えている。余裕表示部17は受光信号レ
ベルと検知設定レベルとの間に余裕があるかどう
か、換言すればレンズの清掃などを必要としてい
るかどうかを表示するためのものである。第2の
レベル設定部8bは上述の検知距離設定電圧Va
よりも若干余裕を持つた余裕表示設定電圧Vbを
第2の比較回路10に供給しており、上記対数増
幅回路4の出力すなわち受光レベルをこの余裕表
示設定電圧Vbと比較し、受光レベルの方が高い
時に点灯される。
対数増幅回路4は同図bに示すように、オペア
ンプGとフイードバツクダイオードDとで構成さ
れ、シリコンダイオードの対数特性を利用したも
のであつて、その温度特性はPN接合の温度変化
に伴なうキヤリア濃度の変化などに依存している
ために、この出力信号と比較するための基準レベ
ル設定回路をサーミスタなどを用いた安価な温度
補償回路で構成しても、対数増幅回路4と同等の
温度特性を持たせることは不可能であり、したが
つて両レベル設定部8aおよび8bにも同図cに
示すように、対数増幅回路4と同等の対数増幅回
路GおよびDを用いることによつて、高精度の温
度補償を行なつているのである。
しかしながら上記の従来構成には次のような問
題があつた。同図dは受光信号レベルと被検知物
体までの距離との関係を示したグラフであり、同
図において、受光レベルが検知設定レベルよりも
高くなると、光電スイツチが動作して検知信号を
出力するのであるが、回路の温度ドリフトやノイ
ズなどにより受光レベルが破線で示したように変
動すると、設定距離付近にある物体を一旦検知し
たのち、物体が移動していないにも拘わらず、光
電スイツチが復帰してしまつたりあるいは動作復
帰を繰り返したりするおそれがあつた。
[発明の目的] 本発明は上記の問題点に鑑み為されたものであ
り、一旦物体を検知したのちは、受光レベルに多
少の変動があつても誤動作をしないような光電ス
イツチを提供することを第1の目的とし、そのた
めのヒステリシス幅の設定が検知距離設定電圧に
影響せず、容易に調整ができるような回路構成を
提供することを第2の目的とし、さらにヒステリ
シス幅を外部から可変にすることにより、設置場
所の制約を少なくすることを第3の目的とするも
のである。
[発明の開示] 第1図aは本発明の原理図を示したものであ
る。いま物体Xが右方から接近し、光電スイツチ
Aとの距離が検知設定距離L1になると光電スイ
ツチが動作し、次に物体Xが右方へ後退して復帰
設定距離L2に達すると光電スイツチが復帰する。
同図bは被検知物体までの距離と受光レベルとの
関係を示したもので、受光レベルが破線の範囲内
で変動するものとすると、検知設定距離Lは
L1′とL1″との間で変動する。したがつて復帰設定
レベルを図示のように設定しておけば、すなわち
L2′とL2″の範囲がL1′とL1″の範囲と重ならないよ
うに設定しておけば、ノイズにより誤動作を生じ
るおそれがない。
第2図は本発明光電スイツチの一実施例を示し
たものである。同図において、レベル設定部8以
外の回路構成は、第9図aの従来回路と同一であ
るから説明を省略する。レベル設定部8は基準電
圧発生部6とヒステリシス設定部7とで構成され
ており、第3図はその回路例を示したものであ
る。同図aの実施例において、基準電圧発生部6
では、対数増幅回路4の温度補償を行なうため
に、定電流源J1で発生した信号をオペアンプGお
よびシリコンダイオードDよりなる対数増幅器に
よつて対数変換しており、その出力電圧V1を抵
抗R1を介して第1の比較回路5に入力している。
抵抗R1の出力側には、信号処理回路9から出力
される物体検知信号によつてオンオフ制御されて
いるトランジスタQを介して、定電流源J2が接続
されており、抵抗R1、トランジスタQおよび定
電流源J2によつてヒステリシス設定部7が構成さ
れている。定電流源J1あるいはJ2は、例えば第4
図に示すような回路で構成される。同図におい
て、電流ミラー回路M1およびM2は、単一チツプ
上にベースを共通にして形成された2個のトラン
ジスタの該ベースを入力側トランジスタQinのコ
レクタに接続して形成されたもので、入力側トラ
ンジスタQinに供給される電流が、そのまま出力
側トランジスタQoutのコレクタに定電流化され
て出力される。したがつて電流ミラー回路M2
出力側に可変抵抗器Rvを挿入し、この出力電流
を電流ミラー回路M1の入力電流とすることによ
つて、電流ミラー回路M1から出力される定電流
Iの値を可変に設定することができる。
