JPH0332632B2 - - Google Patents

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JPH0332632B2
JPH0332632B2 JP1294384A JP1294384A JPH0332632B2 JP H0332632 B2 JPH0332632 B2 JP H0332632B2 JP 1294384 A JP1294384 A JP 1294384A JP 1294384 A JP1294384 A JP 1294384A JP H0332632 B2 JPH0332632 B2 JP H0332632B2
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JP
Japan
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gas
valve
etching
strainer
trap
Prior art date
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Application number
JP1294384A
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Japanese (ja)
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JPS60159178A (en
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Yoshihiko Nio
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、ドライエツチング装置に関し、特に
排気処理法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical field to which the invention pertains] The present invention relates to a dry etching apparatus, and particularly to an exhaust treatment method.

〔従来技術〕[Prior art]

従来、ドライエツチング装置の排気処理法にお
いて、フツ素を主成分として含有する反応性ガス
を用いた場合、特に注意を払わなくても、排気配
管のつまり、あるいはポンプの早期劣化といつた
反応生成物によるトラブルは問題にならなかつ
た。
Conventionally, when using a reactive gas containing fluorine as a main component in the exhaust treatment method for dry etching equipment, reactions such as clogging of the exhaust piping or early deterioration of the pump occur without special attention. Problems with objects were not a problem.

しかしながら、塩素を主成分として含有する反
応性ガスをエツチングガスとして、Al等をエツ
チングすることが近年一般化してきた。この場
合、主としてポンプの保護という観点から液体窒
素で冷却する反応生成物捕集システムとして、い
わゆるコールドトラツプ(cold trap)を排気系
のロータリポンプ前段部にもうけ、反応生成物及
びエツチング反応室で消費され尽されなかつた剰
余のエツチングガスを捕集するのが普通である。
However, in recent years, it has become common to etch Al and the like using a reactive gas containing chlorine as a main component as an etching gas. In this case, a so-called cold trap is installed in the front part of the rotary pump in the exhaust system as a reaction product collection system that cools with liquid nitrogen, mainly from the viewpoint of protecting the pump. It is common practice to collect surplus etching gas that has not been consumed.

しかしながら、このような方法によつて、反応
生成物及び剰余のエツチングガスを捕集する場
合、システムが複雑になり、真空もれを起こす部
分が増える。又、このトラツプ部分自体が液化し
たエツチングガスで充填されたことになり、はな
はだしく危険である。さらに、コールドトラツプ
の温度のわずかな変動等で捕集された液化ガス成
分の反応室への逆流が発生し、エツチング条件の
狂いが生じ、結果として被エツチング製品を不良
にしてしまうことになる。以下図面を用いて説明
する。
However, if such a method is used to collect reaction products and residual etching gas, the system becomes complicated and the number of parts that can cause vacuum leaks increases. Furthermore, the trap itself is filled with liquefied etching gas, which is extremely dangerous. In addition, slight fluctuations in the temperature of the cold trap can cause the collected liquefied gas components to flow back into the reaction chamber, disrupting the etching conditions and resulting in the product being etched to be defective. . This will be explained below using the drawings.

第1図は、従来のドライエツチング装置の構成
図である。エツチングガス導入口1から導入され
た反応性エツチングガスは、エツチング室2にお
いてグロー放電下でエツチングガスとして消費さ
れ、同時に反応によつて生じた反応生成物を含む
剰余のエツチングガスはバルブ3を通り、メカニ
カルブースタポンプ4、バルブ5を通過後、コー
ルドトラツプ9において液体窒素温度付近(〜80
〓)で凝縮し、捕集される。液体窒素は注入口1
1より注入される。捕集されないガス成分及び適
切なセンサーが無いためもあるが、コールドトラ
ツプ9が満杯になつても検知不能なことによつ
て、オーバーフローした前記ガスはバルブ10を
通りロータリーポンプ14のオイル中で、一部捕
集され外部へ排出される。即ち、実用段階におい
ては、コールドトラツプ9においてロータリーポ
ンプ保護のための機能が失われている場合がほと
んどである。又、コールドトラツプ9(以下トラ
ツプ9と略す)に充満した液化ガス成分を追い出
す場合にはバルブ5及びバルブ10を閉じた後バ
ルブ8を開け、トラツプ9を昇温し、バルブ8を
通じて気化成分を排出する。次いでバルブ6を開
き、パージガス導入口7より不活性ガスを導入し
トラツプ9の内部をパージする。続いてトラツプ
9を分解し、装置外部でエレメントを洗浄する。
以上の如き、手順は複雑であるが、それにも増し
てバルブ8はエツチングの反応生成物等によりつ
まりやすく、この場合、トラツプ9を昇温すると
捕集された液化ガスの気化に供う、急激かつ大き
な圧力の増加によりトラツプ9のシール部分、あ
るいはバルブ5,6,8,10のシール部等から
危険なガスが吹き出すことになり非常に危険であ
る。又、前述の吹きだしが生じない場合、最悪の
状態を想定すると、トラツプ9の爆発の危険性す
らあり得る。このように、従来の装置は、製品を
安定にエツチングするという目的においても、安
全性から見ても重大な欠点がある。
FIG. 1 is a block diagram of a conventional dry etching apparatus. The reactive etching gas introduced from the etching gas inlet 1 is consumed as etching gas under glow discharge in the etching chamber 2, and at the same time, the remaining etching gas containing reaction products generated by the reaction passes through the valve 3. After passing through the mechanical booster pump 4 and valve 5, the temperature in the cold trap 9 is around the temperature of liquid nitrogen (~80℃).
〓) is condensed and collected. Liquid nitrogen is inlet 1
Injected from 1. Due to the uncollected gas components and the lack of suitable sensors, the overflow gas passes through the valve 10 and into the oil of the rotary pump 14, due to the fact that it cannot be detected even when the cold trap 9 is full. , some of it is collected and discharged outside. That is, in the practical stage, in most cases, the cold trap 9 loses its function to protect the rotary pump. In addition, when expelling the liquefied gas components that have filled the cold trap 9 (hereinafter referred to as trap 9), close the valves 5 and 10, then open the valve 8, raise the temperature of the trap 9, and release the vaporized gas components through the valve 8. discharge. Next, the valve 6 is opened and an inert gas is introduced from the purge gas inlet 7 to purge the inside of the trap 9. Subsequently, the trap 9 is disassembled and the element is cleaned outside the device.
Although the procedure described above is complicated, the valve 8 is also easily clogged by etching reaction products, etc. In this case, when the temperature of the trap 9 is raised, the trapped liquefied gas is vaporized rapidly. Moreover, due to the large increase in pressure, dangerous gases may be blown out from the seals of the trap 9 or the seals of the valves 5, 6, 8, 10, etc., which is very dangerous. Furthermore, if the above-mentioned balloon does not occur, assuming the worst case scenario, there may even be a danger that the trap 9 will explode. As described above, the conventional apparatus has serious drawbacks both in terms of stable etching of products and in terms of safety.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、上記欠点を除去し、安定で安
全なドライエツチングを実行できるドライエツチ
ング装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a dry etching apparatus capable of eliminating the above-mentioned drawbacks and performing stable and safe dry etching.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

本発明は塩素又は、塩素及びフツ素を主成分と
して含有する反応性ガスをエツチングガスとして
用いるドライエツチング装置であつて、排気系前
段に乾式のストレーナーを設置したことを特徴と
するドライエツチング装置である。
The present invention is a dry etching apparatus that uses chlorine or a reactive gas containing chlorine and fluorine as main components as an etching gas, and is characterized in that a dry strainer is installed upstream of the exhaust system. be.