次に第3図aの動作を説明すると、検知設定電
圧V1は定電源J1のI1を調整することにより設定さ
れ、復帰設定電圧V2と検知設定電圧V1との差す
なわちヒステリシス電圧幅(V2−V1)は定電流
源J2でI2を調整することにより設定される。いま
トランジスタQがオフのときには、抵抗R1には
殆ど電流が流れず、比較回路5に入力される距離
設定レベルVaは検知距離設定電圧V1となつてお
り、次に物体検知信号がトランジスタQのベース
に入力されてトランジスタQがオンされると、抵
抗R1には定電流源J2から電流I2が供給されるの
で、比較回路5には V2=V1+I2×R1 なる電圧が供給されて、比較回路5の基準電圧が
検知設定電圧V1から復帰設定電圧V2に切り換え
られるのである。
上記の構成によれば、基準電圧の切換のために
トランジスタQをオンオフさせても基準電圧発生
部6の出力端の電圧V1は変化しないので、検知
距離とは独立にヒステリシス幅の設定が可能であ
る。また定電流源J2を可変にする代わりに抵抗
R1に可変抵抗器を使用することも可能であり、
さらに同図bに示すように、抵抗R1と抵抗R2
を直列に接続して、一方の抵抗R2にヒステリシ
ス切換用トランジスタQを並列接続し、両抵抗
R1およびR2に定電流源J2から定電流を流すよう
にすれば、抵抗R1により検知設定電圧V1を、抵
抗R2によりヒステリシス幅I2×R2をそれぞれ独
立に設定することも可能である。また同図cは1
個の基準電圧発生部6を使用して、検知距離設定
電圧Vaと余裕表示設定電圧Vbの両方を供給でき
るようにしたものである。
第5図および第6図はヒステリシス幅の設定を
工場段階で行なうようにした例を示したものであ
る。第5図において、21は側面カバーを開いた
状態のケースで、IC22、抵抗23、コンデン
サ24などのチツプ部品を実装したプリント板2
5に、ヒステリシス設定用定電流源J2の可変抵抗
器RV2が設けられており、検知感度設定用可変抵
抗器RV1はケースの外面に設けられている。なお
26は投光器、27は受光器、28は動作表示
灯、29は余裕表示灯、30は外部リード線であ
る。第6図の実施例はヒステリシス幅の定電流源
J2で調整する代わりに抵抗R1で調整するように
したものである。この場合は比較回路5の入力イ
ンピーダンスが高いので、ノイズを拾い易い可変
抵抗器を用いる代わりに、同図bに示すように、
複数の抵抗器Rから任意の値を選び他を切断する
ようにしている。
第7図および第8図の実施例はヒステリシス幅
を外部から可変できるようにした例を示したもの
であり、第7図は定電流源J2の可変抵抗器RV2
ケース21の上面に検知感度設定用可変抵抗器
RV1と並べて配設したもの、また第8図は可変抵
抗器RV2の代わりに同図bに示すような抵抗切換
スイツチSwを設けたものである。通常ヒステリ
シス幅は、外乱ノイズによる誤動作を防止すると
いう目的のためには、充分余裕をもつて設定して
おけば事足りるのであるが、設置場所の状況によ
つては再調整が必要な場合がある。すなわち第1
図aにおいて、Lhがヒステリシス幅に対応する
距離すなわち応差の距離であるが、背景に反射率
の高い壁あるいは他の物体Bが接近している場合
には、被検知物体Xが居なくなつた後も、光電ス
イツチが復帰しないという現象が起こり得る。こ
のような場合には、外乱ノイズに対する余裕を多
少犠牲にしても、応差の距離Lhを縮小すること
ができれば、それだけ設置場所の制約を減らすこ
とができるので便利であり、第7図および第8図
の実施例はそれを可能にしたものである。
[発明の効果] 本発明は上述のように、反射光レベルと検知距
離設定電圧レベルとを比較して物体を検知する光
電スイツチにおいて、物体検知と同時に検知距離
設定電圧をそれよりも若干余裕を持つた復帰距離
設定電圧に切り換える手段を設けたものであるか
ら、一旦物体を検知すると物体がある程度以上離
れなければ復帰せず、ノイズによつて信号レベル
が変動しても、物体が移動しない限り一度検知動
作した光電スイツチが復帰してしまつたり動作復
帰を繰り返すなどの誤動作を起こすおそれがない
という利点があり、また受光信号と基準電圧設定
入力とをそれぞれ対数変換して比較回路に入力す
ることによつて、受光信号のダイナミツクレンジ
を拡大すると共にその温度補償を行なうようにし
た構成において、基準電圧発生用の対数増幅回路
の出力端に抵抗を接続し、この抵抗に定電流源を
接続したものであるから、検知感度とヒステリシ