〔実施例の説明〕[Explanation of Examples]

以下に、本発明の一実施例を図により説明す
る。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

ドライエツチング装置の排気部分においては、
系の一部に他の部分に比して温度の低い部分、い
わゆるコールドスポツトを生じさせるのは望まし
くなく、排出されてくるガス成分をできるだけ気
化したままで真空外まで排出するのが、装置の安
定性から見て重要である。
In the exhaust part of the dry etching equipment,
It is undesirable to have a part of the system with a lower temperature than other parts, a so-called cold spot, and it is important for the equipment to discharge the exhausted gas components to the outside of the vacuum while keeping them as vaporized as possible. This is important from the standpoint of stability.

そこで第2図において、本発明はドライエツチ
ング装置の排気系に乾式のストレーナー16を設
置したものである。これにより排気系に真空外か
らガス導入するバルブは不活性ガスパージ用のバ
ルブ6のみとなる。エツチング反応室2からの排
気はバルブ3を通り、メカニカルブースターポン
プ4を経由して乾式ストレーナー16に至る。乾
式ストレーナー16では主として反応生成物中の
固型成分をロータリーポンプ14の前段で取り去
る。従つてバルブ10以降固型物ができる可能性
があるのは、ポンプ14のケーシング中、大気に
なる部分以降である。これを防止するため、ガス
導入口13よりバルブ12を経て不活性ガスをロ
ータリーポンプ14内のケーシング中に吹き込
み、ポンプ14中での固型反応生成物の出現を防
止している。このため、オイルフイルタシステム
15及びロータリーポンプ14ともにオーバーホ
ール及びメインテナンス期間が長くなり、安定に
稼動する。又従来法のような前述のコールドスポ
ツトに起因する危険性も回避できる。長期間使用
後ストレーナー16のメンテナンスが必要な場
合、まず、バルブ5を閉めストレーナー16の内
部をロータリーポンプ14によつて排気し、次い
でバルブ6を開きガス導入口7より不活性ガスを
導入してストレーナー16の内部をパージする。
その後、バルブ10を閉じストレーナー16を分
解する。
Therefore, in the present invention, as shown in FIG. 2, a dry strainer 16 is installed in the exhaust system of the dry etching apparatus. As a result, the only valve for introducing gas into the exhaust system from outside the vacuum is the inert gas purge valve 6. Exhaust from the etching reaction chamber 2 passes through a valve 3 and reaches a dry strainer 16 via a mechanical booster pump 4. The dry strainer 16 mainly removes solid components in the reaction product before the rotary pump 14. Therefore, the possibility of solid matter forming after the valve 10 is in the casing of the pump 14, after the part that is exposed to the atmosphere. To prevent this, an inert gas is blown into the casing of the rotary pump 14 from the gas inlet 13 through the valve 12 to prevent solid reaction products from appearing in the pump 14. Therefore, the period for overhaul and maintenance of both the oil filter system 15 and the rotary pump 14 becomes longer, and the oil filter system 15 and the rotary pump 14 operate stably. Furthermore, the danger caused by the aforementioned cold spots as in the conventional method can also be avoided. If maintenance of the strainer 16 is required after long-term use, first close the valve 5 and evacuate the inside of the strainer 16 using the rotary pump 14, then open the valve 6 and introduce inert gas from the gas inlet 7. Purge the inside of the strainer 16.
Thereafter, the valve 10 is closed and the strainer 16 is disassembled.

第3図は第2図のストレーナー16の断面図で
ある。第3図において、ケーシング17の側部に
ガス導入口17aが設けられ、その上部に排気口
17bが設けられ、ケーシング17内に筒状のス
テンレスメツシユ18が設置され、その内側に多
孔板からなる円筒19が設置されている。ガスは
ガス導入口17aからケーシング17に入りステ
ンレスメツシユ18を経由して細孔を有する円筒
19を経て排気口17bからロータリーポンプ側
へ排出される。ケーシング17、メツシユ18及
び円筒19は全て耐腐食性の高いステンレスステ
イールを素材とする。メンテナンスを要する場合
は第3図において下部のネジ20をはずして底板
21を取払うことにより、メツシユ18及び円筒
19をケーシング17から容易に抜き取る。22
はシール材である。
FIG. 3 is a sectional view of the strainer 16 of FIG. 2. In FIG. 3, a gas inlet 17a is provided on the side of the casing 17, an exhaust port 17b is provided on the upper part of the gas inlet 17a, a cylindrical stainless steel mesh 18 is installed inside the casing 17, and a perforated plate is provided inside the casing 17. A cylinder 19 is installed. Gas enters the casing 17 from the gas inlet 17a, passes through the stainless steel mesh 18, passes through the cylinder 19 having pores, and is discharged from the exhaust port 17b toward the rotary pump. The casing 17, mesh 18, and cylinder 19 are all made of highly corrosion-resistant stainless steel. If maintenance is required, the mesh 18 and cylinder 19 can be easily removed from the casing 17 by removing the lower screws 20 and removing the bottom plate 21 as shown in FIG. 22
is a sealing material.

上記実施例においては、メカニカルブースタポ
ンプとロータリーポンプについて説明したが、メ
カニカルブースタポンプのかわりにターボモレキ
ユラポンプを設ける場合も同様に実施できること
は勿論である。
In the above embodiment, a mechanical booster pump and a rotary pump have been described, but it goes without saying that a turbo molecular pump can be used in place of the mechanical booster pump.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上、詳細に説明したように、本発明によれ
ば、装置の排気系にコールドスポツトを生じさせ
ることがなく、排気されたガスを気化したままで
排出するようにしたので、コールドスポツトによ
る危険性を回避でき、装置の安定性、保守性等を
大きく向上できる効果を有するものである。
As explained above in detail, according to the present invention, there is no generation of cold spots in the exhaust system of the device, and the exhausted gas is discharged in a vaporized state, thereby reducing the danger of cold spots. This has the effect of greatly improving the stability, maintainability, etc. of the device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来のコールドトラツプを有するドラ
イエツチング装置の構成図、第2図は本発明の一
実施例を示すドライエツチング装置の構成図、第
3図は乾式ストレーナーの構造断面図である。 1……エツチングガス導入口、2……エツチン
グ室、3,5,6,12……バルブ、4……メカ
ニカルブースタポンプ、7,13……不活性ガス
導入口、9……コールドトラツプ、11……液体
窒素注入口、14……ロータリーポンプ、15…
…オイルフイルタシステム、16……乾式ストレ
ーナー、17……ストレーナーケーシング、18
……メツシユ、19……円筒。
FIG. 1 is a block diagram of a conventional dry etching apparatus having a cold trap, FIG. 2 is a block diagram of a dry etching apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a structural sectional view of a dry strainer. 1... Etching gas inlet, 2... Etching chamber, 3, 5, 6, 12... Valve, 4... Mechanical booster pump, 7, 13... Inert gas inlet, 9... Cold trap, 11...Liquid nitrogen inlet, 14...Rotary pump, 15...
...Oil filter system, 16...Dry strainer, 17...Strainer casing, 18
...Metsushiyu, 19...Cylinder.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 塩素又は塩素及びフツ素を主成分として含有
する反応性ガスをエツチングガスとして用いるド
ライエツチング装置において、排気系の前段に乾
式のストレーナーを設置したことを特徴とするド
ライエツチング装置。
1. A dry etching apparatus using chlorine or a reactive gas containing chlorine and fluorine as main components as an etching gas, characterized in that a dry strainer is installed in the front stage of the exhaust system.
JP1294384A 1984-01-27 1984-01-27 Dry etching device Granted JPS60159178A (en)

Priority Applications (1)

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JP1294384A JPS60159178A (en) 1984-01-27 1984-01-27 Dry etching device

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JP1294384A JPS60159178A (en) 1984-01-27 1984-01-27 Dry etching device

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JP2574816Y2 (en) * 1990-07-09 1998-06-18 三菱電機株式会社 Exhaust gas abatement system
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