ス幅とを互いに独立に設定することができるとい
う利点があり、さらにヒステリシス幅を外部から
可変設定可能にすることにより、設置場所の状況
による制約を緩めることができるという利点があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図a,bは本発明光電スイツチの原理説明
図、第2図は本発明の一実施例を示したもので、
aは全体ブロツク図、bは対数増幅回路の具体回
路図、第3図a,b,cは同上のレベル設定部の
種々の実施例を示した回路図、第4図は同上の定
電流源の具体回路図、第5図および第6図aはヒ
ステリシス調整手段の種々の実施例を示した斜視
図、第6図bは同図aの要部説明図、第7図およ
び第8図aはヒステリシス調整手段のさらに他の
実施例を示した上面図、同図bは同図aの要部説
明図、第9図は従来例を示したもので、aは全体
ブロツク図、bおよびcは要部具体回路図、dは
同上の原理説明図である。 1は受光光学系、2は受光素子、3は受光回
路、4は対数増幅回路、5は第1の比較回路、6
は基準電圧発生部、7はヒステリシス設定部、8
はレベル設定部、9は信号処理回路、10は第2
の比較回路、11は投光素子、12は投光光学
系、13はドライブ回路、14は発振回路、15
は出力回路、16は動作表示部、17は余裕表示
部、Gはオペアンプ、Dはシリコンダイオード、
Qは基準電圧切換用トランジスタ、J1,J2,J3
定電流源、R1,R2は抵抗、RV,RV1,RV2は可変
抵抗器、M1,M2は電流ミラー回路、Qinは入力
側トランジスタ、Qoutは出力側トランジスタ、
Vaは検知距離設定電圧、Vbは余裕表示設定電
圧、Aは光電スイツチ、Xは被検知物体、Pは光
ビーム、Rは反射光、L1は検知設定距離、L2
復帰設定距離、Lhは応差の距離。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検知物体からの反射光の受光信号と、該受
    光信号と比較判別するための基準電圧設定入力と
    を、それぞれ対数増幅回路で対数変換して、比較
    回路に入力するようにした光電スイツチにおい
    て、上記基準電圧発生用の対数増幅回路の出力端
    に抵抗を接続すると共に、該抵抗と上記比較回路
    の入力端との接続点に定電流源を接続し、上記比
    較回路の出力で上記定電流値または抵抗値を2段
    に切り換える手段を設けることにより、上記基準
    電圧にヒステリシスを持たせたことを特徴とする
    光電スイツチ。 2 上記ヒステリシス電圧幅を外部から可変に設
    定する手段を設けたことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の光電スイツチ。
JP59224556A 1984-10-25 1984-10-25 光電スイツチ Granted JPS61102575A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59224556A JPS61102575A (ja) 1984-10-25 1984-10-25 光電スイツチ

Applications Claiming Priority (1)

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JP59224556A JPS61102575A (ja) 1984-10-25 1984-10-25 光電スイツチ

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JPS61102575A JPS61102575A (ja) 1986-05-21
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JPH05291924A (ja) * 1992-04-15 1993-11-05 Matsushita Electric Works Ltd 人体検知センサ
JP6907886B2 (ja) 2017-10-27 2021-07-21 オムロン株式会社 変位センサ

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JPS61102575A (ja) 1986-05-21

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